JPH0314915B2 - - Google Patents

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JPH0314915B2
JPH0314915B2 JP12712985A JP12712985A JPH0314915B2 JP H0314915 B2 JPH0314915 B2 JP H0314915B2 JP 12712985 A JP12712985 A JP 12712985A JP 12712985 A JP12712985 A JP 12712985A JP H0314915 B2 JPH0314915 B2 JP H0314915B2
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JP
Japan
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copper foil
zinc
chromate
printed circuits
treatment
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JP12712985A
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Takeshi Yamagishi
Kazuyoshi Aso
Noboru Igawa
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Nippon Denkai Co Ltd
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Nippon Denkai Co Ltd
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/382—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal

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  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
[産業の利用分野] 本発明はプリント回路用銅箔とその製造方法に
関し、更に詳しくは、基材にこの銅箔を接着せし
めて銅張積層板にしたときその高温加熱処理前後
における接着特性が向上し、かつ耐塩酸性、耐酸
化性も顕著に向上したプリント回路用銅箔とその
製造方法に関する。 [従来の技術とその問題点] 最近、プリント回路が緻密化していくにつれ
て、プリント回路に使用する銅箔には、基材との
剥離強度、耐半田性、耐薬品性が優れているとい
う特性の外に、ガラス−エポキシ樹脂のような接
着剤を用いて基材と接着し加熱加圧して積層した
ものを、例えば180℃で48時間というような条件
下で高温加熱したのちであつても、基材との剥離
強度が依然として良好であるという特性が要求さ
れている。 従来から、プリント回路用銅箔の耐熱性を向上
する方法の1つとして、該銅箔に亜鉛めつきを施
す方法が知られている。亜鉛は防錆力に優れ、と
くに高温下での耐酸化性の向上効果は顕著である
が、しかし一方ではプリント回路製作の工程で必
要とされる特性の1つである耐塩酸性という点で
実用的とはいえない。 また、銅箔の防錆力を向上させるために、銅箔
を6価のクロム塩水溶液に浸漬したり又は陰極処
理を施したりして銅箔表面にクロム薄膜を形成す
る方法もある。しかしながら、この方法で製造し
た銅箔から製作したプリント回路板を過酷な条
件、とりわけ高温下で使用した場合、接着特性お
よび耐酸化性の効果は乏しく、大いに改善の余地
を残しているのが現状である。 更に、特公昭58−7077号公報には、耐熱性のプ
リント回路用銅箔が開示されている。ここで開示
されているプリント回路用銅箔は、銅箔の少なく
とも一方の面に亜鉛若しくは酸化亜鉛とクロム酸
化物との混合物の薄膜を形成したものである。 このプリント回路用銅箔の製造工程は、例えば
硫酸銅電鍍浴を用いて銅箔の表面に樹枝状の銅を
