JPH0313522B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0313522B2 JPH0313522B2 JP56012623A JP1262381A JPH0313522B2 JP H0313522 B2 JPH0313522 B2 JP H0313522B2 JP 56012623 A JP56012623 A JP 56012623A JP 1262381 A JP1262381 A JP 1262381A JP H0313522 B2 JPH0313522 B2 JP H0313522B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- light
- light emitting
- surveying instrument
- measurement mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/78—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled
- H03K17/795—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled controlling bipolar transistors
- H03K17/7955—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled controlling bipolar transistors using phototransistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/941—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated using an optical detector
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/96—Touch switches
- H03K17/9627—Optical touch switches
- H03K17/9631—Optical touch switches using a light source as part of the switch
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電気的に測角・測長をする測量機に
関する。
関する。
近年測量機は電子化が進み、例えば変調された
光信号を用いて測距を行いエンコーダを用いて電
気的に測角を行い、かつこれらの測定値の記録・
演算機能を内蔵する電子測距経緯儀が実用化され
ている。上記電子測距経緯儀の演算機能は測量機
本体とターゲツトとの間の斜距離と高低角度とを
自動的に測定し、内蔵されたマイクロコンピユー
タ等により上記測定値から水平距離及び高低差を
算出する等であり、これらの測定・演算処理シー
ケンスは、操作者が測量機に配置された測定モー
ド切換スイツチを操作することにより選択され
る。ところで測量機においては、測定精度を向上
させるため、托架部及び望遠鏡を各回転軸を中心
に180゜回転した正位及び反位の位置で測量を行
う。そのため上記測定モード切換スイツチは正位
及び反位のいずれにおいても操作できなくてはな
らず、測定モード切換スイツチを上盤部に配置し
ようとする場合は、正位の望遠鏡の接眼鏡側の上
盤部及び反位の望遠鏡の接眼鏡側の上盤部の２個
所に配置することを要し、このようなものが公知
である。また測定モード切換スイツチを望遠鏡筒
に配置すれば、該測定モード切換スイツチは望遠
鏡と一緒に回転するから望遠鏡の唯１個所に配置
すればよいが、測定モード切換スイツチの作動部
の作動方向やパネルのレタリングが上下反転して
しまい使いにくい測定モード切換スイツチとなつ
てしまう。ここで測定モード切換スイツチによつ
て切換えられる測定モードは、上記斜距離測定、
水平距離測定、高低差側定の他に、水平角測定、
天頂角測定があり、また付属機構用スイツチとし
てセルフチエツクスイツチ、気象補正スイツチ、
測量機本体の傾斜表示スイツチ、プリントアウト
スイツチ、メモリー呼出しスイツチ等があり、１
台の上記測量機には10数種の切換機能を含む測定
モード切換スイツチが必要である。また、これら
の測定モードは測定点毎に切換えなければなら
ず、測定モード切換スイツチの操作頻度は非常に
高いものである。さらに、従来の測定モード切換
スイツチは押ボタン式であるが、最小１ミリメー
トルの単位で測長し最小１秒の単位で測角する測
量機の托架部あるいは望遠鏡に測定モード切換ス
イツチを押すための外力を与えることは、測定誤
差発生の原因となる。
光信号を用いて測距を行いエンコーダを用いて電
気的に測角を行い、かつこれらの測定値の記録・
演算機能を内蔵する電子測距経緯儀が実用化され
ている。上記電子測距経緯儀の演算機能は測量機
本体とターゲツトとの間の斜距離と高低角度とを
自動的に測定し、内蔵されたマイクロコンピユー
タ等により上記測定値から水平距離及び高低差を
算出する等であり、これらの測定・演算処理シー
ケンスは、操作者が測量機に配置された測定モー
ド切換スイツチを操作することにより選択され
る。ところで測量機においては、測定精度を向上
させるため、托架部及び望遠鏡を各回転軸を中心
に180゜回転した正位及び反位の位置で測量を行
う。そのため上記測定モード切換スイツチは正位
及び反位のいずれにおいても操作できなくてはな
らず、測定モード切換スイツチを上盤部に配置し
ようとする場合は、正位の望遠鏡の接眼鏡側の上
盤部及び反位の望遠鏡の接眼鏡側の上盤部の２個
所に配置することを要し、このようなものが公知
である。また測定モード切換スイツチを望遠鏡筒
に配置すれば、該測定モード切換スイツチは望遠
鏡と一緒に回転するから望遠鏡の唯１個所に配置
すればよいが、測定モード切換スイツチの作動部
の作動方向やパネルのレタリングが上下反転して
しまい使いにくい測定モード切換スイツチとなつ
てしまう。ここで測定モード切換スイツチによつ
て切換えられる測定モードは、上記斜距離測定、
水平距離測定、高低差側定の他に、水平角測定、
天頂角測定があり、また付属機構用スイツチとし
てセルフチエツクスイツチ、気象補正スイツチ、
測量機本体の傾斜表示スイツチ、プリントアウト
スイツチ、メモリー呼出しスイツチ等があり、１
台の上記測量機には10数種の切換機能を含む測定
モード切換スイツチが必要である。また、これら
の測定モードは測定点毎に切換えなければなら
ず、測定モード切換スイツチの操作頻度は非常に
高いものである。さらに、従来の測定モード切換
スイツチは押ボタン式であるが、最小１ミリメー
トルの単位で測長し最小１秒の単位で測角する測
量機の托架部あるいは望遠鏡に測定モード切換ス
イツチを押すための外力を与えることは、測定誤
差発生の原因となる。
本発明は、従来の電気的に測角・測長を行う測
量機の切換スイツチに係る上述の問題に鑑みなさ
れたものであつて、測量機に何ら外力を与えるこ
となく切換操作を行うことができ、特に利腕と反
対側になつても容易に操作できる非接触型測定モ
ード切換スイツチを備えた測量機を提供すること
を目的とする。
量機の切換スイツチに係る上述の問題に鑑みなさ
れたものであつて、測量機に何ら外力を与えるこ
となく切換操作を行うことができ、特に利腕と反
対側になつても容易に操作できる非接触型測定モ
ード切換スイツチを備えた測量機を提供すること
を目的とする。
本発明はまた、正位及び反位のいずれにおいて
も操作者に対する複数の測定モード切換スイツチ
の配列順次が変らず、誤操作の恐れの少ない測定
モード切換スイツチを備えた測量機を提供するこ
とを目的とする。
も操作者に対する複数の測定モード切換スイツチ
の配列順次が変らず、誤操作の恐れの少ない測定
モード切換スイツチを備えた測量機を提供するこ
とを目的とする。
これらの目的を達成する本発明に係る電気的に
少なくとも測角又は測距を行う機能を有する測量
機は、対をなす発光部と受光部を互に対向させて
なる非接触型測定モード切換スイツチの複数対を
托架部支柱の外側面に上下に並べて配置し、対を
なす発光部と受光部を同期して走査するように構
成したことを特徴として構成される。
少なくとも測角又は測距を行う機能を有する測量
機は、対をなす発光部と受光部を互に対向させて
なる非接触型測定モード切換スイツチの複数対を
托架部支柱の外側面に上下に並べて配置し、対を
なす発光部と受光部を同期して走査するように構
成したことを特徴として構成される。
以下、本発明の実施例を図にもとづいて説明す
る。電気的に測角・測長をする測量機１は、第１
図に示すように、基盤２に載置された托架部３の
支柱４，４′が視準望遠鏡５を回転自在に支持す
る。視準望遠鏡５の鏡筒の上下部５′には測長装
置が内蔵され、支柱４′にはエンコーダを検出手
段とする測角装置が内蔵されている。支柱４，
４′の上部には電池を内蔵するキヤリングバー６
が装着されている。一方の支柱４の外側面には非
接触型測定モード切換スイツチ７が配置され、上
記支柱４の横側面には測定値を表示する表示器８
が配置されている。また非接触型測定モード切換
スイツチ７の両横側面には各切換スイツチ７′，
７″，７…の動作内容を示すレタリング７a′，
７a″，７ａ…が表示されている。上記測定モー
ド切換スイツチ７の操作を行う操作スイツチの第
１実施例は、第２図に示すように、発光部１０、
受光部１１及びこれらに挟み込まれた操作部１２
