JPH03120460A - スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 - Google Patents
スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置Info
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- JPH03120460A JPH03120460A JP1257477A JP25747789A JPH03120460A JP H03120460 A JPH03120460 A JP H03120460A JP 1257477 A JP1257477 A JP 1257477A JP 25747789 A JP25747789 A JP 25747789A JP H03120460 A JPH03120460 A JP H03120460A
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- Rolling Contact Bearings (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、スラスト玉軸受においてその外輪に発生す
る転がり疲れ等の位ｌを使用状態で標定する方法に関す
るものであって、使用状態の軸受の診断や、転がり疲れ
現象における疲れクラックの進行過程解明のための研究
に利用され得る。
る転がり疲れ等の位ｌを使用状態で標定する方法に関す
るものであって、使用状態の軸受の診断や、転がり疲れ
現象における疲れクラックの進行過程解明のための研究
に利用され得る。
［従来の技術］
スラスト玉軸受は、回転軸をその軸の方向に支えるもの
であって、第８図に示すスラスト玉軸受１０１のように
、同軸状に軸方向に重なって位置する内輪１０２と保持
器１０３と外輪１０４及び保持器１０３内に保持された
複数の玉１０５を備えており、支えようとする回転軸１
０６の回転に従って内輪１０２が回転し、これに従って
１１０５が自転しながら外輪１０４上の軌１１０８上を
公転し、外輪１０４は固定位品に保たれるというもので
ある。
であって、第８図に示すスラスト玉軸受１０１のように
、同軸状に軸方向に重なって位置する内輪１０２と保持
器１０３と外輪１０４及び保持器１０３内に保持された
複数の玉１０５を備えており、支えようとする回転軸１
０６の回転に従って内輪１０２が回転し、これに従って
１１０５が自転しながら外輪１０４上の軌１１０８上を
公転し、外輪１０４は固定位品に保たれるというもので
ある。
［発明が解決しようとする課題］
スラスト玉軸受はもちろん、転がり軸受は使用によりや
がて転がり疲れによる疲れクラックが発生し進行して疲
れ剥離破損、すなわち寿命に至るが、使用中に破損する
と非常に危険なため、破損する前に交換する必要がある
。
がて転がり疲れによる疲れクラックが発生し進行して疲
れ剥離破損、すなわち寿命に至るが、使用中に破損する
と非常に危険なため、破損する前に交換する必要がある
。
しかるに、軸受の転がり疲れは外観上は分らないので、
軸受の信頼性を確保するために、設計段階で十分に考慮
され、かつ使用段階では寿命より短い時間で交換される
ことが多い。
軸受の信頼性を確保するために、設計段階で十分に考慮
され、かつ使用段階では寿命より短い時間で交換される
ことが多い。
しかし、健全な軸受まで交換するのは不経済であり、ま
たそのようにしても尚、個々の軸受の寿命は製品自身の
ばらつきや使用状態により異なり、たまたま悪条件がｍ
なると１４ｉ端に寿命が縮むこともあり得るので、単純
に、一定期間を経たら交換する、という方法では信頼性
を完全に確保することはできない。
たそのようにしても尚、個々の軸受の寿命は製品自身の
ばらつきや使用状態により異なり、たまたま悪条件がｍ