電析させる工程と、この電析銅の表面に亜鉛など
の薄層を形成する工程から成り、これらの工程は
通常同じ処理機を用いた連続工程として構成され
ている。 それゆえ、電析工程の終了後、次工程では亜鉛
などの薄層をアルカリ性浴を用いて形成し、その
洗浄液を電析工程の排水と合流せしめて排水溝に
流出した場合、排水溝では水酸化銅が沈積し易く
なるので、各廃液の排水溝を別個に設置すること
が必要となり、また、亜鉛などの薄層を形成した
銅箔面の残留アルカリ成分を洗浄除去するために
大量の水を必要とせざるを得ず、製造コストに占
める廃液処理コストの比重が大きくなる。 しかも、この銅箔は、高温下における耐酸化性
は備えているものの、基本的には亜鉛の耐薬品性
それ自体を改善したものではないため、この銅箔
を用いてプリント回路板を製作する場合の耐塩酸
性は良好ではない。 更に、特公昭56−20718号公報には、被接合面
にタングステン及び/又はモリブデンを含有する
亜鉛層が形成された銅箔が開示されている。しか
しながら、この銅箔の製造方法を実施例からみる
に、この方法では極めて高濃度の硫酸亜鉛水溶液
を使用しているので、銅箔の水洗工程では処理後
の銅箔に付着している硫酸亜鉛溶液等を除去する
ために極めて多量の水を消費することが避けられ
ず、また、ドラツグアウトによる硫酸亜鉛等の浪
費が不可避となる。したがつて、この方法は極め
て経済性に乏しいばかりではなく、得られた銅箔
はプリント回路板の製作時における耐塩酸性も不
充分といえる。 [発明が解決しようとする問題点] 本発明は銅張積層板にした時、高温加熱処理
前、および処理後における基材との剥離強度、高
温下における耐酸化性などに著しく優れているプ
リント回路用銅箔とそれを連続的に量産すること
ができる製造方法の提供を目的とする。 [問題点を解決するための手段] 本発明のプリント回路用銅箔の構造は、銅箔
と、該銅箔の少なくとも一方の面に形成された亜
鉛若しくは亜鉛酸化物を含有するモリブデン薄膜
と、該モリブデン薄膜の上に形成されたクロメー
ト処理膜と、該クロメート処理膜の上に形成され
たシランカツプリング剤処理膜とから成ることを
特徴とし、その製造方法は、モリブデン酸イオン
を含みかつ金属亜鉛若しくは亜鉛の塩を溶解せし
めて成る電鍍浴中に銅箔を浸漬して電鍍処理を施
す工程(第1工程); 得られた処理銅箔をクロメート処理液に浸漬す
るか若しくは陰極処理を施す工程(第2工程);
ついで シランカツプリング剤処理液に浸漬したのち乾
燥する工程(第3工程);とから成ることを特徴
とする。 [具体的な説明] 本発明のプリント回路用銅箔に用いられる銅箔
は、電解銅箔、圧延銅箔などのいずれであつても
よく格別限定されるものではない。また、銅箔の
厚みに関しても特に限定するものではない。通
常、10μm、18μm、35μm等である。基材と接着
せしめる面は、予め粗面化しておき更に例えば硫
酸銅電鍍浴を用いてそこに樹枝状の銅を電析させ
たものが好適である。 本発明のプリント回路用銅箔は、まず、上記し
た銅箔の少なくとも一方の面に亜鉛若しくは亜鉛
酸化物を含有するモリブデン薄膜が形成されてい
る。ここでいう亜鉛若しくは亜鉛酸化物は、電鍍
処理時に該モリブデン薄膜中に混在するものであ
つて、具体的には金属亜鉛、酸化亜鉛、水酸化亜
鉛などである。 上記モリブデン薄膜は、モリブデンの含有量が
10〜250μg/dm2、亜鉛の含有量が10〜250μ
g/dm2をもつて構成されていることが好まし
い。モリブデンの含有量が10μg/dm2未満の場
合には得られた銅箔の耐塩酸性が低下し始めて好
ましくなく、また、モリブデンの含有量が250μ
g/dm2を超える場合には基材との接着特性およ
び耐酸化性の向上に資する効果が減少して好まし
くない。一方、亜鉛の含有量が10μg/dm2未満
の場合には、この得られた銅箔が基材との接着特
性および耐酸化性の向上に資する効果は減退し、
また250μg/dm2を超える場合には、耐塩酸性
が低下しはじめて好ましくない。とくに、モリブ
デンの含有量が50〜150μg/dm2、亜鉛の含有
量が50〜150μg/dm2の薄膜は好適である。 このモリブデン薄膜は次のようにして形成され
る(第1工程)。 まず、電鍍浴を調製する。用いる電鍍浴は、モ
