JPH0549940B2 - - Google Patents
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- JPH0549940B2 JPH0549940B2 JP1257477A JP25747789A JPH0549940B2 JP H0549940 B2 JPH0549940 B2 JP H0549940B2 JP 1257477 A JP1257477 A JP 1257477A JP 25747789 A JP25747789 A JP 25747789A JP H0549940 B2 JPH0549940 B2 JP H0549940B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
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- Rolling Contact Bearings (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、スラスト玉軸受においてその外輪
に発生する転がり疲れ等の位置を使用状態で標定
する方法に関するものであつて、使用状態の軸受
の診断や、転がり疲れ現象における疲れクラツク
の進行過程解明のための研究に利用され得る。
に発生する転がり疲れ等の位置を使用状態で標定
する方法に関するものであつて、使用状態の軸受
の診断や、転がり疲れ現象における疲れクラツク
の進行過程解明のための研究に利用され得る。
［従来の技術］
スラスト玉軸受は、回転軸をその軸の方向に支
えるものであつて、第８図に示すスラスト玉軸受
１０１のように、同軸状に軸方向に重なつて位置
する内輪１０２と保持器１０３と外輪１０４及び
保持器１０３内に保持された複数の玉１０５を備
えており、支えようとする回転軸１０６の回転に
従つて内輪１０２が回転し、これに従つて玉１０
５が自転しながら外輪１０４上の軌道１０８上を
公転し、外輪１０４は固定位置に保たれるという
ものである。
えるものであつて、第８図に示すスラスト玉軸受
１０１のように、同軸状に軸方向に重なつて位置
する内輪１０２と保持器１０３と外輪１０４及び
保持器１０３内に保持された複数の玉１０５を備
えており、支えようとする回転軸１０６の回転に
従つて内輪１０２が回転し、これに従つて玉１０
５が自転しながら外輪１０４上の軌道１０８上を
公転し、外輪１０４は固定位置に保たれるという
ものである。
［発明が解決しようとする課題］
スラスト玉軸受はもちろん、転がり軸受は使用
によりやがて転がり疲れによる疲れクラツクが発
生し進行して疲れ剥離破損、すなわち寿命に至る
が、使用中に破損すると非常に危険なため、破損
する前に交換する必要がある。
によりやがて転がり疲れによる疲れクラツクが発
生し進行して疲れ剥離破損、すなわち寿命に至る
が、使用中に破損すると非常に危険なため、破損
する前に交換する必要がある。
しかるに、軸受の転がり疲れは外観上は分らな
いので、軸受の信頼性を確保するために、設計段
階で十分に考慮され、かつ使用段階では寿命より
短い時間で交換されることが多い。
いので、軸受の信頼性を確保するために、設計段
階で十分に考慮され、かつ使用段階では寿命より
短い時間で交換されることが多い。
しかし、健全な軸受まで交換するのは不経済で
あり、またそのようにしても尚、個々の軸受の寿
命は製品自身のばらつきや使用状態により異な
り、たまたま悪条件が重なると極端に寿命が縮む
こともあり得るので、単純に、一定期間を経たら
交換する、という方法では信頼性を完全に確保す
ることはできない。
あり、またそのようにしても尚、個々の軸受の寿
命は製品自身のばらつきや使用状態により異な
り、たまたま悪条件が重なると極端に寿命が縮む
こともあり得るので、単純に、一定期間を経たら
交換する、という方法では信頼性を完全に確保す
ることはできない。
そこで、個々の軸受をその寿命一杯まで使用し
て一律交換の不経済を除外し軸受の信頼性を高め
るために、使用状態の軸受を診断する手法が盛ん
になりつつある。
て一律交換の不経済を除外し軸受の信頼性を高め