からなる単体スイツチを複数垂直に並べて構成さ
れる。発光部１０は赤外光を放射する発光素子１
３、反射鏡１４及び防塵ガラス１５からなり、受
光部１１は受光素子１６、反射鏡１７及び波長選
択性フイルタ１８からなる。そして作動中の操作
スイツチは実質上常時操作部１２を光束が横切つ
ていて、スイツチ操作は該赤外光を指等により遮
ることにより行われ。操作スイツチの第２実施例
は、第３図に示すように、スイツチハウジング２
０に設けられた防塵ガラス２１付の採光窓２２と
その内部に配置された受光素子２３とからなる。
ONされている受光素子２３は、通常採光窓２２
を通して測量機外部の光を検知し続ける。スイツ
チ操作は指等によつて採光窓２２を遮光して受光
素子２３に外部の光を到達させなくすることによ
り行う。トンネル内、夜間等外部が暗いときは、
光源２４を追加配置する。操作スイツチの第３実
施例は、第４図に示すように、防塵ガラス又は波
長選択性フイルム３０付の投・受光窓３１を有す
るハウジング３２、投・受光窓３１にわずか外部
Ｆを向けてハウジング３２内に配置され変調され
た光を放射する発光素子３３及び受光素子３４、
発光素子３３と受光素子３４とを光学的に隔離す
る隔壁３５からなる。スイツチ操作はＦの位置に
指等を置き、該指がないとき投・受光窓３１付近
外部で反射されることがなかつた発光素子３３か
らの変調された光束を、上記指で反射して受光素
子３４に入射させることにより行う。
る。電気的に測角・測長をする測量機１は、第１
図に示すように、基盤２に載置された托架部３の
支柱４，４′が視準望遠鏡５を回転自在に支持す
る。視準望遠鏡５の鏡筒の上下部５′には測長装
置が内蔵され、支柱４′にはエンコーダを検出手
段とする測角装置が内蔵されている。支柱４，
４′の上部には電池を内蔵するキヤリングバー６
が装着されている。一方の支柱４の外側面には非
接触型測定モード切換スイツチ７が配置され、上
記支柱４の横側面には測定値を表示する表示器８
が配置されている。また非接触型測定モード切換
スイツチ７の両横側面には各切換スイツチ７′，
７″，７…の動作内容を示すレタリング７a′，
７a″，７ａ…が表示されている。上記測定モー
ド切換スイツチ７の操作を行う操作スイツチの第
１実施例は、第２図に示すように、発光部１０、
受光部１１及びこれらに挟み込まれた操作部１２
からなる単体スイツチを複数垂直に並べて構成さ
れる。発光部１０は赤外光を放射する発光素子１
３、反射鏡１４及び防塵ガラス１５からなり、受
光部１１は受光素子１６、反射鏡１７及び波長選
択性フイルタ１８からなる。そして作動中の操作
スイツチは実質上常時操作部１２を光束が横切つ
ていて、スイツチ操作は該赤外光を指等により遮
ることにより行われ。操作スイツチの第２実施例
は、第３図に示すように、スイツチハウジング２
０に設けられた防塵ガラス２１付の採光窓２２と
その内部に配置された受光素子２３とからなる。
ONされている受光素子２３は、通常採光窓２２
を通して測量機外部の光を検知し続ける。スイツ
チ操作は指等によつて採光窓２２を遮光して受光
素子２３に外部の光を到達させなくすることによ
り行う。トンネル内、夜間等外部が暗いときは、
光源２４を追加配置する。操作スイツチの第３実
施例は、第４図に示すように、防塵ガラス又は波
長選択性フイルム３０付の投・受光窓３１を有す
るハウジング３２、投・受光窓３１にわずか外部
Ｆを向けてハウジング３２内に配置され変調され
た光を放射する発光素子３３及び受光素子３４、
発光素子３３と受光素子３４とを光学的に隔離す
る隔壁３５からなる。スイツチ操作はＦの位置に
指等を置き、該指がないとき投・受光窓３１付近
外部で反射されることがなかつた発光素子３３か
らの変調された光束を、上記指で反射して受光素
子３４に入射させることにより行う。
次に測定モード切換スイツチ７の電気回路を説
明する。操作スイツチが上記第１実施例である場
合、第５図、第６図において、10個の発光素子例
えば発光ダイオード１３ａ〜１３ｊと10個の受光
素子例えばフオトダイオード１６ａ〜１６ｊとが
10組の対を構成している。走査回路５０はカウン
ター及びデコーダより構成され、発振器５１から
のクロツクパルス１０１を受けて発光素子ドライ
バー５２ａ〜５２ｊを走査する。発光素子ドライ
バー５２ａ，５２ｂ，５２ｃ，５２ｊの出力は１
０２，１０３，１０４，１０５である。またアナ
ログスイツチ５３は発光素子１３ａ〜１３ｊの走
査と同期して走査され、例えば発光素子１３ａが
発光しているときはこれと対をなす受光素子１６
ａの出力が増幅器５４に供給される。アナログス
イツチ５３の出力は、例えば発光素子１３ｃと受
光素子１６ｃとの間が遮光されるときは１０６で
ある。増幅器５４には受光素子１６ａ〜１６ｊの
出力が発振回路５１のクロツクパルス１０１に同
期して順次供給される。増幅器５４によつて適当
