JPH03126260A - イメージセンサ - Google Patents
イメージセンサInfo
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- JPH03126260A JPH03126260A JP1265941A JP26594189A JPH03126260A JP H03126260 A JPH03126260 A JP H03126260A JP 1265941 A JP1265941 A JP 1265941A JP 26594189 A JP26594189 A JP 26594189A JP H03126260 A JPH03126260 A JP H03126260A
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- electrodes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光センサに関し、特にファクシミリの読み取
り装置における光検知器として用いて好適なイメージセ
ンサに関する。
り装置における光検知器として用いて好適なイメージセ
ンサに関する。
(従来の技術その課題)
ラインイメージセンサは一次元光検知器アレイであり、
ファクシミリにおける読み取り装置を小形化するなめに
開発された。現在広く使われているファクシミリにおけ
る読み収り装置は、MOS又はCODでなるラインイメ
ージセンサとこのラインイメージセンサに像を投映する
ための大形のレンズとでなっていた。この読み取り装置
ではレンズを含む光学系が大形になるから、ファクシミ
リも大形にならざるを得なかった。
ファクシミリにおける読み取り装置を小形化するなめに
開発された。現在広く使われているファクシミリにおけ
る読み収り装置は、MOS又はCODでなるラインイメ
ージセンサとこのラインイメージセンサに像を投映する
ための大形のレンズとでなっていた。この読み取り装置
ではレンズを含む光学系が大形になるから、ファクシミ
リも大形にならざるを得なかった。
そこで、ファクシミリの小形化を図るために、Cd5−
CdSe光導電素子アレイやアモルファスSi光ダイオ
ードアレイなどの薄膜検知素子アレイでなる密着型ライ
ンイメージセンサが開発された。
CdSe光導電素子アレイやアモルファスSi光ダイオ
ードアレイなどの薄膜検知素子アレイでなる密着型ライ
ンイメージセンサが開発された。
Cd5−CdSe光導電素子アレイは大きな光電流と各
素子の感度の均一性に特徴がある。そこで、このアレイ
を採用すれば、マトリックス駆動方式を適用して簡単な
読み取り回路で文字等の像を読み収ることができる。た
だし、Cd5−CdSeアレイでは光応答速度が低いた
め、ファクシミリの読み取り装置における光検知器とし
て用いた場合、伝送速度を高くできない。
素子の感度の均一性に特徴がある。そこで、このアレイ
を採用すれば、マトリックス駆動方式を適用して簡単な
読み取り回路で文字等の像を読み収ることができる。た
だし、Cd5−CdSeアレイでは光応答速度が低いた
め、ファクシミリの読み取り装置における光検知器とし
て用いた場合、伝送速度を高くできない。
他方、アモルファスSi光ダイオードアレイでは光応答
速度はCd5−CdSeアレイより100倍も速い、し
かしながら、アモルファス光Stダイオードアレイでは
直接駆動方式の読み取り回路を採用せざるを得ないとい
う問題点がある。直接駆動方式では多数のアナログスイ
ッチを用いるから読み取り回路の構成が複雑になり、ひ
いては各光検知素子を高い密度で集積して読み取りの分
解能を向上するのが困難である。
速度はCd5−CdSeアレイより100倍も速い、し
かしながら、アモルファス光Stダイオードアレイでは
直接駆動方式の読み取り回路を採用せざるを得ないとい
う問題点がある。直接駆動方式では多数のアナログスイ
ッチを用いるから読み取り回路の構成が複雑になり、ひ
いては各光検知素子を高い密度で集積して読み取りの分
解能を向上するのが困難である。
このように従来のイメージセンサには光応答速度または
分解能に関して解決すべき課題があった。