るために、使用状態の軸受を診断する手法が盛ん
になりつつある。
その様な手法の１つとして軸受の破損の前兆現
象である疲れクラツクの発生・進行に伴うAE
（Acoustic Emission）に着目するものがある。
象である疲れクラツクの発生・進行に伴うAE
（Acoustic Emission）に着目するものがある。
AEは玉軸受の作動中に転がり疲れ等の箇所か
ら発生する超音波であつて、その周波数は数百Ｋ
Hz程度である。
ら発生する超音波であつて、その周波数は数百Ｋ
Hz程度である。
正常な軸受ではAEは発生せず、またAEが発生
しても直ちに軸受が破損するわけではない。しか
し、時間の経過につれてこの部分で疲れクラツク
等が進行すれば、ついには軸受の破損に至るもの
であるからAEの発生位置を検出することは使用
状態の軸受の診断や研究に寄与するところが大で
ある。
しても直ちに軸受が破損するわけではない。しか
し、時間の経過につれてこの部分で疲れクラツク
等が進行すれば、ついには軸受の破損に至るもの
であるからAEの発生位置を検出することは使用
状態の軸受の診断や研究に寄与するところが大で
ある。
本願発明者は先にAE発生位置を標定する技術
として、特願昭56−196642を提案した。
として、特願昭56−196642を提案した。
これは、第８図に示すようなAE発生位置標定
装置１１１であつてスラスト玉軸受１０１の保持
器１０２の外周に歯形状の凹凸として構成された
位置指示部材１１６と、位置指示部材１１６の外
に固定された位置検出センサ１１５とからなる位
置検出装置１１２と、AEを電気信号に変換する
AE変換子１１３を含むAE検出装置１１０と、を
備え、その作用は、軸１０１の回転に従つて外輪
１０４上の転がり疲れ等の部分を玉１０５が通過
してAEが発生したときの玉１０５の位置をAEの
発生候補位置と標定するものである。
装置１１１であつてスラスト玉軸受１０１の保持
器１０２の外周に歯形状の凹凸として構成された
位置指示部材１１６と、位置指示部材１１６の外
に固定された位置検出センサ１１５とからなる位
置検出装置１１２と、AEを電気信号に変換する
AE変換子１１３を含むAE検出装置１１０と、を
備え、その作用は、軸１０１の回転に従つて外輪
１０４上の転がり疲れ等の部分を玉１０５が通過
してAEが発生したときの玉１０５の位置をAEの
発生候補位置と標定するものである。
これは、外輪１０４上のAE発生候補位置を標
定する有効な方法であるが、玉１０５は複数個
（例えば３個）使用されているため、真のAE発生
位置が１箇所である場合でもAE発生候補位置と
して複数箇所が標定され（第９図）、真のAE発生
位置を特定できない不便さがあつた。
定する有効な方法であるが、玉１０５は複数個
（例えば３個）使用されているため、真のAE発生
位置が１箇所である場合でもAE発生候補位置と
して複数箇所が標定され（第９図）、真のAE発生
位置を特定できない不便さがあつた。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたも
のであつて、スラスト玉軸受のAEの発生位置を
正確に標定することが可能であつて、これにより
異常の進行過程、特に玉軸受の代表的な損傷であ
る転がり疲れの進行過程の解明に有効に利用され
得て、使用状態でスラスト玉軸受の異常を診断す
る手法に貢献し得るスラスト玉軸受のAE発生位
置標定法及び装置を提供することを目的とするも
のである。
のであつて、スラスト玉軸受のAEの発生位置を
正確に標定することが可能であつて、これにより
異常の進行過程、特に玉軸受の代表的な損傷であ
る転がり疲れの進行過程の解明に有効に利用され
得て、使用状態でスラスト玉軸受の異常を診断す
る手法に貢献し得るスラスト玉軸受のAE発生位
置標定法及び装置を提供することを目的とするも
のである。
［課題を解決するための手段］
この目的に対応して、この発明のスラスト玉軸
受のAE発生位置標定法は、作動中のスラスト玉
軸受で発生したAEの相異なる複数の地点への到
達時刻を各々検出し、検出された到達時刻の差か
ら前記AEの発生位置より前記複数の地点に至る
