JPH03120490A - 距離測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、距離測定装置に関し、特に、強度変調位相
差法を用いた距離測定装置に関する。

［従来例］ 以下、距離測定１装置の従来例として光を用いた光波距
離測定装置について、２つの例を挙げて説明する。

第２図は、従来の第１例の光波距離測定装置の機能構成
を示す概略ブロック図であり、強度変調位相差法により
距離測定を行なうような構成となっている。

図において、光波距離測定装置は、発光側に発振器１、
変調部２、発光部３を含み、受光側に受光部４、増幅部
５を含み、さらに局部発振器６、発光側および受光側ビ
ート発生部７および１３、発光側および受光側フィルタ
８および１４、発光側および受光側コンパレータ９およ
び１５、周期カウント部１０、クロック１１、位相検出
部１２、ゲート発生部１６および位相差カウント部１７
ｂを含む。

発振器１および局部発振器６は、たとえば水晶発振器な
どであり、固有の周波数レベルで発振する。発振器１は
、発光強度を変調するための強度変調周波数ｆ１．ｌを
有し、局部発振器６は局部発振周波数ｆＬｌを有する。

変調部２は、与えられる強度変調周波数ｆｌ１１の周波
数レベルに応じて発光強度に変調を加えるように、次段
の発光部３の発光を制御する。

発光部３から強度変調されて発せられる光は対象物に反
射され、その反射光は受光部４で検知される。受光部４
で受光される反射光の発光に対する位相遅れは、後段の
ゲート発生部１６においてパルス状のゲート信号ＧＡＴ
Ｅとして得られるが、詳細は後述する。以上のように、
装置は、検知される反射光の発光に対する位相遅れから
対象物までの距離を測定する。

次に、第２図に示す光波距離測定装置の距離測定の動作
について説明する。

発振器１は強度変調周波数ｆｍにより発振し、この発振
信号は変調部２および発光側ビート発生部７に同時に与
えられる。変調部２は、与えられる強度変調周波数ｆイ
の周波数レベルに応じて発光強度に変調を加えるように
、発光部３を発光制御する。

上述のように、発光部３から発せられた光が、対象物で
反射されると、その反射光はまず受光部４で受光され、
ここでいわゆる光電変換されて、次段の増幅部５に受光
レベルに応じた電気信号が与えられる。増幅部５は入力
信号を増幅し、増幅された受光信号は、受光側ビート発
生部１３に与えられる。

以上のように、発光側ビート発生部７には強度変調周波
数ｆｌｌｌを有する参照信号ＲｅＦが与えられ、受光側
ビート発生部１３には同様に受光信号Ｓｉｇが与えられ
る。このとき、局部発振器６は局部発振周波数ｆＬ１で
発振し、この出力信号は発光側および受光側ビート発生
部７および１３に並行して与えられる。したがって、発
光側ビート発生部７では強度変調周波数ｆＩｌｌを有す
る参照信号ＲｅＦと局部発振周波数ｆＬＩを有する局部
発振出力信号とを混合し、うなり（ビート）を生ずるよ
うに動作する。また、同様に受光側ビート発生部１３で
は、強度変調周波数ｆｍを有する受光信号Ｓ１ｇと局部
発振周波数ｆＬｌを有する局部発振出力信号とを混合し
、うなり（ビート）を生ずるように動作する。なお、発
生するビート信号は、ビート周波数ｆｌ）ｌを有すると
する。

次に、発光側ビート発生部７が出力するビート信号は、
発光側フィルタ８に与えられ信号中の雑音成分が除去さ
れて発光側コンパレータ９に入力する。発光側コンパレ
ータ９では、一定レベルを境にして、入力する発光側ビ
ート信号を２値化し、２値化信号ＲＥＦをゲート発生部
１６および周期カウント部１０に出力する。

同様に受光側ビート発生部１３で発生する受光側ビート
信号は、受光側フィルタ１４で信号中の雑音成分が除去
され、続いて受光側コンパレータ１５により一定レベル
を境にして２値化信号ＳＩＧに変換され、ゲート発生部
１６に与えられる。

ゲート発生部１６は、ゲート信号ＧＡＴＥを生成し位相
差カウント部１７ｂに出力する。このゲート発生部１６
のゲート信号ＧＡＴＥ発生の動作について第３図を参照
して説明する。