リブデン酸イオンを含みかつ亜鉛若しくは亜鉛の
塩が溶解せしめられた水溶液である。モリブデン
酸イオンの供給源としては、例えばNa2MoO4・
2H2O、K2MoO4、(NH4)6Mo7O24・4H2Oをあげ
ることができ、また亜鉛の塩の供給源としては、
例えば、ZnSO4・7H2O、ZnCl2、Zn
(CH3COO)2・2H2Oをあげることができる。こ
れらの各イオン供給源をそれぞれ所定量水に溶解
せしめて電鍍浴が構成されるが、溶解せしめる各
イオン供給源の量は、銅箔上に電析せしめるモリ
ブデン、亜鉛の前記した各量を勘案して決められ
る。例えばモリブデン酸イオン供給源として
Na2MoO4・2H2Oを用い、亜鉛イオン供給源と
してZnSO4・7H2Oを用いた場合、それぞれの溶
解量は電鍍浴全量1当り、0.5〜10g、0.5〜10
gの範囲にあることが好ましい。 電鍍浴は硫酸等の酸液を用いてPHを3.0〜5.0の
酸性液に調製して用いることが好ましい。PHが
3.0より低くなると、亜鉛の電析量が増大し、ま
たPHが5.0より高くなると電鍍浴中に水酸化亜鉛
の沈澱が生じはじめるからである。 つぎに、この電鍍浴に銅箔を浸漬して電鍍処理
を施す。電鍍処理は通常室温下で行なえばよい。
電流密度は格別限定されないが、0.1〜10A/d
m2が好適である。また電鍍時間は、形成するモリ
ブデン薄膜の厚みとの関係から1〜60秒であれば
よい。好ましくは1〜10秒の範囲が好適である。 本発明はプリント回路用銅箔は、上記第1工程
で形成されたモリブデン薄膜の上に第2層として
クロメート処理膜が形成されている。このクロメ
ート処理膜は、銅箔の防錆性を増大せしめると共
に、次工程でのシランカツプリング剤と接着層を
作るために形成されている。このクロメート処理
膜は、第1工程で得られた銅箔を、6価クロムイ
オンを含む水溶液、例えば、Na2Cr2O7・2H2O、
CrO3の水溶液に単に浸漬するか若しくは陰極処
理を施すことにより形成される(第2工程)。ク
ロメート処理液の濃度は、電鍍液1当り、0.5
〜10gの範囲にあることが好ましい。電鍍浴は硫
酸等の酸液を用いてPHを3.0〜6.0に調整して用い
ることが好ましい。PHが3.0より低くなるとクロ
ム含有量は増大し、かつ、第1工程で得られた銅
箔表面の亜鉛もしくは亜鉛酸化物を含むモリブデ
ン薄膜が溶解して減少するという欠点があり、PH
が6.0より高くなると電鍍浴中に水酸化クロムの
沈澱が発生し始めて、該銅箔に付着してしまうと
いう欠点がある。 また、浴温については陰極処理、浸漬処理いず
れの場合も室温でよく、電流密度については、
0.1〜10A/dm2、処理時間については浸漬処理
の場合も含めて1〜60秒の条件を採用すればよ
い。好ましくは3〜10秒の範囲でよい。 一方、クロム含有量について述べると、クロム
含有量は10〜150μg/dm2の範囲が好ましい。 クロム含有量が10μg/dm2未満の場合には、
次工程におけるシランカツプリング剤層との結合
においてその結合性が不充分なものとなり、接着
強度の向上に資する効果は減退する。 クロム含有量が150μg/dm2を超える場合は、
上記と同じ理由により同様に効果は減退する。次
に上記第2工程で得られたクロメート処理膜の上
に第3層としてシランカツプリング剤処理膜を形
成することによつて、本発明のプリント回路用銅
箔が製造される。 このシランカツプリング剤処理膜は、その下層
として存在する前記クロメート処理膜と接着すべ
き基材との間の接着特性を向上せしめるに資する
成分である。 シランカツプリング剤処理膜は、第2工程によ
りクロメート処理膜が形成されている銅箔を後述
のシランカツプリング剤処理液に所定時間浸漬し
たのちそれを取出して乾燥すればよい(第3工
程)。 用いるシランカツプリング剤としては、特願昭
55−162367号公報に記載されているものであれば
いずれも使用することができる。そのシランカツ
プリング剤は、次式:YRSiX3(但し、式中、Y
はビニル基、アミノ基、ジアミノ基、クロル基、
エポキシ基、メルカプト基、メタクリルオキシ基
のような、高分子物と反応する官能基;Rは上記
YとSiとを連結する鎖状若しくは環状の炭化水素
