JPH0315687B2 - - Google Patents
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- JPH0315687B2 JPH0315687B2 JP12263180A JP12263180A JPH0315687B2 JP H0315687 B2 JPH0315687 B2 JP H0315687B2 JP 12263180 A JP12263180 A JP 12263180A JP 12263180 A JP12263180 A JP 12263180A JP H0315687 B2 JPH0315687 B2 JP H0315687B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M1/00—Testing static or dynamic balance of machines or structures
- G01M1/14—Determining imbalance
- G01M1/16—Determining imbalance by oscillating or rotating the body to be tested
- G01M1/22—Determining imbalance by oscillating or rotating the body to be tested and converting vibrations due to imbalance into electric variables
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は回転機器の回転体の動不つりあい(動
不つりあい量と動不つりあい角度で表わす)を測
定する動つりあい測定装置に関するもので、特に
フアンなどの不つりあいの修正面が1面であるよ
うな試験体の測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a dynamic balance measuring device for measuring the dynamic unbalance (expressed by the dynamic unbalance amount and dynamic unbalance angle) of a rotating body of rotating equipment, and in particular, the present invention relates to a dynamic balance measuring device for measuring the dynamic unbalance (expressed by the dynamic unbalance amount and dynamic unbalance angle) of a rotating body of rotating equipment. The present invention relates to a measuring device for a specimen having only one surface to be corrected.
回転体に許容限度以上の不つりあいがあると、
運転時に振動、騒音が発生し、その回転機器の効
率、寿命を著しく低下させるので、回転体の動不
つりあい測定し、不つりあい部分を修正する必要
がある。最近の回転機器は高速化、高性能化でか
つ低コストのものが強く要求されるので、動つり
あい測定とその後の不つりあい修正工程の自動化
および精度の向上が課題となつてきている。 If the rotating body is unbalanced beyond the allowable limit,
Vibration and noise are generated during operation, which significantly reduces the efficiency and life of the rotating equipment, so it is necessary to measure the dynamic unbalance of the rotating body and correct the unbalanced part. Recently, there is a strong demand for high speed, high performance, and low cost for rotating equipment, so automating the motion balance measurement and subsequent unbalance correction process and improving accuracy have become issues.
ところで、従来の動つりあい試験機の測定器の
回路部における演算、記憶及び表示はすべてアナ
ログ式であつた。 By the way, calculations, storage and display in the circuit section of the measuring device of the conventional dynamic balance tester were all analog type.
しかし、動不つりあいの修正機は、近年発展の
著しいマイクロコンピユータや数値制御装置を使
用して比較的容易に低コストで高性能なものが製
作できるようになつてきたが、マイクロコンピユ
ータ、数値制御装置にはデイジタル信号が使われ
ており、修正機への不つりあいデータとしてはデ
イジタル値が必要である。 However, it has become possible to relatively easily produce high-performance machines for dynamic imbalance correction at low cost using microcomputers and numerical control devices, which have developed rapidly in recent years. The device uses digital signals, and digital values are required as unbalance data to the corrector.
また、従来の動つりあい試験機の測定器では作
業者は測定前に予備駆動と称する振動系の定数を
測定器に設定するための調整作業即ち、不つりあ
い量と角度の指示計1,2とを見ながらポテンシ
ヨメータ3〜8、切換スイツチ9の操作を行なう
必要があり、この調整は熟練者でないとできない
ほど微妙で、またその調整が悪いと測定精度を悪
くしてしまうものである。また人が不つりあいを
指示計で読み取る場合にも、読取の個人差による
誤差や指示計の大きさの限度に由来する最小目盛
の大きさによる読取限度があるなどの問題があつ
た。 In addition, with the measuring instruments of conventional dynamic balance testers, the operator must carry out adjustment work called preliminary drive to set the constants of the vibration system in the measuring instruments before measurement. It is necessary to operate the potentiometers 3 to 8 and the changeover switch 9 while looking at the operator, and this adjustment is so delicate that only an expert can do it, and if the adjustment is incorrect, it will impair measurement accuracy. Furthermore, when humans read imbalances using indicators, there are problems such as errors due to individual differences in reading and reading limits due to the size of the minimum scale due to the limits of the size of the indicator.
さらに、後述するように、動不つりあいを測定
するためには、まず動不つりあいと所定の関係を
有する不つりあい信号成分の振幅と位相をひずみ
波信号の中から分離し、算出する回路が必要であ
る。従来の測定器においては、同期整流回路と平
滑回路を用いて、振動検出器の出力の中の不つり
あい信号成分の正弦波成分と余弦波成分のみの振
幅を対応する直流電圧に変換している場合が多
い。そのため平滑回路の時定数を長くしないと十
分なフイルタ効果が得られず、また直流電圧が安
定するためにはその時定数の数倍の時間を要する
ため、測定器としての測定時間が長くなる欠点が
あり、さらにアナログ演算回路や、直流電圧増幅
に伴なうドリフトによる誤差などの欠点があつ
た。 Furthermore, as will be explained later, in order to measure dynamic unbalance, a circuit is first required that separates and calculates the amplitude and phase of the unbalance signal component that has a predetermined relationship with the dynamic unbalance from the distorted wave signal. It is. In conventional measuring instruments, a synchronous rectifier circuit and a smoothing circuit are used to convert the amplitude of only the sine wave component and cosine wave component of the unbalanced signal component in the output of the vibration detector into the corresponding DC voltage. There are many cases. Therefore, a sufficient filter effect cannot be obtained unless the time constant of the smoothing circuit is lengthened, and it takes several times the time constant for the DC voltage to stabilize, so the measurement time as a measuring instrument becomes longer. In addition, it had drawbacks such as errors due to analog calculation circuits and drift associated with DC voltage amplification.
このように、従来のアナログ式の測定器におい
ては、不つりあいの自動修正、予備駆動時の調
整、測定精度測定時間などに問題があり、本発明
はこれらの問題点をデイジタル式の測定器とする
ことにより解消するものである。 As described above, conventional analog measuring instruments have problems such as automatic correction of unbalance, adjustment during preliminary drive, measurement accuracy measurement time, etc., and the present invention solves these problems with digital measuring instruments. This can be resolved by doing so.