分解能に関して解決すべき課題があった。
そこで、本発明の目的は、光応答速度が速くてしかも分
解能が高いイメージセンサの提供にある。
解能が高いイメージセンサの提供にある。
(課題を解決するための手段)
本発明では、基板上に蒸着された半絶縁性のPb2Cr
O5薄膜と、このPb2CrO5薄j模上に形成された
金属薄膜とからなり、該金属薄膜はほぼ等間隔に列状に
配列されたn(nは2以上の整数)対のインターディジ
タル構造電極をなしていることを特徴とするイメージセ
ンサにより前述の課題を解決する。
O5薄膜と、このPb2CrO5薄j模上に形成された
金属薄膜とからなり、該金属薄膜はほぼ等間隔に列状に
配列されたn(nは2以上の整数)対のインターディジ
タル構造電極をなしていることを特徴とするイメージセ
ンサにより前述の課題を解決する。
また、本発明では、上記構成において、前記インターデ
ィジタル構造電極はm(mは2以上の整数)個の電極群
に区分されて、該各電極群はp(pは2以上でn以下の
整数)対の前記インターディジタル構造電極で構成され
ており、前記各電極群内では各前記インターディジタル
構造電極における片方の櫛状電極は前記金属薄膜で互い
に接続され、他方の櫛状電極は電気的に互いに分離され
ており、 前記電極群相互の間では前記インターディジタル構造′
rrh極は電気的に互いに分離されていることを特徴と
するイメージセンナにより前記課題を解決する。
ィジタル構造電極はm(mは2以上の整数)個の電極群
に区分されて、該各電極群はp(pは2以上でn以下の
整数)対の前記インターディジタル構造電極で構成され
ており、前記各電極群内では各前記インターディジタル
構造電極における片方の櫛状電極は前記金属薄膜で互い
に接続され、他方の櫛状電極は電気的に互いに分離され
ており、 前記電極群相互の間では前記インターディジタル構造′
rrh極は電気的に互いに分離されていることを特徴と
するイメージセンナにより前記課題を解決する。
(作用)
本発明ではインターディジタル構造の電極が形成された
半絶縁性のPb2CrO!!薄膜を光検知手段として用
いる。インターディジタル構造電極は1対の櫛状電極を
微小な間隙で対向させてなる。
半絶縁性のPb2CrO!!薄膜を光検知手段として用
いる。インターディジタル構造電極は1対の櫛状電極を
微小な間隙で対向させてなる。
本発明においてはn対のインターディジタル構造電極を
有し、これらはほぼ等間隔に列状に配列されている。1
対のインターディジタル構造電極とこれらインターディ
ジタル構造電極郡分のPb2Cr0.5薄膜とで1つの
光検知素子をなしている。
有し、これらはほぼ等間隔に列状に配列されている。1
対のインターディジタル構造電極とこれらインターディ
ジタル構造電極郡分のPb2Cr0.5薄膜とで1つの
光検知素子をなしている。
そこで、この発明のイメージセンサは、n個の光検知素
子がほぼ等間隔で列状に配列されてなる光検知素子アレ
イである。
子がほぼ等間隔で列状に配列されてなる光検知素子アレ
イである。
Pb2CrO!lは1968年にネガス(Negas)
により誘電体物質として発明されたまま長い期間にわた
って注目されなかったがこの物質について本発明者らに
より可視光および紫外光領域における光起電力効果と光
導電効果とが発見され光電効果素子への利用が検討され
てきた。その結果、P b 2 Cr O5を薄膜化し
、その薄膜上に金属の薄膜の電極対を設けることにより
、該電極の縁とPb2CrO5との境界にショットキー
バリヤーが形成されることが判明した。そのショットキ
ーバリヤーにおける光電効果を利用して光検知素子が得
られることが確認された0本発明では、インターディジ
タル構造電極を採用してショットキーバリヤー領域を長
くして光に対する感応域の密度を高くすることにより、
素子配列方向における単位長さの受光部当りの光電流を
増大し、光検知素子の集積密度を高くできるようにしで
ある。
により誘電体物質として発明されたまま長い期間にわた
って注目されなかったがこの物質について本発明者らに
より可視光および紫外光領域における光起電力効果と光
導電効果とが発見され光電効果素子への利用が検討され
