JPH03136262A - Icパッケージのリード端子浮き量検査装置 - Google Patents
Icパッケージのリード端子浮き量検査装置Info
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- JPH03136262A JPH03136262A JP27450089A JP27450089A JPH03136262A JP H03136262 A JPH03136262 A JP H03136262A JP 27450089 A JP27450089 A JP 27450089A JP 27450089 A JP27450089 A JP 27450089A JP H03136262 A JPH03136262 A JP H03136262A
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- lead
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はICパッケージのリード端子群の像を照明系、
計測ステージおよび撮影光学系を用いることにより、撮
像系に映像信号として取り出し、画像処理等をすること
によりその浮き量を計測できるICパッケージのリード
端子浮き量検査装置に関する。
計測ステージおよび撮影光学系を用いることにより、撮
像系に映像信号として取り出し、画像処理等をすること
によりその浮き量を計測できるICパッケージのリード
端子浮き量検査装置に関する。
(従来の技術)
ICパッケージを自動装置によりプリント基板等に実装
する場合、全てのリード端子の先端部の高さが揃ってい
ることが理想的である。
する場合、全てのリード端子の先端部の高さが揃ってい
ることが理想的である。
しかしながら、ICパッケージのリード端子を折り曲げ
る工程において、各リード端子間の高さに少なからずば
らつきが生じる。
る工程において、各リード端子間の高さに少なからずば
らつきが生じる。
このばらつきは所定の範囲内に収まれば、実装時の不良
を最少附に抑えることができる。
を最少附に抑えることができる。
そこで、実装時の不良発生を未然に防ぐ方策として予め
ICパッケージのリード端子間のずれを検査し、許容範
囲内にないリード端子を有するICパッケージを取り除
く方法を採用している。
ICパッケージのリード端子間のずれを検査し、許容範
囲内にないリード端子を有するICパッケージを取り除
く方法を採用している。
かかる検査方法として、1個のCCDカメラによってI
Cパッケージの一側面に並設されているリード端子群を
撮像し、映像として捕らえたリード端子の高さをICパ
ッケージの下面を基準として比較し、許容範囲内にある
か否か判断し、ICパッケージの他の側面に並設されて
いるリード端子群に対しても上記CCDカメラを移動し
、対面させることにより同様に検査していた。
Cパッケージの一側面に並設されているリード端子群を
撮像し、映像として捕らえたリード端子の高さをICパ
ッケージの下面を基準として比較し、許容範囲内にある
か否か判断し、ICパッケージの他の側面に並設されて
いるリード端子群に対しても上記CCDカメラを移動し
、対面させることにより同様に検査していた。
(発明が解決しようとする課題)
そのため、従来のリード端子の浮き歪検査では、ICパ
ッケージの各側面毎に順番に検査することとなり、検査
工程が煩雑になるとともに検査時間を多く要するという
欠点があった。
ッケージの各側面毎に順番に検査することとなり、検査
工程が煩雑になるとともに検査時間を多く要するという
欠点があった。
また、単に光学系の倍率を大きくして計測精度をあげよ
うとすると測定できる視野が狭くなり、またCCDカメ
ラ等を移動させなければ測定できなかった。
うとすると測定できる視野が狭くなり、またCCDカメ
ラ等を移動させなければ測定できなかった。
さらに、ICパッケージの下面を基準として、許容範囲
内にあるか否かを判定しているため、精密には実装実情
と合わないことがあり、許容範囲内にあるにもかかわら
ず、特定のリード端子が実装プリント基板面から相当浮
いてしまうということがあった。
内にあるか否かを判定しているため、精密には実装実情
と合わないことがあり、許容範囲内にあるにもかかわら
ず、特定のリード端子が実装プリント基板面から相当浮
いてしまうということがあった。
本発明の目的は上記欠点を解決するもので、ICパッケ
ージの各側面に並設されているリード端子群毎に、縦方
向と横方向の倍率の異なる撮影光学系および撮像系を設