距離の差ｄを求め、前記複数の地点への距離の差
がｄに該当する位置をAE発生候補位置と標定す
るAE到達時間差によるAE発生候補位置の標定を
し、かつ前記到達時刻のうちの１つにおける玉位
置を検出してこれらをすべてAE発生候補位置と
するAE発生時玉位置によるAE発生候補位置の標
定をし、前記AE到達時間差によるAE発生候補位
置の標定と前記AE発生時玉位置によるAE発生候
補位置の標定との結果に共通の前記AE発生候補
位置をAE発生位置とすることを特徴とし、また
この発明のスラスト玉軸受のAE発生位置標定装
置は、AEの到達時刻を検出し得る複数のAE検出
装置と、前記検出された時刻における玉の公転位
置を検出する玉位置検出装置と、前記複数のAE
検出装置によつて検出されたAEの到達時刻の差
を前記複数のAE検出装置から前記AEの発生位置
に至る距離の差ｄに換算しかつ前記検出された玉
位置の各々について前記複数のAE検出装置に至
る距離の差を計算して前記ｄと比較し前記ｄと所
定の誤差の範囲内で一致する玉位置を検出する装
置と、を備えることを特徴としている。
受のAE発生位置標定法は、作動中のスラスト玉
軸受で発生したAEの相異なる複数の地点への到
達時刻を各々検出し、検出された到達時刻の差か
ら前記AEの発生位置より前記複数の地点に至る
距離の差ｄを求め、前記複数の地点への距離の差
がｄに該当する位置をAE発生候補位置と標定す
るAE到達時間差によるAE発生候補位置の標定を
し、かつ前記到達時刻のうちの１つにおける玉位
置を検出してこれらをすべてAE発生候補位置と
するAE発生時玉位置によるAE発生候補位置の標
定をし、前記AE到達時間差によるAE発生候補位
置の標定と前記AE発生時玉位置によるAE発生候
補位置の標定との結果に共通の前記AE発生候補
位置をAE発生位置とすることを特徴とし、また
この発明のスラスト玉軸受のAE発生位置標定装
置は、AEの到達時刻を検出し得る複数のAE検出
装置と、前記検出された時刻における玉の公転位
置を検出する玉位置検出装置と、前記複数のAE
検出装置によつて検出されたAEの到達時刻の差
を前記複数のAE検出装置から前記AEの発生位置
に至る距離の差ｄに換算しかつ前記検出された玉
位置の各々について前記複数のAE検出装置に至
る距離の差を計算して前記ｄと比較し前記ｄと所
定の誤差の範囲内で一致する玉位置を検出する装
置と、を備えることを特徴としている。
［作用］
この発明のスラスト玉軸受のAE発生位置標定
法においては、発生したAEの相異なる複数の地
点への到達時刻が各々検出される。
法においては、発生したAEの相異なる複数の地
点への到達時刻が各々検出される。
この到達時刻は一般にある時間差の範囲に分布
する。このうちの１つにおける玉位置がAE発生
時の玉位置とみなされAE発生候補位置とされる。
これは、到達時刻はAE発生時刻ではないが、超
音波であるAEの伝播速度が玉の運動における移
動速度に比べて格段に速いので、AEの発生位置
から検出位置まで進むに要する時間における玉の
移動量は零と見なし得るからである。
する。このうちの１つにおける玉位置がAE発生
時の玉位置とみなされAE発生候補位置とされる。
これは、到達時刻はAE発生時刻ではないが、超
音波であるAEの伝播速度が玉の運動における移
動速度に比べて格段に速いので、AEの発生位置
から検出位置まで進むに要する時間における玉の
移動量は零と見なし得るからである。
これらのAE発生候補位置の中の真のAE発生位
置を特定するために、前記相異なる複数の地点へ
のAEの到達時間の差が測定され、かつそれが距
離に換算されてこれらの地点からのAE発生位置
に至る距離の差ｄが求められる。２地点からの距
離の差が一定値ｄである点はある双曲線上にある
ことから、AE発生位置はこの双曲線上にあるこ
とになる。
置を特定するために、前記相異なる複数の地点へ
のAEの到達時間の差が測定され、かつそれが距
離に換算されてこれらの地点からのAE発生位置
に至る距離の差ｄが求められる。２地点からの距
離の差が一定値ｄである点はある双曲線上にある
ことから、AE発生位置はこの双曲線上にあるこ
とになる。
前記AE発生候補位置のうち前記双曲線上にあ
るものがAE発生位置として標定される。但し実
際の標定ではｄの測定誤差を考慮して前記双曲線
はある幅をもつたゾーンとして考えられ、このゾ
ーンに入るものがAE発生位置と標定される。
るものがAE発生位置として標定される。但し実
際の標定ではｄの測定誤差を考慮して前記双曲線
はある幅をもつたゾーンとして考えられ、このゾ
ーンに入るものがAE発生位置と標定される。
前述の「複数の地点」が「２地点」の場合は双
曲線は一組であり、ごく希ではあるがこの双曲線
上にAE発生候補位置が２個含まれてしまつて１
個に特定できない場合があり得る、という問題が
ある。この場合、「３地点」とすればこの問題は
解消する。
曲線は一組であり、ごく希ではあるがこの双曲線
上にAE発生候補位置が２個含まれてしまつて１
個に特定できない場合があり得る、という問題が
ある。この場合、「３地点」とすればこの問題は
解消する。
玉数が多くかつｄの誤差が大きいときは「４地
点」として正確を期することもできる。
点」として正確を期することもできる。
またこの発明のスラスト玉軸受のAE発生位置
標定装置においては、複数のAE検出位置がスラ
スト玉軸受の外方の異なる地点に配置され、各々
のAE検出位置にAEが到達した時刻が検出され
る。
標定装置においては、複数のAE検出位置がスラ
スト玉軸受の外方の異なる地点に配置され、各々
のAE検出位置にAEが到達した時刻が検出され
る。
このうちの１つにおける玉位置が玉位置検出装
置によつて検出され、AE発生候補位置となる。
置によつて検出され、AE発生候補位置となる。
これらのAE発生候補位置の中から真のAE発生
位置を特定するために、演算装置によつて前記異
なる地点に配置されたAE検出装置にAEが到達し
た時刻の差（すなわちAEがこれらのAE検出装置
に到達するのに要した到達時間差）を求め、AE
の進行速度を用いてこの到達時間差を距離に換算
すると、複数のAE検出装置からAE発生位置に至
る距離の差ｄが求められる。更に、演算装置によ
り、前記検出されたAE発生候補位置の各々につ
いて前記複数のAE検出装置に至る距離の差が計
算され、前記ｄに一致し若しくはｄとの差が前記
誤差の範囲であるものがAE発生位置と標定され
る。
位置を特定するために、演算装置によつて前記異
なる地点に配置されたAE検出装置にAEが到達し
た時刻の差（すなわちAEがこれらのAE検出装置
に到達するのに要した到達時間差）を求め、AE
の進行速度を用いてこの到達時間差を距離に換算
すると、複数のAE検出装置からAE発生位置に至
る距離の差ｄが求められる。更に、演算装置によ
り、前記検出されたAE発生候補位置の各々につ
いて前記複数のAE検出装置に至る距離の差が計
算され、前記ｄに一致し若しくはｄとの差が前記
誤差の範囲であるものがAE発生位置と標定され
る。
［実施例］
第１図、第２図及び第３図はこの発明のスラス
ト玉軸受のAE発生位置標定法を示している。
ト玉軸受のAE発生位置標定法を示している。
まずスラスト玉軸受１０１の玉１０５の公転軌
道１０８を含む平面上の２点A1，A2に、それぞ
れAE変換子１１３を配置し、AEが到達したと
き、それぞれ電気信号に変換してを発生してAE
の到達時刻を検出し得るようにしておく。
道１０８を含む平面上の２点A1，A2に、それぞ
れAE変換子１１３を配置し、AEが到達したと
き、それぞれ電気信号に変換してを発生してAE
の到達時刻を検出し得るようにしておく。
また玉位置を検出する位置検出センサ１１５を
AE変換子の邪魔にならない位置に配置し、任意
の時刻における玉１０５の位置を検出し得るよう
にしておく。このような技術は公知である。
AE変換子の邪魔にならない位置に配置し、任意
の時刻における玉１０５の位置を検出し得るよう
にしておく。このような技術は公知である。
まず１つのAEについて２地点A1，A2でその到
達時刻t1，t2を検出する（AE到達時刻の検出）。
そのうちの一方、例えばA1への到達時刻t1におけ
る玉位置B1，B2，B3（第１図）を検出する（玉位
置の検出）。B1，B2，B3はAEがA1に到達した時
刻の玉位置であるが、前述のようにAEが発生し