第３図は、第２図および後述する第４図に示す光波距離
測定装置のゲート発生部１６のゲート信号ＧＡＴＥの出
力処理を説明するための図である。

第３図（１）および第３図（ｂ）は、２値化信号ＲＥＦ
およびＳＩＧならびに両２値化信号より得られるゲート
信号ＧＡＴＥの各概略波形を示している。

ゲート発生部１６は、図示するように２値化信号ＲＥＦ
の信号立上がりのタイミングに応じて、ゲート信号ＧＡ
ＴＥを信号レベル“ＨＩ　ＧＨ”に変化させて出力し、
直後に人力する２値化信号ＳＩＧの信号立上がりのタイ
ミングに応じてゲート信号ＧＡＴＥを信号レベル“ＬＯ
Ｗ”に変化させて出力するよう動作する。したがって、
ゲート信号ＧＡＴＥは、２値化信号ＲＥＦとＳＩＧの位
相差、すなわち受光信号の発光信号に対する位相遅れを
示す信号である。

ここで、本装置における測定距離の算出方法について説
明を加える。

以上のように、強度変調周波数ｆｌＩｌにより発光強度
に変調を加えながら対象物に発光する。これに応じて、
対象物からの反射光が装置に入射するわけであるが、発
光側の参照信号Ｒｅｆと受光側の受光信号Ｓｉｇとの位
相差をφ（ｄ　ｅ　ｇ）と想定すれば、測定対象物まで
の距＠Ｌは、Ｌ−１／２Ｘφ／　３６０　ｘ　ｃ　／　
ｆ　ｍ（Ｃ：光速）　　　・・・（１） と算出できる。

ところで、発光側および受光側ビート発生部７および１
３が発振するビート周波数ｒｂ＋は、強度変調周波数ｆ
ｌｌｌと局部発振周波数ｆＬＩとから、ｆｂ＋＝ｌｆｍ
　　ｆＬ＋ｌ　　　・・・（２）と求められる。しかし
ながら、強度変調周波数ｆ、および局部発振周波数ｆＬ
ｌは、仮に、発振器１および局部発振器６に水晶発振器
を用いたとしても、±１１００ｐｐ程度のばらつきを有
し、発振周波数レベルが安定しない。すなわち、仮に強
度変調周波数ｆｌ、ｌを１０ＭＨｚとすれば、強度変調
周波数ｆｌｌｌおよび局部発振周波数ｆＬｌは±１ｋＨ
２の誤差を持つので、式（２）よりビート周波数ｆｌ）
Ｉには±２ｋＨｚのばらつきが発生することがわかる。

したがって、第３図に示すように、第３図（ａ）と第３
図（ｂ）とではビート信号のばらつきが発生しビート周
波数は異なっているにもかかわらず、ゲート信号ＧＡＴ
Ｈの信号幅は同じという状態が発生する。したがって、
式（１）中の位相差φはゲート信号ＧＡＴＥの信号幅だ
けでは求められないことがわかる。これを改善するため
に、従来は次のように対処している。

まず、ゲート発生部１６から出力されるゲート信号ＧＡ
ＴＥは、次段の位相差カウント部１７ｂに与えられる。

応じて、位相差カウント部１７ｂは、クロック１１より
与えられるクロックパルスに同期して、ゲート信号ＧＡ
ＴＨの信号入力期間を計数し、計数したカウント数ｎを
次段の位相検出部１２に与える。

また、発光側コンパレータ９より２値化信号ＲＥＦが与
えられる周期カウント部１０は、前述の位相差カウント
部１７ｂ同様にクロック１１から与えられるクロックパ
ルスに同期して、ビート信号である２値化信号ＲＥＦの
１周期期間を計数し、計数したカウント数Ｎを位相検出
部１２に与える。

したがって、位相検出部１２は、ビート信号の１周期期
間から得られるカウント数Ｎとゲート信号ＧＡＴＥから
得られるカウント数ｎとが同時に与えられ位相差φを算
出する。つまり、位相差φを次式（３）より求めること
ができる。

φ−ｎ／ＮＸ３６０　　　−　（３） その後、上式（１）と各定数および式（３）で求められ
る位相差φをマイクロコンピュータなどに与えれば距離
りが求まる。

以上のように、第２図に示す従来の第１例の光波距離測
定装置においては、ビート周波数ｆｂｌのばらつきを考
慮し、ビート信号の１周期期間および位相差期間を常に
一定のクロックパルスによりカウントし、距離の測定を
行なうようにしている。