てきた。その結果、P b 2 Cr O5を薄膜化し
、その薄膜上に金属の薄膜の電極対を設けることにより
、該電極の縁とPb2CrO5との境界にショットキー
バリヤーが形成されることが判明した。そのショットキ
ーバリヤーにおける光電効果を利用して光検知素子が得
られることが確認された0本発明では、インターディジ
タル構造電極を採用してショットキーバリヤー領域を長
くして光に対する感応域の密度を高くすることにより、
素子配列方向における単位長さの受光部当りの光電流を
増大し、光検知素子の集積密度を高くできるようにしで
ある。
Pb2CrOy5薄膜はアモルファスSi薄膜より抵抗
率が高いから素子間の分離が容易であり、マトリックス
駆動方式の読み収り回路で光信号を読み収ることができ
る。
率が高いから素子間の分離が容易であり、マトリックス
駆動方式の読み収り回路で光信号を読み収ることができ
る。
このように本発明のセンサでは、素子間の分離が容易で
大きな光電流が得られるから、光検知素子を高い密度で
集積でき、従来のイメージセンサより高い分解能を得る
ことができる。また、光電流が大きいから、マトリック
ス駆動方式の読み取り回路において、光検知素子の負荷
となる抵抗の大きさを小さくしても光信号を検知できる
。したがって、本発明のセンサでは、従来のアモルファ
スSt光ダイオードアレイと同程度に光速度で文字等の
像を読み取ることができる。
大きな光電流が得られるから、光検知素子を高い密度で
集積でき、従来のイメージセンサより高い分解能を得る
ことができる。また、光電流が大きいから、マトリック
ス駆動方式の読み取り回路において、光検知素子の負荷
となる抵抗の大きさを小さくしても光信号を検知できる
。したがって、本発明のセンサでは、従来のアモルファ
スSt光ダイオードアレイと同程度に光速度で文字等の
像を読み取ることができる。
(実施例)
次に実施例を挙げて本発明をさらに詳しく説明する。
第1図は本発明の一実施例の平面形と断面形とを対応さ
せて示す図である。この実施例はガラス基板1とpb2
cro!!薄膜2と共通電極3と個別電極4とからなっ
ている。
せて示す図である。この実施例はガラス基板1とpb2
cro!!薄膜2と共通電極3と個別電極4とからなっ
ている。
ガラス基板1はコーニング(Corning)社製のN
o、7059でなり、幅35關、長さ35關、厚さ0.
4++mである。
o、7059でなり、幅35關、長さ35關、厚さ0.
4++mである。
Pb2CrOa薄膜2は磁気収束による電子ビーム蒸@
(EBE)法により基板1に0.65μmの厚さに蒸着
されている。このPb2Cr0−3薄膜の製作方法につ
いては、S、Horita andに、Toda、 ”
Prepara電極on of PbxCrOx th
an flllllsby an electron−
beallevapora電極on techniqu
e゛′^pp1. Phys、八36.131 (19
86)に詳しい記載がある。
(EBE)法により基板1に0.65μmの厚さに蒸着
されている。このPb2Cr0−3薄膜の製作方法につ
いては、S、Horita andに、Toda、 ”
Prepara電極on of PbxCrOx th
an flllllsby an electron−
beallevapora電極on techniqu
e゛′^pp1. Phys、八36.131 (19
86)に詳しい記載がある。
電極3,4は420人の厚さのAu薄膜でなる。
Au薄膜のm槓はPb2CrO5薄膜2の蒸着工程に引
き続いて行われ、そのときの真空度は1×10−’ t
orr以下であり、温度は室温である。
き続いて行われ、そのときの真空度は1×10−’ t
orr以下であり、温度は室温である。
Pb2CrO5薄膜2の全面に蒸着されたAu薄膜に電
子ビームリソグラフィ技術により電[!3゜4の形にパ
ターンが描かれ、次にカリウム沃素飽和溶液によりエツ
チングをし、最後に酸素プラズマによりホトレジストを
除去し、薄膜形成工程が終了する。
子ビームリソグラフィ技術により電[!3゜4の形にパ
ターンが描かれ、次にカリウム沃素飽和溶液によりエツ
チングをし、最後に酸素プラズマによりホトレジストを
