JPH03136308A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
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- JPH03136308A JPH03136308A JP1276797A JP27679789A JPH03136308A JP H03136308 A JPH03136308 A JP H03136308A JP 1276797 A JP1276797 A JP 1276797A JP 27679789 A JP27679789 A JP 27679789A JP H03136308 A JPH03136308 A JP H03136308A
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- ceramic
- dielectric ceramic
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- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、積層セラミックコンデンサの改良に関する。
(従来の技術)
近時、電子部品としてチップ型積層セラミックコンデン
サが大量に使用されるようになった。斯かる積層セラミ
ックコンデンサは、チタン酸バリウムやチタン酸ネオジ
ウム等から成る厚さ15〜30μmの誘電体セラミック
層と、銀パラジウムやニッケル等から成る厚さ0.5〜
2μmの内部電極層とを交互に積層し、更にこの積層物
の上下に内部層と同質の誘電体セラミックから成る厚さ
100〜500μ・mの:保護層を接着して一体的に焼
成した後−該積層焼結体の両端面に端子電極を焼付けし
て形成される。このようなチップ型積層セラミックコン
デンサは、厚膜回路基板やプリント基板等に直接ハンダ
付けされる表面実装部品として各方面で大量゛に・使用
・されている。
サが大量に使用されるようになった。斯かる積層セラミ
ックコンデンサは、チタン酸バリウムやチタン酸ネオジ
ウム等から成る厚さ15〜30μmの誘電体セラミック
層と、銀パラジウムやニッケル等から成る厚さ0.5〜
2μmの内部電極層とを交互に積層し、更にこの積層物
の上下に内部層と同質の誘電体セラミックから成る厚さ
100〜500μ・mの:保護層を接着して一体的に焼
成した後−該積層焼結体の両端面に端子電極を焼付けし
て形成される。このようなチップ型積層セラミックコン
デンサは、厚膜回路基板やプリント基板等に直接ハンダ
付けされる表面実装部品として各方面で大量゛に・使用
・されている。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、上記コンデンサに使用されるセラミック誘電体
材料は、通常その抗折強度が8〜15kg/aa” と
小さく、また熱膨張係数が90〜130XIO−7/℃
と大きい為、表面実装工程で生じる熱応力や機械的応力
更には熱?ti撃等によりコンデンサにクラックを生じ
、その信頼性の低下を招くことが多々あった6 (発明の目的) 本発明は、上記に鑑みなされたもので、表面実装工程で
のクラックの発生を抑止し、コンデンサとしての信頼性
を維持し得る新規な積層セラミックコンデンサを程供せ
んとするものである。
材料は、通常その抗折強度が8〜15kg/aa” と
小さく、また熱膨張係数が90〜130XIO−7/℃
と大きい為、表面実装工程で生じる熱応力や機械的応力
更には熱?ti撃等によりコンデンサにクラックを生じ
、その信頼性の低下を招くことが多々あった6 (発明の目的) 本発明は、上記に鑑みなされたもので、表面実装工程で
のクラックの発生を抑止し、コンデンサとしての信頼性
を維持し得る新規な積層セラミックコンデンサを程供せ
んとするものである。
(課題を解決する為の手段)
上記目的を達成する本発明の積層セラミックコンデンサ
を添付図面に基づき説明する。第1図は本発明の積層セ
ラミックコンデンサの一例を示す斜視図、第2図は同縦
断面図、第3図は表面実装要領を示す図である。
を添付図面に基づき説明する。第1図は本発明の積層セ