なレベルまで増幅された出力１０６は、平均化回
路５５及び比較回路５７の一方の入力端子に入力
される。平均化回路５５は増幅された信号を一定
期間平均化するもので、発光素子１３ａ〜１３ｊ
の走査周波数に比較して充分長い時間を必要とす
る。分圧器５６は平均化回路の出力を分圧した１
０６′を比較回路５７の他方の入力端子に供給す
るものであつて、比較回路５７における該入力１
０６′は比較基準レベルとして作用させて操作ス
イツチへの外光の影響を軽減する。比較回路５７
は増幅器５４の出力１０６の振幅と分圧器５６の
出力１０６′の振幅とを比較して、２値化された
出力１０７を信号線５８に出力する。信号線５８
は図示されないマイクロプロセツサの割込み入力
ラインに接続され、また走査位置基準を与えるタ
イミングパルス（例えば発光素子１３ｂが発光す
るパルス）を供給する信号線５９が上記マイクロ
プロセツサの外部信号入力ラインに接続される。
マイクロプロセツサは、信号線５８による割込み
を受付けた後に、上記外部信号入力ラインの入力
レベルが高レベルから低レベルに変化するまでの
時間を検出し、検出された時間を走査周波数と比
較することによりどの対の操作スイツチが操作さ
れているかを認識して、測定・演算処理シーケン
ス作動させる。
明する。操作スイツチが上記第１実施例である場
合、第５図、第６図において、10個の発光素子例
えば発光ダイオード１３ａ〜１３ｊと10個の受光
素子例えばフオトダイオード１６ａ〜１６ｊとが
10組の対を構成している。走査回路５０はカウン
ター及びデコーダより構成され、発振器５１から
のクロツクパルス１０１を受けて発光素子ドライ
バー５２ａ〜５２ｊを走査する。発光素子ドライ
バー５２ａ，５２ｂ，５２ｃ，５２ｊの出力は１
０２，１０３，１０４，１０５である。またアナ
ログスイツチ５３は発光素子１３ａ〜１３ｊの走
査と同期して走査され、例えば発光素子１３ａが
発光しているときはこれと対をなす受光素子１６
ａの出力が増幅器５４に供給される。アナログス
イツチ５３の出力は、例えば発光素子１３ｃと受
光素子１６ｃとの間が遮光されるときは１０６で
ある。増幅器５４には受光素子１６ａ〜１６ｊの
出力が発振回路５１のクロツクパルス１０１に同
期して順次供給される。増幅器５４によつて適当
なレベルまで増幅された出力１０６は、平均化回
路５５及び比較回路５７の一方の入力端子に入力
される。平均化回路５５は増幅された信号を一定
期間平均化するもので、発光素子１３ａ〜１３ｊ
の走査周波数に比較して充分長い時間を必要とす
る。分圧器５６は平均化回路の出力を分圧した１
０６′を比較回路５７の他方の入力端子に供給す
るものであつて、比較回路５７における該入力１
０６′は比較基準レベルとして作用させて操作ス
イツチへの外光の影響を軽減する。比較回路５７
は増幅器５４の出力１０６の振幅と分圧器５６の
出力１０６′の振幅とを比較して、２値化された
出力１０７を信号線５８に出力する。信号線５８
は図示されないマイクロプロセツサの割込み入力
ラインに接続され、また走査位置基準を与えるタ
イミングパルス（例えば発光素子１３ｂが発光す
るパルス）を供給する信号線５９が上記マイクロ
プロセツサの外部信号入力ラインに接続される。
マイクロプロセツサは、信号線５８による割込み
を受付けた後に、上記外部信号入力ラインの入力
レベルが高レベルから低レベルに変化するまでの
時間を検出し、検出された時間を走査周波数と比
較することによりどの対の操作スイツチが操作さ
れているかを認識して、測定・演算処理シーケン
ス作動させる。
なお、本発明は各単体スイツチの間に仕切板を
配設することにより、光束の漏洩により隣接する
単体スイツチが誤作動することを防ぎ、また誤操
作も防ぐことができる。
配設することにより、光束の漏洩により隣接する
単体スイツチが誤作動することを防ぎ、また誤操
作も防ぐことができる。
本発明による測量機は、上述したように対をな
す発光部と受光部を対向させて非接触型測定モー
ド切換スイツチを形成し、それを托架部支柱の外
側面に上下に並べて配列する構造を有する。従つ
て、測量機本体に取付けられた該スイツチを非接
触により何ら余分な力を与えることなく操作する
ことができる。一般に、測量機を正位及び反位に
反転させると利腕側にあつた操作スイツチは利腕
と反対側になり、あるいはこの逆であり、いずれ
にしても利腕と反対側においても切換スイツチを
操作しなければならないが、本発明の切換スイツ
チは非接触型のため利腕と反対側においても操作
スイツチに不適正な方向の力あるいは余分な力が
加わる恐れがなく、高精度な測定を効率よく行う
ことができる利点を有する。
す発光部と受光部を対向させて非接触型測定モー
ド切換スイツチを形成し、それを托架部支柱の外
側面に上下に並べて配列する構造を有する。従つ
て、測量機本体に取付けられた該スイツチを非接
触により何ら余分な力を与えることなく操作する
ことができる。一般に、測量機を正位及び反位に
反転させると利腕側にあつた操作スイツチは利腕
と反対側になり、あるいはこの逆であり、いずれ
にしても利腕と反対側においても切換スイツチを
操作しなければならないが、本発明の切換スイツ
チは非接触型のため利腕と反対側においても操作
スイツチに不適正な方向の力あるいは余分な力が
加わる恐れがなく、高精度な測定を効率よく行う
ことができる利点を有する。
また、上記複数の操作スイツチは托架部の外側
面に上下に並べて配列されているため、測量機を
正位及び反位に反転しても操作者に対する操作ス
イツチの配列順序は変化せず、操作すべき操作ス
イツチの誤つた選択の恐れが少ない利点も有す
る。
面に上下に並べて配列されているため、測量機を
正位及び反位に反転しても操作者に対する操作ス
イツチの配列順序は変化せず、操作すべき操作ス
イツチの誤つた選択の恐れが少ない利点も有す
る。
本発明によれば、さらに、発光部と受光部を同
期して走査することにより、多数の発光部例えば
発光ダイオードを同時に駆動させる必要がなくな
り、消費電力の低減が図られ、また電気回路を簡
単な構成とすることができる利点を有する。
期して走査することにより、多数の発光部例えば
発光ダイオードを同時に駆動させる必要がなくな
り、消費電力の低減が図られ、また電気回路を簡
単な構成とすることができる利点を有する。
第１図は本発明の実施例の斜視図、第２図は操
作スイツチの第１実施例であつて第１図の線−
に沿つた断面図、第３図は操作スイツチの第２
実施例の断面図、第４図は操作スイツチの第３実
施例の断面図、第５図は測定モード切換スイツチ
の回路図、第６図は第５図の回路の出力波形図で
ある。 １……測量機、２……基盤、３……托架部、４
……支柱、５……視準望遠鏡、６……キヤリング
バー、７……測定モード切換スイツチ、８……表
示器、１０……発光部、１１……受光部、１２…
…操作部。
作スイツチの第１実施例であつて第１図の線−
に沿つた断面図、第３図は操作スイツチの第２
実施例の断面図、第４図は操作スイツチの第３実
施例の断面図、第５図は測定モード切換スイツチ
の回路図、第６図は第５図の回路の出力波形図で
ある。 １……測量機、２……基盤、３……托架部、４
……支柱、５……視準望遠鏡、６……キヤリング
バー、７……測定モード切換スイツチ、８……表
示器、１０……発光部、１１……受光部、１２…
…操作部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電気的に少なくとも測角又は測距を行う機能
を有する測量機において、対をなす発光部と受光
部を互に対向させてなる非接触型測定モード切換
スイツチの複数対を托架部支柱の外側面に上下に
並べて配置し、対をなす発光部と受光部を同期し
て走査するように構成したことを特徴とする測量
機。 ２ 前記発光部が変調光を発光し、前記受光部が
前記変調光のスイツチ操作部による発射光を受光
する特許請求の範囲第１に記載の測量機。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1262381A JPS57125814A (en) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Measuring machine |
| DE8282100637T DE3266882D1 (en) | 1981-01-30 | 1982-01-29 | Surveying instrument having measuring mode selecting switch means |
| EP82100637A EP0057446B1 (en) | 1981-01-30 | 1982-01-29 | Surveying instrument having measuring mode selecting switch means |
| DE1982100637 DE57446T1 (de) | 1981-01-30 | 1982-01-29 | Vermessungsinstrument mit schaltereinrichtungen zur messartauswahl. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1262381A JPS57125814A (en) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Measuring machine |
Publications (2)
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