け、かつ、実際にプリント基板上に実装すると同様な状
態を作り出し、リード端子が接する面を基準面とするこ
とにより高速高精度でリード端子の浮き量を計測できる
ICパッケージのリード端子浮き量検査装置を提供する
ことにある。
ージの各側面に並設されているリード端子群毎に、縦方
向と横方向の倍率の異なる撮影光学系および撮像系を設
け、かつ、実際にプリント基板上に実装すると同様な状
態を作り出し、リード端子が接する面を基準面とするこ
とにより高速高精度でリード端子の浮き量を計測できる
ICパッケージのリード端子浮き量検査装置を提供する
ことにある。
(課題を解決するための手段)
前記目的を達成するために本発明によるICパッケージ
のリード端子浮き量検査装置は光ファイバを導入し、上
面に複数個の均一な線光源を形成する照明系と、 前記照明系の上部に配置され、平面形状が中央部に貫通
孔を有する角形であって、その上面を、被検査体である
ICパッケージのリード端子を搭載し、所定部に位置付
けするための基準面とする基準ステージおよび前記基準
ステージの貫通孔に固定され、周囲に棚状の導出部を有
し、前記照明系の線光源からの光を拡散させ、前記導出
部を経由させて各側面より拡散光を射出する拡散板を含
む計測ステージと、 前記拡散板側面からの光によって得られる前記ICパッ
ケージのリード端子の像の整列方向の倍率を縮小すると
ともに、前記整列方向と直角方向の倍率を拡大する倍率
変換レンズを、各方向に出ているリード端子群対応に設
けた撮影光学系と、前記倍率変換レンズ対応ごとに、前
記撮影光学系から射出される光像を映像に変換する撮像
系とから構成される装置 第1図は本発明によるICパッケージのリード端子浮き
量検査装置の構成を示す図である。
のリード端子浮き量検査装置は光ファイバを導入し、上
面に複数個の均一な線光源を形成する照明系と、 前記照明系の上部に配置され、平面形状が中央部に貫通
孔を有する角形であって、その上面を、被検査体である
ICパッケージのリード端子を搭載し、所定部に位置付
けするための基準面とする基準ステージおよび前記基準
ステージの貫通孔に固定され、周囲に棚状の導出部を有
し、前記照明系の線光源からの光を拡散させ、前記導出
部を経由させて各側面より拡散光を射出する拡散板を含
む計測ステージと、 前記拡散板側面からの光によって得られる前記ICパッ
ケージのリード端子の像の整列方向の倍率を縮小すると
ともに、前記整列方向と直角方向の倍率を拡大する倍率
変換レンズを、各方向に出ているリード端子群対応に設
けた撮影光学系と、前記倍率変換レンズ対応ごとに、前
記撮影光学系から射出される光像を映像に変換する撮像
系とから構成される装置 第1図は本発明によるICパッケージのリード端子浮き
量検査装置の構成を示す図である。
照明系3には光ファイバが導入され、被検査体2の各辺
に平行な線光源が作り出される。
に平行な線光源が作り出される。
計測ステージ1は基準ステージと拡散板を有し、被検査
体2の各リード端子群を基準ステージの基準面で受ける
ことができ、これにより被検査体2が位置づけられる。
体2の各リード端子群を基準ステージの基準面で受ける
ことができ、これにより被検査体2が位置づけられる。
そして拡散板により拡散光が被検査体の下面から各辺に
向けて射出される。
向けて射出される。
撮影光学系4の各倍率変換レンズは被検査体の各側面の
リード端子群に対面して設けられており、リード端子の
整列方向(横方向)と、整列方向と直角方向(縦方向)
の像の倍率を変換する。
リード端子群に対面して設けられており、リード端子の
整列方向(横方向)と、整列方向と直角方向(縦方向)
の像の倍率を変換する。
撮像系5の各カメラは光像を受けて、映像信号に変換す
る。この映像出力を図示しない処理部により画像処理す
ることにより、基準面から各リード端子がどれだけ浮い
ているか短時間で、かつ、高い精度で判定できる。
る。この映像出力を図示しない処理部により画像処理す
ることにより、基準面から各リード端子がどれだけ浮い
ているか短時間で、かつ、高い精度で判定できる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。
。
第2図は4方向端子フラツトパツケージ(以下rQFP
Jという)の構成を示す平面図である。
Jという)の構成を示す平面図である。
被検査体としてはこの他にプラスチックチップキャリア
パッケージ(PLCC)、デュアルインラインパッケー
ジも対象となる。
パッケージ(PLCC)、デュアルインラインパッケー