なると１４ｉ端に寿命が縮むこともあり得るので、単純
に、一定期間を経たら交換する、という方法では信頼性
を完全に確保することはできない。
そこで、個々の軸受をその寿命−杯まで使用して一律交
換の不経済を除外し軸受の信頼性を高めるために、使用
状態の軸受を診断（る手法が盛んになりつつある。
換の不経済を除外し軸受の信頼性を高めるために、使用
状態の軸受を診断（る手法が盛んになりつつある。
その様な手法の１つとして軸受の破損の舶兆現象である
疲れクラックの発生・進行に伴う八Ｅ（Ａｃｏｕｓｔｉ
ｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ）に着目するものがある。
疲れクラックの発生・進行に伴う八Ｅ（Ａｃｏｕｓｔｉ
ｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ）に着目するものがある。
ＡＥは玉軸受の作動中に転がり疲れ等の箇所から発生す
る超音波であって、その周波数は数百ＫＨ２程度である
。
る超音波であって、その周波数は数百ＫＨ２程度である
。
正常な軸受ではＡＥは発生せず、またＡＥが発生しても
直ちに軸受が破損するわけではない。しかし、時間の経
過につれてこの部分で疲れクラック等が進行すれば、つ
いには軸受の破損に至るものであるからＡＥの発生位置
を検出することは使用状態の軸受の診断や研究に寄与す
るところが大である。
直ちに軸受が破損するわけではない。しかし、時間の経
過につれてこの部分で疲れクラック等が進行すれば、つ
いには軸受の破損に至るものであるからＡＥの発生位置
を検出することは使用状態の軸受の診断や研究に寄与す
るところが大である。
本願発明者は先にＡＥ発生位置を標定する技術として、
特願昭５６−１９６６４２を提案した。
特願昭５６−１９６６４２を提案した。
これは、第８図に示すようなＡＥ発生位置標定装置１１
１であってスラスＩ・玉軸受１０１の保持器１０２の外
周に歯形状の凹凸として構成された位置指示部材１１６
と、位置指示部＄１１１６の外に固定された位ｎ検出セ
ンサ１１５とからなる位置検出装置１１２と、ＡＥを電
気信号に変換するＡＥ変換子１１３を含むＡＥ検出装買
１１０と、を備え、その作用は、軸１０１の回転に従っ
て外輪１０４上の転がり疲れ等の部分を玉１０５が通過
してＡＥが発生したときの玉１０５の位置をＡＥの発生
候補位置と標定するものである。
１であってスラスＩ・玉軸受１０１の保持器１０２の外
周に歯形状の凹凸として構成された位置指示部材１１６
と、位置指示部＄１１１６の外に固定された位ｎ検出セ
ンサ１１５とからなる位置検出装置１１２と、ＡＥを電
気信号に変換するＡＥ変換子１１３を含むＡＥ検出装買
１１０と、を備え、その作用は、軸１０１の回転に従っ
て外輪１０４上の転がり疲れ等の部分を玉１０５が通過
してＡＥが発生したときの玉１０５の位置をＡＥの発生
候補位置と標定するものである。
これは、外輪１０４上のＡＥ発生候補位置を標定する有
効な方法であるが、玉１０５は複数個（例えば３個）使
用されているため、真のＡＥ発生位置が１箇所である場
合でもＡＥ発生候補位置として複数箇所が標定され（第
９図）、真のＡＥ発生位置を特定できない不便さがあっ
た。
効な方法であるが、玉１０５は複数個（例えば３個）使
用されているため、真のＡＥ発生位置が１箇所である場
合でもＡＥ発生候補位置として複数箇所が標定され（第
９図）、真のＡＥ発生位置を特定できない不便さがあっ
た。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたものであっ
て、スラスト玉軸受のＡＥの発生位置を正確に標定する
ことが可能であって、これにより異常の進行過程、特に
玉軸受の代表的な損傷である転がり疲れの進行過程の解
明に有効に利用され得て、使用状態でスラスト玉軸受の
異常を診断する手法に貢献し得るスラスト玉軸受のＡＥ
発生位置標定法及び装置を提供することを目的とするも
のである。
て、スラスト玉軸受のＡＥの発生位置を正確に標定する
ことが可能であって、これにより異常の進行過程、特に
玉軸受の代表的な損傷である転がり疲れの進行過程の解
明に有効に利用され得て、使用状態でスラスト玉軸受の
異常を診断する手法に貢献し得るスラスト玉軸受のＡＥ
発生位置標定法及び装置を提供することを目的とするも
のである。
［１題を解決するための手段］
この目的に対応して、この発明のスラスト玉軸受のＡＥ
発生位置標定法は、作動中のスラスト玉軸受で発生した
ＡＥの相異なる複数の地点への到達時刻を各々検出し、
検出された到達時刻の差から前記ＡＥの発生位置より前
記複数の地点に至る距離の差ｄを求め、前記複数の地点
への距離の差がｄに該当する位置をＡＥ発発生候補直行
標定するＡＥ到達時間差によるＡＥ発生候補位置の標定
をし、かつ前記到達時刻のうちの１つにおける玉位置を
検出してこれらをすべてＡＥ発生候補位置とするＡＥ発
生時玉位ｄによるＡＥ発生候補位ｎの標定をし、前記Ａ
Ｅ到達時間差によるＡＥ発生候補位訂の標定と前記ＡＥ
発生時玉位置によるＡＥ発生候補位置の標定との結果に
共通の前記ＡＥ発生候補位置をＡＥ発生位首とすること
を特徴とし、またこの発明のスラスト玉軸受のＡＥ発生
位置標定装置は、ＡＥの到達時刻を検出し得る複数のＡ
Ｅ検出装置と、前記検出された時刻における玉の公転位
置を検出する玉位置検出装おと、前記複数のＡＥ検出装
置によって検出されたＡＥの到達時刻の差を前記複数の
ＡＥ検出装ｄから前記ＡＥの発生位置に至る距離の差ｄ
に換算しかつ前記検出された玉位置の各々について前記
複数のＡＥ検出装置に至る距離の差を計ｎして前記ｄと
比較し前記ｄと所定の誤差の範囲内で一致する玉位置を
検出する装置と、を備えることを特徴としている。
発生位置標定法は、作動中のスラスト玉軸受で発生した
ＡＥの相異なる複数の地点への到達時刻を各々検出し、
検出された到達時刻の差から前記ＡＥの発生位置より前
記複数の地点に至る距離の差ｄを求め、前記複数の地点
への距離の差がｄに該当する位置をＡＥ発発生候補直行
標定するＡＥ到達時間差によるＡＥ発生候補位置の標定
をし、かつ前記到達時刻のうちの１つにおける玉位置を
検出してこれらをすべてＡＥ発生候補位置とするＡＥ発
生時玉位ｄによるＡＥ発生候補位ｎの標定をし、前記Ａ
Ｅ到達時間差によるＡＥ発生候補位訂の標定と前記ＡＥ
発生時玉位置によるＡＥ発生候補位置の標定との結果に
共通の前記ＡＥ発生候補位置をＡＥ発生位首とすること
を特徴とし、またこの発明のスラスト玉軸受のＡＥ発生
位置標定装置は、ＡＥの到達時刻を検出し得る複数のＡ
Ｅ検出装置と、前記検出された時刻における玉の公転位
置を検出する玉位置検出装おと、前記複数のＡＥ検出装
置によって検出されたＡＥの到達時刻の差を前記複数の
ＡＥ検出装ｄから前記ＡＥの発生位置に至る距離の差ｄ
に換算しかつ前記検出された玉位置の各々について前記
複数のＡＥ検出装置に至る距離の差を計ｎして前記ｄと
比較し前記ｄと所定の誤差の範囲内で一致する玉位置を
検出する装置と、を備えることを特徴としている。
［作用１
この発明のスラスト玉軸受のＡＥ発生位置標定法におい
ては、発生したＡＥの相異なる複数の地点への到達時刻
が各々検出される。
ては、発生したＡＥの相異なる複数の地点への到達時刻
が各々検出される。
この到達時刻は一般にある時間差の範囲に分布する。こ
のうちの１つにおける玉位置がＡＥ発生時の玉位置とみ
なされＡＥ発生候補位置とされる。
のうちの１つにおける玉位置がＡＥ発生時の玉位置とみ
なされＡＥ発生候補位置とされる。
これは、到達時刻はＡＥ発生時刻ではないが、超音波で
あるＡＥの伝播速度が玉の運動における移動速度に比べ
て格段に速いので、ＡＥの発生位置から検出位置まで進
むに要する時間における玉の移動量は零と見なし得るか
らである。
あるＡＥの伝播速度が玉の運動における移動速度に比べ
て格段に速いので、ＡＥの発生位置から検出位置まで進
むに要する時間における玉の移動量は零と見なし得るか
らである。
これらのＡＥ発生候補位置の中の真のＡＥ発生位置を特
定するために、前記相異なる複数の地点へのＡＥの到達
時間の差が測定され、かつそれが距離に換算されてこれ
らの地点からのＡＥ発生位置に至る距離の差ｄが求めら
れる。２地点からの距離の差が一定１ｆｉｄである点は
ある双曲線上にあることから、ＡＥ発生位置はこの双曲
線上にあることになる。
定するために、前記相異なる複数の地点へのＡＥの到達
時間の差が測定され、かつそれが距離に換算されてこれ
らの地点からのＡＥ発生位置に至る距離の差ｄが求めら
れる。２地点からの距離の差が一定１ｆｉｄである点は
ある双曲線上にあることから、ＡＥ発生位置はこの双曲
線上にあることになる。
前記ＡＥ発生候補位置のうち前記双曲線上にあるものが
ＡＥ発生位置として標定される。但し実際の標定ではｄ
の測定誤差を考慮して前記双曲線はある幅をもったゾー
ンとして考えられ、このゾーンに入るものがＡＥ発生位
置と標定される。
ＡＥ発生位置として標定される。但し実際の標定ではｄ
の測定誤差を考慮して前記双曲線はある幅をもったゾー
ンとして考えられ、このゾーンに入るものがＡＥ発生位
置と標定される。
前述の「複数の地点」が「２地点」の場合は双曲線は一
組であり、ごく希ではあるがこの双曲線上にＡＥ発生候
補位置が２個含まれてしまって１個に特定できない場合
があり得る、という問題がある。この場合、「３地点」
とすればこの問題は解消する。− 玉数が多くかつｄの誤差が大きいときは［４地点］とし
て正確を期することもできる。
組であり、ごく希ではあるがこの双曲線上にＡＥ発生候
補位置が２個含まれてしまって１個に特定できない場合
があり得る、という問題がある。この場合、「３地点」
とすればこの問題は解消する。− 玉数が多くかつｄの誤差が大きいときは［４地点］とし
て正確を期することもできる。
またこの発明のスラスト玉軸受のＡＥ発生位置標定装置
においては、複数のＡＥ検出装置がスラスト玉軸受の外
方の異なる地点に配置され、各々のＡＥ検出装置にＡＥ
が到達した時刻が検出される。
においては、複数のＡＥ検出装置がスラスト玉軸受の外
方の異なる地点に配置され、各々のＡＥ検出装置にＡＥ
が到達した時刻が検出される。
このうちの１つにおける玉位置が玉位置検出装置によっ
て検出され、ＡＥ発生候補位費となる。
て検出され、ＡＥ発生候補位費となる。
これらのＡＥＲ生候補位置の中から真のＡＥ発生位置を
特定するために、演算装置によって前記異なる地点に配
置されたＡＥ検出装ＵにＡＥが到達した時刻の差（すな
わちＡＥがこれらのＡＥ検出装置に到達するのに要した
到達時間差）を求め、ＡＥの進行速度を用いてこの到達
時間差を距離に換算すると、複数のＡＥ検出装置からＡ
Ｅ発生位置に至る距離の差ｄが求められる。更に、演口
装置により、前記検出されたＡＥ発生候補位置の各々に
ついて前記複数のＡＥ検出装置に至る距離の差がｉｔｓ
され、前記ｄに一致し若しくはｄとの差が前記誤差の範
囲であるものがＡＥ発生位賃と標定される。
特定するために、演算装置によって前記異なる地点に配
置されたＡＥ検出装ＵにＡＥが到達した時刻の差（すな
わちＡＥがこれらのＡＥ検出装置に到達するのに要した
到達時間差）を求め、ＡＥの進行速度を用いてこの到達
時間差を距離に換算すると、複数のＡＥ検出装置からＡ
Ｅ発生位置に至る距離の差ｄが求められる。更に、演口
装置により、前記検出されたＡＥ発生候補位置の各々に
ついて前記複数のＡＥ検出装置に至る距離の差がｉｔｓ
され、前記ｄに一致し若しくはｄとの差が前記誤差の範
囲であるものがＡＥ発生位賃と標定される。
［実施例］
第１図、第２図及び第３図はこの発明のスラスト玉軸受
のＡＥ発生位ｉｉａ定法を示している。
のＡＥ発生位ｉｉａ定法を示している。
まずスラスト玉軸受、１０１の玉１０５の公転軌道１０
８を含む平面上の２点Ａ１．Ａ２に、それぞれＡＥ変換
子１１３を配置し、ＡＥが到達したとき、それぞれ電気
信号に変換してを発生してＡＥの到達時刻を検出し得る
ようにしておく。
８を含む平面上の２点Ａ１．Ａ２に、それぞれＡＥ変換
子１１３を配置し、ＡＥが到達したとき、それぞれ電気
信号に変換してを発生してＡＥの到達時刻を検出し得る
ようにしておく。
また上位置を検出する位置検出センサー１５をＡＥ変換
子の邪廟にならない位置に配置し、任意の時刻における
玉１０５の位ｄを検出し得るようにしておく。このよう
な技術は公知である。
子の邪廟にならない位置に配置し、任意の時刻における
玉１０５の位ｄを検出し得るようにしておく。このよう
な技術は公知である。
まず１つのＡＥについて２地点Ａ、、Ａ２でその到達時
刻ｔ１．ｔ２を検出する（ＡＥ到達時刻の検出）。その
うちの一方、例えばＡ、への到達時刻ｔ１における上位
置８１．Ｂ２．Ｂ３ （第１図）を検出する（上位置の
検出）。Ｂ、、Ｂ２゜Ｂ はＡＥがＡ１に到達した時刻
の上位置であるが、前述のようにＡＥが発生したときの
上位置と見なせるから、これらをＡＥ発生候補位置とす
る（ＡＥ発生時玉位置による発生候補位置標定）。
刻ｔ１．ｔ２を検出する（ＡＥ到達時刻の検出）。その
うちの一方、例えばＡ、への到達時刻ｔ１における上位
置８１．Ｂ２．Ｂ３ （第１図）を検出する（上位置の
検出）。Ｂ、、Ｂ２゜Ｂ はＡＥがＡ１に到達した時刻
の上位置であるが、前述のようにＡＥが発生したときの
上位置と見なせるから、これらをＡＥ発生候補位置とす
る（ＡＥ発生時玉位置による発生候補位置標定）。
また１ ４．、−、−１ 、、の差Δｔを計算し、時間
ΔｔにＡＥが進む距ｌｄを、ΔｔとＡＥの進行速度との
積として求める。するとｄは未知のＡＥ発生位翫（Ｂ１
．Ｂ２ 、Ｂ３のうちの１つ）より地点Ａ１゜Ａ２への
距離の差である。地点Ａ、、Ａ２からの距離の差がｄ（
一定）である点はＡ１．Ａ、２を焦点とするある双曲線
上にあり、例えばｔｌくｔ２の場合は第１図のように１
対の双曲線のうちの一方の曲線１７上にある。ｄについ
ての測定誤差Δｄを考慮すると、ＡＥ発生位置は、２点
Ａ１゜Ａ２からの距離の差がｄ±Δｄである２つの双曲
ａ１８．２１で挟まれた、第１図の斜線で示づゾーン２
２内にあることになる（ＡＥ到達時間差によるＡＥ位を
範囲標定）。従ってＡＥ発生位置は、ａｌ、Ｂ２．Ｂ３
のうらゾーン２２内にある点であり、第３図ではＡＥ発
生位置範囲のゾーン２０内にある点であって、例えば第
１図のように８１゜８２．８３が位置している場合は、
Ｂ１である、と標定するものである（ＡＥ発生位置標定
）。
ΔｔにＡＥが進む距ｌｄを、ΔｔとＡＥの進行速度との
積として求める。するとｄは未知のＡＥ発生位翫（Ｂ１
．Ｂ２ 、Ｂ３のうちの１つ）より地点Ａ１゜Ａ２への
距離の差である。地点Ａ、、Ａ２からの距離の差がｄ（
一定）である点はＡ１．Ａ、２を焦点とするある双曲線
上にあり、例えばｔｌくｔ２の場合は第１図のように１
対の双曲線のうちの一方の曲線１７上にある。ｄについ
ての測定誤差Δｄを考慮すると、ＡＥ発生位置は、２点
Ａ１゜Ａ２からの距離の差がｄ±Δｄである２つの双曲
ａ１８．２１で挟まれた、第１図の斜線で示づゾーン２
２内にあることになる（ＡＥ到達時間差によるＡＥ位を
範囲標定）。従ってＡＥ発生位置は、ａｌ、Ｂ２．Ｂ３
のうらゾーン２２内にある点であり、第３図ではＡＥ発
生位置範囲のゾーン２０内にある点であって、例えば第
１図のように８１゜８２．８３が位置している場合は、
Ｂ１である、と標定するものである（ＡＥ発生位置標定
）。
第１図及び第３図ではゾーン２２．２０は１箇所として
示したが、Ｂ、、８２．８３の位置により、また測定誤
差の幅により、ゾーン２０は、第４図（ａ）、（ｂ）に
示すゾーン２０ａ、２０ｂのように、２ｉｎ所に分れる
場合もあり得る。しかしＢ１，８２．８３の軌道１０８
の中心を極とする角座標θ１．θ２．θ３のうちこれら
のゾーンのうちの少なくとも一方に入るものがＡＥ発生
位置と標定されることに変りはない。
示したが、Ｂ、、８２．８３の位置により、また測定誤
差の幅により、ゾーン２０は、第４図（ａ）、（ｂ）に
示すゾーン２０ａ、２０ｂのように、２ｉｎ所に分れる
場合もあり得る。しかしＢ１，８２．８３の軌道１０８
の中心を極とする角座標θ１．θ２．θ３のうちこれら
のゾーンのうちの少なくとも一方に入るものがＡＥ発生
位置と標定されることに変りはない。
ここで０１がゾーン２０に入る場合に、第５図のように
ゾーン２０に入らないθ２．θ３のＡＥ発生カウント数
を、Ｂ１に加算するようにすることは容易であり、これ
により一見してＡＥ発生位置が分るようにすることがで
きる。
ゾーン２０に入らないθ２．θ３のＡＥ発生カウント数
を、Ｂ１に加算するようにすることは容易であり、これ
により一見してＡＥ発生位置が分るようにすることがで
きる。
以上のように、この発明のスラスト玉軸受のＡＥ発生位
置標定法ではまずＡＥ発生候補位置椋定により、ＡＥ発
生位置を軌道上の有限個のＡＥ発生候補位置（第３図の
０１．θ２．θ３で表す。
置標定法ではまずＡＥ発生候補位置椋定により、ＡＥ発
生位置を軌道上の有限個のＡＥ発生候補位置（第３図の
０１．θ２．θ３で表す。
これは第６図に示す従来の力試の結果と変らない。
）に絞り、更にＡＥ到達時間差によるＡＥ発生位鱈範囲
標定により、ＡＥ発生位置の範囲を絞り（第３図の鎖線
で示すゾーン２０） 、ＡＥ発生位ｅｔｒ標定している
。
標定により、ＡＥ発生位置の範囲を絞り（第３図の鎖線
で示すゾーン２０） 、ＡＥ発生位ｅｔｒ標定している
。
斜線部のゾーン２２に該当する角θの範囲はかなり広く
なるので工数が多い場合にはこのゾーン２２に２つの上
位置が入ることがあり得るが、ＡＥ変換子を３個若しく
は４個用いれば、θの範囲は複数のゾーンの交わり部分
に対応して茗しく狭く限定され、この問題も解消する。
なるので工数が多い場合にはこのゾーン２２に２つの上
位置が入ることがあり得るが、ＡＥ変換子を３個若しく
は４個用いれば、θの範囲は複数のゾーンの交わり部分
に対応して茗しく狭く限定され、この問題も解消する。
この場合スラスト玉軸受のＡＥ発生位Ｈ４！ｆｆ定装置
は第７図のように構成すればよい。
は第７図のように構成すればよい。
［実験例１
第６図はスラスト玉軸受をシミュレートした試験軸受の
転がり疲れの実験に本発明のＡＥ発生位ｒｊ４！：定力
法及び装ηを用いてＡＥ発生位置を標定した結果を示し
ている。
転がり疲れの実験に本発明のＡＥ発生位ｒｊ４！：定力
法及び装ηを用いてＡＥ発生位置を標定した結果を示し
ている。
図の横軸は試験軸受の軌道１周を０．０〜１．０として
示した。図では１．０の近くにビーク２３が見られ、実
際、転がり疲れ剥離はこの標定結果に対応する軌道上の
位置で発生していた。
示した。図では１．０の近くにビーク２３が見られ、実
際、転がり疲れ剥離はこの標定結果に対応する軌道上の
位置で発生していた。
［発明の効果］
以上の説明から明らかなようにこの発明によれば、スラ
スト玉軸受のＡＥの発生位置を正確に検出することが可
能であって、これにより異常の進行過程、特に玉軸受の
代表的な１傷である転がり疲れの進行過程の解明に有効
に利用され得て、使用状態でスラスト玉軸受の異常を診
断する手法に貢献し得るスラスト玉軸受のＡＥ発生位置
標定法及び装量を得ることができる。
スト玉軸受のＡＥの発生位置を正確に検出することが可
能であって、これにより異常の進行過程、特に玉軸受の
代表的な１傷である転がり疲れの進行過程の解明に有効
に利用され得て、使用状態でスラスト玉軸受の異常を診
断する手法に貢献し得るスラスト玉軸受のＡＥ発生位置
標定法及び装量を得ることができる。
第１図はこの発明のスラスト玉軸受のＡＥ発発生室定法
示す平面説明図、第２図はこの発明のスラスト玉軸受の
ＡＥ発発生室定法示すブロック説明図、第３図はＡＥ発
生候補位置椋定とＡＥ到達時間差によるＡＥ発生位置範
囲標定との結果の位置関係を示す図、第４図（ａ）はＡ
Ｅ発生候補位置標定とＡＥ到達時間差によるＡＥ発生位
置範囲標定との関係を軌道円周上で示す図、第４図（ｂ
）上で示す図、第５図は第６図に示す実験例のグラフの
つくり方を示す図、第６図はこの発明の標定法による実
験結果の例を示す図、第７図はこの発明のスラスト玉軸
受のＡＥ発生標定装置を示イブロック図、第８図は従来
のＡＥ発生位置標定装置の軸受との配置関係を示す図、
及び第９図は従来のＡＥ発生位置標定装置による標定結
末を示す図である。 １０５・・・玉、 １０８・・・公転軌道、１１３・
・・ＡＥＥ換子、 １１５・・・上位置検出センサ、 Ｂ１．８２．８３・・・玉位置、 θ４．θ２．θ３・・・ＡＥ発生候補位置、２０．２２
・・・ＡＥ発生位置範囲のゾーン３ 凶 （Ｂ ） ２ （Ｂ２） ３ （Ｂ３） ３６０゜ 軌道１拉置 第 図 （０） 第４図（ｂ） 竜℃重り上ｌ宜１ 富５図 ｅ３ １ θ２ πＳ６図 ０８Ｏ ０，５ １，０
示す平面説明図、第２図はこの発明のスラスト玉軸受の
ＡＥ発発生室定法示すブロック説明図、第３図はＡＥ発
生候補位置椋定とＡＥ到達時間差によるＡＥ発生位置範
囲標定との結果の位置関係を示す図、第４図（ａ）はＡ
Ｅ発生候補位置標定とＡＥ到達時間差によるＡＥ発生位
置範囲標定との関係を軌道円周上で示す図、第４図（ｂ
）上で示す図、第５図は第６図に示す実験例のグラフの
つくり方を示す図、第６図はこの発明の標定法による実
験結果の例を示す図、第７図はこの発明のスラスト玉軸
受のＡＥ発生標定装置を示イブロック図、第８図は従来
のＡＥ発生位置標定装置の軸受との配置関係を示す図、
及び第９図は従来のＡＥ発生位置標定装置による標定結
末を示す図である。 １０５・・・玉、 １０８・・・公転軌道、１１３・
・・ＡＥＥ換子、 １１５・・・上位置検出センサ、 Ｂ１．８２．８３・・・玉位置、 θ４．θ２．θ３・・・ＡＥ発生候補位置、２０．２２
・・・ＡＥ発生位置範囲のゾーン３ 凶 （Ｂ ） ２ （Ｂ２） ３ （Ｂ３） ３６０゜ 軌道１拉置 第 図 （０） 第４図（ｂ） 竜℃重り上ｌ宜１ 富５図 ｅ３ １ θ２ πＳ６図 ０８Ｏ ０，５ １，０
Claims (2)
- （１）作動中のスラスト玉軸受で発生したＡＥの相異な
る複数の地点への到達時刻を各々検出し、検出された到
達時刻の差から前記ＡＥの発生位置より前記複数の地点
に至る距離の差ｄを求め、前記複数の地点への距離の差
がｄに該当する位置をＡＥ発生候補位置と標定するＡＥ
到達時間差によるＡＥ発生候補位置の標定をし、かつ前
記到達時刻のうちの１つにおける玉位置を検出してこれ
らをすべてＡＥ発生候補位置とするＡＥ発生時玉位置に
よるＡＥ発生候補位置の標定をし、前記ＡＥ到達時間差
によるＡＥ発生候補位置の標定と前記ＡＥ発生時玉位置
によるＡＥ発生候補位置の標定との結果に共通の前記Ａ
Ｅ発生候補位置をＡＥ発生位置とすることを特徴とする
スラスト玉軸受のＡＥ発生位置標定法 - （２）ＡＥの到達時刻を検出し得る複数のＡＥ検出装置
と、前記検出された時刻における玉の公転位置を検出す
る玉位置検出装置と、前記複数のＡＥ検出装置によつて
検出されたＡＥの到達時刻の差を前記複数のＡＥ検出装
置から前記ＡＥの発生位置に至る距離の差ｄに換算しか
つ前記検出された玉位置の各々について前記複数のＡＥ
検出装置に至る距離の差を計算して前記ｄと比較し前記
ｄと所定の誤差の範囲内で一致する玉位置を検出する装
置と、を備えることを特徴とするスラスト玉軸受のＡＥ
発生位置標定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1257477A JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1257477A JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03120460A true JPH03120460A (ja) | 1991-05-22 |
| JPH0549940B2 JPH0549940B2 (ja) | 1993-07-27 |
Family
ID=17306847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1257477A Granted JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03120460A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5811683A (en) * | 1996-04-04 | 1998-09-22 | Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry | Method and apparatus for location of anomalous signal in a radial bearing |
| US7226713B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-06-05 | Ricoh Company, Ltd. | Carrier, developer including the carrier and image forming apparatus using the developer |
| JP2016197029A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | 鹿児島県 | 静電気放電発生源検知方法および静電気放電発生源可視化方法 |
-
1989
- 1989-10-02 JP JP1257477A patent/JPH03120460A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5811683A (en) * | 1996-04-04 | 1998-09-22 | Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry | Method and apparatus for location of anomalous signal in a radial bearing |
| US7226713B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-06-05 | Ricoh Company, Ltd. | Carrier, developer including the carrier and image forming apparatus using the developer |
| US7272347B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-09-18 | Ricoh Company, Ltd. | Carrier, developer including the carrier, and image forming apparatus using the developer |
| JP2016197029A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | 鹿児島県 | 静電気放電発生源検知方法および静電気放電発生源可視化方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0549940B2 (ja) | 1993-07-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |