JPH03129258A - 極低温冷凍機 - Google Patents
極低温冷凍機Info
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- JPH03129258A JPH03129258A JP26515989A JP26515989A JPH03129258A JP H03129258 A JPH03129258 A JP H03129258A JP 26515989 A JP26515989 A JP 26515989A JP 26515989 A JP26515989 A JP 26515989A JP H03129258 A JPH03129258 A JP H03129258A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacer
- cylinder
- sealing mechanism
- stage
- refrigerator
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、極低温冷凍機に係り、特に、蓄冷式の冷凍機
に関する。
に関する。
(従来の技術)
極低温用の冷凍機には種々のタイプがある。
これらの中にギホード・マクマホン形の冷凍機がある。
この冷凍機は、通常、第7図に示すように構成されてい
る。
る。
すなわち、この冷凍機は大きく別けて、コールドヘッド
1と、冷媒ガス導排出系2とで構成されている。コール
ドヘッド1は、閉じられたシリンダ11と、このシリン
ダ11内に往復動自在に収容されたディスプレーサ12
と、このディスプレーサ12に往復動に必要な動力を与
えるモータ13とで構成されている。
1と、冷媒ガス導排出系2とで構成されている。コール
ドヘッド1は、閉じられたシリンダ11と、このシリン
ダ11内に往復動自在に収容されたディスプレーサ12
と、このディスプレーサ12に往復動に必要な動力を与
えるモータ13とで構成されている。
シリンダ11は、大径の第1シリンダ14と、この第1
シリンダ14に同軸的に接続された小径の第2のシリン
ダ15とで構成されている。そして、第1シリンダ14
と第2シリンダ15との境界壁部分で冷却面としての1
段ステージ16を構成し、またシリンダ15の先端壁部
分で1段ステージ16より低温の2段ステージ17を構
成している。ディスプレーサ12は、第1シリンダ14
内を往復動する第1デイスプレーサ18と、第2シリン
ダ15内を往復動する第2デイスプレーサ19とで構成
されている。第1デイスプレーサ18と第2デイスプレ
ーサ19とは、連結部材20によって軸方向に連結され
ている。第1デイスプレーサ18の内側には、軸方向に
延びる流体通路21が形成されており、この流体通路2
1には銅メツシユ等で形成された蓄冷材22が収容され
ている。同様に、第2デイスプレーサ19の内側にも軸
方向に延びる流体通路23が形成されており、この流体
通路23には鉛の球などで形成された蓄冷材24が収容
されている。第1デイスプレーサ18の外周面と第1シ
リンダ14の内周面との間および第2デイスプレーサ1
9の外周面と第2シリンダ15の内周面との間には、そ
れぞれシール機構25.26が装着されている。
シリンダ14に同軸的に接続された小径の第2のシリン
ダ15とで構成されている。そして、第1シリンダ14
と第2シリンダ15との境界壁部分で冷却面としての1
段ステージ16を構成し、またシリンダ15の先端壁部
分で1段ステージ16より低温の2段ステージ17を構
成している。ディスプレーサ12は、第1シリンダ14
内を往復動する第1デイスプレーサ18と、第2シリン
ダ15内を往復動する第2デイスプレーサ19とで構成
されている。第1デイスプレーサ18と第2デイスプレ
ーサ19とは、連結部材20によって軸方向に連結され
ている。第1デイスプレーサ18の内側には、軸方向に
延びる流体通路21が形成されており、この流体通路2
1には銅メツシユ等で形成された蓄冷材22が収容され
ている。同様に、第2デイスプレーサ19の内側にも軸
方向に延びる流体通路23が形成されており、この流体
通路23には鉛の球などで形成された蓄冷材24が収容
されている。第1デイスプレーサ18の外周面と第1シ
リンダ14の内周面との間および第2デイスプレーサ1
9の外周面と第2シリンダ15の内周面との間には、そ
れぞれシール機構25.26が装着されている。
シール機構25.26は、たとえばシール機構26を代
表して示すと、第8図から第10図に示すように構成さ
れている。すなわち、第2デイスプレーサ19の外周面
に形成された環状溝27内に外周面が第2シリンダ15
の内周面に接触するように有端形のシールリング28を
装着するとともにシールリング28の内側にシールリン
グ28をシリンダ内面に押付けるための有端形のばねリ
ング29を装着したものとなっている。シールリング2
8は、通常、樹脂系の材料で形成されており、その両端
部には第10図に示すように両端部相互を半径方向に重
ね合わせる合い口部30が形成されている。
表して示すと、第8図から第10図に示すように構成さ
れている。すなわち、第2デイスプレーサ19の外周面
に形成された環状溝27内に外周面が第2シリンダ15
の内周面に接触するように有端形のシールリング28を
装着するとともにシールリング28の内側にシールリン
グ28をシリンダ内面に押付けるための有端形のばねリ
ング29を装着したものとなっている。シールリング2
8は、通常、樹脂系の材料で形成されており、その両端
部には第10図に示すように両端部相互を半径方向に重
ね合わせる合い口部30が形成されている。
第1デイスプレーサ18の図中上端は、連結ロッド31
.スコッチョークあるいはクランク軸32を介してモー
タ13の回転軸に連結されている。したがって、モ〜り
13の回転軸が回転すると、この回転に同期してディス
プレーサ12が図中実線矢印33で示すように往復動す
る。
.スコッチョークあるいはクランク軸32を介してモー
タ13の回転軸に連結されている。したがって、モ〜り
13の回転軸が回転すると、この回転に同期してディス
プレーサ12が図中実線矢印33で示すように往復動す
る。
第1シリンダ14の側壁上部には冷媒ガスの導入口34
と排出口35とが設けてあり、これら導入口34と排出
口35は冷媒ガス導排出系2に接続されている。冷媒ガ
ス導排出系2は、シリンダ11を経由したヘリウムガス
循環系を構成するもので、排出口35を低圧弁36.圧
縮機37.高圧弁38を介して導入口34に接続したも
のとなっている。すなわち、この冷媒ガス導排出系2は
、低圧(約5 atm)のヘリウムガスを圧縮機37で
高圧(約18atm)に圧縮してシリンダ11内に送り
込むものである。そして、低圧弁36.高圧弁38の開
閉はディスプレーサ12の往復動との関連において後述
する関係に制御される。
と排出口35とが設けてあり、これら導入口34と排出
口35は冷媒ガス導排出系2に接続されている。冷媒ガ
ス導排出系2は、シリンダ11を経由したヘリウムガス
循環系を構成するもので、排出口35を低圧弁36.圧
縮機37.高圧弁38を介して導入口34に接続したも
のとなっている。すなわち、この冷媒ガス導排出系2は
、低圧(約5 atm)のヘリウムガスを圧縮機37で
高圧(約18atm)に圧縮してシリンダ11内に送り
込むものである。そして、低圧弁36.高圧弁38の開
閉はディスプレーサ12の往復動との関連において後述
する関係に制御される。
このように構成された冷凍機の動作を簡単に説明すると
以下の通りである。この冷凍機では寒冷の発生する部分
、つまり冷却面に供される部分は第1ステージ15と第
2ステージ17とである。
以下の通りである。この冷凍機では寒冷の発生する部分
、つまり冷却面に供される部分は第1ステージ15と第
2ステージ17とである。
これらは熱負荷のない場合にそれぞれ30K。
10に程度まで冷える。このため、第1デイスプレーサ
18の図中上下端間には常温(300K)から30kま
での温度勾配がつき、また第2デイスプレーサ19の図
中上下端間には30から10Kまでの温度勾配がつく。
18の図中上下端間には常温(300K)から30kま
での温度勾配がつき、また第2デイスプレーサ19の図
中上下端間には30から10Kまでの温度勾配がつく。
ただし、この温度は各段の熱負荷によって変化し、通常
、1段ステージ16では30〜80に、2段ステージ1
7では10〜20にの間となる。
、1段ステージ16では30〜80に、2段ステージ1
7では10〜20にの間となる。
モータ13が回転を開始すると、ディスプレーサ12は
下死点と上死点との間を往復動する。ディスプレーサ1
2が下死点にあるとき、高圧弁38が開いて高圧のヘリ
ウムガスがコールドヘッド1内に流入する。次に、ディ
スプレーサ12が上死点へと移動する。前述の如く、第
1デイスプレーサ18の外周面と第1シリンダ14の内
周面との間および第2のディスプレーサ19の外周面と
第2シリンダ15の内周面との間にはそれぞれシール機
構25.26を装着されている。このため、ディスプレ
ーサ12が上死点へと向かうと、高圧のヘリウムガスは
第1デイスプレーサ18に形成された流体通路21およ
び第2デイスプレーサ19に形成された流体通路23を
通って、第1デイスプレーサ18と第2デイスプレーサ
19との間に形成された1段膨張室39および第2デイ
スプレーサ19と第2シリンダ15の先端壁との間に形
成された2段膨張室40へと流れる。この流れに伴って
、高圧のヘリウムガスは蓄冷材22゜24によって冷却
され、結局、1段膨張室39に流れ込んだ高圧″ヘリウ
ムガス30に程度に、また2段膨張室40に流れ込んだ
高圧ヘリウムガスは8に程度に冷却される。ここで、高
圧弁38が閉じ、低圧弁3Gが開く。このように低圧弁
3Bが開くと、1段膨張室39内および2段膨張室40
内の高圧ヘリウムガスが膨張して寒冷を発生する。
下死点と上死点との間を往復動する。ディスプレーサ1
2が下死点にあるとき、高圧弁38が開いて高圧のヘリ
ウムガスがコールドヘッド1内に流入する。次に、ディ
スプレーサ12が上死点へと移動する。前述の如く、第
1デイスプレーサ18の外周面と第1シリンダ14の内
周面との間および第2のディスプレーサ19の外周面と
第2シリンダ15の内周面との間にはそれぞれシール機
構25.26を装着されている。このため、ディスプレ
ーサ12が上死点へと向かうと、高圧のヘリウムガスは
第1デイスプレーサ18に形成された流体通路21およ
び第2デイスプレーサ19に形成された流体通路23を
通って、第1デイスプレーサ18と第2デイスプレーサ
19との間に形成された1段膨張室39および第2デイ
スプレーサ19と第2シリンダ15の先端壁との間に形
成された2段膨張室40へと流れる。この流れに伴って
、高圧のヘリウムガスは蓄冷材22゜24によって冷却
され、結局、1段膨張室39に流れ込んだ高圧″ヘリウ
ムガス30に程度に、また2段膨張室40に流れ込んだ
高圧ヘリウムガスは8に程度に冷却される。ここで、高
圧弁38が閉じ、低圧弁3Gが開く。このように低圧弁
3Bが開くと、1段膨張室39内および2段膨張室40
内の高圧ヘリウムガスが膨張して寒冷を発生する。
この寒冷によって第1ステージ16および第2ステージ
17が冷却される。そして、ディスプレーサ12が再び
下死点へと移動し、これに伴って1段膨張室39内およ
び2段膨張室40内のヘリウムガスが排除される。膨張
したヘリウムガスは流体通路21.23内を通る間に蓄
冷材22.24によって暖められ、常温となって排出さ
れる。以下、上述したサイクルが繰返されて冷凍運転が
行なわれる。このタイプの冷凍機は、超電導マグネット
の冷却や赤外線センサの冷却や、あるいはまたクライオ
ポンプの冷却源として使用される。
17が冷却される。そして、ディスプレーサ12が再び
下死点へと移動し、これに伴って1段膨張室39内およ
び2段膨張室40内のヘリウムガスが排除される。膨張
したヘリウムガスは流体通路21.23内を通る間に蓄
冷材22.24によって暖められ、常温となって排出さ
れる。以下、上述したサイクルが繰返されて冷凍運転が
行なわれる。このタイプの冷凍機は、超電導マグネット
の冷却や赤外線センサの冷却や、あるいはまたクライオ
ポンプの冷却源として使用される。
しかしながら、上記のように構成された従来の冷凍機に
あっては次のような問題があった。すなわち、シール機
構25は常温部と1段膨張室39との間においてヘリウ
ムガスが第1シリンダ14と第1デイスプレーサ18と
の間の隙間を通して流れるのを防止しており、またシー
ル機構26は1段膨張室39と2段膨張室40との間に
おいてヘリウムガスが第2シリンダ15と第2デイスプ
レーサ19との間の隙間を通して流れるのを防止してい
る。これらのシール機構25.26は、高純度(99,
99%)のヘリウムガス中で使用されており、ヘリウム
ガスの汚染を防止する意味からグリス等の潤滑材を使用
することはできない。特に、シール機構26は、低温部
(30〜80K)におかれ、しかもピストンシールのよ
うな形状が要求される。今、1段膨張室39の温度が3
0に、2段膨張室40の温度がIOKであったとした場
合、シール機構26の部分で漏れが生じると、30にの
ヘリウムガスが第2デイスプレーサ19内の蓄冷材24
に接触することなく2段膨張室40内に入り、また逆に
10にのヘリウムガスが1段膨張室39内に入ることに
なる。この結果、1段ステージ16の温度が下降し、2
段ステージ17の温度が上昇してしまうことになる。第
11図にはシール機構26でのヘリウムガスの漏れ量割
合(2段膨張室40へ流れ込むヘリウムガスの総量に対
るシール機構26を通して流れ込むヘリウムガスの割合
)と各段(1段ステージ16.2段ステージ17)の温
度との関係を計算で求めた結果が示されている。この図
から判かるように、シール機構26の部分での漏れが各
段ステージの温度に大きい影響を与える。これはシール
機構26に限らず、シール機構25にも言えることであ
る。
あっては次のような問題があった。すなわち、シール機
構25は常温部と1段膨張室39との間においてヘリウ
ムガスが第1シリンダ14と第1デイスプレーサ18と
の間の隙間を通して流れるのを防止しており、またシー
ル機構26は1段膨張室39と2段膨張室40との間に
おいてヘリウムガスが第2シリンダ15と第2デイスプ
レーサ19との間の隙間を通して流れるのを防止してい
る。これらのシール機構25.26は、高純度(99,
99%)のヘリウムガス中で使用されており、ヘリウム
ガスの汚染を防止する意味からグリス等の潤滑材を使用
することはできない。特に、シール機構26は、低温部
(30〜80K)におかれ、しかもピストンシールのよ
うな形状が要求される。今、1段膨張室39の温度が3
0に、2段膨張室40の温度がIOKであったとした場
合、シール機構26の部分で漏れが生じると、30にの
ヘリウムガスが第2デイスプレーサ19内の蓄冷材24
に接触することなく2段膨張室40内に入り、また逆に
10にのヘリウムガスが1段膨張室39内に入ることに
なる。この結果、1段ステージ16の温度が下降し、2
段ステージ17の温度が上昇してしまうことになる。第
11図にはシール機構26でのヘリウムガスの漏れ量割
合(2段膨張室40へ流れ込むヘリウムガスの総量に対
るシール機構26を通して流れ込むヘリウムガスの割合
)と各段(1段ステージ16.2段ステージ17)の温
度との関係を計算で求めた結果が示されている。この図
から判かるように、シール機構26の部分での漏れが各
段ステージの温度に大きい影響を与える。これはシール
機構26に限らず、シール機構25にも言えることであ
る。
従来の冷凍機では、第8図から第10図に示したように
、第2デイスプレーサ19の外周面に形成された環状溝
27内に、合い口部30が第10図に示すように構成さ
れた有端形のシールリング28を1段だけ装着し、さら
にその背面側に押圧力を付与するための有端形のばねリ
ング29を装着した構成のシール機構26を用いている
。このような構成のシール機構26では、合い口部30
からのヘリウムガスの漏れ量が多く、この結果、第2ス
テージ17の温度上昇を招く問題があった。
、第2デイスプレーサ19の外周面に形成された環状溝
27内に、合い口部30が第10図に示すように構成さ
れた有端形のシールリング28を1段だけ装着し、さら
にその背面側に押圧力を付与するための有端形のばねリ
ング29を装着した構成のシール機構26を用いている
。このような構成のシール機構26では、合い口部30
からのヘリウムガスの漏れ量が多く、この結果、第2ス
テージ17の温度上昇を招く問題があった。
第2ステージ17の温度上昇は、結果的にある温度での
冷凍能力の減少につながることになる。
冷凍能力の減少につながることになる。
(発明が解決しようとする課題)
上述の如く、従来のギホード・マクマホン形の冷凍機に
あっては、ディスプレーサとシリンダとの間の隙間をシ
ールするためのシール機構で完全なシールを行なうこと
ができず、これが原因して冷凍能力が低いと言う間通が
あった。
