JPH031486Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH031486Y2 JPH031486Y2 JP14435985U JP14435985U JPH031486Y2 JP H031486 Y2 JPH031486 Y2 JP H031486Y2 JP 14435985 U JP14435985 U JP 14435985U JP 14435985 U JP14435985 U JP 14435985U JP H031486 Y2 JPH031486 Y2 JP H031486Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- single crystal
- growth
- raw material
- silicon carbide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 44
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 42
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 41
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 21
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 11
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 claims description 4
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 claims description 4
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005092 sublimation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、昇華法により炭化ケイ素単結晶を
成長させる炭化ケイ素単結晶成長装置に関する。
成長させる炭化ケイ素単結晶成長装置に関する。
一般に、炭化ケイ素〔SiC〕は、耐熱性および
機械的強度に優れ、放射線に強いなど物理的、化
学的性質からら耐環境性半導体材料として注目さ
れており、しかも同一の化学組成のSiC結晶に対
して種々の結晶構造が存在し、その禁制帯幅は約
2.3〜3.0eVと広範囲にわたり、とくに室温で約
3.0eVの6H型のSiC単結晶は青色発光ダイオード
材料として有望視されている。
機械的強度に優れ、放射線に強いなど物理的、化
学的性質からら耐環境性半導体材料として注目さ
れており、しかも同一の化学組成のSiC結晶に対
して種々の結晶構造が存在し、その禁制帯幅は約
2.3〜3.0eVと広範囲にわたり、とくに室温で約
3.0eVの6H型のSiC単結晶は青色発光ダイオード
材料として有望視されている。
そして従来、このようなSiC単結晶を作成する
場合、たとえば第2図、第3図に示すような装置
が用いられており、第2図に示す装置は、ジヤー
ナル オブ クリスタル グロース43(1978)209
−212ページ〔Journal of Crystal Growth 43
(1978)209−212〕に記載された装置であり、同
図において、1は断面円形のグラフアイトからな
らるるつぼ、、2はるつぼ1内の中央部に配設さ
れた多孔質グラフアイトからなる円筒体、3はる
つぼ1と円筒体2との間に収容されたSiC原材
料、4は円筒体2の内側に形成された成長室、5
は成長室4の上部に配設されたSiC単結晶基板で
あり、るつぼ1の外側に巻装された図示されてい
ない高周波誘導加熱コイルによりるつぼ1が加熱
されて原材料3が昇華し、円筒体2を経て成長室
4内に発生した原材料3の昇華ガスが基板5に当
つて基板5の表面にSiC単結晶インゴツトが成長
する。
場合、たとえば第2図、第3図に示すような装置
が用いられており、第2図に示す装置は、ジヤー
ナル オブ クリスタル グロース43(1978)209
−212ページ〔Journal of Crystal Growth 43
(1978)209−212〕に記載された装置であり、同
図において、1は断面円形のグラフアイトからな
らるるつぼ、、2はるつぼ1内の中央部に配設さ
れた多孔質グラフアイトからなる円筒体、3はる
つぼ1と円筒体2との間に収容されたSiC原材