たときの玉位置と見なせるから、これらをAE発
生候補位置とする（AE発生時玉位置による発生
候補位置標定）。
達時刻t1，t2を検出する（AE到達時刻の検出）。
そのうちの一方、例えばA1への到達時刻t1におけ
る玉位置B1，B2，B3（第１図）を検出する（玉位
置の検出）。B1，B2，B3はAEがA1に到達した時
刻の玉位置であるが、前述のようにAEが発生し
たときの玉位置と見なせるから、これらをAE発
生候補位置とする（AE発生時玉位置による発生
候補位置標定）。
またt1，t2の差Δtを計算し、時間ΔtにAEが進
む距離ｄを、ΔtとAEの進行速度との積として求
める。するとｄは未知のAE発生位置（B1，B2，
B3のうちの１つ）より地点A1，A2への距離の差
である。地点A1，A2からの距離の差がｄ（一定）
である点はA1，A2を焦点とするある双曲線上に
あり、例えばt1＜t2の場合は第１図のように１対
の双曲線のうちの一方の曲線１７上にある。ｄに
ついての測定誤差Δdを考慮すると、AE発生位置
は、２点A1，A2からの距離の差がｄ±Δdである
２つの双曲線１８，２１で挟まれた、第１図の斜
線で示すゾーン２２内にあることになる（AE到
達時間差によるAE位置範囲標定）。従つてAE発
生位置は、B1，B2，B3のうちゾーン２２内にあ
る点であり、第３図ではAE発生位置範囲のゾー
ン２０内にある点であつて、例えば第１図のよう
にB1，B2，B3が位置している場合は、B1であ
る、と標定するものである（AE発生位置標定）。
む距離ｄを、ΔtとAEの進行速度との積として求
める。するとｄは未知のAE発生位置（B1，B2，
B3のうちの１つ）より地点A1，A2への距離の差
である。地点A1，A2からの距離の差がｄ（一定）
である点はA1，A2を焦点とするある双曲線上に
あり、例えばt1＜t2の場合は第１図のように１対
の双曲線のうちの一方の曲線１７上にある。ｄに
ついての測定誤差Δdを考慮すると、AE発生位置
は、２点A1，A2からの距離の差がｄ±Δdである
２つの双曲線１８，２１で挟まれた、第１図の斜
線で示すゾーン２２内にあることになる（AE到
達時間差によるAE位置範囲標定）。従つてAE発
生位置は、B1，B2，B3のうちゾーン２２内にあ
る点であり、第３図ではAE発生位置範囲のゾー
ン２０内にある点であつて、例えば第１図のよう
にB1，B2，B3が位置している場合は、B1であ
る、と標定するものである（AE発生位置標定）。
第１図及び第３図ではゾーン２２，２０は１箇
所として示したが、B1，B2，B3の位置により、
また測定誤差の幅により、ゾーン２０は、第４図
ａ，ｂに示すゾーン２０ａ，２０ｂのように、２
箇所に分れる場合もあり得る。しかしB1，B2，
B3の軌道１０８の中心を極とする角座標θ1，θ2，
θ3のうちこれらのゾーンのうちの少なくとも一方
に入るものがAE発生位置と標定されることに変
りはない。
所として示したが、B1，B2，B3の位置により、
また測定誤差の幅により、ゾーン２０は、第４図
ａ，ｂに示すゾーン２０ａ，２０ｂのように、２
箇所に分れる場合もあり得る。しかしB1，B2，
B3の軌道１０８の中心を極とする角座標θ1，θ2，
θ3のうちこれらのゾーンのうちの少なくとも一方
に入るものがAE発生位置と標定されることに変
りはない。
ここでθ1がゾーン２０に入る場合に、第５図の
ようにゾーン２０に入らないθ2，θ3のAE発生カ
ウント数を、θ1に加算するようにすることは容易
であり、これにより一見してAE発生位置が分る
ようにすることができる。
ようにゾーン２０に入らないθ2，θ3のAE発生カ
ウント数を、θ1に加算するようにすることは容易
であり、これにより一見してAE発生位置が分る
ようにすることができる。
以上のように、この発明のスラスト玉軸受の
AE発生位置標定法ではまずAE発生候補位置標定
により、AE発生位置を軌道上の有限個のAE発生
候補位置（第３図のθ1，θ2，θ3で表す。これは第
６図に示す従来の方法の結果と変らない。）に絞
り、更にAE到達時間差によるAE発生位置範囲標
定により、AE発生位置の範囲を絞り（第３図の
鎖線で示すゾーン２０）、AE発生位置を標定して