あっては、ディスプレーサとシリンダとの間の隙間をシ
ールするためのシール機構で完全なシールを行なうこと
ができず、これが原因して冷凍能力が低いと言う間通が
あった。
そこで本発明は、シール機構でのシール性能を大幅に向
上させることができ、もって冷凍能力を向上させること
ができる冷凍機を提供することを目的としている。
上させることができ、もって冷凍能力を向上させること
ができる冷凍機を提供することを目的としている。
[発明の構成コ
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達成するために本発明では、軸方
向に2段のシール機構を設けており、それらのシール機
構はディスプレーサの外周面に形成された環状溝内に軸
方向に2段積み重ね構成に、かつそれぞれの外周面をシ
リンダの内周面に接触させて装着された有端形の第1・
第2のシールリング及び上記第1・第2のシールリング
の内側に装着された有端形のばねリングから構成されて
いる。
向に2段のシール機構を設けており、それらのシール機
構はディスプレーサの外周面に形成された環状溝内に軸
方向に2段積み重ね構成に、かつそれぞれの外周面をシ
リンダの内周面に接触させて装着された有端形の第1・
第2のシールリング及び上記第1・第2のシールリング
の内側に装着された有端形のばねリングから構成されて
いる。
(作 用)
2つのシールリングを前記関係に配置したシール機構を
持ち、かつそのシール機構を軸方向に2段に配置し、そ
れぞれのシール機構の装着方向を反対にしているので、
シール機構を介してのヘリウムガス漏れ量を大幅に減ら
すことができる。
持ち、かつそのシール機構を軸方向に2段に配置し、そ
れぞれのシール機構の装着方向を反対にしているので、
シール機構を介してのヘリウムガス漏れ量を大幅に減ら
すことができる。
従って、冷凍能力の向上を実現できる。
(実施例)
以下、図面を参照しながら実施例を説明する。
第1図には本発明の一実施例に係る極低温冷凍機が示さ
れている。この図では第7図と同一部分が同一符号で示
されている。従って、重複する部分の説明は省略する。
れている。この図では第7図と同一部分が同一符号で示
されている。従って、重複する部分の説明は省略する。
この実施例に係る極低温冷凍機から従来の極低温冷凍機
と異なる点は、第2デイスプレーサ19の外周面に形成
された環状溝27.28内に装着されて第2デイスプレ
ーサと第2シリンダ】5との間の隙間をシールするシー
ル機構4145の構成にある。
と異なる点は、第2デイスプレーサ19の外周面に形成
された環状溝27.28内に装着されて第2デイスプレ
ーサと第2シリンダ】5との間の隙間をシールするシー
ル機構4145の構成にある。
シール機構41は、第2図、第3図に示すように、環状
溝27内に有端形のアウターリング42とこのアウター
リング42の内側に装着されたインナーリング43と、
このインナーリング43の内側に同心円状に装着され第
2シリンダ15の内周面側への押圧力を与える有端形の
ばねリング44が装着された構成となっている。そして
、アウターリング42及びインナーリング43はそれぞ
れ樹脂系の部材で形成されている。アウターリング42
及びインナーリング43の断面形状は第3図に示されて
いるように、インナーリング43は矩形の断面の外周面
から矩形の切り欠きを行った形状であり、アウターリン
グ42の断面形状はインナーリング43の切り欠きに等
しい矩形断面である。そして、第3図に示すようにアウ
ターリング42はインナーリング43の切り欠き部に配
置されており、それぞれの切り欠き部は180度ずらし
た位置にある。このように配置することによって、アウ
ターリング42及びインナーリング43の外周面は第2
シリンダ15の内周面に接触し、インナーリング43の
切り欠いた面はアウターリング42の内周面・端面にそ
れぞれ接触する。
溝27内に有端形のアウターリング42とこのアウター
リング42の内側に装着されたインナーリング43と、
このインナーリング43の内側に同心円状に装着され第
2シリンダ15の内周面側への押圧力を与える有端形の
ばねリング44が装着された構成となっている。そして
、アウターリング42及びインナーリング43はそれぞ
れ樹脂系の部材で形成されている。アウターリング42