基を含む結合基;Xはクロル基、メトキシ基、エ
トキシ基のようなSiと結合する加水分解性の基を
表わす)で示されるものである。これらのうち、
γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2
−アミノエチル−3−アミノプロピルトリメトキ
シシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラ
ン、γ−グリシドオキシプロピルトリメトキシシ
ランなどを代表的なものとしてあげることができ
る。 このシランカツプリング剤が、その下層として
存在するクロメート処理膜と基材との間の接着力
を高める理由に関しては未だ充分に解明されてい
るわけではないが、上記一般式中のYが有機質に
対する濡れの改善、表面粗さの向上、相溶性の改
善、共有結合の形成などの作用により、接着性の
向上に奇与するもののように考えられ、また加水
分解性の基であるXは、加水分解を受けた場合、
次式に示すように、シラノールおよびHXを形成
し、この反応生成物がクロメート処理膜に対する
接着力を付与するもののように考えられる。 YRSiX3+3H2O→YRSi(OH)3+3H2O 使用するシランカツプリング剤処理液の濃度
は、0.001〜5重量%の範囲、好ましくは0.1〜3
重量%の範囲でよく、また浸漬する時間は60秒以
下でよい。10〜30秒であつてもよい。 本発明のプリント回路用銅箔は、上記した3つ
の工程を順次連続的に経過することによつて製造
される。この3つの工程の順序が変つたり又はい
ずれか1つの工程でも欠落した場合には、本発明
が目的とする高温加熱処理前後における銅箔と基
材との接着特性の向上、耐酸化性の向上、耐塩酸
性の向上という効果の達成が困難である。 [発明の実施例] 実施例 1 Na2MoO4・2H2Oの濃度1g/、ZnSO4・
7H2Oの濃度2g/、硫酸でPHを4に調整した
電鍍浴の中に、厚み18μmの銅箔を浸漬し、電流
密度0.3A/dm2、通電時間5秒、浴温度室温の
条件で電鍍処理を施した。 上記第1工程後の処理銅箔を、充分に水洗した
のち、Na2Cr2O7・2H2Oの濃度5g/、硫酸で
PH5に調整した常温の水溶液に浸漬し、該銅箔を
陰極にして電流密度0.5A/dm2で5秒間陰極処
理を行なつた。 ついで、処理後の銅箔を充分に水洗したのち、
γ−アミノプロピルトリエトキシシラン0.3重量
%濃度の水溶液中に常温下で10秒間浸漬した。 銅箔を取出したのち、100〜110℃の温度で約5
分間乾燥し、モリブデン薄膜、クロメート処理
膜、シランカツプリング剤処理膜がこの順序で積
層しているプリント回路用銅箔を製造した。 実施例 2 第1工程におけるNa2MoO4・2H2Oの濃度が
0.5g/、ZnSO4・7H2Oの濃度が0.5g/であ
つたこと、電流密度が0.1A/dm2、通電時間が
3秒であつたこと、第2工程のクロメート処理が
浸漬処理であつたことを除いては実施例1と同様
にしてプリント回路用銅箔を製造した。 実施例 3 第1工程におけるNa2MoO4・2H2Oの濃度が
2.0g/、ZnSO4・7H2Oの濃度が4.0g/であ
つたこと、電流密度が1.0A/dm2であつたこと、
第3工程に用いたシランカツプリング剤がN−2
−アミノエチル−3−アミノプロピルトリメント
キシシランであつたことを除いては、実施例1と
同様にしてプリント回路用銅箔を製造した。 比較例 1 Na2Cr2O7・2H2Oの濃度5g/の水溶液を硫
酸でPH5.0に調整したのち、この水溶液に厚み18μ
mの銅箔を浸漬し、電流密度0.5A/dm2、通電
時間5秒、常温下で陰極処理を施し、取出したの
ちは充分に水洗して100〜110℃の温度で5分間乾
燥し、銅箔の表面にクロメート処理膜が形成され
た比較例試料を製造した。 比較例 2 ZnSO4・7H2O5g/、NaOH40g/から
成るアルカリ性亜鉛電鍍浴に厚み18μmの銅箔を
浸漬し、電流密度0.5A/dm2、通電時間5秒、
常温下で電鍍処理を施したのち、この銅箔を充分
水洗し、100〜110℃の温度で約5分間乾燥して銅
箔表面に亜鉛膜が形成されている比較例試料を製
造した。 比較例 3 ZnSO4・7H2O5g/、Na2Cr2O7・2H2O3