ジも対象となる。
QFP6のパッケージ部の4つの側面よりそれぞれリー
ド端子群5a、5b、5cおよび6dが出ている。リー
ド端子5a、5b、5cおよび6dは折り曲げ工程にお
いて、端子の先端が揃うように所定の形状に成形される
。しかしながら、実際にはかなりのバラツキが生じる。
ド端子群5a、5b、5cおよび6dが出ている。リー
ド端子5a、5b、5cおよび6dは折り曲げ工程にお
いて、端子の先端が揃うように所定の形状に成形される
。しかしながら、実際にはかなりのバラツキが生じる。
第3図は本発明によるICパッケージのリード端子浮き
量検査装置の一実施例を示す概略図で、被検査体として
上記QFPを対象とした装置である。
量検査装置の一実施例を示す概略図で、被検査体として
上記QFPを対象とした装置である。
基準ステージ7の中央部に拡散板10が固定されており
、基準ステージ7の上面にQFP6のリード端子が載せ
られる。
、基準ステージ7の上面にQFP6のリード端子が載せ
られる。
基準ステージ7の下部に、光ファイバ8に接続されたフ
ァイバ照明ユニット9が設けられている。
ァイバ照明ユニット9が設けられている。
拡散板10およびファイバ照明ユニット9の中央部には
吸着ノズル1)が上下動可能に設けられている。
吸着ノズル1)が上下動可能に設けられている。
吸着ノズル1)の下端はモータ13に回転させられる偏
心カム12に当接されている。
心カム12に当接されている。
基準ステージ7の右側面に対向して、ミラー14を含む
倍率変換レンズ15およびCCDカメラ16が配置され
ている。基準ステージ7の左側面および前後にも同様に
倍率変換レンズおよびCODカメラがそれぞれ設けられ
ている。
倍率変換レンズ15およびCCDカメラ16が配置され
ている。基準ステージ7の左側面および前後にも同様に
倍率変換レンズおよびCODカメラがそれぞれ設けられ
ている。
第4図は第3図の計測ステージおよび照明ユニ7)の詳
細を示す拡大図である。
細を示す拡大図である。
基準ステージ7は第2図から明らかなように4角形状で
段差部7Cを有しており、上の面が基準面7bとなる。
段差部7Cを有しており、上の面が基準面7bとなる。
中央部に拡散Fj、lOを嵌め込むための4角形状の貫
通孔7aを有し、貫通孔7aに設けた段差部7dに拡散
板10が取りつけられている。段差部7Cには孔7eお
よび側面に繋がる孔7fが設けられ、この孔7e、7f
と基部23に設けられている孔23a、23bとを合わ
せ、位置決めビン19.20を差し込むことにより基準
ステージ7は固定される。
通孔7aを有し、貫通孔7aに設けた段差部7dに拡散
板10が取りつけられている。段差部7Cには孔7eお
よび側面に繋がる孔7fが設けられ、この孔7e、7f
と基部23に設けられている孔23a、23bとを合わ
せ、位置決めビン19.20を差し込むことにより基準
ステージ7は固定される。
基準ステージ7は被検査体の形状に応じて、数種類用意
されており、容易に代えることができる。
されており、容易に代えることができる。
拡散板10の中央部には吸着ノズル1)を挿通させるた
めの孔を有し、その側面には棚状の導出部10aが形成
されている。
めの孔を有し、その側面には棚状の導出部10aが形成
されている。
吸着ノズル1)の内部はノズル先端まで通じる空胴部1
)aとなっており、空洞部1)aの他端は吸着ノズル側
面より導き出されている。空洞部1)aの他端は接栓1
)bを介して電磁弁17に接続され、電磁弁17には真
空ポンプ18が装着されている。
)aとなっており、空洞部1)aの他端は吸着ノズル側
面より導き出されている。空洞部1)aの他端は接栓1
)bを介して電磁弁17に接続され、電磁弁17には真
空ポンプ18が装着されている。
吸着ノズル1)の他端はプーリ1)Cを介して偏心カム
12に押し当てられている。
12に押し当てられている。
吸着ノズル1)はボールスプライン24によって支持さ
れている。
れている。
モータ13の駆動軸は偏心カム12の中心よりΔRだけ
離れた位置に取りつけられている。したがって吸着ノズ
ル1)の先端は2×ΔR上下動できる。
離れた位置に取りつけられている。したがって吸着ノズ
ル1)の先端は2×ΔR上下動できる。
第5図は基準ステージ、倍率変換レンズおよびQFPの
位置関係を説明するための図である。
位置関係を説明するための図である。
基準ステージ7の基準面の縦と横の寸法を第2図に示す
ようにり、WとするとQFP6のベント幅寸法D“、W
゛より両側でそれぞれΔlたけ大きくしである。例えば
、具体的には0.51である。
ようにり、WとするとQFP6のベント幅寸法D“、W
゛より両側でそれぞれΔlたけ大きくしである。例えば
、具体的には0.51である。
また、倍率変換レンズ15の先端とリード端子の先端ま
での距離を合焦点距離lとし、レンズの光軸25と基準
面との高さを一致させている。
での距離を合焦点距離lとし、レンズの光軸25と基準
面との高さを一致させている。
第6図は照明ユニットの詳細を示す図である。
照明ユニット9に導入された光ファイバ8は4つに分割
させられ、直線上の光ファイバ整列束21゜22等にさ
れる。照明ユニット9の上面には、4つの均一な線光源
26,27.29および30が形成されている。
させられ、直線上の光ファイバ整列束21゜22等にさ
れる。照明ユニット9の上面には、4つの均一な線光源
26,27.29および30が形成されている。
第7図は拡散板の詳細を示す図で、同図(a)は平面図
、同図(blはステージ部分の断面図、同図(C1はス
テージ部分の一部拡大断面図である。
、同図(blはステージ部分の断面図、同図(C1はス
テージ部分の一部拡大断面図である。
拡散板10の各辺に形成されている導出部10はリード
端子38の内側の位置関係となる。導出部10aの厚さ
は例えば、0.3mmである。
端子38の内側の位置関係となる。導出部10aの厚さ
は例えば、0.3mmである。
上記線光源を出射した光は拡散板1oの下面から入射し
、拡散され、導出部10aの側面に達したものだけが、
主に撮像系の照明光として利用される。
、拡散され、導出部10aの側面に達したものだけが、
主に撮像系の照明光として利用される。
したがって第7図(a)に示すように導出部10aの側
面より拡散光39が放出される。
面より拡散光39が放出される。
第8図(a)および(blは倍率変換レンズを側面から
見た図および正面から見た図である。
見た図および正面から見た図である。
倍率変換レンズはミラー15.シリンドリカルレンズ3
3,34.および35.絞り37ならびにメインレンズ
32より構成されている。
3,34.および35.絞り37ならびにメインレンズ
32より構成されている。
第8図(alはリード端子群の縦方向の倍率を拡大する
光学系を示すものである。
光学系を示すものである。
縦方向の倍率はシリンドリカルレンズ33.34および
35では拡大率は稼いでおらず、メインレンズ32のみ
で拡大している。
35では拡大率は稼いでおらず、メインレンズ32のみ
で拡大している。
また、第8図(b)はリード端子群の横方向の倍率を縮
小する光学系を示すものである。
小する光学系を示すものである。
横方向の倍率はメインレンズ32.シリンドリカルレン
ズ33.34および35の位置関係で縮小される。
ズ33.34および35の位置関係で縮小される。
なお、絞り37は縦方向および横方向の明るさをそれぞ
れ独立に調整可能である。
れ独立に調整可能である。
このように縦方向と横方向の倍率を変えているのはリー
ド端子浮き量測定において、横方向の計測精度は必要で
はなく、縦方向の計測精度のみ必要であるからである。
ド端子浮き量測定において、横方向の計測精度は必要で
はなく、縦方向の計測精度のみ必要であるからである。
この実施例では物点31であるリード端子からミラー1
4までの距離を75mmに、縦方向の倍率を2.5倍に
、横方向の倍率を1/4に縮小しである。したがって、
横方向の有効視野は4倍に拡大し、縮方向の視野はl/
2.5倍に縮小するが、その分解能は2,5倍に拡大す
る。
4までの距離を75mmに、縦方向の倍率を2.5倍に
、横方向の倍率を1/4に縮小しである。したがって、
横方向の有効視野は4倍に拡大し、縮方向の視野はl/
2.5倍に縮小するが、その分解能は2,5倍に拡大す
る。
つぎに本検査装置の操作手順にしたがって、各部の機能
および動作について第3図、第4図を用いて説明する。
および動作について第3図、第4図を用いて説明する。
図示しないトランスファ等によりQFP6を基準ステー
ジ7上に搬入させた後、モータ13を起動して吸着ノズ
ル1)を上昇させ、QFP6の下面を吸着ノズル1)の
先端に接触させる。これと同時に真空源18によって空
胴部1)aの空気を引き、吸着ノズル1)の先端にQF
P6の下面を吸着させる。つぎに、モータ13をさらに
回転させて、ゆっ(りと吸着ノズル1)を下降させ、Q
FP6のリード端子が基準面7bに接触した時点で、空
胴部1)aの空気引きを停止し、吸着を解除する。
ジ7上に搬入させた後、モータ13を起動して吸着ノズ