除去し、薄膜形成工程が終了する。
第2図は、第1図実施例における1つの光検知素子の部
分を示す平面図である。共通電極3と個別電極4とで構
成される1対のインターディジタル構造電極とPb2C
rO5薄Jl!2とで1つの光検知素子がなっている1
本図に明瞭に示されているようにインターディジタル構
造電極は、共通電極3としての櫛形電極と個別電#14
としての櫛形電極とを微小な間隙で対向させてなる。そ
の微小間隙は2μmである。この実施例における1対の
インターディジタル構造電極では、共通型I#1311
1!1に5本の指状電極31が設けてあり、個別電極4
側に6本の指状電極41が設けである。第1図および第
2図において斜線を付して示す部分は半絶縁性のPb2
CrO5薄膜2である。
分を示す平面図である。共通電極3と個別電極4とで構
成される1対のインターディジタル構造電極とPb2C
rO5薄Jl!2とで1つの光検知素子がなっている1
本図に明瞭に示されているようにインターディジタル構
造電極は、共通電極3としての櫛形電極と個別電#14
としての櫛形電極とを微小な間隙で対向させてなる。そ
の微小間隙は2μmである。この実施例における1対の
インターディジタル構造電極では、共通型I#1311
1!1に5本の指状電極31が設けてあり、個別電極4
側に6本の指状電極41が設けである。第1図および第
2図において斜線を付して示す部分は半絶縁性のPb2
CrO5薄膜2である。
第1図の実施例は32個の光検知素子を1例に配列して
なる。第3図に平面図で示すように、これら素子は1止
当り8個の密度で集積されている。
なる。第3図に平面図で示すように、これら素子は1止
当り8個の密度で集積されている。
各素子の長さは100μmであり、幅は120μmであ
る。1対のインターディジタル構造電極とこれら電極郡
分のpb2cr□、薄膜2とで1つの光検知素子が構成
されている。これら各光検知素子は5μmの電極間隙で
分離されている。したがって、素子間隔は125μmと
なる。Pb2Cr O=s ′wA膜2の抵抗率が十分
に高いから、格別の手段を横することなく5μmの間隙
だけで素子間の分離は十分である。
る。1対のインターディジタル構造電極とこれら電極郡
分のpb2cr□、薄膜2とで1つの光検知素子が構成
されている。これら各光検知素子は5μmの電極間隙で
分離されている。したがって、素子間隔は125μmと
なる。Pb2Cr O=s ′wA膜2の抵抗率が十分
に高いから、格別の手段を横することなく5μmの間隙
だけで素子間の分離は十分である。
この実施例ではインターディジタル構造電極は32対あ
るが(前述のn=32)、共通t[!3側の櫛形電極は
8つずつを1群としてAu薄膜で互いに接続されており
、他方の櫛形電極は前述のとおりに5μmの間隙で電気
的に互いに分離されている。32対のインターディジタ
ル構造電極は4つの電極群に区分され(前述のm=4
) 、電極群相互は微小な間隙で電気的に分離されてい
る。各電極群には8対〈前述のP=8)のインターディ
ジタル構造t′J#lがある。したがって、この実施例
においては、片方の電極を共通にする8個の光検知素子
が1つの光検知素子群をなし、実施例全体では4つの光
検知素子群がある。
るが(前述のn=32)、共通t[!3側の櫛形電極は
8つずつを1群としてAu薄膜で互いに接続されており
、他方の櫛形電極は前述のとおりに5μmの間隙で電気
的に互いに分離されている。32対のインターディジタ
ル構造電極は4つの電極群に区分され(前述のm=4
) 、電極群相互は微小な間隙で電気的に分離されてい
る。各電極群には8対〈前述のP=8)のインターディ
ジタル構造t′J#lがある。したがって、この実施例
においては、片方の電極を共通にする8個の光検知素子
が1つの光検知素子群をなし、実施例全体では4つの光
検知素子群がある。
次に第1図実施例に適用する読み取り回路について述べ
る。第4図はその読み取り回路を示す回路図である。こ
の読取り回路は、マトリックス駆動方式の読み取り回路
である0本図において、y、、Y2.Y、、Y、、はそ
れぞれ8素子の光検知素子群を示す、スイッチS W
+〜SW4は負の直流電圧Eを光検知素子群¥1〜Y4
に順次に印加する。I−Vコンバータは、テキサス・イ
ンスツルメンツ社製のTLC274CPでなり、低入力
バイアス電流の演算増幅器を含む電流−電圧変換器によ
り、ラインイメージセンサの各光検知素子からの出力電
流を電圧に変換する。この1−Vコンバータにおける感
度は10mV/nAである。コンパレータはI−Vコン
バータの出力をTTI、レベルのディジタル信号に変換
する。シフトレジスタはコンパレータから出力される8
ビツトの並列にディジタル信号を時系列ディジタル信号
に変換する。
る。第4図はその読み取り回路を示す回路図である。こ
の読取り回路は、マトリックス駆動方式の読み取り回路
である0本図において、y、、Y2.Y、、Y、、はそ
れぞれ8素子の光検知素子群を示す、スイッチS W
+〜SW4は負の直流電圧Eを光検知素子群¥1〜Y4
に順次に印加する。I−Vコンバータは、テキサス・イ
ンスツルメンツ社製のTLC274CPでなり、低入力
バイアス電流の演算増幅器を含む電流−電圧変換器によ
り、ラインイメージセンサの各光検知素子からの出力電
流を電圧に変換する。この1−Vコンバータにおける感
度は10mV/nAである。コンパレータはI−Vコン
バータの出力をTTI、レベルのディジタル信号に変換
する。シフトレジスタはコンパレータから出力される8
ビツトの並列にディジタル信号を時系列ディジタル信号
に変換する。
第5図は第1図の実施例により文字を読み取るための試
験的な光学系の構成を示す概念図である。
験的な光学系の構成を示す概念図である。
ここでHe−Neレーザが出力するレーザ光は波長54
3.5nmで、パワー0.6mwである。
3.5nmで、パワー0.6mwである。
レンズはそのレーザ光を線状に拡げて読み取り対象のネ
ガフィルムに集束する。実施例のラインイメージセンサ
はそのネガフィルムの下面に密着されている。
ガフィルムに集束する。実施例のラインイメージセンサ
はそのネガフィルムの下面に密着されている。
次に、第1図実施例における光検知素子の光電特性につ
いて述べるや 第6図は静的状態における印加電圧に対する光電流およ
び暗電流を示す特性図である。このときの照射光の強度
は46mw/cm2である。本図から一40Vの電圧で
十分な光電流が得られることが分かる。
いて述べるや 第6図は静的状態における印加電圧に対する光電流およ
び暗電流を示す特性図である。このときの照射光の強度
は46mw/cm2である。本図から一40Vの電圧で
十分な光電流が得られることが分かる。
第4図は印加電圧−10Vのときの光強度と光t mと
の関係を示す特性図である。本図から、光電流と光強度
とは対数値において比例していることが分かる。
の関係を示す特性図である。本図から、光電流と光強度
とは対数値において比例していることが分かる。
第8図は照射される光の変調周波数に対する光電流の偏
移を示す特性図である。音響工学変調器で0と27 m
w / c m 2とに光の強度を変えて本図の特性
を得た6本図でIKHzの変調周波数のときの光電流を
100%として正規化して示しである0本図から電流偏
移が50%になるのは120KHzであることが分かる
。この光応答速度はアモルファスS1光ダイオードアレ
イと同じ程度の速さである。そして、この光応答速度は
1m5ec/ラインの速度で文章を読み取るのに十分に
足りるだけの早さである。−Pb2Cr05センサの読
み取りにおけるマトリックス駆動方式では電荷蓄積時間
を要しないから上述の読取り速度が得られるのである。
移を示す特性図である。音響工学変調器で0と27 m
w / c m 2とに光の強度を変えて本図の特性
を得た6本図でIKHzの変調周波数のときの光電流を
100%として正規化して示しである0本図から電流偏
移が50%になるのは120KHzであることが分かる
。この光応答速度はアモルファスS1光ダイオードアレ
イと同じ程度の速さである。そして、この光応答速度は
1m5ec/ラインの速度で文章を読み取るのに十分に
足りるだけの早さである。−Pb2Cr05センサの読
み取りにおけるマトリックス駆動方式では電荷蓄積時間
を要しないから上述の読取り速度が得られるのである。