以下、一実施例として、縦形動つりあい試験機
の測定器の場合を第2図〜第7図に基づいて説明
する。第2図は測定器のパネル図で、10は小数
点を含めて不つりあい量を表示する数表示器、1
1は不つりあい角度の表示器で従来のアナログ式
指示計における読取個人差はなくなつている。1
2は切換スイツチで、通常測定時はQ2にしてお
き、予備駆動時はQ1の位置にし、押釦スイツチ
13,14,15と重さ設定デイジタルスイツチ
16と角度設定デイジタルスイツチ17を使用す
る。第3図は一般的な縦形動つりあい試験機本体
部の簡略図を示し、駆動モータ18が回転すると
プーリ19,21とベルト20により回転主軸2
2が回転する。回転主軸22はラジアル玉軸受2
3、振動枠24とバネ材25により機械本体に支
えられ、さらに回転主軸22には、試験体26を
取付けるためのアダブタ27や角度目盛板28、
角度基準信号板29が付属している。駆動モータ
18が回転すると、試験体26の不つりあいおよ
び回転主軸22とその付属物にも存在する不つり
あいにより軸受23は振動を起すので、振動検出
器31により検出する。振動検出器31の出力は
第4図Svに示すように、試験体26と回転主軸
とその付属物のすべてを含んだ動不つりあいと所
定の関係を有する回転主軸22の回転と同期する
正弦波となる。実際には、この出力Svに雑音成
分が重畳した第4図Swのような波形となる場合
が多い。 Hereinafter, as an example, the case of a measuring instrument for a vertical dynamic balance tester will be explained based on FIGS. 2 to 7. Figure 2 is a panel diagram of the measuring instrument, where 10 is a number display that displays the amount of unbalance including the decimal point, and 1
1 is an unbalance angle indicator, which eliminates individual reading differences in conventional analog indicators. 1
Reference numeral 2 designates a changeover switch, which is set to Q 2 during normal measurement and set to Q 1 during preliminary driving, and push button switches 13, 14, 15, weight setting digital switch 16, and angle setting digital switch 17 are used. FIG. 3 shows a simplified diagram of the main body of a general vertical dynamic balance tester. When the drive motor 18 rotates, the pulleys 19, 21 and belt 20
2 rotates. The rotating main shaft 22 has a radial ball bearing 2
3. The main body of the machine is supported by the vibrating frame 24 and the spring material 25, and the rotating main shaft 22 has an adapter 27 for attaching the test specimen 26, an angle scale plate 28,
An angle reference signal plate 29 is attached. When the drive motor 18 rotates, the bearing 23 generates vibration due to the unbalance of the test object 26 and the unbalance existing in the rotating main shaft 22 and its attachments, which is detected by the vibration detector 31. As shown in FIG. 4 Sv, the output of the vibration detector 31 is a sine wave synchronized with the rotation of the rotating spindle 22, which has a predetermined relationship with the dynamic unbalance including the test object 26, the rotating spindle, and all of its appendages. becomes. In reality, the output Sv often has a waveform such as that shown in FIG. 4 Sw, in which a noise component is superimposed.
一方、回転主軸22に取付けられた角度基準信
号板29の基準マークを位相検出器30で検出さ
せているから、30の出力は第4図Spのような
1回転に1度のパルスが同期Tsで、一定位相で
出てくる。したがつて、このSpを基準位相(0
度)とすることができる。 On the other hand, since the reference mark of the angle reference signal plate 29 attached to the rotating main shaft 22 is detected by the phase detector 30, the output of 30 is synchronized with a pulse once per rotation as shown in Fig. 4 Sp. And it comes out with a constant phase. Therefore, this Sp is the reference phase (0
degree).
さて次に、雑音成分を含む振動検出器31の出
力Sw(以下振動信号と称する)の中の不つりあい
信号成分のみをマイクロコンピユータにより、計
算で算出する方法を、第1の実施例の第4図、第
5図により説明する。第5図において、32はフ
リツプフロツプ回路で信号Spを受けて、第4図
S1信号に示すような1周期ごとに反転する信号
を出力する。33は、振動信号の周期Tsの約1/1
000以下の周期でパルス発振する発振器で、その
出力はS1信号により制御されるゲート回路34
に入力される。ゲート回路34は信号S1がON
の時のみ発振パルスを通すので、その出力は図の
信号S2のようになる。信号S2はカウンタ36へ
入力され、計数される。したがつて、Toの時点
でリセツトされているとすると、カウンタ36は
基準位相信号Spのパルス出力時点Toから次のパ
ルスの出力時点T1までの発振器33のパルスを
計数するので、その値をMとすれば、発振器33
の1パルス間隔即ち、S2のパルス間隔Qは、振
動の周期Tsが360度であるから、
θ≒360/M(度) ……(1)
となる。したがつて、S2の各パルスの立上りに
おける振動信号の角度は順にθ°、2θ°、3θ°…360
°
(=Mθ°)となる。カウンタ36の出力ADに第4
図に示すように、順に0、1、2…Mと増加して
ゆく。 Next, we will explain a method of calculating only the unbalance signal component in the output Sw of the vibration detector 31 (hereinafter referred to as vibration signal) containing a noise component using a microcomputer. This will be explained with reference to FIG. In FIG. 5, a flip-flop circuit 32 receives the signal Sp and outputs a signal that is inverted every cycle as shown in the signal S1 in FIG. 33 is approximately 1/1 of the period Ts of the vibration signal
The gate circuit 34 is an oscillator that oscillates pulses with a period of 000 or less, and its output is controlled by the S1 signal.
is input. In the gate circuit 34, the signal S1 is ON
Since the oscillation pulse is passed only when , the output will be like the signal S2 in the figure. The signal S2 is input to the counter 36 and counted. Therefore, assuming that the counter 36 is reset at the time To, the counter 36 counts the pulses of the oscillator 33 from the pulse output time To of the reference phase signal Sp to the output time T1 of the next pulse. Then, the oscillator 33
Since the vibration period Ts is 360 degrees, the pulse interval Q of S2 is as follows: θ≈360/M (degrees) (1). Therefore, the angle of the vibration signal at the rise of each pulse of S2 is θ°, 2θ°, 3θ°...360
°
(=Mθ°). The fourth output AD of the counter 36
As shown in the figure, the number increases sequentially as 0, 1, 2...M.
ところで、振動信号Swは、前置増幅器37に
より増幅され、極性判別が可能なA−D変換器3
8へ入力される。前述の信号S2は、A−D変換
器38の変換開始信号として与えられるので、S
2のパルス立上り時点より変換を開始し、完了す
るとその電圧のデイジタル変換データDAと変換
完了信号パルスS3を出力する。このデータDA
と完了信号S3は記憶回路39のデータ入力と書
込パルス信号となつて、S3のパルスのタイミン
グごとに振動電圧のデイジタル値を記憶回路39
に書込む。 By the way, the vibration signal Sw is amplified by the preamplifier 37, and the vibration signal Sw is amplified by the preamplifier 37, and the vibration signal Sw is amplified by the A-D converter 3, which can discriminate the polarity.
8. The above-mentioned signal S2 is given as a conversion start signal to the A-D converter 38, so S
The conversion is started from the rising edge of the second pulse, and when completed, the digital conversion data DA of that voltage and the conversion completion signal pulse S3 are output. This data DA
The completion signal S3 becomes the data input and write pulse signal of the memory circuit 39, and the digital value of the oscillating voltage is stored in the memory circuit 39 at each pulse timing of S3.
write to.
記憶回路39の番地入力はカウンタ36の出力
に接続されているので、順に、角度θの振動電圧
SW1の値が“1”番地、角度2θの値SW2が“2”
番地に…と記憶されてゆくことになる。即ち、第
4図の最後の振動信号電圧SWMの値は“M”番地
にて記憶され、Q番目のSWQの値は“Q”番地に
記憶される。 Since the address input of the memory circuit 39 is connected to the output of the counter 36, the oscillating voltage at the angle θ is
S W1 value is “1” address, angle 2θ value S W2 is “2”
It will be remembered as a street address. That is, the value of the last vibration signal voltage S WM in FIG. 4 is stored at address "M", and the value of the Qth S WQ is stored at address "Q".
さて、信号S1はインターフエイス回路42を
介して、マイクロコンピユータ43(以下、マイ
コンと略す)に入力されている。マイコン43は
プログラムを記憶しておくプログラム用メモリ4
4のプログラムの流れに従つて、この信号S1の
立下り時点T1から、後述する計算を開始すると
ともに、計算中信号S4を出力し、フリツプフロ
ツプ回路32をリセツトする。計算が終了する
と、この信号S4をOFFする。すると、立下り
微分回路45はS4の立下り時点に、リセツトパ
ルス信号S5を出力するので、信号S6により、
カウンタ36がリセツトされる。リセツト状態は
第4図の初期状態Toと同じ状態のT2まで続く。
計算に長く時間がかかつたため、T1〜T2の期
間に計算が終了しない場合は、計算中信号S4が
ONのままであるため、フリツプフロツプ回路3
2はリセツトされたままで、T2の時点でも反転
しない。したがつて、ゲート回路34が開かれ
て、A−D変換開始信号S2が出てくることはな
く、記憶回路39の内容が書換えられることはな
い。そして次の位相基準信号SpがONするまでに
計算中信号S4がOFFしていれば、このSpの立
上りでフリツプフロツプ回路32の出力が反転し
初期状態となる。 Now, the signal S1 is input to a microcomputer 43 (hereinafter abbreviated as microcomputer) via an interface circuit 42. The microcomputer 43 is a program memory 4 that stores programs.
According to the flow of the program No. 4, calculations to be described later are started from the fall time T1 of this signal S1, and a calculation-in-progress signal S4 is output to reset the flip-flop circuit 32. When the calculation is completed, this signal S4 is turned off. Then, since the falling differentiation circuit 45 outputs the reset pulse signal S5 at the falling edge of S4, the signal S6 causes
Counter 36 is reset. The reset state continues until T2, which is the same state as the initial state To in FIG.
If the calculation takes a long time and the calculation does not end during the period T1-T2, the calculation-in-progress signal S4 is
Since it remains ON, flip-flop circuit 3
2 remains reset and does not invert even at time T2. Therefore, the gate circuit 34 is not opened and the A/D conversion start signal S2 is not output, and the contents of the memory circuit 39 are not rewritten. If the calculation signal S4 is OFF before the next phase reference signal Sp is turned ON, the output of the flip-flop circuit 32 is inverted at the rise of this signal Sp, and becomes the initial state.
記憶回路39は計算中信号S4がONすると、
カウンタ36の指定する番地ADにA−D変換デ
ータDAを書込み記憶する状態から、マイコンが
指定する番地データADDに従つて、記憶された
A−D変換データをデータバスDATに読出せる
状態に切換えることができるようになつている。
また、カウンタ36の出力ADの値をインターフ
エス回路42と介して読出し、信号S2のパルス
間隔θを式(1)により算出することができるように
なつている。 When the calculation signal S4 turns ON, the memory circuit 39
Switch from a state in which the A-D conversion data DA is written and stored at the address AD specified by the counter 36 to a state in which the stored A-D conversion data can be read out to the data bus DAT according to the address data ADD specified by the microcomputer. It is now possible to do so.
Further, the value of the output AD of the counter 36 is read out via the interface circuit 42, and the pulse interval θ of the signal S2 can be calculated using equation (1).
マイコン43の計算はフーリエ変換により、振
動信号Swの中から回転主軸の回転と同期する不
つりあい信号成分Svの正弦波成分、余弦波成分
の振幅値を求めるための計算であり、その内容を
以下に述べる。 The calculation performed by the microcomputer 43 is to obtain the amplitude values of the sine wave component and cosine wave component of the unbalance signal component Sv, which is synchronized with the rotation of the rotating spindle, from the vibration signal Sw, using Fourier transformation.The contents are as follows. I will explain.
マイコン43は、まず前記式(1)の計算を行な
い、A−D変換データの取込み角度間隔θを求め
る。次に記憶回路39の“1”番地から順に記憶
されている振動信号の電圧値SW1、SW2…SWMのデ
イジタル値を読出し、次式(2)、(3)により1周期分
の中の主軸回転周期Tsと同期する成分の正弦波
成分WY、余弦波成分WXを計算する。 The microcomputer 43 first calculates the equation (1) above to determine the angular interval θ at which the AD conversion data is taken. Next, the digital values of the vibration signal voltage values S W1 , S W2 . . . Calculate the sine wave component WY and cosine wave component WX of the components that are synchronized with the main shaft rotation period Ts.
WX=1/M{Sw1cps〓°+Sw2cps2〓°+…+SWMcpsM
〓°}=1/MM
〓Q=1
SWQcpsQ〓° ……(2)
WY=1/MM
〓Q=1
SWQsioQ〓° ……(3)
雑音成分が大きい場合、あるいは雑音成分の周
期が回転主軸の回転周期と近接していると、雑音
成分がとりきれず、上記の計算1回だけの答をも
つて不つりあい信号成分とすることは不正確であ
る。そこで、数十周期以上の回数にわたり、この
計算を繰り返し行ない、その答の平均値を計算す
ることによつてより正確な値を求めることができ
る。その動作は次のようにして行なう。 W X = 1/M {S w1cps 〓°+S w2cps2 〓°+…+S WMcpsM
〓°}=1/M M 〓 Q=1 S WQcpsQ 〓° ...(2) WY=1/M M 〓 Q=1 S WQsioQ 〓° ...(3) When the noise component is large or If the period is close to the rotation period of the rotating main shaft, the noise component cannot be removed, and it is inaccurate to determine the unbalanced signal component based on the result of only one calculation. Therefore, a more accurate value can be obtained by repeating this calculation over several tens of cycles or more and calculating the average value of the answers. The operation is performed as follows.
前述したプログラム用メモリ44には、このよ
うな計算のプログラムの他に、その内容の書込
み、読出しをマイコン自身が自由に行なえる記憶
場所(RAMエリア)を持つている。試験機本体
からの測定開始信号STAがONするとマイコン
は、インターフエイス回路42を介してこれを感
知し、S1信号がOFFとなつた時、まず計算中
信号S4をON−OFFしてパルス信号をつくり、
微分回路45により発生するリセツトパルスS5
で、カウンタ、フリツプフロツプ、分周回路をリ
セツトして初期状態にする。その後前述のように
各回路が動作して、式(2)、(3)の最初の計算値
WX1、WY1の値を計算し、プログラム用メモリの
RAMエリアにそのWX1、WY1の値を記憶させる。
次の周期においては、別のRAMエリアに新たに
計算で求めたWX2、WY2の値を記憶し以下同様な
動作を繰返す。 In addition to such calculation programs, the program memory 44 described above has a storage location (RAM area) in which the microcomputer itself can freely write and read the contents. When the measurement start signal STA from the test machine body turns ON, the microcomputer senses this via the interface circuit 42, and when the S1 signal turns OFF, it first turns ON and OFF the calculation signal S4 to generate a pulse signal. Making,
Reset pulse S5 generated by the differentiating circuit 45
The counter, flip-flop, and frequency divider circuit are reset to their initial states. After that, each circuit operates as described above, and the first calculated values of equations (2) and (3) are
Calculate the values of W X1 and W Y1 and save the program memory.
Store the values of W X1 and W Y1 in the RAM area.
In the next cycle, the newly calculated values of W X2 and W Y2 are stored in another RAM area, and the same operation is repeated.
このような計算を行なう動作を、動つりあい試
験機本体からの測定開始信号STAがON後、一定
時間(たとえば3秒間)繰返し行なうことによ
り、数十周期以上のフーリエ変換値が求まる。次
に、これらの平均値VX、VYを計算する。C回加
算累計した場合は次式で表わされる。 By repeating this calculation operation for a certain period of time (for example, 3 seconds) after the measurement start signal STA from the main body of the dynamic balance tester is turned on, Fourier transform values over several dozen cycles or more can be obtained. Next, these average values V X and V Y are calculated. The case of cumulative addition C times is expressed by the following equation.
VX=1/C(WX1+WX2+…+WXC)=1/CC
〓P=1
WXP ……(4)
VY=1/CC
〓P=1
WYP ……(5)
Cは加算累計回数で、マイコン自身が計数し、
自己のレジスタあるいはRAMエリアに記憶する
プログラムも必要である。 V X = 1/C (W X1 +W X2 +…+W XC ) = 1/C C 〓 P = 1 W C is the total number of additions, counted by the microcontroller itself,
It also requires a program to be stored in its own register or RAM area.
このようにして計算したVX、VYの値は、回転
主軸と同期する信号成分のみが抽出されているの
で、試験体26、回転主軸22とその付属物すべ
てを含んだ動不つりあいと所定の関係を有してい
る。 The values of V They have the following relationship.
次に、計算したVX、VYの値を使用して、マイ
コン43がプログラム用メモリ44に格納された
プログラムに従つて試験体26の不つりあい量、
角度を計算する動作について作業者の操作手順と
ともに述べる。 Next, the microcomputer 43 uses the calculated values of V
The operation of calculating the angle will be described along with the operator's operating procedure.
第5図において、10〜17の番号のついたも
のは第2図で説明したものと同じもので、マイコ
ン43は、インターフエイス回路42を介して、
スイツチ12〜17の状態を検知し、不つりあい
量および角度をデイジタル値で数表示器10と1
1に表示する。さらに自動修正用として、EX、
outなる不つりあい量と角度のデイジタル信号出
力がインターフエイス回路42より出力される。
なお46は後述するように作業者のための確認用
のランプで、マイコン43によりON−OFF制御
される。 In FIG. 5, the components numbered 10 to 17 are the same as those explained in FIG.
The status of switches 12 to 17 is detected, and the unbalance amount and angle are displayed as digital values on numerical displays 10 and 1.
Display on 1. Furthermore, for automatic correction, EX,
A digital signal output of the unbalance amount and angle called out is output from the interface circuit 42.
Note that 46 is a confirmation lamp for the operator, as will be described later, and is ON/OFF controlled by the microcomputer 43.
今、第6図のように試験体26の不つりあいを
UWとし、回転主軸22とその付属物による不つ
りあいをU→Aとしてベクトル表示し、その合成ベ
クトルをU→Oとすると、U→Oは振動検出器31の出
力SWに含まれている回転主軸と同期した信号成
分Svの振幅Smに比例し、その方向(不つりあい
角度と表現する)は、Svの位相角ρによつて表
わされる。前述のVX、VYの合成ベクトルをVOと
すると、VOは位相検出器30の取付位置と試験
体の位相基準点の違いや増幅器37による位相の
ズレにより一定角度δ分だけ、前記第5図に示し
た合成ベクトルU→Oより遅れるが、その大きさは
不つりあい信号成分Svの振幅と比例し、よつてU→
Oの大きさとも比例する。 Now, as shown in Figure 6, check the unbalance of the test specimen 26.
Let U W be the vector, and the unbalance due to the rotating main shaft 22 and its appendages is expressed as a vector as U→ A , and the resultant vector is U→ O. U→ O is included in the output S W of the vibration detector 31. It is proportional to the amplitude Sm of the signal component Sv synchronized with the rotating main shaft, and its direction (expressed as an unbalance angle) is represented by the phase angle ρ of Sv. If the composite vector of V It lags behind the composite vector U→ O shown in FIG. 5, but its magnitude is proportional to the amplitude of the unbalanced signal component S v , so U→
It is also proportional to the size of O.
したがつて、kを正実数とすれば、
U→O=kV→O∠δ°=k∠δ°(VX+jVY)……(6)
の関係式が成立する。(ただしj2=−1)(6)式に
おいて、kとδは定数であるが、その値はまだ未
知である。 Therefore, if k is a positive real number, the following relational expression is established: U→ O =kV→ O∠δ °=k∠δ°( VX + jVY )...(6). (However, j 2 =-1) In equation (6), k and δ are constants, but their values are still unknown.
さらに、
U→O=U→W+U→A ……(7)
の関係があるが、U→Aの値も未知であるので、試
験体の不つりあいU→Wを求めるためには、これら
の未知の定数を測定する必要があり、前述した予
備駆動と称する作業がこれに相当する。 Furthermore, there is a relationship as follows: U→ O = U→ W + U→ A (7), but the value of U→ A is also unknown, so in order to find the unbalance U→ W of the test specimen, these It is necessary to measure an unknown constant, and this corresponds to the work called pre-driving described above.
今、U→A=k∠δ°(a+jb) ……(8) と表わせば (7)式に(6)、(8)式を代入して、 U→W=U→O−U→A =k∠δ°{(VX−a)+j(VY−b)} ……(9) となる。 Now, if we express U→ A = k∠δ°(a+jb)...(8), then by substituting equations (6) and (8) into equation (7), we get U→ W =U→ O −U→ A =k∠δ°{(V X -a)+j(V Y -b)}...(9).
さて、予備駆動は、任意の試験体を使用して行
なうもので、その操作手順を説明すると、
1 切換スイツチ12をQ1の位置にし、マイコ
ン43に予備駆動を知らせる。 Now, pre-driving is performed using any test specimen, and the operating procedure is as follows: 1. Set the selector switch 12 to the Q1 position and notify the microcomputer 43 of pre-driving.
2 試験体をアダプタ26に取付けた後、駆動モ
ータを回転させる。振動状態が安定して機械本
体からの測定開始信号STAが出るとマイコン
は前述のごとく一定時間計算を繰返して、VX、
VYの値を算出し、その値をVX1、VY1として記
憶する。2. After attaching the test specimen to the adapter 26, rotate the drive motor. When the vibration condition stabilizes and the measurement start signal STA is output from the machine body, the microcomputer repeats the calculation for a certain period of time as described above, and calculates V
Calculate the value of V Y and store the values as V X1 and V Y1 .
第7図aはこの時のベクトル図で試験体の不
つりあいベクトルU→W1とすれば
U→1=U→W1+U→A
=k∠δ°(VX1+jVY1) ……(10)
の関係になる。 Figure 7a is a vector diagram at this time, and if the unbalance vector of the test object is U→ W1 , then U→ 1 = U→ W1 + U→ A = k∠δ° (V X1 + jV Y1 )...(10) Become a relationship.
マイコンはVX1、VY1の値を計算し、記憶す
るとランプ46を点灯し、これを作業者に知ら
せる。 When the microcomputer calculates and stores the values of V X1 and V Y1 , it lights up the lamp 46 to notify the operator of this.
作業者は、このランプ46を確認後、押釦ス
イツチ13を押して、第7図aの状態であるこ
とをマイコンに教えると、ランプ42が消灯す
る。 After checking the lamp 46, the operator presses the push button switch 13 to inform the microcomputer that the state shown in FIG. 7a is present, and the lamp 42 is turned off.
3 駆動モータを止め、アダプタ27に対し試験
体26を前の位置から0以外の任意の角度a度
回転させて取付け、再び駆動モータを回転させ
る。この時の計算で求めたVX、VYの値をVX2、
VY2とすると、第7図bのベクトル図となり、
U→2=U→W1∠a°+U→A
=k∠δ°(VX2+jVY2) ……(11)
となる。3 Stop the drive motor, rotate the test specimen 26 to the adapter 27 by an arbitrary angle a degree other than 0 from the previous position, and then rotate the drive motor again. The values of V X and V Y calculated at this time are V X2 ,
When V Y2 is assumed, the vector diagram shown in Figure 7b is obtained, and U→ 2 = U→ W1 ∠a°+U→ A = k∠δ° (V X2 +jV Y2 )...(11).
作業者はランプ46の点灯を確認し、角度a
をデイジタルスイツチ17に設定後、スイツチ
14を押し、マイコンに第7図bの状態である
ことを教える。 The operator confirms that the lamp 46 is lit and adjusts the angle a.
After setting the digital switch 17, the switch 14 is pressed to inform the microcomputer of the state shown in FIG. 7b.
4 駆動モータを止め、試験体26を角度a分回
転して取付けたまま、ためし重りを試験体の任
意の角度γ度に取付けて再び駆動モータを回転
させる。この時の計算したVX、VYの値をVX3、
VY3とすると、第7図cのベクトル図となり、
U→3=U→W1∠a°+U→A+W→
=k∠δ°(VX3+jVY3) ……(12)
が成立する。W→はためし重りによる不つりあい
ベクトルでその重量値をwグラムとすると
W→=w∠γ° ……(13)
の関係がある。4. Stop the drive motor, rotate the test specimen 26 by an angle a, and attach a test weight to the test specimen at an arbitrary angle γ degrees, and rotate the drive motor again. The calculated values of V X and V Y at this time are V X3 ,
When V Y3 is assumed, the vector diagram shown in Fig. 7c is obtained, and the following holds true: U→ 3 =U→ W1 ∠a°+U→ A +W→ =k∠δ°(V X3 +jV Y3 )...(12). W→=w∠γ° (13) If the weight value is w grams in the unbalance vector due to the trial weight, then there is the following relationship.
作業者は同様にランプ46の点灯を確認し
て、デイジタルスイツチ16と17にwの値と
γ度を設定して押釦スイツチ15を押し、第7
図cの状態であることをマイコンに知らせる。
するとマイコンは、デイジタルスイツチの数値
の込むとともに、記憶したVX1〜VX3、VY1〜
VY3を用いて式(11)、(12)、(13)より、
δ°=γ°−tan-1VY3−VY2/VX3−VX2 ……(15)
式(8)、(10)、(11)より
a=1/2{−VX1cosα°+VY1sinα°+VX2+
(VX1cosα°+VY1sinα°−VX2)cotα/2}
……(16)
b=1/2{−VY1cosα°+VX1sinα°+VY2+
(−VX1cosα°+VY1sinα°+VX2)cotα/2}
……(17)
(α≠0)
を求めることができるのでこれらの各定数を計
算後、ランプ46を消灯させる。 The operator similarly confirms that the lamp 46 is lit, sets the value of w and the γ degree on the digital switches 16 and 17, presses the push button switch 15, and presses the seventh button.
Notify the microcontroller that it is in the state shown in Figure c.
Then, the microcomputer inputs the digital switch values and stores the memorized V X1 ~V X3 , V Y1 ~
From equations (11), (12), and (13) using V Y3 , δ°=γ°−tan -1 V Y3 −V Y2 /V X3 −V X2 ...(15) From equations (8), (10), and (11), a=1/2{ −V Y1 sinα°+ V X2 + ( V X1 cosα°+ V Y1 sinα ° −V cosα° + V Y1 sinα°+V
以上の3回の測定で予備駆動が終了し、任意の
試験変の不つりあいを測定できるようになる。測
定を行なうには、作業者が切換スイツチ12を
Q2に切換えて、測定であることをマイコンに知
らせ、マイコンはこれをインターフエイス回路4
0を介して感知し、試験機本体部からの測定開始
信号STAを受けると前述のようにVX、VYの値を
計算して記憶し、試験体の不つりあいを算出す
る。即ち、試験体の不つりあい量をUW、不つり
あい角度をWとすれば、
U→W=UW∠W ……(18)
であるから式(4)より
UW=k√(X−)2+(Y−)2
……(19)
A=δ°+tan-1VY−b/VX−a ……(20)
となり、このVW、Wの値を、数表示器10,1
1により表示する。 Preliminary driving is completed after the above three measurements, and it becomes possible to measure the unbalance of any test variation. To perform measurements, the operator presses the selector switch 12.
Q 2 to notify the microcontroller that it is a measurement, and the microcontroller sends this to interface circuit 4.
Upon receiving the measurement start signal STA from the main body of the tester, the values of V X and V Y are calculated and stored as described above, and the unbalance of the test specimen is calculated. That is, if the unbalance amount of the test specimen is U W and the unbalance angle is W, then U → W = U W ∠ W ... (18) Therefore, from equation (4), U W = k√( X − ) 2 + ( Y −) 2
...( 19 ) A=δ°+tan -1 V Y -b/ V
Displayed by 1.
以上の計算や入出力の制御はすべて、プログラ
ム用メモリ44に格納されたプログラムに従つて
行なわれる。 All of the above calculations and input/output control are performed according to the program stored in the program memory 44.
本実施例においては、前述の角度α、γをデイ
ジタルスイツチ17を用いて可変設定できるよう
にしているが、一般的には、α、γの値は固定に
してもさしつかえない場合も多く、その時は、マ
イコンのプログラム用メモリ44に定数として登
録しておき、デイジタルスイツチ17をなくすこ
とができる。デイジタルスイツチ16についても
同様である。 In this embodiment, the above-mentioned angles α and γ can be set variably using the digital switch 17, but in general, there are many cases where it is acceptable to fix the values of α and γ. is registered as a constant in the program memory 44 of the microcomputer, and the digital switch 17 can be omitted. The same applies to the digital switch 16.
本実施例に用いたA−D変換器は、±1ボルト
を極性判定の1ビツトと11ビツト精度で分解でき
るものであり、市販されているLSIで、安価に入
手できる。A−D変換器の入力値が1ボルトを越
えた場合には、A−D変換器の前に切換えスイツ
チを配置し、分圧してA−D変換器に入力するよ
うな構成とし、この分圧切換スイツチを制御する
プログラムを付加すれば広範囲な不つりあい量の
自動測定を行なう測定器も可能である。 The A/D converter used in this embodiment can resolve ±1 volt with 1 bit and 11 bit accuracy for polarity determination, and is a commercially available LSI and can be obtained at low cost. If the input value of the A-D converter exceeds 1 volt, a switch is placed in front of the A-D converter to divide the voltage and input it to the A-D converter. By adding a program to control the pressure changeover switch, it is possible to create a measuring device that can automatically measure a wide range of unbalance amounts.
一方、振動検出器の出力Swの中から、より高
精度に不つりあい成分VX、VYを計算するために
は、A−D変換器38の入力において、前記雑音
成分が少ない方がよい。そのために、前置増幅器
37とA−D変換器38との間に、不つりあい信
号周波数付近の信号成分のみを通過させる帯域フ
イルタを挿入する。この帯域フイルタにより不つ
りあい成分の位相ずれが生ずるが、前記(6)式のδ
の中にこの位相ずれ分も含まれるので、すべての
計算式を変更しなくてもよい。 On the other hand, in order to calculate the unbalance components V X and V Y with higher accuracy from the output Sw of the vibration detector, it is better to have less noise components at the input of the AD converter 38 . For this purpose, a bandpass filter is inserted between the preamplifier 37 and the A/D converter 38, which passes only signal components near the unbalanced signal frequency. This bandpass filter causes a phase shift of the unbalanced component, but δ in equation (6) above
Since this phase shift is included in , there is no need to change all calculation formulas.
第5図の実施例では、第4図で明らかなように
初めの1周期間の振動信号を記憶回路に順次取込
み記憶し、次の1周期間に計算を行なうやり方に
より回路を減らす工夫をしているが、もうひとつ
ずつ同様の記憶回路、カウンタ、ゲート回路を設
け、一方がデータの時、他方の記憶回路に記憶さ
れているデータをマイコンが読み出して計算し、
これを交互に繰返すような構成にすれば、さらに
高精度に不つりあい信号成分を抽出できる。 In the embodiment shown in FIG. 5, as is clear from FIG. 4, the number of circuits is reduced by sequentially capturing and storing the vibration signals during the first period in the memory circuit and performing calculations during the next period. However, another similar memory circuit, counter, and gate circuit are provided, and when one is data, the microcomputer reads the data stored in the other memory circuit and calculates it.
If a configuration is adopted in which this is repeated alternately, unbalanced signal components can be extracted with even higher accuracy.
第5図の実施例ではA−D変換された振動信号
データSW1〜SWMの値はマイコン43とは無関係
に記憶回路39に順次記憶される。マイコンのプ
ログラム用メモリ44の中のRAMエリアは記憶
回路と同じ働きをするのでマイコンが管理するこ
とによりハードウエア構成部分(回路)をマイコ
ンソフト(プログラム)で代用させることも可能
である。即ち、第8図のような、記憶回路39、
をなくした構成とし、これらの機能をプログラム
用メモリ44のRAMエリアの一部をあて、A−
D変換器のデータDAを変換終了信号S3のタイ
ミングでマイコンが順次このRAMエリアに格納
させてゆく動作プログラムを追加することにより
同様な原理で実施できる。同様に微分回路45を
なくしてS5信号をマイコンプログラムにより出
力することも可能である。 In the embodiment shown in FIG. 5, the values of the AD-converted vibration signal data SW1 to SWM are sequentially stored in the storage circuit 39 independently of the microcomputer 43. The RAM area in the program memory 44 of the microcomputer functions in the same way as a storage circuit, so by being managed by the microcomputer, it is possible to substitute microcomputer software (programs) for hardware components (circuits). That is, the memory circuit 39 as shown in FIG.
A-
The same principle can be used by adding an operation program in which the microcomputer sequentially stores the data DA of the D converter in this RAM area at the timing of the conversion end signal S3. Similarly, it is also possible to omit the differentiating circuit 45 and output the S5 signal using a microcomputer program.
第9図は第2図〜第7図に示す実施例の諸操作
の手順をフローチヤートにしたものである。 FIG. 9 is a flowchart showing the procedures of various operations in the embodiment shown in FIGS. 2 to 7.
以上の通り本発明は従来のアナログ回路を使用
した動つりあい測定装置を単にデイジタル化した
ものではなく、デイジタル化するためにサンプリ
ングのタイミングを決定する発振器とカウンタを
使つて、試験体の回転周期と比例するカウンタの
計数値Mを得、1周期分のみの振動検出器の信号
を前期発振器の出力パルスのタイミングでデイジ
タル値に変換し、その結果から1周期分の不つり
あい信号成分をフーリエ変換によつて算出しよう
とするものであり、結果として、試験体の回転数
に応じて適切な情報量を得ることによつて短時間
で安定した測定結果を得ることができるものであ
る。 As described above, the present invention does not simply digitize the conventional motion balance measuring device using analog circuits, but uses an oscillator and a counter to determine the sampling timing in order to digitize the rotation period of the test object. Obtain the count value M of the proportional counter, convert the vibration detector signal for only one period into a digital value at the timing of the output pulse of the first oscillator, and from the result, convert the unbalanced signal component for one period to Fourier transform. As a result, stable measurement results can be obtained in a short time by obtaining an appropriate amount of information according to the rotational speed of the test object.
第1図は従来例の動つりあい試験機の測定器の
パネル図、第2図は本発明の第1実施例の測定器
のパネル図、第3図は縦形動つりあい試験機本体
部の簡略図、第4図は前記本体部の振動検出器の
出力Swと基準位相信号Spの波形図および第1実
施例のタイミングチヤート、第5図は本発明の第
1実施例のブロツク図、第6図は試験体の不つり
あいUW、本体部の回転主軸とその付属部による
不つりあいUA、本発明回路における合成電圧ベ
クトルVOとの関係図、第7図a〜cは予備駆動
時の3つの状態を示すベクトル図、第8図は本発
明の第2の実施例のブロツク図、第9図は第1実
施例におけるマイクロコンピユータの動作の概略
フローチヤートである。
10……不つりあい量の数表示器、11……不
つりあい角度の数表示器、12……切換スイツ
チ、13〜15……押釦スイツチ、16,17…
…デイジタルスイツチ、32……フリツプフロツ
プ回路、33……パルス発振器、34……ゲート
回路、36……カウンタ回路、37……前置増幅
器、38……A−D変換器、39……記憶回路、
42……インターフエイス回路、43……マイク
ロコンピユータ、44……プログラム用メモリ、
45……微分回路、46……確認ランプ、EX,
OUT……外部デイジタル出力信号。
Fig. 1 is a panel diagram of a measuring instrument of a conventional dynamic balance testing machine, Fig. 2 is a panel diagram of a measuring instrument of the first embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a simplified diagram of the main body of a vertical dynamic balance testing machine. , FIG. 4 is a waveform diagram of the output Sw of the vibration detector of the main body and the reference phase signal Sp, and a timing chart of the first embodiment, FIG. 5 is a block diagram of the first embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a relationship diagram between the unbalance U W of the test object, the unbalance U A due to the rotating main shaft of the main body and its attached parts, and the composite voltage vector V O in the circuit of the present invention. FIG. 8 is a block diagram of the second embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a schematic flowchart of the operation of the microcomputer in the first embodiment. 10... Unbalance amount number indicator, 11... Unbalance angle number indicator, 12... Changeover switch, 13-15... Push button switch, 16, 17...
...Digital switch, 32...Flip-flop circuit, 33...Pulse oscillator, 34...Gate circuit, 36...Counter circuit, 37...Preamplifier, 38...A-D converter, 39...Memory circuit,
42...Interface circuit, 43...Microcomputer, 44...Program memory,
45...Differential circuit, 46...Confirmation lamp, EX,
OUT...External digital output signal.
Claims (1)
時、前記試験体のもつ不つりあいにより発生する
振動を妨げないようにした機構部と、前記振動を
検知し、電気信号に変換する振動検出器と、前記
試験体の回転と同期したパルス信号を発生する基
準位相検出器と、前記振動検出器の出力をサンプ
リングするタイミングを決定する発振器と、前記
発振器の出力パルスを前記基準位相検出器の出力
信号の1周期分の間計数するカウンタ回路と、前
記カウンタ回路の計数と同時に前記振動検出器の
信号を前記発振器の出力パルスのタイミングごと
にデイジタル値に変換するA−D変換器と、前記
A−D変換器の基準位相検出器の出力信号の1周
期分のデータを順次記憶する第1の記憶手段と、
前記カウンタ回路の計数値をM、前記記憶手段に
記憶されているデイジタル値をSWQとして不つり
あい信号成分WX、WYを式 WX=1/MM 〓Q=1 SWQcos(360/MQ)及び WY=1/MM 〓Q=1 SWQcos(360/MQ) によつて算出する第1の計算手段と、前記WX、
WYの値の複数周期分の平均値VX、VYを算出する
第2の計算手段と、試験体の不つりあい量UWと
不つりあい角度φWを式 UW=K√(X−)2+(Y−)2及び φW=δ°+tan-1VY−b/VX−a (ただしa、b、k、δは定数) により算出する第3の計算手段と、第1ステツプ
として前記試験体を前記機構部の基準位置に対に
取付けた場合の前記第2の計算手段の出力を
VX1、VY1として記憶し、第2ステツプとして、
試験体を前記基準位置に対しα度回転させた位置
に取付けた状態での前記第2の計算手段の出力を
VX2、VY2として記憶し、第3ステツプとして前
記試験体の取付位置を変えずに試験体上に既知の
重量Wのためし重りを角度γ度の位置取り付けた
状態の前記第2の計算手段の出力をVX3、VY3と
して記憶する第2の記憶手段と、上記各ステツプ
の記憶タイミングを合図する入力手段と、前記定
数a、b、k、δの値を計算式 δ°=γ°−tan-1VY3−VY2/VX3−VX2 a=1/2{−VX1cosα°+VY1sinα°+VX2 + (VX1cosα°+VY1sinα°−VX2)cotα/2} b=1/2{−VY1cosα°+VX1sinα°+VY2 +(−VX1cosα°+VY1sinα°−VX2)cotα/2} ただし(α≠0) により算出する第4の計算手段と、前記UW、φW
の出力手段とで構成されたことを特徴とするデイ
ジタル式動つりあい測定装置。[Scope of Claims] 1. A mechanism section configured to apply rotational force to a test object so as not to disturb vibrations generated due to unbalance of the test object when the test object rotates; a vibration detector that converts the output into a signal; a reference phase detector that generates a pulse signal synchronized with the rotation of the test object; an oscillator that determines the timing of sampling the output of the vibration detector; a counter circuit that counts for one cycle of the output signal of the reference phase detector; and A- that converts the signal of the vibration detector into a digital value at each timing of the output pulse of the oscillator simultaneously with the counting of the counter circuit; a D converter and a first storage means for sequentially storing data for one cycle of the output signal of the reference phase detector of the A-D converter;
Assuming that the count value of the counter circuit is M and the digital value stored in the storage means is S WQ , the unbalance signal components W /MQ) and W Y =1/M M 〓 Q=1 S WQ cos(360/MQ) ;
A second calculation means for calculating the average values V ) 2 + ( Y −) 2 and φ W = δ° + tan −1 V Y −b/V X −a (where a, b, k, and δ are constants); As a step, the output of the second calculation means when the test specimens are mounted in pairs at the reference positions of the mechanism section is
Store them as V X1 and V Y1 , and as a second step,
The output of the second calculation means with the test specimen mounted at a position rotated by α degrees with respect to the reference position.
V X2 , V Y2 are stored as V a second storage means for storing the outputs of the means as V X3 and V Y3 ; an input means for signaling the storage timing of each step; and a calculation formula for the values of the constants a, b, k, and δ. δ°=γ°−tan -1 V Y3 −V Y2 /V X3 −V X2 a=1/2{−V X1 cosα°+V Y1 sinα°+V X2 + (V X1 cosα°+V Y1 sinα° −V )cotα/2} b=1/2{−V Y1 cosα°+V X1 sinα°+V Y2 +(−V X1 cosα°+V Y1 sinα° −V a fourth calculation means, and the U W , φ W
A digital motion balance measuring device comprising: an output means;
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55122631A JPS5746136A (en) | 1980-09-03 | 1980-09-03 | Digital dynamic balancing measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55122631A JPS5746136A (en) | 1980-09-03 | 1980-09-03 | Digital dynamic balancing measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5746136A JPS5746136A (en) | 1982-03-16 |
| JPH0315687B2 true JPH0315687B2 (en) | 1991-03-01 |
Family
ID=14840744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55122631A Granted JPS5746136A (en) | 1980-09-03 | 1980-09-03 | Digital dynamic balancing measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5746136A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1069709A (en) * | 1996-06-21 | 1998-03-10 | Teac Corp | Data reproduction method and apparatus |
-
1980
- 1980-09-03 JP JP55122631A patent/JPS5746136A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5746136A (en) | 1982-03-16 |
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