ル1)を上昇させ、QFP6の下面を吸着ノズル1)の
先端に接触させる。これと同時に真空源18によって空
胴部1)aの空気を引き、吸着ノズル1)の先端にQF
P6の下面を吸着させる。つぎに、モータ13をさらに
回転させて、ゆっ(りと吸着ノズル1)を下降させ、Q
FP6のリード端子が基準面7bに接触した時点で、空
胴部1)aの空気引きを停止し、吸着を解除する。
このようにしてQFP6を基準面に位置付けするのはト
ランスファ等によって基準ステージ上に直接QFPを搭
載した場合、リード端子が変形する恐れがあるからであ
る。
ランスファ等によって基準ステージ上に直接QFPを搭
載した場合、リード端子が変形する恐れがあるからであ
る。
光ファイバ8により光が伝送されてくると、照明ユニッ
ト9によって、4つの線光源に分割され、拡散板10に
よってQFP6の各側面のリード端子群に拡散光が送ら
れる。各側面のリード端子を通った光はそれぞれの倍率
変換レンズを経由して、CCD上に達し、CCDにリー
ド端子の像を結ぶ。
ト9によって、4つの線光源に分割され、拡散板10に
よってQFP6の各側面のリード端子群に拡散光が送ら
れる。各側面のリード端子を通った光はそれぞれの倍率
変換レンズを経由して、CCD上に達し、CCDにリー
ド端子の像を結ぶ。
ここで、倍率変換レンズの縦方向の倍率が2.5倍。
横方向の倍率が1/4倍で、2 / 31ンのCODを
用いた場合の、計測精度および計測範囲について第9図
を用いて説明する。
用いた場合の、計測精度および計測範囲について第9図
を用いて説明する。
第9図は縦方向および横方向の倍率に対する有効視野お
よび分解能の実測値を示す図である。
よび分解能の実測値を示す図である。
同図から明らかなように、実施例によれば、分解能が5
゜2μm / 1画素になり、必要な計測精度を満たす
とともに、有効視野は拡がり、最大35 、2mmのQ
FPの一辺のリード端子群の浮き量を測定できる。
゜2μm / 1画素になり、必要な計測精度を満たす
とともに、有効視野は拡がり、最大35 、2mmのQ
FPの一辺のリード端子群の浮き量を測定できる。
各CCDカメラはリード端子群の像を映像信号に変換し
、変換した映像出力は図示しない処理部に送られる。処
理部ではリード端子の浮き量を判定するための画像処理
が実行される。
、変換した映像出力は図示しない処理部に送られる。処
理部ではリード端子の浮き量を判定するための画像処理
が実行される。
第10図はCCDカメラで得た映像出力を処理する工程
を示す図である。
を示す図である。
処理部はQFPが位置付けされていない状態でステージ
の座標を512ピクセル分検出し、判定用データを作成
する動作を予めする。
の座標を512ピクセル分検出し、判定用データを作成
する動作を予めする。
CCDの全視野を第10図(a)に示すように3つのウ
ィンドウに分割し、ウィンドウ毎に設定された2値レベ
ルにより2値画像をウィンドウ分取り込む。
ィンドウに分割し、ウィンドウ毎に設定された2値レベ
ルにより2値画像をウィンドウ分取り込む。
つぎに第10図(b)に示すようにウィンドウ内で仮想
ラインを設定し、X方向に走査し、リード端子のエツジ
を検出する。
ラインを設定し、X方向に走査し、リード端子のエツジ
を検出する。
つぎに上記エツジよりリードの中心線を求め、中心線を
Y方向に走査し、ピクセルの変化点を検出する。ピクセ
ルの変化点を0回検出し、平均座標を求め、ステージ座
標との差を判定する。
Y方向に走査し、ピクセルの変化点を検出する。ピクセ
ルの変化点を0回検出し、平均座標を求め、ステージ座
標との差を判定する。
この場合、リードが垂直で無い場合Y方向の走査でリー
ドの先端以外でピクセル変化点を検出する場合が発生す
るので、ピクセル変化点、検出時は水平方向座標+、−
、nピクセル位置のピクセルを検査しリードの有無を検
出しY方向走査位置を補正する。
ドの先端以外でピクセル変化点を検出する場合が発生す
るので、ピクセル変化点、検出時は水平方向座標+、−
、nピクセル位置のピクセルを検査しリードの有無を検
出しY方向走査位置を補正する。
Y方向への走査はウィンドウ1から3へと移行し、ウィ
ンドウ1のY方向座標終了時はウィンドウ2用の2値デ
ータの検出に移行する。
ンドウ1のY方向座標終了時はウィンドウ2用の2値デ
ータの検出に移行する。
このようにして、各カード端子の基準面からの高さを判
定する。また、仮想ラインの走査によりリードの数を求
めることができるので、リードの欠落、リードの重なり
による不良の判定も可能となる。Y方向の走査によるリ