これに対しアモルファスSi光ダイオードアレイでは電
荷蓄積時間が読取り速度に関し重要な要素となる。
荷蓄積時間が読取り速度に関し重要な要素となる。
次に第1図実施例における光検知素子の均一性について
述べる。
述べる。
第9図および第10図は光検知素子に関する光電流およ
び暗電流の分散をそれぞれ示す図である。
び暗電流の分散をそれぞれ示す図である。
これらの特性は光強度46mw/cm’、印加電圧−1
0■の静的条件下で試験をして得な。
0■の静的条件下で試験をして得な。
第11図はパルス電圧を検知素子に加えるという動作状
態の条件下における光電流と暗電流との各素子での分散
状態を示す図である。これらの特性から、本実施例にお
ける検知感度の均一性は十分に実用に供し得る程度であ
ることが明らかになつた。
態の条件下における光電流と暗電流との各素子での分散
状態を示す図である。これらの特性から、本実施例にお
ける検知感度の均一性は十分に実用に供し得る程度であ
ることが明らかになつた。
第12図は、第5図の構成でネガフィルムの文字等の像
を検知し、マトリックス駆動方式の回路で読み取り、コ
ンピュータで蓄積し、蓄積した情報を読み出すとともに
、プリンタでプリントして画像を得る順序とその画像を
示す概念図である2ここでは、読み取りは走査速度1m
5ec/ラインで行った。
を検知し、マトリックス駆動方式の回路で読み取り、コ
ンピュータで蓄積し、蓄積した情報を読み出すとともに
、プリンタでプリントして画像を得る順序とその画像を
示す概念図である2ここでは、読み取りは走査速度1m
5ec/ラインで行った。
(発明の効果)
以上に実施例を挙げて詳しく説明したように、本発明に
よれば、光応答速度が従来のアモルファスSi光ダイオ
ードアレイと同程度に遠く、しかもマトリックス駆動方
式の読み取り回路が適用できるから高密度集積ができ、
したがって分解能が高い密着型ラインイメージセンサを
提供できる。
よれば、光応答速度が従来のアモルファスSi光ダイオ
ードアレイと同程度に遠く、しかもマトリックス駆動方
式の読み取り回路が適用できるから高密度集積ができ、
したがって分解能が高い密着型ラインイメージセンサを
提供できる。
第1図は本発明の一実施例の平面形と断面形とを対応さ
せて示す図、第2図は第1図実施例における1つの光検
知素子の部分を抽出して示す部分平面図、第3図は第1
図の実施例における10個の光検知素子分の部分を示す
平面図、第4図は第1図の実施例から文字等の画像の情
報を読み収る回路を示す図、第5図は第1図の実施例に
より文字を読み取るための試験的な光学系の構成を示す
図、第6図は第1図の実施例における光検知素子に関す
る印加電圧対出力電流の特性図、第7図はその光検知素
子に関する光強度対光電流の特性図、第8図はその光検
知素子に関する変調周波数対光電流面移の特性図、第9
図および第10図は第1図実施例を構成している光検知
素子に関する光電流および暗電流の素子間での分散をそ
れぞれ示す図、第11図は第1図実施例を構成している
光検知器における光電流と暗電流の素子間での分散を示
す図、第12図は第5図の構成でネガフィルムの像を検
知して画像をプリントする手順とプリントされた画像を
示す図である。 1・・・ガラス基板、2・・・Pb2CrO5薄膜、3
・・・共通電極1,4・・・個別電極、31.41・・
・指状電極。 第 3 図 第5 図 −10 20 30 印 力O電 だ (V) 40 50 j 0 紙強度 (mW/cm2) 00 1 光 t〉良 (nA) 0 日(i 電シ作ヒ (ρA) 0
せて示す図、第2図は第1図実施例における1つの光検
知素子の部分を抽出して示す部分平面図、第3図は第1
図の実施例における10個の光検知素子分の部分を示す
平面図、第4図は第1図の実施例から文字等の画像の情
報を読み収る回路を示す図、第5図は第1図の実施例に
より文字を読み取るための試験的な光学系の構成を示す
図、第6図は第1図の実施例における光検知素子に関す
る印加電圧対出力電流の特性図、第7図はその光検知素
子に関する光強度対光電流の特性図、第8図はその光検
知素子に関する変調周波数対光電流面移の特性図、第9
図および第10図は第1図実施例を構成している光検知