料、4は円筒体2の内側に形成された成長室、5
は成長室4の上部に配設されたSiC単結晶基板で
あり、るつぼ1の外側に巻装された図示されてい
ない高周波誘導加熱コイルによりるつぼ1が加熱
されて原材料3が昇華し、円筒体2を経て成長室
4内に発生した原材料3の昇華ガスが基板5に当
つて基板5の表面にSiC単結晶インゴツトが成長
する。
このとき、るつぼ1の壁面側ほど温度が高く、
るつぼ1の中心側ほど温度が低く設定されている
ものとする。
るつぼ1の中心側ほど温度が低く設定されている
ものとする。
一方、第3図に示す装置は、アイイーイーイー
トランスアクシヨンズ オン エレクトロン デ
バイシズ、ボリウム イーデイー30、ナンバー4
(1983)277−281ページ〔IEEE
TRANSACTIONS ON ELECTRON
DEVICES,VOL.ED−30,No.4(1983)277−
281〕に記載された装置であり、同図において、
6は断面円形のグラフアイトからなるるつぼ、7
はるつぼ6内の中央部に配設された多孔質グラフ
アイトからなる円筒体、8はるつぼ6と円筒体2
との間の下半部に設けられた多孔質グラフアイト
からなる載置台、9はるつぼ6と円筒体2との間
の上半部に収容されたSiC原材料、10は円筒体
7の内側に形成された成長室、11は成長室10
の下部に配設されたグラフアイトからなる台座、
12は台座11上に載置されたSiC単結晶基板で
あり、第2図の場合と同様に、るつぼ6の外側に
巻装された図示されていない高周波誘導加熱コイ
ルによりるつぼ6が加熱されて原材料9が昇華
し、円筒体7を経て成長室10内に発生した原材
料9の昇華ガスが基板12に当つて基板12の表
面にSiC単結晶インゴツトが成長する。
トランスアクシヨンズ オン エレクトロン デ
バイシズ、ボリウム イーデイー30、ナンバー4
(1983)277−281ページ〔IEEE
TRANSACTIONS ON ELECTRON
DEVICES,VOL.ED−30,No.4(1983)277−
281〕に記載された装置であり、同図において、
6は断面円形のグラフアイトからなるるつぼ、7
はるつぼ6内の中央部に配設された多孔質グラフ
アイトからなる円筒体、8はるつぼ6と円筒体2
との間の下半部に設けられた多孔質グラフアイト
からなる載置台、9はるつぼ6と円筒体2との間
の上半部に収容されたSiC原材料、10は円筒体
7の内側に形成された成長室、11は成長室10
の下部に配設されたグラフアイトからなる台座、
12は台座11上に載置されたSiC単結晶基板で
あり、第2図の場合と同様に、るつぼ6の外側に
巻装された図示されていない高周波誘導加熱コイ
ルによりるつぼ6が加熱されて原材料9が昇華
し、円筒体7を経て成長室10内に発生した原材
料9の昇華ガスが基板12に当つて基板12の表
面にSiC単結晶インゴツトが成長する。
このとき、るつぼ6の壁面側ほど温度が高く、
るつぼ6の中心側ほど温度が低く設定されている
ものとする。
るつぼ6の中心側ほど温度が低く設定されている
ものとする。
ところで、前記した両装置により成長するSiC
単結晶インゴツトの形状は、それぞれ円筒体2,
7により定まるる円柱状になり、これらの装置の
場合、成長室4,10を形成する円筒体2,7が
るつぼ1,6の内側に配設されているため、成長
室4,10の内径および容積が制限されることに
なり、基板5,12の表面に平行な方向への結晶
成長が妨げられ、成長するSiC単結晶インゴツト
の断面積も必然的に制約されてしまい、発光ダイ
オード等の素子に用いるための大面積のSiC単結
晶ウエハを得ることができないという問題がある また、結晶成長が進むに連れて円筒体2,7の
内面にSiCの結晶が成長することになり、円筒体
2,7がグラフアイトからなるため、円筒体2,
7の影響により、成長した円柱状のSiC単結晶イ
ンゴツトの周辺部分が多結晶化するという問題点
がある。
単結晶インゴツトの形状は、それぞれ円筒体2,
7により定まるる円柱状になり、これらの装置の
場合、成長室4,10を形成する円筒体2,7が
るつぼ1,6の内側に配設されているため、成長
室4,10の内径および容積が制限されることに
なり、基板5,12の表面に平行な方向への結晶
成長が妨げられ、成長するSiC単結晶インゴツト
の断面積も必然的に制約されてしまい、発光ダイ
オード等の素子に用いるための大面積のSiC単結
晶ウエハを得ることができないという問題がある また、結晶成長が進むに連れて円筒体2,7の
内面にSiCの結晶が成長することになり、円筒体
