JPH0628615U - Ｉｃの端子形状検査装置 - Google Patents
Ｉｃの端子形状検査装置Info
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- JPH0628615U JPH0628615U JP6482792U JP6482792U JPH0628615U JP H0628615 U JPH0628615 U JP H0628615U JP 6482792 U JP6482792 U JP 6482792U JP 6482792 U JP6482792 U JP 6482792U JP H0628615 U JPH0628615 U JP H0628615U
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 Ｊ形又はＳＯＰ形リード端子のＩＣの端子形
状を明確な検査基準で検査可能な端子形状検査装置を提
供することを目的とする。 【構成】 側面の上端がテーパー部１ａの四角形の基準
載置台１と、テーパー部１ａを含み基準載置台１の上面
に平行な平面上でテーパー部１ａの中点に対向する位置
に配置されたＣＣＤカメラ５と、このＣＣＤカメラ５と
前記テーパー部１ａとの間に設けたシリンドリカルレン
ズ４とよりなり、前記基準載置台１は光散乱特性を持っ
た半透明体で構成されたものである。
状を明確な検査基準で検査可能な端子形状検査装置を提
供することを目的とする。 【構成】 側面の上端がテーパー部１ａの四角形の基準
載置台１と、テーパー部１ａを含み基準載置台１の上面
に平行な平面上でテーパー部１ａの中点に対向する位置
に配置されたＣＣＤカメラ５と、このＣＣＤカメラ５と
前記テーパー部１ａとの間に設けたシリンドリカルレン
ズ４とよりなり、前記基準載置台１は光散乱特性を持っ
た半透明体で構成されたものである。
Description
【０００１】
本考案はＪ形又はＳＯＰ形のリード端子を持ったＩＣの端子形状検査装置に関 する。
【０００２】
従来、リード形端子、特にＪ形又はＳＯＰ形リード端子の場合はその変形状態 は目視により検査していた。
【０００３】
上述の目視検査では、検査基準が不明確であると共に、検査もれを完全に防止 することは困難であった。
【０００４】 本考案は上述の問題を解決して、明確な基準で、かつ検査もれを防止すること が可能な検査装置を提供することを課題とする。
【０００５】
上述の課題を解決するために、リード形の端子を持ったＩＣの端子形状検査装 置において、側面の上端がテーパー部１ａの四角形の基準載置台１と、このテー パー部１ａを含み、上面に平行な平面上でテーパー部１ａの中点に対向する位置 に配置されたＣＣＤカメラ５とからなり、前記基準載置台１は光散乱特性を持っ た半透明体で構成されたものである。
【０００６】 又、前記基準載置台１のテーパー部１ａと前記ＣＣＤカメラ５の間の前記平面 上にシリンドリカルレンズ４を設けたものである。
【０００７】 更に、前記基準載置台１の変形としての基準載置台７の上面にＩＣパッケージ 本体を遊嵌する凹部７ｂを設けたものである。
【０００８】
図１は本考案のＩＣの端子形状検査装置の一例の断面図で、Ｊ形リード端子６ 用のものである。この例では、図２に示すように側面の上端がテーパー部１ａと なっており、光散乱特性を持った半透明体（例えば乳白色のアクリル樹脂）で構 成された四角形の基準載置台１の四周の下側には不透明の検査ステージ２が設け られ、基準載置台１の下面には基準載置台１を照明する光源３が設けられている 。
【０００９】 基準載置台１のテーパー部１ａを含み、上面に平行な平面上で、基準載置台１ の一辺上にはこの平面上に長手方向を持ったシリンドリカルレンズ４が設けられ ており、このシリンドリカルレンズ４の光軸面４ａ上にはシリンドリカルレンズ ４に対向してＣＣＤカメラ５が配置されている。なお、このシリンドリカルレン ズ４及びＣＣＤカメラ５は基準載置台１の対向する二辺又は各辺にそれぞれ設け ても良い。
【００１０】 図３は本考案のＩＣの端子形状検査装置の他の例で基準載置台７と検査ステー ジ２の部分の断面図で、ＳＯＰ形リード端子用のものである。この例で図１の例 と異なる部分は、基準載置台７の上面にＩＣパッケージ９の本体部分が遊嵌され てＳＯＰ形リード端子８の先端側曲折部８ａがテーパー部７ａに載るように構成 されている。
【００１１】 次に上述のＩＣの端子形状検査装置の動作について図１により説明する。基準 載置台１は下面から光源３で照明されており、かつこの材質が光散乱特性を持っ た半透明体であるので、テーパー部１ａは明るく照明されており、テーパー部１ ａより下側の側面は検査ステージ２で遮蔽されている。