ード先端部検出時、同時に第10図(C)のXI、X2
を検出する。
定する。また、仮想ラインの走査によりリードの数を求
めることができるので、リードの欠落、リードの重なり
による不良の判定も可能となる。Y方向の走査によるリ
ード先端部検出時、同時に第10図(C)のXI、X2
を検出する。
仮想ラインで検出した異なるリードでXI、X2が同様
の場合リードの重なりの検出が行える。
の場合リードの重なりの検出が行える。
この実施例では被検査体がQFPの場合を説明したが、
デュアルインラインパッケージについても同様に適用で
きる。かかる場合は、倍率変換レンズ、カメラは2個設
置することとなる。
デュアルインラインパッケージについても同様に適用で
きる。かかる場合は、倍率変換レンズ、カメラは2個設
置することとなる。
なお、本装置で用いている倍率変換レンズは、−般に横
方向の計測精度は要求されず、縦方向の精度が重要で、
かつ、横方向の有効視野範囲を大きく取る必要がある計
測(例えば、長方形状の幅の測定1円柱形状の直径およ
び円筒度)等に有効である。
方向の計測精度は要求されず、縦方向の精度が重要で、
かつ、横方向の有効視野範囲を大きく取る必要がある計
測(例えば、長方形状の幅の測定1円柱形状の直径およ
び円筒度)等に有効である。
(発明の効果)
以上、説明したように本発明によれば、測定個所の有効
視野を充分大きく確保できる。例えば、第9図の実例に
よれば、QFP側面の幅が最大35.2mmまで一回の
測定で可能である。したがって、ICパッケージまたは
CCDカメラを走査して多数回計測を行う必要はなく、
計測時間を大幅に短縮できる。
視野を充分大きく確保できる。例えば、第9図の実例に
よれば、QFP側面の幅が最大35.2mmまで一回の
測定で可能である。したがって、ICパッケージまたは
CCDカメラを走査して多数回計測を行う必要はなく、
計測時間を大幅に短縮できる。
また、測定個所の充分な有効視野を確保できると同時に
計測方向の精度を確保できる。
計測方向の精度を確保できる。
例えば、第9図の実例では、QFPリード端子の縦方向
のレンズ倍率は2.5倍であるので、2/3i″CCD
力メラ使用時、分解能は5.2μm/1画素となり、高
精度な計測が可能である。通常のレンズ系を用い、倍率
を2.5倍に設定した場合、QFPリード端子横方向の
有効視野は8.8 X 1 /2.5” 3.52+u
+Lか確保できず、本レンズと同等の視野範囲を確保す
るためには、QFPまたはカメラをQFPリード端子横
方向に3.52+++mピッチで9回移動し、計測を1
0回行わなければならないことになる。さらに、本発明
はリード端子を基準ステージに載せ、その基準面を基準
にして浮き量を測定するものであり、ICパッケージの
各側面のリード端子群対応に倍率変換レンズ、カメラを
設置しているので、ICパッケージまたはカメラを動か
すことなく、さらにICパッケージに対し外部規制を加
えることなく (ICパッケージを基準ステージ上に
置いた状態すなわち実装状態と同じ状態で)リード端子
浮き量を測定できる。
のレンズ倍率は2.5倍であるので、2/3i″CCD
力メラ使用時、分解能は5.2μm/1画素となり、高
精度な計測が可能である。通常のレンズ系を用い、倍率
を2.5倍に設定した場合、QFPリード端子横方向の
有効視野は8.8 X 1 /2.5” 3.52+u
+Lか確保できず、本レンズと同等の視野範囲を確保す
るためには、QFPまたはカメラをQFPリード端子横
方向に3.52+++mピッチで9回移動し、計測を1
0回行わなければならないことになる。さらに、本発明
はリード端子を基準ステージに載せ、その基準面を基準
にして浮き量を測定するものであり、ICパッケージの
各側面のリード端子群対応に倍率変換レンズ、カメラを
設置しているので、ICパッケージまたはカメラを動か
すことなく、さらにICパッケージに対し外部規制を加
えることなく (ICパッケージを基準ステージ上に
置いた状態すなわち実装状態と同じ状態で)リード端子
浮き量を測定できる。
第1図は本発明によるICパッケージのリード端子浮き
量検査装置のブロック図、第2図は4方向リード端子フ
ラツトパツケージ(QFP)の平面図、第3図は本発明
によるICパッケージのリード端子浮き量検査装置の実
施例を示す概略図。 第4図は第3図の計測ステージおよび照明ユニットの拡
大図、第5図は基準ステージ、倍率変換レンズおよびQ
FPの位置関係を説明するための図。 第6図は照明ユニットの詳細を示す図で、同図(3)は