2,7がグラフアイトからなるため、円筒体2,
7の影響により、成長した円柱状のSiC単結晶イ
ンゴツトの周辺部分が多結晶化するという問題点
がある。
そこでこの考案は、成長するSiC単結晶インゴ
ツトの断面積の大型化を図り、多結晶の発生を抑
制することを技術的課題とする。
ツトの断面積の大型化を図り、多結晶の発生を抑
制することを技術的課題とする。
この考案は、前記の諸点に留意してなされたも
のであり、炭化ケイ素原材料を収容したグラフア
イトからなるるつぼと、前記るつぼを加熱して前
記原材料を昇華させる加熱手段と、炭化ケイ素単
結晶からなる基板を収納し前記るつぼ外に配設さ
れたグラフアイトからなる成長容器と、前記るつ
ぼの内部と前記容器の内部とを連通した前記原材
料の昇華ガスの流通路とを備えた炭化ケイ素単結
晶成長装置である。
のであり、炭化ケイ素原材料を収容したグラフア
イトからなるるつぼと、前記るつぼを加熱して前
記原材料を昇華させる加熱手段と、炭化ケイ素単
結晶からなる基板を収納し前記るつぼ外に配設さ
れたグラフアイトからなる成長容器と、前記るつ
ぼの内部と前記容器の内部とを連通した前記原材
料の昇華ガスの流通路とを備えた炭化ケイ素単結
晶成長装置である。
〔作用〕
したがつて、この考案では、炭化ケイ素原材料
を収容したるつぼ外に、炭化ケイ素単結晶基板を
収納した成長容器が配設され、加熱手段によりる
つぼが加熱されて原材料が昇華し、原材料の昇華
ガスが流通路を経て成長容器内に流入し、基板表
面に炭化ケイ素単結晶が成長する。
を収容したるつぼ外に、炭化ケイ素単結晶基板を
収納した成長容器が配設され、加熱手段によりる
つぼが加熱されて原材料が昇華し、原材料の昇華
ガスが流通路を経て成長容器内に流入し、基板表
面に炭化ケイ素単結晶が成長する。
このとき、成長容器はるつぼ外に配設されてお
り、従来のようにるつぼの内側に成長室を形成す
る場合に比べ、成長容器内部の内径および容積す
なわち成長室の内径および容積を大きくとれ、断
面積の大きな炭化ケイ素単結晶インゴツトの成長
が可能になり、発光ダイオード等の素子に用いる
ための大面積の炭化ケイ素単結晶ウエハが得られ
るるとともに、炭化ケイ素の結晶成長が進んでも
グラフアイト製の成長容器の壁面に結晶成長する
ことが抑制され、成長容器の影響による成長結晶
の多結晶化が抑制されることになる。
り、従来のようにるつぼの内側に成長室を形成す
る場合に比べ、成長容器内部の内径および容積す
なわち成長室の内径および容積を大きくとれ、断
面積の大きな炭化ケイ素単結晶インゴツトの成長
が可能になり、発光ダイオード等の素子に用いる
ための大面積の炭化ケイ素単結晶ウエハが得られ
るるとともに、炭化ケイ素の結晶成長が進んでも
グラフアイト製の成長容器の壁面に結晶成長する
ことが抑制され、成長容器の影響による成長結晶
の多結晶化が抑制されることになる。
つぎに、この考案を、その1実施例を示した第
1図とともに詳細に説明する。
1図とともに詳細に説明する。
同図において、13は上面が開口した断面円形
のグラフアイトからなるるつぼ、14はるつぼ1
3内に収容されたSiC原材料、15はるつぼ13
上に載置された断面円形のグラフアイトからなる
ガイド体であり、内部に末広がりの透孔が透設さ
れて原材料14の昇華ガスの流通路16が形成さ
れている。
のグラフアイトからなるるつぼ、14はるつぼ1
3内に収容されたSiC原材料、15はるつぼ13
上に載置された断面円形のグラフアイトからなる
ガイド体であり、内部に末広がりの透孔が透設さ
れて原材料14の昇華ガスの流通路16が形成さ
れている。
17は下面が開口しガイド体15上に載置され
てるるつぼ13外に配設され、流通路16により
り内部の成長室18とるつぼ13の内部とが連通
された断面円形のグラフアイトからなる成長容
器、19は容器17の上面内側に設けられたグラ
フアイトからなる台座、20はSiC単結晶からな
る基板であり、台座19に固着されて成長室18
に配設されている。
てるるつぼ13外に配設され、流通路16により
り内部の成長室18とるつぼ13の内部とが連通
された断面円形のグラフアイトからなる成長容
器、19は容器17の上面内側に設けられたグラ
フアイトからなる台座、20はSiC単結晶からな
る基板であり、台座19に固着されて成長室18
に配設されている。
なお、第1図において、21は基板20の表面
に成長したSiC単結晶インゴツトであり、図示さ
れていないが、るつぼ13の外側に加熱手段とし
ての高周波誘導加熱コイルが巻装されており、該