ラミックコンデンサの一例を示す斜視図、第2図は同縦
断面図、第3図は表面実装要領を示す図である。
即ち、本発明の積層セラミックコンデンサは。
複数の誘電体セラミック層1・・・と、複数の内部電極
層2・・・とを交互に積層して一体化し1両端部に端子
電極3を形成した積層セラミックコンデンサに於いて、
少なくとも片面側表層部4の誘電体セラミックの熱膨張
係数が内層部5の誘電体セラミックの熱膨張係数より2
〜10 X 10−7/’Cだけ小さく且つ当該表層部
4の厚みが20〜200μmであることを特徴とする。
層2・・・とを交互に積層して一体化し1両端部に端子
電極3を形成した積層セラミックコンデンサに於いて、
少なくとも片面側表層部4の誘電体セラミックの熱膨張
係数が内層部5の誘電体セラミックの熱膨張係数より2
〜10 X 10−7/’Cだけ小さく且つ当該表層部
4の厚みが20〜200μmであることを特徴とする。
表層部4と内層部5との熱膨張係数差及び表層部4の厚
みを上記の如く特定した理由は、熱膨張係数差が2 X
10−7/℃未満の場合或いは表層部4の厚みが20
μm未謂の場合、表面実装工程で生じる熱応力、機械的
応力更には熱衝撃を吸収し得るに十分な圧縮応力を表面
に保有せず表面からクラックが生じ易くなり、−力無膨
張係数差が10 x 10−’/”Cを超え或いは表層
部4の厚みが200μmを超えた場合、内部の引っ張り
応力が大きくなり過ぎて内部からクラックが生じ易くな
るからである。
みを上記の如く特定した理由は、熱膨張係数差が2 X
10−7/℃未満の場合或いは表層部4の厚みが20
μm未謂の場合、表面実装工程で生じる熱応力、機械的
応力更には熱衝撃を吸収し得るに十分な圧縮応力を表面
に保有せず表面からクラックが生じ易くなり、−力無膨
張係数差が10 x 10−’/”Cを超え或いは表層
部4の厚みが200μmを超えた場合、内部の引っ張り
応力が大きくなり過ぎて内部からクラックが生じ易くな
るからである。
上記誘電体セラミック層1・・・を、主に、チタン酸バ
リウム、チタン酸ランタン、チタン酸カルシウム、チタ
ン酸ネオジウム及びチタン酸マグネシウム等のチタン酸
塩を主成分とする誘電体セラミックから構成することが
望ましい、この場合は、上記表層部4のセラミックが内
層部5のセラミックよりジルコニウム酸塩を5〜15m
ol%多く含むよう調製することにより、表層部4と内
層部5との熱膨張係数の差を上記の如く設定することが
出来る。而して、表層部4に於けるジルコニウム酸塩の
過剰含有量が5m01%未満の場合、上記熱膨張係数差
が2 X 10−7/℃を下回り、逆に15 m o
1%を超えると同熱膨張係数差が10×10−7/℃を
上回ることになる。尚、ジルコニウム酸塩について表層
部4が「・・・多く含む」と表現したのは、主体たる誘
電体セラミックの原料中にジルコニウム酸塩が不可避的
に含まれている場合があること、また誘電体セラミック
の一組成材料としてジルコニウム酸塩を後添加する場合
もあることによる。このように、誘電体セラミックの一
組成としてジルコニウム酸塩を添加すると、コンデンサ
としての磁器強度も大となるので望ましく採用される。
リウム、チタン酸ランタン、チタン酸カルシウム、チタ
ン酸ネオジウム及びチタン酸マグネシウム等のチタン酸
塩を主成分とする誘電体セラミックから構成することが
望ましい、この場合は、上記表層部4のセラミックが内
層部5のセラミックよりジルコニウム酸塩を5〜15m
ol%多く含むよう調製することにより、表層部4と内
層部5との熱膨張係数の差を上記の如く設定することが
出来る。而して、表層部4に於けるジルコニウム酸塩の
過剰含有量が5m01%未満の場合、上記熱膨張係数差
が2 X 10−7/℃を下回り、逆に15 m o
1%を超えると同熱膨張係数差が10×10−7/℃を
上回ることになる。尚、ジルコニウム酸塩について表層
部4が「・・・多く含む」と表現したのは、主体たる誘
電体セラミックの原料中にジルコニウム酸塩が不可避的
に含まれている場合があること、また誘電体セラミック
の一組成材料としてジルコニウム酸塩を後添加する場合
もあることによる。このように、誘電体セラミックの一