平面図、同図(blは一部断面で示した側面図をそれぞ
れ示している。第7図は拡散板の詳細を示す図で、同図
(a)は平面図、同図(blはステージ部分の断面図、
同図(C)はステージ部分の一部拡大断面図をそれぞれ
示している。第8図(a)および(b)は倍率変換レン
ズを側面から見た図および正面から見た図で、同図(a
)はリード端子の縦方向を拡大する側を、同図山)はリ
ード端子の横方向を縮小する側をそれぞれ示している。 第9図は縦方向および横方向の倍率に対する有効視野お
よび分解能の実測値を示す図、第10図はCCDカメラ
で得た映像出力を処理する工程を示す図である。 l・・・計測ステージ 2・・・被検査体 3・・・照明系 4・・・撮影光学系 5・・・撮像系 6・・・4方向端子フラツトパツケージ(QFP)7・
・・基準ステージ 8・・・光ファイバ 9・・・ファイバ照明ユニット 10・・・拡散板 1)・・・吸着ノズル 12・・・偏心カム 13・・・モータ 14・・・ミラー 1.5.23・・・倍率変換レンズ 16・・・CCDカメラ 17・・・電磁弁 18・・・真空源 19.20・・・位置決めピン 21.22・・・光ファイバ整列束 24・・・ボールスプライン 25・・・レンズ系光軸 26.27,29.30・・・発光面 31・・・像 32・・・メインレンズ 33.34.35・・・シリンドリカルレンズ36・・
・結像点 37・・・絞り 38・・・リード端子
量検査装置のブロック図、第2図は4方向リード端子フ
ラツトパツケージ(QFP)の平面図、第3図は本発明
によるICパッケージのリード端子浮き量検査装置の実
施例を示す概略図。 第4図は第3図の計測ステージおよび照明ユニットの拡
大図、第5図は基準ステージ、倍率変換レンズおよびQ
FPの位置関係を説明するための図。 第6図は照明ユニットの詳細を示す図で、同図(3)は
平面図、同図(blは一部断面で示した側面図をそれぞ
れ示している。第7図は拡散板の詳細を示す図で、同図
(a)は平面図、同図(blはステージ部分の断面図、
同図(C)はステージ部分の一部拡大断面図をそれぞれ
示している。第8図(a)および(b)は倍率変換レン
ズを側面から見た図および正面から見た図で、同図(a
)はリード端子の縦方向を拡大する側を、同図山)はリ
ード端子の横方向を縮小する側をそれぞれ示している。 第9図は縦方向および横方向の倍率に対する有効視野お
よび分解能の実測値を示す図、第10図はCCDカメラ
で得た映像出力を処理する工程を示す図である。 l・・・計測ステージ 2・・・被検査体 3・・・照明系 4・・・撮影光学系 5・・・撮像系 6・・・4方向端子フラツトパツケージ(QFP)7・
・・基準ステージ 8・・・光ファイバ 9・・・ファイバ照明ユニット 10・・・拡散板 1)・・・吸着ノズル 12・・・偏心カム 13・・・モータ 14・・・ミラー 1.5.23・・・倍率変換レンズ 16・・・CCDカメラ 17・・・電磁弁 18・・・真空源 19.20・・・位置決めピン 21.22・・・光ファイバ整列束 24・・・ボールスプライン 25・・・レンズ系光軸 26.27,29.30・・・発光面 31・・・像 32・・・メインレンズ 33.34.35・・・シリンドリカルレンズ36・・
・結像点 37・・・絞り 38・・・リード端子
Claims (4)
- (1)光ファイバを導入し、上面に複数個の均一な線光
源を形成する照明系と、 前記照明系の上部に配置され、平面形状が中央部に貫通
孔を有する角形であって、その上面を、被検査体である
ICパッケージのリード端子を搭載し、所定部に位置付
けするための基準面とする基準ステージおよび前記基準
ステージの貫通孔に固定され、周囲に棚状の導出部を有
し、前記照明系の線光源からの光を拡散させ、前記導出
部を経由させて各側面より拡散光を射出する拡散板を含
む計測ステージと、 前記拡散板側面からの光によって得られる前記ICパッ
ケージのリード端子の像の整列方向の倍率を縮小すると
ともに、前記整列方向と直角方向の倍率を拡大する倍率
変換レンズを、各方向に出ているリード端子群対応に設
けた撮影光学系と、前記倍率変換レンズ対応ごとに、前
記撮影光学系から射出される光像を、映像に変換する撮
像系とから構成したことを特徴とするICパッケージの
リード端子浮き量検査装置。 - (2)前記照明系および拡散板の中央部に貫通孔を設け
、この貫通孔を嵌通して前記ICパッケージの下面に、
開口部が位置付けされるように吸着ノズルを設け、検査
開始時、被検査体であるICパッケージを前記基準ステ