素子に関する光電流および暗電流の素子間での分散をそ
れぞれ示す図、第11図は第1図実施例を構成している
光検知器における光電流と暗電流の素子間での分散を示
す図、第12図は第5図の構成でネガフィルムの像を検
知して画像をプリントする手順とプリントされた画像を
示す図である。 1・・・ガラス基板、2・・・Pb2CrO5薄膜、3
・・・共通電極1,4・・・個別電極、31.41・・
・指状電極。 第 3 図 第5 図 −10 20 30 印 力O電 だ (V) 40 50 j 0 紙強度 (mW/cm2) 00 1 光 t〉良 (nA) 0 日(i 電シ作ヒ (ρA) 0
Claims (2)
- (1)基板上に蒸着された半絶縁性のPb_2CrO_
5薄膜と、このPb_2CrO_5薄膜上に形成された
金属薄膜とからなり、該金属薄膜はほぼ等間隔に列状に
配列されたn(nは2以上の整数)対のインターディジ
タル構造電極をなしていることを特徴とするイメージセ
ンサ。 - (2)前記インターディジタル構造電極はm(mは2以
上の整数)個の電極郡に区分されて、該各電極郡はp(
pは2以上でn以下の整数)対の前記インターディジタ
ル構造電極で構成されており、前記各電極郡内では各前
記インターディジタル構造電極における片方の櫛状電極
は前記金属薄膜で互いに接続され、他方の櫛状電極は電
気的に互いに分離されており、 前記電極郡相互の間では前記インターディジタル構造電
極は電気的に互いに分離されていることを特徴とする請
求項1に記載のイメージセンサ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1265941A JPH03126260A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | イメージセンサ |
| US07/595,460 US5117270A (en) | 1989-10-11 | 1990-10-10 | Photosensor with AU diffused Pb2 CrO5 or similar film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1265941A JPH03126260A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | イメージセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03126260A true JPH03126260A (ja) | 1991-05-29 |
Family
ID=17424209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1265941A Pending JPH03126260A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | イメージセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03126260A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8305561B2 (en) | 2010-03-25 | 2012-11-06 | Hokuyo Automatic Co., Ltd. | Scanning-type distance measuring apparatus |
-
1989
- 1989-10-11 JP JP1265941A patent/JPH03126260A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8305561B2 (en) | 2010-03-25 | 2012-11-06 | Hokuyo Automatic Co., Ltd. | Scanning-type distance measuring apparatus |
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