コイルによりるつぼ13が加熱されて原材料14
が昇華する。
に成長したSiC単結晶インゴツトであり、図示さ
れていないが、るつぼ13の外側に加熱手段とし
ての高周波誘導加熱コイルが巻装されており、該
コイルによりるつぼ13が加熱されて原材料14
が昇華する。
そして、前記加熱コイルによるるつぼ13の加
熱手段により原材料14が昇華し、原材料14の
昇華ガスが第1図中の矢印のように流通路16を
経て容器17内の成長室18に流入し、基板20
の表面に原材料14の昇華ガスが当つて基板20
の表面にSiC単結晶インゴツト21が成長する。
熱手段により原材料14が昇華し、原材料14の
昇華ガスが第1図中の矢印のように流通路16を
経て容器17内の成長室18に流入し、基板20
の表面に原材料14の昇華ガスが当つて基板20
の表面にSiC単結晶インゴツト21が成長する。
したがつて、るつぼ13と成長容器17とが分
離形成されて成長室18がるつぼ13の上方に設
けられているため、従来のようにるつぼの内側に
成長室を形成する場合に比べ、成長室18の内径
および容積を大きくすることができ、断面積の大
きなSiC単結晶インゴツト21の成長が可能にな
り、発光ダイオード等の素子に用いるための大面
積のSiC単結晶ウエハを得ることができる。
離形成されて成長室18がるつぼ13の上方に設
けられているため、従来のようにるつぼの内側に
成長室を形成する場合に比べ、成長室18の内径
および容積を大きくすることができ、断面積の大
きなSiC単結晶インゴツト21の成長が可能にな
り、発光ダイオード等の素子に用いるための大面
積のSiC単結晶ウエハを得ることができる。
また、成長室18の内径を十分大きくすること
ができるため、基板20に平行な方向への結晶成
長が進んでも、従来に比べて成長した結晶が容器
17の壁面に接触することを大幅に抑えることが
でき、容器17の壁面に結晶成長することが抑制
され、グラフアイト製の容器17の影響による多
結晶の発生を大幅に抑制することができる。
ができるため、基板20に平行な方向への結晶成
長が進んでも、従来に比べて成長した結晶が容器
17の壁面に接触することを大幅に抑えることが
でき、容器17の壁面に結晶成長することが抑制
され、グラフアイト製の容器17の影響による多
結晶の発生を大幅に抑制することができる。
なお、前記実施例では、成長容器17をるつぼ
13の上部に配設して成長室18をるつぼ13の
上方に設けた場合について説明したが、るつぼ1
3の上部に限らず、るつぼ13外であれば、、容
器17をいずれに配設してもよいことは勿論であ
る。
13の上部に配設して成長室18をるつぼ13の
上方に設けた場合について説明したが、るつぼ1
3の上部に限らず、るつぼ13外であれば、、容
器17をいずれに配設してもよいことは勿論であ
る。
以上のように、この考案の炭化ケイ素単結晶成
長装置によると、成長容器17の内径および容積
を大きくすることができ、断面積の大きなSiC単
結晶インゴツト21を成長させることができ、大
面積SiCウエハの供給が可能になるとともに、成
長するSiCの結晶中に発生することを大幅に抑制
することができ、品質の優れたSiC単結晶インゴ
ツト21を成長させることができ、その効果は顕
著である。
長装置によると、成長容器17の内径および容積
を大きくすることができ、断面積の大きなSiC単
結晶インゴツト21を成長させることができ、大
面積SiCウエハの供給が可能になるとともに、成
長するSiCの結晶中に発生することを大幅に抑制
することができ、品質の優れたSiC単結晶インゴ
ツト21を成長させることができ、その効果は顕
著である。
第1図はこの考案の炭化ケイ素単結晶成長装置
の1実施例の切断正面図、第2図および第3図は
それぞれ従来の炭化ケイ素単結晶成長装置の切断
正面図である。 13…るつぼ、14…SiC原材料、16…流通
路、17…成長容器、20…基板。
の1実施例の切断正面図、第2図および第3図は
それぞれ従来の炭化ケイ素単結晶成長装置の切断
正面図である。 13…るつぼ、14…SiC原材料、16…流通
路、17…成長容器、20…基板。
Claims (1)
- 炭化ケイ素原材料を収容したグラフアイトから
なるるつぼと、前記るつぼを加熱して前記原材料
を昇華させる加熱手段と、炭化ケイ素単結晶から
なる基板を収納し前記るつぼ外に配設されたグラ
フアイトからなる成長容器と、前記るつぼの内部
と前記容器の内部とを連通した前記原材料の昇華