【００１２】 この状態でＪ形リード端子６のＩＣパッケージ９を基準載置台１の上に載せる と、Ｊ形リード端子６は下向きになっている先端の湾曲部がテーパー部１ａに接 触し、ＩＣパッケージ９の本体は基準載置台１の上面から多少浮き上がった状態 となっている。
【００１３】 この場合、テーパー部１ａは光源３からの照明により明るく、端子部分は完全 に光を遮断しているので、端子部分とバック部分のコントラストが明確になる。
【００１４】 この端子の先端部分をシリンドリカルレンズ４を通してＣＣＤカメラ５で撮影 する。この場合の端子状態及びＣＣＤカメラ５の映像は図４に示したようになる 。同図で（イ）はＪ形リード端子列を横方向から見た図、（ロ）はＪ形リード端 子列を側面から見た図、（ハ）はＣＣＤカメラ５の映像で、上側の線はシリンド リカルレンズ４による視野の上側で、ほぼテーパー部１ａの上側の線、下側の線 は同じく視野の下側で、ほぼテーパー部１ａの下側の線である。
【００１５】 図４の場合は各Ｊ形リード端子６は正常な形状であるので、（イ）の横方向は １個のＪ形リード端子６のように見え、（ロ）の側面から見た図は全部揃った状 態である。この場合のＣＣＤカメラ５の映像は（ハ）のように端子の下端が揃っ た状態の正規の長さで撮影される。
【００１６】 この場合、ＣＣＤカメラ５の映像は単に目視だけでなく、図示しない装置によ り端子部分に相当する映像の光量を荷電量に変換し、ばらつきを数値化すること も可能であり、許容変形範囲の判別を正確に実施することが可能である。
【００１７】 図５の場合はＪ形リード端子６の内、１個が根元から上側に反った状態に変形 しており、（イ）の一点鎖線の状態である。この状態のＩＣパッケージ９を基準 載置台１に載せると変形しているＪ形リード端子６ａのみがテーパー部１ａに接 触せず、（ロ）に示すように６ａのみが上側に浮き上がった状態となる。この場 合の映像は６ａのみが下端が浮き上がって短い状態で、正常状態の端子は正規の 長さで撮影される。従って、変形しているＪ形リード端子６ａの部分のみが他の Ｊ形リード端子６の部分より遮光部分が少なく（受光量が多くなる）、変形を数 値化出来る。
【００１８】 図６の場合はＪ形リード端子６の内、１個が根元から下側に反った状態に変形 しており、（イ）の一点鎖線の状態である。この状態のＩＣパッケージ９を基準 載置台１に載せると変形しているＪ形リード端子６ｂのみがテーパー部１ａに接 触し、（ロ）に示すように６ｂのみが下端がＣＣＤカメラ５では正常位置となり 、正常なＪ形リード端子６は全部浮き上がった状態となる。この場合の映像は６ ｂのみがほぼ正規の長さで撮影され、正常状態の端子は何れも浮き上がった短い 状態で撮影されているので、ここの遮光部分が少なく、画像処理により下側変形 が判別出来る。
【００１９】 なお、Ｊ形リード端子６が途中で内側に曲がっている場合は図５（ハ）のよう な映像となる。
【００２０】 上述の各映像を処理することにより、Ｊ形リード端子６の変形状態が分析出来 るので、変形端子を持ったＩＣパッケージ９を選別することが出来る。
【００２１】 上述の説明はＪ形リード端子６を持ったＩＣパッケージ９の場合であるが、Ｓ ＯＰ形リード端子８を持ったＩＣパッケージ９の場合は、基準載置台７を使用し 、上面の凹部７ｂにＩＣパッケージ本体部分を遊嵌すれば、ＳＯＰ形リード端子 ８の先端側曲折部８ａが基準載置台７のテーパー部７ａに接触するようになるの で、図４、５、６の場合と同様にして変形を検出することが出来る。
【００２２】
上述のように、端子の変形を映像化し、更に数値化が可能であるので、変形の 有無の発見と、許容変形範囲の設定が可能である。
【図１】本考案のＩＣの端子形状検査装置のＪ形リード
端子用の断面図である。
端子用の断面図である。
【図２】図１の基準載置台の斜視図である。
【図３】本考案のＩＣの端子形状検査装置のＳＯＰ形リ
ード端子用の断面図である。
ード端子用の断面図である。
【図４】端子が正常な場合の説明図で、（イ）はＪ形リ
ード端子列を横方向から見た図、（ロ）Ｊ形リード端子
列を側面から見た図、（ハ）はＣＣＤカメラ５の映像で
ある。
ード端子列を横方向から見た図、（ロ）Ｊ形リード端子
列を側面から見た図、（ハ）はＣＣＤカメラ５の映像で
ある。
【図５】端子が１本上側に湾曲している場合の説明図
で、（イ）はＪ形リード端子列を横方向から見た図、
（ロ）Ｊ形リード端子列を側面から見た図、（ハ）はＣ
ＣＤカメラ５の映像である。
で、（イ）はＪ形リード端子列を横方向から見た図、
（ロ）Ｊ形リード端子列を側面から見た図、（ハ）はＣ
ＣＤカメラ５の映像である。
【図６】端子が１本下側に湾曲している場合の説明図
で、（イ）はＪ形リード端子列を横方向から見た図、
（ロ）Ｊ形リード端子列を側面から見た図、（ハ）はＣ
ＣＤカメラ５の映像である。
で、（イ）はＪ形リード端子列を横方向から見た図、
（ロ）Ｊ形リード端子列を側面から見た図、（ハ）はＣ
ＣＤカメラ５の映像である。