及びインナーリング43の断面形状は第3図に示されて
いるように、インナーリング43は矩形の断面の外周面
から矩形の切り欠きを行った形状であり、アウターリン
グ42の断面形状はインナーリング43の切り欠きに等
しい矩形断面である。そして、第3図に示すようにアウ
ターリング42はインナーリング43の切り欠き部に配
置されており、それぞれの切り欠き部は180度ずらし
た位置にある。このように配置することによって、アウ
ターリング42及びインナーリング43の外周面は第2
シリンダ15の内周面に接触し、インナーリング43の
切り欠いた面はアウターリング42の内周面・端面にそ
れぞれ接触する。
また、第4図に示すように、シール機構41゜45にお
いて、アウターリング42−インナーリング43の配置
とアウターリング46・インナーリング47の配置は軸
方向に対象となっている。
いて、アウターリング42−インナーリング43の配置
とアウターリング46・インナーリング47の配置は軸
方向に対象となっている。
このような構成であると、シールリングの切れめは2ケ
所となるが、切れめを周方向にずらして、これらの切れ
めを通してのヘリウムガスの漏れを防止することができ
る。また、2段のシール機構が装着方向を反対にしであ
るため、ヘリウムガスの漏れの方向に対しても影響され
ない。従って、シール機構41.45でのヘリウムガス
漏れを大幅に減少させることができ、第2膨張室、つま
り第2ステージ17の温度上昇を抑制でき、冷凍能力を
向上させることができる。
所となるが、切れめを周方向にずらして、これらの切れ
めを通してのヘリウムガスの漏れを防止することができ
る。また、2段のシール機構が装着方向を反対にしであ
るため、ヘリウムガスの漏れの方向に対しても影響され
ない。従って、シール機構41.45でのヘリウムガス
漏れを大幅に減少させることができ、第2膨張室、つま
り第2ステージ17の温度上昇を抑制でき、冷凍能力を
向上させることができる。
第5図には第9図に示すシール機構を組込んだ従来の極
低温冷凍機と第4図に示すシール機構41.45を組込
んだ本発明の極低温GM冷凍機とのヘリウムガス漏れ量
の測定結果が示されている。これは、環状溝の幅を等し
くするとともにン−ルリングの形状・材質も等しくて常
温・静止状態で測定した結果である。実際の使用条件(
極低温、往復動)とは異なるが、漏れ量が大幅に減少し
ていることがわかる。この傾向は、使用条件においても
反映されるものと考えられる。第6図には第9図に示す
シール機構を組込んだ従来の極低温冷凍機と第3図に示
すシール機構41.45を組込んだ本発明に係る極低温
冷凍機の冷凍曲線が示されている。横軸は第2ステージ
17の温度(K)を示し、縦軸は第2ステージ17に加
えた熱負v1(W)を示している。この図かられかるよ
うに、同じ温度で冷凍し得る能力は本発明の極低温冷凍
機の方が大きい。従って、上記構成のシール機$441
.45を設けたことによって冷凍能力を向上させ得るこ
とが理解される。
低温冷凍機と第4図に示すシール機構41.45を組込
んだ本発明の極低温GM冷凍機とのヘリウムガス漏れ量
の測定結果が示されている。これは、環状溝の幅を等し
くするとともにン−ルリングの形状・材質も等しくて常
温・静止状態で測定した結果である。実際の使用条件(
極低温、往復動)とは異なるが、漏れ量が大幅に減少し
ていることがわかる。この傾向は、使用条件においても
反映されるものと考えられる。第6図には第9図に示す
シール機構を組込んだ従来の極低温冷凍機と第3図に示
すシール機構41.45を組込んだ本発明に係る極低温
冷凍機の冷凍曲線が示されている。横軸は第2ステージ
17の温度(K)を示し、縦軸は第2ステージ17に加
えた熱負v1(W)を示している。この図かられかるよ
うに、同じ温度で冷凍し得る能力は本発明の極低温冷凍
機の方が大きい。従って、上記構成のシール機$441
.45を設けたことによって冷凍能力を向上させ得るこ
とが理解される。
なお、上述した実施例では第2デイスプレーサと第2シ
リンダとの間に設けられるシール機構だけを第3図に示
すシール機構41.45で構成しているが、第1デイス
プレーサと第1シリンダとの間に設けられるシール機構
も第3図に示すシール機構41.45で構成してもよい