ガスの流通路とを備えた炭化ケイ素単結晶成長装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14435985U JPH031486Y2 (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14435985U JPH031486Y2 (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6255573U JPS6255573U (ja) | 1987-04-06 |
| JPH031486Y2 true JPH031486Y2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=31054884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14435985U Expired JPH031486Y2 (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH031486Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010030828A (ja) * | 2008-07-28 | 2010-02-12 | Bridgestone Corp | 炭化ケイ素単結晶の製造方法および装置 |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP14435985U patent/JPH031486Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6255573U (ja) | 1987-04-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3165685B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の昇華成長 | |
| US5968261A (en) | Method for growing large silicon carbide single crystals | |
| TWI361847B (en) | Method and equipment for aln-monocrystal production with gas-pervious crucible-wall | |
| JPS6357400B2 (ja) | ||
| CN115821372A (zh) | 晶体生长装置 | |
| JP4052678B2 (ja) | 大形炭化珪素単結晶成長装置 | |
| CN113026094A (zh) | 碳化硅单晶生长控制装置及控制方法 | |
| JPH0455397A (ja) | α―SiC単結晶の製造方法 | |
| JP3237069B2 (ja) | SiC単結晶の製造方法 | |
| JPH0788274B2 (ja) | SiC単結晶の成長方法 | |
| JP6829767B2 (ja) | SiC結晶成長用SiC原料の製造方法及び製造装置 | |
| JPH03295898A (ja) | 炭化珪素単結晶成長方法および装置 | |
| JPH04193799A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JPH0230699A (ja) | 炭化珪素単結晶成長方法および装置 | |
| JPH11209198A (ja) | SiC単結晶の合成方法 | |
| JPH0639360B2 (ja) | 6h型および4h型炭化珪素単結晶の成長方法 | |
| JPH08245299A (ja) | 炭化ケイ素の結晶成長方法 | |
| JP4070353B2 (ja) | シリコンカーバイドのエピタキシャル成長方法 | |
| JP4053125B2 (ja) | SiC単結晶の合成方法 | |
| JPH06298600A (ja) | SiC単結晶の成長方法 | |
| JPH08325099A (ja) | SiC単結晶の成長方法 | |
| JPH06191998A (ja) | 炭化珪素単結晶の成長方法およびその成長装置 | |
| JPH06298514A (ja) | 高純度炭化ケイ素の製造方法 | |
| JPH0416597A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JPH0248495A (ja) | 炭化ケイ素単結晶の成長方法 |