次に、従来の光波距１１ｉ１測定装置の第２例について
説明する。

上述の第１の従来例においては、ビート信号の１周期期
間およびゲート信号ＧＡＴＨの信号幅の両方をカウント
する必要がある。しかし、以下の第２例においては、ゲ
ート信号ＧＡＴＨの信号幅のみをカウントするようにし
て距離測定している。

第４図は、従来の第２例の光波距離測定装置の機能構成
を示す概略ブロック図であり、ビート信号を逓倍してゲ
ート信号ＧＡＴＥの信号幅を計数するためのパルス信号
を得るような装置構成となっている。

図において、光波距離測定値は、第２図同様に発振器１
、変調部２、発光部３、受光部４、増幅部５、局部発振
器６、発光側および受光側ビート発生部７および１３、
発光側および受光側フィルタ８および１４、発光側およ
び受光側コンパレータ９および１５、位相差カウント部
１７ｃおよびゲート発生部１６を含む。なお、発振器１
は強度変調周波数ｆｌｌｌを有し、局部発振器６は局部
発振周波数ｆＬｌを有する。また、発生されるビート信
号はビート周波数ｆｂｌを有する。

さらに、本装置は、位相差カウント部１７ｃに計数動作
のためのパルス信号を与えるために分周器１８ｂ１位相
比較器１９ｂおよびＶＣＯ（電圧制御発振器の略）２０
ｂを含む。

次に、第４図に示す光波距離測定装置の距離測定動作に
ついて説明する。なお、第２図に示す装置と同様に動作
する部分については説明を簡単に行なう。

前述の第２図の装置同様に、発光側は得られるビート信
号から２値化信号ＲＥＦを発生し、ゲート発生部１６に
与える。また、受光側も得られるビート信号から２値化
信号ＳＩＧを発生し、ゲート発生部１６に与える。応じ
て、ゲート発生部１６は２値化信号ＲＥＦおよびＳＩＧ
よりゲート信号ＧＡＴＥを発生し、位相差カウント部１
７ｃに与える。このとき、位相比較器１９ｂには、発光
側の２値化信号ＲＥＦが与えられる。

次に、位相差カウント部１７ｃのカウント処理動作につ
いて説明する。

第４図に示すように、位相比較器１９ｂはｖＣ０２０ｂ
に制御信号を与え、応じて発生されるＶＣＯ２０ｂの出
力信号は、位相差カウント部１７Ｃに与えられる。また
、ｖＣＯ２０ｂの出力信号は、分局器１８ｂを介して位
相比較器１９ｂに与えられる。

今、ＶＣＯ２０ｂは、発光側ビート発生部７が発生する
ビート信号のＮ倍の周波数のパルスを発生するように制
御されるとすれば、ＶＣＯ２０ｂが発生するパルスの１
パルスあたりの距離は常に一定となる。

分周器１８ｂは、ＶＣＯ２０ｂからパルスが与えられ、
応じて、このパルスを１／Ｎ倍に分周し、位相比較器１
９ｂに与える。

位相比較器１９ｂは、２値化信号ＲＥＦと分周器１８ｂ
からの信号とを人力し、両信号の周波数と位相差に応じ
た制御電圧を生成し、ＶＣＯ２０ｂに出力する。応じて
ＶＣＯ２０ｂは、与えられる制御電圧により発振動作を
調整しながら、常にビート信号のＮ倍の周波数で発振す
るように動作する。したがって、位相差カウント部１７
ｃは、ゲート信号ＧＡＴＥおよびビート信号のＮ倍の周
波数を有するパルスが与えられるので、ゲート信号ＧＡ
ＴＨの信号入力期間を与えられるパルスに同期して計数
できる。また、その計数値を、次段のマイコンに出力す
る。したがって、ｖＣ０２０ｂの出力する１パルスあた
りの距Ｍ（一定）と位相差カウント部１７Ｃの計数値と
により、対象物までの距離は容易に求めることができる
。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述の従来の強度変調位相差法による距
離測定装置は、以下のような問題がある。

（１）　処理が容易となるビート周波数を発生するよう
な発振器を用いる必要があり、装置の構成に制限を受け
ることになる。

（２）　上記（１）の制限により、強度変調周波数もま
た制限を受けることになる。

（３）　また、従来の第１例では、装置から対象物に出
力される信号と、対象物で反射され、装置に入力する信
号との位相差算出に割算処理が必要なので、装置構成が
複雑となる。

（４）　さらに、ビート周波数のばらつきに起因して、
フィルタにおいて位相ずれが発生する。

上記（１）および（２）について、さらに説明を加える
ならば、汎用の水晶発振器において、その発振周波数が
近い水晶発振器の周波数の組合わせは、たとえば次のよ
うなものがある。４　Ｍ　Ｈｚと３．９９３６ＭＨｚ　
　（ビート周波数−６，４ｋＨｚ　）　、８ＭＨｚと７
．９８７２ＭＨｚ　　（ビート周波数−１２，８ｋＨｚ
　）　、１６ＭＨｚと１５゜９７４４ＭＨｚ　　（ビー
ト周波数−２２，６ｋＨ，）があり、発振器の組合わせ
によりビート周波数は一意に定まってしまい、制限を受
けることになる。

上記（４）について、第５図を参照してさらに説明を加
える。

第５図は、バンドパスフィルタの特性例を示す図である
。

第５図（ａ）は振幅−周波数特性を示し、第５図（ｂ）
は位相−周波数特性を示す。なお第５図（ａ）および（
ｂ）ともに横軸に周波数を示す。

前述のように、ビート周波数は装置に適用される発振器
の周波数により一意に定まりかつばらつきを有する。た
とえば、第５図に示すように、ビート周波数がビート周
波数の変化範囲内でばらつくとすれば、応じて、得られ
る振幅もばらつく。

また位相ずれも発生することがわかる。特に、第５図（
ｂ）に示すようにビート周波数が変化することによる位
相ずれは、温度変化による９位相ずれに比べるとはるか
に大きいことがわかる。

それゆえに、本発明の目的は、装置の発振周波数の設定
に制限を受けず、かつ装置の測定性能向上、測定時間の
短縮を図ることのできる距離測定装置を提供することで
ある。

［課題を解決するための手段］ 本発明に係る距離測定装置は、所定の周波数の発振信号
を出力する発振手段と、前記発振手段の発振出力信号に
応答して、被測定距離にある対象物に対して強度変調さ
れた信号を送信する信号送信手段と、電圧制御型局部発
振手段と、前記発振手段からの発振出力信号と、前記電
圧制御型局部発振手段からの局部発振出力信号とに応答
して、第１のビートを発生する第１ビート発生手段と、
前記対象物から反射された強度変調された信号を受信し
て、電気信号に変換する受信手段と、前記受信手段から
の電気信号と、前記局部発振手段からの局部発振出力信
号とに応答して、第２のビートを発生する第２ビート発
生手段と、前記第１ビート発生手段からの第１ビート信
号と、前記第２ビート発生手段からの第２ビート信号と
に基づいて、位相差を検出する手段と、クロック発生手
段と、前記位相差検出手段により検出された位相差に対
応する期間、前記クロック発生手段により発生されるク
ロックをカウントして距離データを出力する手段と、前
記クロック発生手段のクロック出力を分周する分周手段
と、前記分周手段の分周出力周波数と、前記第１ビート
発生手段からの第１ビート信号周波数とを比較して、比
較出力を前記電圧制御型局部発振手段に与える手段とを
備えて構成される。

［作用］ 本発明に係る距離測定装置は、上述のように構成される
ので、発振出力信号と局部発振出力信号との信号周波数
の組合わせを任意に選ぶことができ、また、ビート信号
周波数を常に一定に制御できる。

［実施例］ 以下、本発明の一実施例について図面を参照して詳細に
説明する。本発明にかかる距離測定装置は音波、赤外線
などを用いた装置に適用することも可能であるが、−例
として光を用いた光波距離測定装置を挙げる。

第１図は、本発明の一実施例の光波距離ａ−１定装置の
機能構成を示す概略ブロック図であり、強度変調位相差
法により距離測定を行なう。

図において、光波距離測定装置は発振器１、変調部２、
発光部３、受光部４、増幅部５、ＶＣＯ２０ａ１発光側
および受光側ビート発生部７および１３、発光側および
受光側フィルタ８および１４、発光側および受光側コン
パレータ９および１５を含む。さらに装置は、ゲート発
生部１６、クロック１１、位相差カウント部１７ａ１分
周器１８ａおよび位相比較器１９ａを含む。なお、発振
器１は強度変調周波数ｆｌｌｌで、ＶＣ０２０ｇは局部
発振周波数ｆＬＯで、発光側および受光側ビート発生部
７および１３はビート周波数ｆｂＯで各々発振すると想
定する。

第１図に示す光波距離測定装置は、発振器１に水晶発振
器゛を適用し、局部発振器としてＶＣＯ２０ａを適用す
る。

クロック１１は、一定のクロックパルスを発生し、位相
差カウント部１７ａおよび分周器１８ａに与える。なお
、クロック１１が発生するクロックパルスは、発光側ビ
ート発生部７が発生するビート信号のＮ倍の周波数を有
する。分周器１８ａは、クロック１１から与えられるク
ロックパルスを１／Ｎ倍に分周した基準信号を位相比較
器１９ａに与える。位相比較器１９ａは、発光側からの
２値化信号ＲＥＦと分周器１８ａからの基準信号とを入
力し、両者の周波数および位相差に応じた制御電圧を発
生し、ＶＣ０２０ａに与えるように動作する。したがっ
て、ＶＣ０２０ａは、クロックパルスを分周して作った
基準信号とビート信号との画周波数が一致するように発
振制御され、局部発振周波数ｆＬＯで発振するよう制御
される。

次に、第１図に示す光波距離測定装置の距離測定の動作
について説明する。

発振器１は強度変調周波数ｆｌＬｌで発振しており、こ
の発振信号は変調部２および発光側ビート発生部７に与
えられる。変調部２は、与えられる強度変調周波数ｆｌ
Ｉｌにより発光強度に変調を加えるように発光部３を発
光制御する。

一方、発光部３から発せられた光が対象物で反射される
と、その反射光は受光部４で受光され、ここでいわゆる
光電変換される。受光レベルに相当する電気信号は次段
の増幅部５で信号増幅され、受光信号Ｓｉｇが受光側ビ
ート発生部１３に与えられる。

以上のように、発光側ビート発生部７には強度変調周波
数ｆｆｆｌを有する参照信号ＲｅＦが与えられ、受光側
ビート発生部１３には同様に強度変調周波数ｆｍを有す
る受光信号Ｓｉｇが与えられる。

このとき、ＶＣ０２０ｇは周波数ｆＬｏで発振し、この
発振信号を発光側および受光側ビート発生部７および１
３に与えることにより、発光側ビート発生部７では参照
信号Ｒｅｆと局部発振周波数ｆＬＯとの局部発振信号を
混合し、うなり（ビート）を生ずるように動作する。同
様に受光側ビート発生部１３では受光信号Ｓｉｇと局部
発振周波数ｆＬＯの局部発振信号とを混合し、ビート周
波数ｆ。０を有するうなり（ビート）を生ずるように動
作する。

次に、発光側ビート発生部７で発生されるビート信号は
、発光側フィルタ８で信号中の雑音成分が除去され発光
側コンパレータ９に与えられる。

発光側コンパレータ９は、与えられるビート信号につい
て一定レベルを境にして２値化し、２値化信号ＲＥＦを
ゲート発生部１６および位相比較器１９ａに与える。

同様に、受光側ビート発生部１３で発生されるビート信
号は、受光側フィルタ１４で信号中の雑音成分が除去さ
れ、受光側コンパレータ１５に与えられる。受光側コン
パレータ１５は、与えられるビート信号について一定レ
ベルを境にして２値化し、２値化信号ＳＩＧをゲート発
生部１６に与える。

ゲート発生部１６は与えられる２値化信号ＲＥＦおよび
ＳＩＧより、前掲第３図のように両信号の位相差に相当
するゲート信号ＧＡＴＥを発生し、位相差カウント部１
７ａに与える。

位相差カウント部１７ａは、クロック１１より与えられ
るビート周波数ｆｂＯのＮ倍のクロックパルスに同期し
て、ゲート信号ＧＡＴＨの入力期間をカウントする。

位相差カウント部１７ａのカウント値は、次段のマイク
ロコンピュータなどに与えられ測定距離が得られる。つ
まり、クロック１１が出力する１クロツクパルスに相当
する距離は常に一定であるので、ゲート信号ＧＡＴＥの
入力期間において計数されるクロックパルス数により、
測定距離は容易に求まる。

クロック１１が発生するクロックパルスは、分周器１８
ａにも与えられ、分周器１８ａにおいて１／Ｎ倍に分周
されて基準信号として位・相比較器１９ａへ与えられる
。位相比較器１９ａは、発光側のビート信号より得られ
る２値化信号ＲＥＦと、分周器１８ａからの基準信号と
を入力し、両信号の周波数および位相差に基づいた制御
電圧をＶＣ０２０ａに与える。したがって、ＶＣ０２０
ａは、ビート周波数ｆｂｏと基準信号の周波数とが一致
するような周波数ｆＬｏで発振するよう制御される。こ
のため、ビート周波数ｆｌ）０は常に一定に保持され、
ばらつきがなくなるので、フィルタによる位相ずれが発
生しにくくなる。

なお、本実施例では、ビート周波数ｆｂｏをロックさせ
るような基準周波数をクロック１１および分周器１８ａ
の組合わせから得ているが、別の発振器を備えて基準周
波数を得るようにしてもよい。

［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば装置内部でクロックパル
スを発生し、これを予め定められた分周数で分周して、
希望の基準周波数を作り、この基準周波数とビート周波
数とがロックするように電圧制御型局部発振手段の発振
動作を制御する。したがって、ビート信号の周波数ばら
つきに起因するフィルタでの位相ずれが発生しにくくな
る。また、強度変調周波数のみを水晶発振器から得るよ
うにすればよいので、測定距離に適した波長の水晶発振
器を発振手段として選ぶことができる。たとえば、測定
距離が約５ｍと予想されるならば、波長は２０ｍとなる
ような強度変調周波数（１５ＭＨｚ）というように任意
に選ぶことができる。

また、ビート周波数は希望の基準周波数にロックさせて
得るようにしているので、クロックパルスとして使用可
能な周波数などの許容範囲内で、ビート周波数を十分高
く設定できる。そのため、測定距離を得るための平均化
処理に要する時間を短くできる。たとえば、位相差に対
応する期間内で６４回のクロックパルスのカウントで与
えられる距離を平均化し、これを測定距離とすれば、ビ
ート周波数が１２．８ｋＨｚなら平均化処理に要する時
間は５ｍ５ｅｃ、ビート周波数が２０ｋＨ２なら平均化
処理に要する時間は３．２ｍ５ｅｃとなる。

また、クロックパルスを一定として、ビート周波数を２
倍とすれば、１クロツクパルスに相当する距離は２倍と
なり、上述の平均化処理に要する時間は半分になる。し
たがって、分周手段の分周数により基準周波数を変え、
応じてフィルタ特性も変えれば、高速処理（分解能は低
下）と高分解能（測定時間が長い）との機能切換えが任
意に行なえるなどの効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の光波距離測定装置の機能
構成を示す概略ブロック図である。第２図は、従来の第
１例の光波距離測定装置の機能構成を示す概略ブロック
図である。第３図は、光波距離測定装置のゲート発生部
のゲート信号の出力処理を説明するための図である。第
４図は、従来の第２例の光波距離測定装置の機能構成を
示す概略ブロック図である。第５図は、バンドパスフィ
ルタの特性例を示す図である。 図中、１は発振器、１１はクロック、１６はゲート発生
部、１７ａは位相差カウント部、１８ａは分周器、１９
ａは位相比較器、２０ａはＶＣＯ。 ｆｌｎは強度変調周波数、ｆＬｏは局部発振周波数、Ｒ
ｅｆは参照信号、ＳＬｇは受光信号、ＲＥＦおよびＳＩ
Ｇは２値化信号ならびにＧＡＴＥはゲート信号である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 所定の周波数の発振信号を出力する発振手段と、前記発
   振手段の発振出力信号に応答して、被測定距離にある対
   象物に対して強度変調された信号を送信する信号送信手
   段と、 電圧制御型局部発振手段と、 前記発振手段からの発振出力信号と、前記電圧制御型局
   部発振手段からの局部発振出力信号とに応答して、第１
   のビートを発生する第１ビート発生手段と、 前記対象物から反射された強度変調された信号を受信し
   て、電気信号に変換する受信手段と、前記受信手段から
   の電気信号と、前記局部発振手段からの局部発振出力信
   号とに応答して、第２のビートを発生する第２ビート発
   生手段と、前記第１ビート発生手段からの第１ビート信
   号と、前記第２ビート発生手段からの第２ビート信号と
   に基づいて、位相差を検出する手段と、クロック発生手
   段と、 前記位相差検出手段により検出された位相差に対応する
   期間、前記クロック発生手段により発生されるクロック
   をカウントして距離データを出力する手段と、 前記クロック発生手段のクロック出力を分周する分周手
   段と、 前記分周手段の分周出力周波数と、前記第１ビート発生
   手段からの第１ビート信号周波数とを比較して、比較出
   力を前記電圧制御型局部発振手段に与える手段とを備え
   た、距離測定装置。