ージ上に位置付けした後、前記吸着ノズルを上昇させ、
その下面を吸着し、前記吸着ノズルを徐々に下降させ、
前記ICパッケージのリード端子群が前記基準面に達し
たとき、前記吸着を解除するように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のICパッケージのリ
ード端子浮き量検査装置。 - (3)前記撮影光学系はシリンドリカルレンズを構成の
一部に用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のICパッケージのリード端子浮き量検査装置。 - (4)前記撮像系の映像出力を画像処理し、前記基準ス
テージの基準面からの各リード端子の先端の浮き量を判
定する処理部を備えたことを特徴とする第1項記載のI
Cパッケージのリード端子浮き量検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27450089A JPH0682732B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | Icパッケージのリード端子浮き量検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27450089A JPH0682732B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | Icパッケージのリード端子浮き量検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03136262A true JPH03136262A (ja) | 1991-06-11 |
| JPH0682732B2 JPH0682732B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=17542558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27450089A Expired - Fee Related JPH0682732B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | Icパッケージのリード端子浮き量検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682732B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04356939A (ja) * | 1991-06-03 | 1992-12-10 | Just:Kk | 電子部品のリード形状検査装置 |
| JPH0543008U (ja) * | 1991-11-13 | 1993-06-11 | 株式会社小松製作所 | 物品の外観検査装置 |
| JPH0628615U (ja) * | 1992-09-17 | 1994-04-15 | 株式会社中央理研 | Icの端子形状検査装置 |
| JP2007071775A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Tokyo Weld Co Ltd | 外観検査装置 |
-
1989
- 1989-10-20 JP JP27450089A patent/JPH0682732B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04356939A (ja) * | 1991-06-03 | 1992-12-10 | Just:Kk | 電子部品のリード形状検査装置 |
| JPH0543008U (ja) * | 1991-11-13 | 1993-06-11 | 株式会社小松製作所 | 物品の外観検査装置 |
| JPH0628615U (ja) * | 1992-09-17 | 1994-04-15 | 株式会社中央理研 | Icの端子形状検査装置 |
| JP2007071775A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Tokyo Weld Co Ltd | 外観検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0682732B2 (ja) | 1994-10-19 |
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