。また、第3、第4のディスプレーサを持つような構成
の極低温冷凍機においても適用できる。本実施例では極
低温冷凍機の中でも代表的なギフォコド・マクマホン形
の冷凍機について述べたが、改良型ソルベーサイクル、
スターリングサイクル、ビルミャサイクルの極低温冷凍
機にも適用される。
リンダとの間に設けられるシール機構だけを第3図に示
すシール機構41.45で構成しているが、第1デイス
プレーサと第1シリンダとの間に設けられるシール機構
も第3図に示すシール機構41.45で構成してもよい
。また、第3、第4のディスプレーサを持つような構成
の極低温冷凍機においても適用できる。本実施例では極
低温冷凍機の中でも代表的なギフォコド・マクマホン形
の冷凍機について述べたが、改良型ソルベーサイクル、
スターリングサイクル、ビルミャサイクルの極低温冷凍
機にも適用される。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、シール機構でのガス
漏れを大幅に減少させることができるので、−層の低温
度化を実現でき、冷凍能力を向上させることができる。
漏れを大幅に減少させることができるので、−層の低温
度化を実現でき、冷凍能力を向上させることができる。
第1図は本発明の一実施例に係る冷凍機を局部的に切欠
して示す構成図、第2図は同冷凍機に組込まれたシール
機構を軸方向から見た図、第3図は同シール機構の一部
を局部的に取り出して示す縦断面図、第4図は同シール
機構の断面図、第5図および第6図は本発明に係る冷凍
機の特性を従来の冷凍機のそれと比較して示す図、第7
図は従来の冷凍機の概略構成図、第8図は同冷凍機に組
込まれたシール機構を軸方向から見た図、第9図は同シ
ール機構を局部的に取出して示す縦断面図、第10図は
同シール機構に組込まれたシールリングの両端部の形態
を示す図、第11図は従来の冷凍機の問題点を説明する
ための図である。 1・・・コールドヘッド、2・・・冷媒ガス導排出系、
11・・・シリンダ、12・・・ディスプレーサ、13
・・・モータ、14・・・第1シリンダ、15・・・第
2シリンダ、16・・・第1ステージ、17・・・第2
ステージ、18・・・第1デイスプレーサ、19・・・
第2デイスプレーサ、21.23・・・流体通路、22
.24・・・蓄冷材、27・・・環状溝、39・・・第
1膨張室、40・・・第2膨張室、41.45・・・シ
ール機構、42゜46・・・アウターリング、43.4
7・・・インナーリング、44.48・・・ばねリング
。
して示す構成図、第2図は同冷凍機に組込まれたシール
機構を軸方向から見た図、第3図は同シール機構の一部
を局部的に取り出して示す縦断面図、第4図は同シール
機構の断面図、第5図および第6図は本発明に係る冷凍
機の特性を従来の冷凍機のそれと比較して示す図、第7
図は従来の冷凍機の概略構成図、第8図は同冷凍機に組
込まれたシール機構を軸方向から見た図、第9図は同シ
ール機構を局部的に取出して示す縦断面図、第10図は
同シール機構に組込まれたシールリングの両端部の形態
を示す図、第11図は従来の冷凍機の問題点を説明する
ための図である。 1・・・コールドヘッド、2・・・冷媒ガス導排出系、
11・・・シリンダ、12・・・ディスプレーサ、13
・・・モータ、14・・・第1シリンダ、15・・・第
2シリンダ、16・・・第1ステージ、17・・・第2
ステージ、18・・・第1デイスプレーサ、19・・・
第2デイスプレーサ、21.23・・・流体通路、22
.24・・・蓄冷材、27・・・環状溝、39・・・第
1膨張室、40・・・第2膨張室、41.45・・・シ
ール機構、42゜46・・・アウターリング、43.4
7・・・インナーリング、44.48・・・ばねリング
。
Claims (3)
- (1)閉じられたシリンダと、このシリンダ内に摺動自
在に配置されるとともに内側に蓄冷材を収容した通路を
有するディスプレーサと、このディスプレーサを往復動
させる手段と、前記シリンダの一端側に設けられた冷媒
ガスの導入口及び排出口と、前記ディスプレーサの往復
動に関連させて前記導入口から前記シリンダ内に高圧の
冷媒ガスを導入した後に前記排出口から排出させる工程
を繰返す冷媒ガス導排出手段とを備えた冷凍機において
、前記ディスプレーサの軸方向に第1のシール機構、第