１ 基準載置台 １ａ テーパー部 ２ 検査ステージ ３ 光源 ４ シリンドリカルレンズ ５ ＣＣＤカメラ ６ Ｊ形リード端子 ７ 基準載置台 ７ｂ 凹部 ８ ＳＯＰ形リード端子 ９ ＩＣパッケージ
Claims (3)
- 【請求項１】 リード形の端子を持ったＩＣの端子形状
検査装置において、側面の上端がテーパー部の四角形の
基準載置台と、前記テーパー部を含み、上面に平行な平
面上でこのテーパー部の中点に対向する位置に配置され
たＣＣＤカメラとからなり、前記基準載置台は光散乱特
性を持った半透明体で構成されていることを特徴とする
ＩＣの端子形状検査装置。 - 【請求項２】 前記基準載置台のテーパー部と前記ＣＣ
Ｄカメラの間の前記平面上にシリンドリカルレンズを設
けたことを特徴とする請求項１のＩＣの端子形状検査装
置。 - 【請求項３】 前記基準載置台の上面にＩＣパッケージ
本体を遊嵌する凹部を設けたことを特徴とする請求項
１、２のＩＣの端子形状検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6482792U JPH0628615U (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | Ｉｃの端子形状検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6482792U JPH0628615U (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | Ｉｃの端子形状検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0628615U true JPH0628615U (ja) | 1994-04-15 |
Family
ID=13269472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6482792U Pending JPH0628615U (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | Ｉｃの端子形状検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628615U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997028420A1 (en) * | 1996-02-02 | 1997-08-07 | Komatsu Ltd. | Lead inspection apparatus of ic package |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63275937A (ja) * | 1987-05-07 | 1988-11-14 | Fujitsu Ltd | 光学式形状検査装置 |
| JPH03136262A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-11 | Tokyo Koku Keiki Kk | Ｉｃパッケージのリード端子浮き量検査装置 |
| JPH0461355A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-02-27 | Omron Corp | リード部品検査装置 |
-
1992
- 1992-09-17 JP JP6482792U patent/JPH0628615U/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63275937A (ja) * | 1987-05-07 | 1988-11-14 | Fujitsu Ltd | 光学式形状検査装置 |
| JPH03136262A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-11 | Tokyo Koku Keiki Kk | Ｉｃパッケージのリード端子浮き量検査装置 |
| JPH0461355A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-02-27 | Omron Corp | リード部品検査装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997028420A1 (en) * | 1996-02-02 | 1997-08-07 | Komatsu Ltd. | Lead inspection apparatus of ic package |
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