組成としてジルコニウム酸塩を添加すると、コンデンサ
としての磁器強度も大となるので望ましく採用される。
(作用)
上記構成の積層セラミックコンデンサは、表層部4の熱
膨張係数が内層部5のそれより小さいので、焼結後の冷
却過程で表層部4に圧縮応力が蓄積され残留する。而し
て、第3図に示す如く当該コンデンサCを銅配線8され
たガラスエポキシ等の基板6上にハンダ付フして実装す
る場合、実装過程で生じる熱応力、機械的応力更には熱
衝撃(基板に加わる曲げ応力やハンダ付けの際の熱負荷
等による)等による引っ張り応力がハンダ7を介してコ
ンデンサCに作用するが、この引っ張り応力は上記圧縮
応力により吸収され、その結果表層部4と内層部5との
間にストレスが生じず、クラックの発生が未然に防止さ
れる。
膨張係数が内層部5のそれより小さいので、焼結後の冷
却過程で表層部4に圧縮応力が蓄積され残留する。而し
て、第3図に示す如く当該コンデンサCを銅配線8され
たガラスエポキシ等の基板6上にハンダ付フして実装す
る場合、実装過程で生じる熱応力、機械的応力更には熱
衝撃(基板に加わる曲げ応力やハンダ付けの際の熱負荷
等による)等による引っ張り応力がハンダ7を介してコ
ンデンサCに作用するが、この引っ張り応力は上記圧縮
応力により吸収され、その結果表層部4と内層部5との
間にストレスが生じず、クラックの発生が未然に防止さ
れる。
上記熱膨張係数の特定された表層部4は、少なくとも片
面側に形成されることを必須とするが。
面側に形成されることを必須とするが。
実際の実装工程では表裏の峻別が難しい為4又基板6上
にハンダ7により固定されたコンデンサCには固定面だ
けではなく上面にも一部引っ張り応力が作用する為、図
に示す如く両面に形成することが望ましい6従って1表
裏峻別が可能な場合には片面のみでも、この表層部4が
基板面側になるよう実装することにより引っ張り応力の
大半を吸収することが出来る。
にハンダ7により固定されたコンデンサCには固定面だ
けではなく上面にも一部引っ張り応力が作用する為、図
に示す如く両面に形成することが望ましい6従って1表
裏峻別が可能な場合には片面のみでも、この表層部4が
基板面側になるよう実装することにより引っ張り応力の
大半を吸収することが出来る。
(実施例)
次に実施例により本発明を更に詳述する。
(a)チタン酸バリウムを主成分とし、酸化ニオブ(N
bioi) 1−5 m o 1%と鉱化剤とを含む
誘電体材料粉末を、アルミナ玉石、水及び分散剤と共に
磁製ポットに入れ、20時間回転させてスラリーを得た
。
bioi) 1−5 m o 1%と鉱化剤とを含む
誘電体材料粉末を、アルミナ玉石、水及び分散剤と共に
磁製ポットに入れ、20時間回転させてスラリーを得た
。
(b)得られたスラリーに有機バインダー及び可塑剤を
加えて混合後、ドクターブレード法により厚さ25μm
の内層部用グリーンシートを得た。
加えて混合後、ドクターブレード法により厚さ25μm
の内層部用グリーンシートを得た。
(Q)このグリーンシートの両面に銀パラジウムペース
トを印刷しこれらを20層積み重ね、更にこの積層物の
上下に銀パラジウムペーストを印刷していないグリーン
シートを3枚づつ配置積層した。
トを印刷しこれらを20層積み重ね、更にこの積層物の
上下に銀パラジウムペーストを印刷していないグリーン
シートを3枚づつ配置積層した。
(d)上記誘電体材料粉末に、ジルコン酸カルシウム(
Ca Z r O3)及びジルコン酸バリウム(BaZ
r 03 )粉末を加え、上記と同様に処理して表層
部用グリーンシートを得た。
Ca Z r O3)及びジルコン酸バリウム(BaZ
r 03 )粉末を加え、上記と同様に処理して表層
部用グリーンシートを得た。
(e)この表層部用グリーンシートを(c)の積層物の
両面に1〜8枚ずつ配置積層し、これらを熱圧着した後
所定の寸法に切断した。
両面に1〜8枚ずつ配置積層し、これらを熱圧着した後
所定の寸法に切断した。
(f)この熱圧着成形物をジルコニア板の上に載せて1
200〜1300℃で焼成し、3X1.5腫、厚さ0.
5〜0.8−のチップコンデンサ用焼結体を得た。
200〜1300℃で焼成し、3X1.5腫、厚さ0.
5〜0.8−のチップコンデンサ用焼結体を得た。
(g)この焼結体をバレル研磨後、両端に銀ペーストを
塗布し、800℃で焼付け、更にその表面にニッケルめ
っき及び錫めっきを施し端子電極を形成して積層セラミ
ックコンデンサを得た。
塗布し、800℃で焼付け、更にその表面にニッケルめ
っき及び錫めっきを施し端子電極を形成して積層セラミ
ックコンデンサを得た。
(h)表層部の厚み、CaZr0.及びBaZr01の
添加量を変えたコンデンササンプルについて1表層部と
内層部との熱膨張係数の差を測定算出し、また残留応力
(表層部の圧縮応力、内層部の引っ張り応力)をFEM
解析法により求めた。
添加量を変えたコンデンササンプルについて1表層部と
内層部との熱膨張係数の差を測定算出し、また残留応力
(表層部の圧縮応力、内層部の引っ張り応力)をFEM
解析法により求めた。
(i)上記コンデンサを銅配線されたガラスエポキシ基
板上にハンダ付けし、該基板を間隔が90閣の支持台上
に載せ、基板の裏面より押圧してコンデンサにクラック
が入る5までのたわみ変形、量を求めた(日本電子機械
工業会規格RC−3402に準拠)。
板上にハンダ付けし、該基板を間隔が90閣の支持台上
に載せ、基板の裏面より押圧してコンデンサにクラック
が入る5までのたわみ変形、量を求めた(日本電子機械
工業会規格RC−3402に準拠)。
(j)上記(f)の焼結体の研磨断面を実体顕微鏡(X
40)で観察し、内部のクラックの有無を調べた。
40)で観察し、内部のクラックの有無を調べた。
表層部の厚み、CaZr0a及びBaZr0.の添加量
1表層部と内層部との熱膨張、係数の差、残−留塔力、
クラックが入るまでのた□わみ変形量及び、内部クラッ
クの有無の観察結果を一括して第1表に示す。
1表層部と内層部との熱膨張、係数の差、残−留塔力、
クラックが入るまでのた□わみ変形量及び、内部クラッ
クの有無の観察結果を一括して第1表に示す。
(以下余白)
第1表に於いて、試料Nα2乃至6及び8は、いずれも
表層部の圧縮圧力が大きい為、上記規格RC−3402
の試験法によるクラックが入るまでの変形量が大きく、
表面実装時の引っ張り応力に十分耐え得ることが理解さ
れる。また、内層部の引っ張り応力が小さく従って内部
クラックが皆無である。これに対し、試料Nα1は、表
層部と内層部との熱膨張係数に差がない為、表層部に圧
縮応力が蓄積されず、従ってクラックが入るまでの変形
量が小さく、表面実装の際の引っ張り応力によりクラッ
クが発生する可能性がある。試料Nα7は、表層部の厚
みが厚い為内層部の引っ張り応力が大となり、焼結体内
部にクラックが発生した。更に、試料Nα9は、熱膨張
係数の差が大きい為内層部の引っ張り応力が大となり試
料Nα7と同様内部クラックが発生した。
表層部の圧縮圧力が大きい為、上記規格RC−3402
の試験法によるクラックが入るまでの変形量が大きく、
表面実装時の引っ張り応力に十分耐え得ることが理解さ
れる。また、内層部の引っ張り応力が小さく従って内部
クラックが皆無である。これに対し、試料Nα1は、表
層部と内層部との熱膨張係数に差がない為、表層部に圧
縮応力が蓄積されず、従ってクラックが入るまでの変形
量が小さく、表面実装の際の引っ張り応力によりクラッ
クが発生する可能性がある。試料Nα7は、表層部の厚
みが厚い為内層部の引っ張り応力が大となり、焼結体内
部にクラックが発生した。更に、試料Nα9は、熱膨張
係数の差が大きい為内層部の引っ張り応力が大となり試
料Nα7と同様内部クラックが発生した。
尚、上記では表層部の熱膨張係数を小さくする手段とし
て、表層部の誘電体セラミックにジルコニウム酸塩を添
加する方法を採用したが、他の方法の採用を除外するも
のではない。
て、表層部の誘電体セラミックにジルコニウム酸塩を添
加する方法を採用したが、他の方法の採用を除外するも
のではない。
(発明の効果)
叙上の如く1本発明の積層セラミックコンデンサは、表
層部の熱膨張係数が内層部のそれより小さいから、コン
デンサの焼結形成後表層部に圧縮応力が蓄積残留し、こ
の圧縮応力により表面実装時の引っ張り応力が吸収され
る。従って1表面実装時のクラックの発生が抑止され、
コンデンサの信頼性が維持される。
層部の熱膨張係数が内層部のそれより小さいから、コン
デンサの焼結形成後表層部に圧縮応力が蓄積残留し、こ
の圧縮応力により表面実装時の引っ張り応力が吸収され
る。従って1表面実装時のクラックの発生が抑止され、
コンデンサの信頼性が維持される。
亦、誘電体セラミックがチタン酸塩を主成分とする場合
、表層部のセラミックにジルコニウム酸塩を適宜添加す
ることにより上記熱膨張係数の調整が簡易になされ、上
記優れた特性を有する積層セラミックコンデンサが確実
に得られる。
、表層部のセラミックにジルコニウム酸塩を適宜添加す
ることにより上記熱膨張係数の調整が簡易になされ、上
記優れた特性を有する積層セラミックコンデンサが確実
に得られる。
このように特筆すべき効果を有する本発明の実用価値は
極めて大である。
極めて大である。
第1図は本発明の積層セラミックコンデンサの一例を示
す斜視図、第2図は同縦断面図、第3図は表面実装要領
を示す図である。 (符号の説明) 1・・・誘電体セラミック層、 2・・・内部電極層、 3・・・端子電極。 4・・・表層部。 ・・内層部。 一以上一
す斜視図、第2図は同縦断面図、第3図は表面実装要領
を示す図である。 (符号の説明) 1・・・誘電体セラミック層、 2・・・内部電極層、 3・・・端子電極。 4・・・表層部。 ・・内層部。 一以上一
Claims (2)
- 1.複数の誘電体セラミック層と、複数の内部電極層と
を交互に積層して一体化し、両端部に端子電極を形成し
た積層セラミックコンデンサに於いて、少なくとも片面
側表層部の誘電体セラミックの熱膨張係数が内層部の誘
電体セラミックの熱膨張係数より2〜10×10^−^
7/℃だけ小さく且つ当該表層部の厚みが20〜200
μmであることを特徴とする積層セラミックコンデンサ
。 - 2.上記誘電体セラミック層がチタン酸塩を主成分とし
、上記表層部のセラミックが内層部のセラミックよりジ
ルコニウム酸塩を5〜15mol%多く含むことを特徴
とする請求項1記載の積層セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1276797A JP2678206B2 (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1276797A JP2678206B2 (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03136308A true JPH03136308A (ja) | 1991-06-11 |
| JP2678206B2 JP2678206B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=17574516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1276797A Expired - Fee Related JP2678206B2 (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2678206B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10106881A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-04-24 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ |
| WO2006098092A1 (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミックコンデンサ |
| WO2007060742A1 (ja) * | 2005-11-28 | 2007-05-31 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 印刷マスク並びに太陽電池セル、フラットパネルディスプレイおよびチップコンデンサ |
| JP2011035145A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
| JP2012522382A (ja) * | 2009-03-26 | 2012-09-20 | ケメット エレクトロニクス コーポレーション | 低いeslおよびesrを有するリード付き多層セラミックキャパシタ |
| JP2013102241A (ja) * | 2013-03-04 | 2013-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
| CN103903856A (zh) * | 2012-12-25 | 2014-07-02 | 株式会社村田制作所 | 层叠陶瓷电子部件 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101422920B1 (ko) | 2012-09-06 | 2014-07-23 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
-
1989
- 1989-10-23 JP JP1276797A patent/JP2678206B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10106881A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-04-24 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ |
| JP4636084B2 (ja) * | 2005-03-14 | 2011-02-23 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JPWO2006098092A1 (ja) * | 2005-03-14 | 2008-08-21 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| US7859822B2 (en) | 2005-03-14 | 2010-12-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Monolithic ceramic capacitor |
| WO2006098092A1 (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミックコンデンサ |
| WO2007060742A1 (ja) * | 2005-11-28 | 2007-05-31 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 印刷マスク並びに太陽電池セル、フラットパネルディスプレイおよびチップコンデンサ |
| US7906366B2 (en) | 2005-11-28 | 2011-03-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Printing mask and solar cell |
| JP2012522382A (ja) * | 2009-03-26 | 2012-09-20 | ケメット エレクトロニクス コーポレーション | 低いeslおよびesrを有するリード付き多層セラミックキャパシタ |
| JP2011035145A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
| CN103903856A (zh) * | 2012-12-25 | 2014-07-02 | 株式会社村田制作所 | 层叠陶瓷电子部件 |
| JP2014127504A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
| US9336948B2 (en) | 2012-12-25 | 2016-05-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Laminated ceramic electronic component |
| JP2013102241A (ja) * | 2013-03-04 | 2013-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2678206B2 (ja) | 1997-11-17 |
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