2のシール機構に並置し、前記シール機構は、前記ディ
スプレーサの外周面に形成された環状溝と、この環状溝
内に前記ディスプレーサの軸方向に積層された有端形の
2つのシールリングと、これらのシールリングの内側に
装着されて前記環状溝内に設けられる有端形のばねリン
グとから構成されてなることを特徴とする極低温冷凍機
。 - (2)前記シールリングの1つに円周方向に沿って環状
の溝を設け、この溝に前記他のシールリングをそわせて
設置してなることを特徴とする請求項1記載の極低温冷
凍機。 - (3)前記第1のシール機構と前記第2のシール機構と
を前記シールリングの環状の溝が対向するように配置し
なることを特徴とする請求項2記載の極低温冷凍機。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26515989A JPH03129258A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 極低温冷凍機 |
| DE1990603738 DE69003738T2 (de) | 1989-05-23 | 1990-05-23 | Kryokälteanlage. |
| EP19900305632 EP0399813B1 (en) | 1989-05-23 | 1990-05-23 | Cryogenic refrigerator |
| US07/776,885 US5224657A (en) | 1989-05-23 | 1991-10-17 | Cryogenic refrigerator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26515989A JPH03129258A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 極低温冷凍機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03129258A true JPH03129258A (ja) | 1991-06-03 |
Family
ID=17413439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26515989A Pending JPH03129258A (ja) | 1989-05-23 | 1989-10-13 | 極低温冷凍機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03129258A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023149130A1 (ja) * | 2022-02-04 | 2023-08-10 | 住友重機械工業株式会社 | ギフォード・マクマホン(gm)冷凍機の第1段ディスプレーサ、第1段ディスプレーサ組立体、およびギフォード・マクマホン冷凍機 |
| EP4423440A4 (en) * | 2021-10-26 | 2025-08-20 | Sumitomo Shi Cryogenics Of America Inc | GIFFORD-MCMAHON GAS-FED REDUCER SEAL |
-
1989
- 1989-10-13 JP JP26515989A patent/JPH03129258A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP4423440A4 (en) * | 2021-10-26 | 2025-08-20 | Sumitomo Shi Cryogenics Of America Inc | GIFFORD-MCMAHON GAS-FED REDUCER SEAL |
| WO2023149130A1 (ja) * | 2022-02-04 | 2023-08-10 | 住友重機械工業株式会社 | ギフォード・マクマホン(gm)冷凍機の第1段ディスプレーサ、第1段ディスプレーサ組立体、およびギフォード・マクマホン冷凍機 |
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