JPH03150687A - バーコード検証機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的； （産業上の利用分野） この発明は、物品を認識するために印刷されるバーコー
ドについてその印刷精度の検証を行なうバーコード検証
機に関する。

（従来の技術） 物品を認識するために印刷されるバーコードの印刷精度
を検出するための装置がバーコード検証機である。

第４図は、従来におけるバーコード検証機の概略構成を
示す図である。また、第５図は第４図におけるエツジ検
出部２１内の光学系を示す図である。従来におけるバー
コードのエツジ検出は、第４図に示すように、送りネジ
２のシャフトにエンコーダ２４を取付け、減算器２２及
び増幅器２３と共にモータ１に制御してモータ１の回転
数を先ず一定にしていた。それにより、送りネジ２に取
付けられたエツジ検出部２１はバーコード５上を定速度
でスキャンするので、検出したエツジの間隔を時間間隔
で測定してバーの幅に換算していた。また、第５図に示
すように、エツジ検出部２１内の光学系においでは、発
光ダイオード又は電球２５を光源としてバーコード５を
照射し、その反射光をミラー２６で受け、受光レンズ２
７で集光した後スリット２８を介して受光素子２９で受
光していた。そして、受光素子２９からの信号を増幅し
、へ／Ｄ変換器（図示せず）に人力して光量の変化する
点を捉えてバーのエツジを認識していた。

ところで、バーコード情報の読取りには、通常１μｍ程
度の読取り精度が要求されている。

（発明が解決しようとする課題） ところが、上述したような従来におけるバーコード検証
機においては、受光素子２９の前段の光学系のピント調
整がエツジ検出の分解能に影響を与えるという問題点か
あフた。また、照射されたバーコード全体の明るさが測
定精度に大きく影響するほか、種々の調整が面倒である
という問題点があった。特に、エンコーダ２４を用いて
バーのエツジ間を時間間隔で測定してそれをバーの幅に
換算しているので、その処理は複雑であり、また送りネ
ジ２におけるギアの誤差を含んでしまうという問題点が
あった。

この発明は上述のような事情から成されたものであり、
この発明の目的は、バーコードの検証を行なう際に、バ
ー幅の検出の測定精度及び測定分解能を大幅に向上させ
ることができるバーコード検証機を提供することにある
。

発明の構成； （課題を解決するための手段） この発明は、物品を認識するために印刷されるバーコー
ドについてその印刷精度の検証を行なうバーコード検証
機に関するものであり、この発明の上記目的は、検出部
がバーコード上を走査して各バーのエツジを検出するこ
とによりバー幅の検証を行なうバーコード検証機におい
て、リニアエンコーダを備え、前記走査と平行して前記
エツジの検出毎に前記リニヤエンコーダの値を読取るこ
とにより、前記バー幅を認証することによって達成され
る。また、前記エツジを検出するための光源として半導
体レーザを備えることによりて達成される。

（作用） この発明にあっては、バーコードの走査と並行して、各
バーのエツジの検出毎にリニアエンコーダの値を読取る
ことでバー幅を認識しているので、測定精度が向上する
。また、光源として半導体レーザを採用することにより
測定分解能も向上する。

（実施例） 以下、図面に基づいてこの発明の実施例について詳細に
説明する。

第１図はこの発明のバーコード検証機における一実施例
を示す図であり、（＾）はその平面図、（Ｂ）はその正
面図である。第１図に示すように、この発明では従来の
ようなエンコーダはなく、代わりにバーコード５に沿っ
てリニアエンコーダ４を設誼している。従って、モータ
１を駆動して送りネジ２を回転させることによりエツジ
検出部３はバーコード５及びリニアエンコーダ４上を移
動し、それに伴いリニアエンコーダ４によりバーコード
５の各バーの幅を直接読取る。即ち、各バーのエツジを
検出するととのリニアエンコーダ４の値により直接長さ
として各バーの幅が検出できる。また、このときエツジ
検出部３を定速度で移動させる必要はなく、かつリニア
エンコーダ４により計数のできる許容範囲であればある
程度変動しても差し支えない。

第２図は、この発明におけるエツジ検出部３内の読取部
の光学系を示す図である。同図に示すように、この発明
ではバーのエツジ検出用の光源に半導体レーザ１１を採
用し、放射されたレーザ光は集光レンズ１２により集光
されてバーコード５上に照射される。そのようにして照
射されたレーザ光はバーの有無に応じた反射光となり、
ハーフミラ−の性質を有する凹面鏡１３により集光され
て受光素子１４により受光される。第３図は（Ｂ）は、
受光素子１４で検出される同図（Ａ）のバーコード５に
対応した信号出力を示す図である。横軸はリニアエンコ
ーダ位置であるので、反射信号出力とそれに対応するリ
ニアエンコーダ位置を検出すれば直接各バー幅に換算で
きることを示している。

尚、この実施例では第２図において、ハーフミーラの性
質を有する凹面鏡１３を採用しているが、照射光を通過
させるためには穴のあいた凹面鏡であっても良い。

発明の効果； 以上のようにこの発明のバーコード検証機によれば、バ
ーコードの各バー幅をリニアエンコーダにより直接読取
フているので、測定精度を大幅に向上させることができ
る。また、バーのエツジ検出用の光源に半導体レーザを
用いることにより、バー幅の測定精度を更に向上させる
と共にその出力強度が大きいことを利用して外乱光の影
響に対しても強くすることができ、更に半導体レーザが
微小なスポット光を形成できることよりバーコードのエ
ツジ位置の測定分解能も向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（＾）及び（Ｂ）はこの発明のバーコード検証機
における一実施例を示す図、第２図はこの発明における
エツジ検出部３内の読取部の光学系を示す図、第３図（
＾）はバーコードであり、第３図（８）はそれに対応し
た信号出力を示す図、第４図は従来におけるバーコード
検証機の概略構成を示す図、第５図は従来のエツジ検出
部２１内の光学系を示す図である。 ｌ・・・モータ、２・・・送りネジ、３，２１・・・エ
ツジ検出部、４・・・リニアエンコーダ、５・・・バー
コード、１１・・・半導体レーザ、１２・・・集光レン
ズ、１３・・・凹面鏡、１４．２９・・・受光素子、２
５・・・発光ダイオード又は電球、２６・・・ミラー、
２８・・・スリット。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、検出部がバーコード上を走査して各バーのエッジを
   検出することによりバー幅の検証を行なうバーコード検
   証機において、リニアエンコーダを備え、前記走査と平
   行して前記エッジの検出毎に前記リニヤエンコーダの値
   を読取ることにより前記バー幅を認識するようにしたこ
   とを特徴とするバーコード検証機。 ２、前記エッジを検出するための光源として半導体レー
   ザを備えた請求項１に記載のバーコード検証機。