いる。
AE発生位置標定法ではまずAE発生候補位置標定
により、AE発生位置を軌道上の有限個のAE発生
候補位置（第３図のθ1，θ2，θ3で表す。これは第
６図に示す従来の方法の結果と変らない。）に絞
り、更にAE到達時間差によるAE発生位置範囲標
定により、AE発生位置の範囲を絞り（第３図の
鎖線で示すゾーン２０）、AE発生位置を標定して
いる。
斜線部のゾーン２２に該当する角θの範囲はか
なり広くなるので玉数が多い場合にはこのゾーン
２２に２つの玉位置が入ることがあり得るが、
AE変換子を３個若しくは４個用いれば、θの範
囲は複数のゾーンの交わり部分に対応して著しく
狭く限定され、この問題も解消する。
なり広くなるので玉数が多い場合にはこのゾーン
２２に２つの玉位置が入ることがあり得るが、
AE変換子を３個若しくは４個用いれば、θの範
囲は複数のゾーンの交わり部分に対応して著しく
狭く限定され、この問題も解消する。
この場合スラスト玉軸受のAE発生位置標定装
置は第７図のように構成すればよい。
置は第７図のように構成すればよい。
［実施例］
第６図はスラスト玉軸受をシミユレートした試
験軸受の転がり疲れの実験に本発明のAE発生位
置標定方法及び装置を用いてAE発生位置を標定
した結果を示している。
験軸受の転がり疲れの実験に本発明のAE発生位
置標定方法及び装置を用いてAE発生位置を標定
した結果を示している。
図の横軸は試験軸受の軌道１周を0.0〜1.0とし
て示した。図では1.0の近くにピーク２３が見ら
れ、実際、転がり疲れ剥離はこの標定結果に対応
する軌道上の位置で発生していた。
て示した。図では1.0の近くにピーク２３が見ら
れ、実際、転がり疲れ剥離はこの標定結果に対応
する軌道上の位置で発生していた。
［発明の効果］
以上の説明から明らかなようにこの発明によれ
ば、スラスト玉軸受のAEの発生位置を正確に検
出することが可能であつて、これにより異常の進
行過程、特に玉軸受の代表的な損傷である転がり
疲れの進行過程の解明に有効に利用され得て、使
用状態でスラスト玉軸受の異常を診断する手法に
貢献し得るスラスト玉軸受のAE発生位置標定法
及び装置を得ることができる。
ば、スラスト玉軸受のAEの発生位置を正確に検
出することが可能であつて、これにより異常の進
行過程、特に玉軸受の代表的な損傷である転がり
疲れの進行過程の解明に有効に利用され得て、使
用状態でスラスト玉軸受の異常を診断する手法に
貢献し得るスラスト玉軸受のAE発生位置標定法
及び装置を得ることができる。
第１図はこの発明のスラスト玉軸受のAE発生
標定法を示す平面説明図、第２図はこの発明のス
ラスト玉軸受のAE発生標定法を示すブロツク説
明図、第３図はAE発生候補位置標定とAE到達時
間差によるAE発生位置範囲標定との結果の位置
関係を示す図、第４図ａはAE発生候補位置標定
とAE到達時間差によるAE発生位置範囲標定との
関係を軌道円周上で示す図、第４図ｂは第４図ａ
で示す関係を軌道円周上の角座標上で示す図、第
５図は第６図に示す実験例のグラフのつくり方を
示す図、第６図はこの発明の標定法による実験結
果の例を示す図、第７図はこの発明のスラスト玉
軸受のAE発生標定装置を示すブロツク図、第８
図は従来のAE発生位置標定装置の軸受との配置
関係を示す図、及び第９図は従来のAE発生位置
標定装置による標定結果を示す図である。 １０５……玉、１０８……公転軌道、１１３…
…AE変換子、１１５……玉位置検出センサ、
B1，B2，B3……玉位置、θ1，θ2，θ3……AE発生
候補位置、２０，２２……AE発生位置範囲のゾ
ーン。
標定法を示す平面説明図、第２図はこの発明のス
ラスト玉軸受のAE発生標定法を示すブロツク説
明図、第３図はAE発生候補位置標定とAE到達時
間差によるAE発生位置範囲標定との結果の位置
関係を示す図、第４図ａはAE発生候補位置標定
とAE到達時間差によるAE発生位置範囲標定との
関係を軌道円周上で示す図、第４図ｂは第４図ａ
で示す関係を軌道円周上の角座標上で示す図、第
５図は第６図に示す実験例のグラフのつくり方を
示す図、第６図はこの発明の標定法による実験結