g/、NaOH40g/から成るアルカリ性亜
鉛−クロム電鍍浴に厚み18μmの銅箔を浸漬し、
電流密度0.3A/dm2、通電時間5秒、常温下で
電鍍処理を施したのち、この銅箔を充分水洗し、
100〜110℃の温度で約5分間乾燥して銅箔表面に
亜鉛−クロム膜が形成されている比較例試料を製
造した。 比較例 4 Na2MoO4・2H2Oの濃度1.5g/、ZnSO4・
7H2Oの濃度220g/、CH3COONH41.5g/
でPH2.5に調整した電鍍浴の中に、厚み18μmの銅
箔を浸漬し、電流密度0.3A/dm2、通電時間5
秒、浴温度30℃の条件で電鍍処理を施したのち、
これを充分水洗した。ついでこの銅箔を
Na2Cr2O7・2H2Oの濃度5g/、PH5のクロメ
ート処理液に浸漬し、該銅箔を陰極にして電流密
度0.5A/dm2で5秒間陰極処理を行なつたのち、
充分水洗し100〜110℃の温度約5分間乾燥して亜
鉛−モリブデン薄膜、クロメート処理膜がこの順
序で積層された比較例試料を製造した。 これらの各試片につき、銅箔の粗面側に形成さ
れた各薄膜の成分を原子吸光光度計を用いて測定
し金属付着量をμg/dm2量として算出した。 以上、7種類の銅箔の粗面側にガラスエポキシ
樹脂含浸基材を接着し、温度160℃、圧力100Kg/
cm2で40分間加熱加圧処理して縦250mm横250mm厚み
1.6mmの銅張積層板の試験片を製作した。 つぎに、これらの各試片の剥離強度、耐塩酸
化、耐酸化性を下記仕様で測定しその結果を一括
して表に示した。 (1) 剥離強度 加熱処理前の剥離強度:室温下において
JISC−6481の方法に準拠 加熱処理後の剥離強度:銅張積層板を180
℃の恒温槽中に48時間保持したのち剥離強度
をJISC−6481に準拠して測定 (2) 耐塩酸性 室温下における剥離強度をA、室温下で6N
塩酸に1時間浸漬後の剥離強度をBとしたと
き、(A−B)/A×100(%)から算出される
劣化率で表示。 (3) 耐酸化性 銅張積層板を180℃の恒温槽中に30分間保持
したときの変色の度合を目視して判定 〇−変色なし、△−少し変色、 ×−著しく変色(かつ色)
【表】 [発明の効果] 以上の説明で明らかなように、本発明のプリン
ト回路用銅箔は、該銅箔から製作した銅張積層板
において、加熱処理前後の基材との剥離強度が大
きく、耐塩酸性、耐酸化性も優れており、また、
その製造方法は使用する薬液の濃度が低くてもよ
いので水洗時に消費する水量は少なくてもよく、
しかも連続的に処理することができるので量産効
果も大であり、その工業的価値は大きい。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 銅箔と、該銅箔の少なくとも一方の面に形成
    された亜鉛若しくは亜鉛酸化物を含有するモリブ
    デン薄膜と、該モリブデン薄膜の上に形成された
    クロメート処理膜と、該クロメート処理膜の上に
    形成されたシランカツプリング剤処理膜とから成
    ることを特徴とするプリント回路用銅箔。 2 該モリブデン薄膜が、モリブデン10〜250μ
    g/dm2、亜鉛10〜250μg/dm2で構成され、
    またクロメート処理膜がクロム10〜150μg/d
    m2で構成されている特許請求の範囲第1項記載の
    プリント回路用銅箔。 3 モリブデン酸イオンを含みかつ金属亜鉛若し
    くは亜鉛の塩を溶解せしめて成る電鍍浴中に銅箔
    を浸漬して電鍍処理を施す工程; 得られた処理銅箔をクロメート処理液に浸漬す
    るか若しくは陰極処理を施す工程;ついで シランカツプリング剤処理液に浸漬したのち乾
    燥する工程;とから成ることを特徴とするプリン
    ト回路用銅箔の製造方法。 4 該電鍍浴及び該クロメート処理液が酸性液で
    ある特許請求の範囲第3項記載のプリント回路用
    銅箔の製造方法。
JP12712985A 1985-06-13 1985-06-13 プリント回路用銅箔およびその製造方法 Granted JPS61288095A (ja)

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