果の例を示す図、第７図はこの発明のスラスト玉
軸受のAE発生標定装置を示すブロツク図、第８
図は従来のAE発生位置標定装置の軸受との配置
関係を示す図、及び第９図は従来のAE発生位置
標定装置による標定結果を示す図である。 １０５……玉、１０８……公転軌道、１１３…
…AE変換子、１１５……玉位置検出センサ、
B1，B2，B3……玉位置、θ1，θ2，θ3……AE発生
候補位置、２０，２２……AE発生位置範囲のゾ
ーン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 作動中のスラスト玉軸受で発生したAEの相
異なる複数の地点への到達時刻を各々検出し、検
出された到達時刻の差から前記AEの発生位置よ
り前記複数の地点に至る距離の差ｄを求め、前記
複数の地点への距離の差がｄに該当する位置を
AE発生候補位置と標定するAE到達時間差による
AE発生候補位置の標定をし、かつ前記到達時刻
のうちの１つにおける玉位置を検出してこれらを
すべてAE発生候補位置とするAE発生時玉位置に
よるAE発生候補位置の標定をし、前記AE到達時
間差によるAE発生候補位置の標定と前記AE発生
時玉位置によるAE発生候補位置の標定との結果
に共通の前記AE発生候補位置をAE発生位置とす
ることを特徴とするスラスト玉軸受のAE発生位
置標定法 ２ AEの到達時刻を検出し得る複数のAE検出装
置と、前記検出された時刻における玉の公転位置
を検出する玉位置検出装置と、前記複数のAE検
出装置によつて検出されたAEの到達時刻の差を
前記複数のAE検出装置から前記AEの発生位置に
至る距離の差ｄに換算しかつ前記検出された玉位
置の各々について前記複数のAE検出装置に至る
距離の差を計算して前記ｄと比較し前記ｄと所定
の誤差の範囲内で一致する玉位置を検出する装置
と、を備えることを特徴とするスラスト玉軸受の
AE発生位置標定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1257477A JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1257477A JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03120460A JPH03120460A (ja) | 1991-05-22 |
| JPH0549940B2 true JPH0549940B2 (ja) | 1993-07-27 |
Family
ID=17306847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1257477A Granted JPH03120460A (ja) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | スラスト玉軸受のａｅ発生位置標定法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03120460A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3051911B2 (ja) * | 1996-04-04 | 2000-06-12 | 工業技術院長 | ラジアル軸受における信号発生位置の標定方法及び装置 |
| JP3992233B2 (ja) | 2003-01-31 | 2007-10-17 | 株式会社リコー | 電子写真用キャリア、現像剤及び画像形成装置 |
| JP6447918B2 (ja) * | 2015-04-02 | 2019-01-09 | 鹿児島県 | 静電気放電発生源検知方法および静電気放電発生源可視化方法 |
-
1989
- 1989-10-02 JP JP1257477A patent/JPH03120460A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03120460A (ja) | 1991-05-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |