JPH0315687B2

JPH0315687B2 -

Info

Publication number: JPH0315687B2
Application number: JP12263180A
Authority: JP
Inventors: Yoshibumi Hara; Mikio Hasegawa; Saburo Kubota; Katsu Kishimoto; Masaki Suzuki
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1980-09-03
Filing date: 1980-09-03
Publication date: 1991-03-01
Also published as: JPS5746136A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は回転機器の回転体の動不つりあい（動
不つりあい量と動不つりあい角度で表わす）を測
定する動つりあい測定装置に関するもので、特に
フアンなどの不つりあいの修正面が１面であるよ
うな試験体の測定装置に関する。

回転体に許容限度以上の不つりあいがあると、
運転時に振動、騒音が発生し、その回転機器の効
率、寿命を著しく低下させるので、回転体の動不
つりあい測定し、不つりあい部分を修正する必要
がある。最近の回転機器は高速化、高性能化でか
つ低コストのものが強く要求されるので、動つり
あい測定とその後の不つりあい修正工程の自動化
および精度の向上が課題となつてきている。

ところで、従来の動つりあい試験機の測定器の
回路部における演算、記憶及び表示はすべてアナ
ログ式であつた。

しかし、動不つりあいの修正機は、近年発展の
著しいマイクロコンピユータや数値制御装置を使
用して比較的容易に低コストで高性能なものが製
作できるようになつてきたが、マイクロコンピユ
ータ、数値制御装置にはデイジタル信号が使われ
ており、修正機への不つりあいデータとしてはデ
イジタル値が必要である。

また、従来の動つりあい試験機の測定器では作
業者は測定前に予備駆動と称する振動系の定数を
測定器に設定するための調整作業即ち、不つりあ
い量と角度の指示計１，２とを見ながらポテンシ
ヨメータ３〜８、切換スイツチ９の操作を行なう
必要があり、この調整は熟練者でないとできない
ほど微妙で、またその調整が悪いと測定精度を悪
くしてしまうものである。また人が不つりあいを
指示計で読み取る場合にも、読取の個人差による
誤差や指示計の大きさの限度に由来する最小目盛
の大きさによる読取限度があるなどの問題があつ
た。

さらに、後述するように、動不つりあいを測定
するためには、まず動不つりあいと所定の関係を
有する不つりあい信号成分の振幅と位相をひずみ
波信号の中から分離し、算出する回路が必要であ
る。従来の測定器においては、同期整流回路と平
滑回路を用いて、振動検出器の出力の中の不つり
あい信号成分の正弦波成分と余弦波成分のみの振
幅を対応する直流電圧に変換している場合が多
い。そのため平滑回路の時定数を長くしないと十
分なフイルタ効果が得られず、また直流電圧が安
定するためにはその時定数の数倍の時間を要する
ため、測定器としての測定時間が長くなる欠点が
あり、さらにアナログ演算回路や、直流電圧増幅
に伴なうドリフトによる誤差などの欠点があつ
た。

このように、従来のアナログ式の測定器におい
ては、不つりあいの自動修正、予備駆動時の調
整、測定精度測定時間などに問題があり、本発明
はこれらの問題点をデイジタル式の測定器とする
ことにより解消するものである。

以下、一実施例として、縦形動つりあい試験機
の測定器の場合を第２図〜第７図に基づいて説明
する。第２図は測定器のパネル図で、１０は小数
点を含めて不つりあい量を表示する数表示器、１
１は不つりあい角度の表示器で従来のアナログ式
指示計における読取個人差はなくなつている。１
２は切換スイツチで、通常測定時はQ₂にしてお
き、予備駆動時はQ₁の位置にし、押釦スイツチ
１３，１４，１５と重さ設定デイジタルスイツチ
１６と角度設定デイジタルスイツチ１７を使用す
る。第３図は一般的な縦形動つりあい試験機本体
部の簡略図を示し、駆動モータ１８が回転すると
プーリ１９，２１とベルト２０により回転主軸２
２が回転する。回転主軸２２はラジアル玉軸受２
３、振動枠２４とバネ材２５により機械本体に支
えられ、さらに回転主軸２２には、試験体２６を
取付けるためのアダブタ２７や角度目盛板２８、
角度基準信号板２９が付属している。駆動モータ
１８が回転すると、試験体２６の不つりあいおよ
び回転主軸２２とその付属物にも存在する不つり
あいにより軸受２３は振動を起すので、振動検出
器３１により検出する。振動検出器３１の出力は
第４図Svに示すように、試験体２６と回転主軸
とその付属物のすべてを含んだ動不つりあいと所
定の関係を有する回転主軸２２の回転と同期する
正弦波となる。実際には、この出力Svに雑音成
分が重畳した第４図Swのような波形となる場合
が多い。

一方、回転主軸２２に取付けられた角度基準信
号板２９の基準マークを位相検出器３０で検出さ
せているから、３０の出力は第４図Spのような
１回転に１度のパルスが同期Tsで、一定位相で
出てくる。したがつて、このSpを基準位相（０
度）とすることができる。

さて次に、雑音成分を含む振動検出器３１の出
力Sw（以下振動信号と称する）の中の不つりあい
信号成分のみをマイクロコンピユータにより、計
算で算出する方法を、第１の実施例の第４図、第
５図により説明する。第５図において、３２はフ
リツプフロツプ回路で信号Spを受けて、第４図
Ｓ１信号に示すような１周期ごとに反転する信号
を出力する。３３は、振動信号の周期Tsの約1/1
０００以下の周期でパルス発振する発振器で、その
出力はＳ１信号により制御されるゲート回路３４
に入力される。ゲート回路３４は信号Ｓ１がON
の時のみ発振パルスを通すので、その出力は図の
信号S2のようになる。信号S2はカウンタ３６へ
入力され、計数される。したがつて、Toの時点
でリセツトされているとすると、カウンタ３６は
基準位相信号Spのパルス出力時点Toから次のパ
ルスの出力時点Ｔ１までの発振器３３のパルスを
計数するので、その値をＭとすれば、発振器３３
の１パルス間隔即ち、Ｓ２のパルス間隔Ｑは、振
動の周期Tsが360度であるから、 θ≒360／Ｍ（度） ……(1) となる。したがつて、Ｓ２の各パルスの立上りに
おける振動信号の角度は順にθ°、2θ°、3θ°…360
°
（＝Mθ°）となる。カウンタ３６の出力ADに第４
図に示すように、順に０、１、２…Ｍと増加して
ゆく。

ところで、振動信号Swは、前置増幅器３７に
より増幅され、極性判別が可能なＡ−Ｄ変換器３
８へ入力される。前述の信号Ｓ２は、Ａ−Ｄ変換
器３８の変換開始信号として与えられるので、Ｓ
２のパルス立上り時点より変換を開始し、完了す
るとその電圧のデイジタル変換データDAと変換
完了信号パルスＳ３を出力する。このデータDA
と完了信号Ｓ３は記憶回路３９のデータ入力と書
込パルス信号となつて、Ｓ３のパルスのタイミン
グごとに振動電圧のデイジタル値を記憶回路３９
に書込む。

記憶回路３９の番地入力はカウンタ３６の出力
に接続されているので、順に、角度θの振動電圧
S_W1の値が“１”番地、角度2θの値S_W2が“２”
番地に…と記憶されてゆくことになる。即ち、第
４図の最後の振動信号電圧S_WMの値は“Ｍ”番地
にて記憶され、Ｑ番目のS_WQの値は“Ｑ”番地に
記憶される。

さて、信号Ｓ１はインターフエイス回路４２を
介して、マイクロコンピユータ４３（以下、マイ
コンと略す）に入力されている。マイコン４３は
プログラムを記憶しておくプログラム用メモリ４
４のプログラムの流れに従つて、この信号Ｓ１の
立下り時点Ｔ１から、後述する計算を開始すると
ともに、計算中信号Ｓ４を出力し、フリツプフロ
ツプ回路３２をリセツトする。計算が終了する
と、この信号Ｓ４をOFFする。すると、立下り
微分回路４５はＳ４の立下り時点に、リセツトパ
ルス信号Ｓ５を出力するので、信号Ｓ６により、
カウンタ３６がリセツトされる。リセツト状態は
第４図の初期状態Toと同じ状態のＴ２まで続く。
計算に長く時間がかかつたため、Ｔ１〜Ｔ２の期
間に計算が終了しない場合は、計算中信号Ｓ４が
ONのままであるため、フリツプフロツプ回路３
２はリセツトされたままで、Ｔ２の時点でも反転
しない。したがつて、ゲート回路３４が開かれ
て、Ａ−Ｄ変換開始信号Ｓ２が出てくることはな
く、記憶回路３９の内容が書換えられることはな
い。そして次の位相基準信号SpがONするまでに
計算中信号Ｓ４がOFFしていれば、このSpの立
上りでフリツプフロツプ回路３２の出力が反転し
初期状態となる。

記憶回路３９は計算中信号Ｓ４がONすると、
カウンタ３６の指定する番地ADにＡ−Ｄ変換デ
ータDAを書込み記憶する状態から、マイコンが
指定する番地データADDに従つて、記憶された
Ａ−Ｄ変換データをデータバスDATに読出せる
状態に切換えることができるようになつている。
また、カウンタ３６の出力ADの値をインターフ
エス回路４２と介して読出し、信号Ｓ２のパルス
間隔θを式(1)により算出することができるように
なつている。

マイコン４３の計算はフーリエ変換により、振
動信号Swの中から回転主軸の回転と同期する不
つりあい信号成分Svの正弦波成分、余弦波成分
の振幅値を求めるための計算であり、その内容を
以下に述べる。

マイコン４３は、まず前記式(1)の計算を行な
い、Ａ−Ｄ変換データの取込み角度間隔θを求め
る。次に記憶回路３９の“１”番地から順に記憶
されている振動信号の電圧値S_W1、S_W2…S_WMのデ
イジタル値を読出し、次式(2)、(3)により１周期分
の中の主軸回転周期Tsと同期する成分の正弦波
成分WY、余弦波成分WXを計算する。

W_X＝１／Ｍ｛S_w1cps〓°＋S_w2cps2〓°＋…＋S_WMcpsM〓°｝＝１／Ｍ_M 〓^Q=1 S_WQcpsQ〓° ……(2) WY＝１／Ｍ_M 〓^Q=1 S_WQsioQ〓° ……(3) 雑音成分が大きい場合、あるいは雑音成分の周
期が回転主軸の回転周期と近接していると、雑音
成分がとりきれず、上記の計算１回だけの答をも
つて不つりあい信号成分とすることは不正確であ
る。そこで、数十周期以上の回数にわたり、この
計算を繰り返し行ない、その答の平均値を計算す
ることによつてより正確な値を求めることができ
る。その動作は次のようにして行なう。

前述したプログラム用メモリ４４には、このよ
うな計算のプログラムの他に、その内容の書込
み、読出しをマイコン自身が自由に行なえる記憶
場所（RAMエリア）を持つている。試験機本体
からの測定開始信号STAがONするとマイコン
は、インターフエイス回路４２を介してこれを感
知し、Ｓ１信号がOFFとなつた時、まず計算中
信号Ｓ４をON−OFFしてパルス信号をつくり、
微分回路４５により発生するリセツトパルスＳ５
で、カウンタ、フリツプフロツプ、分周回路をリ
セツトして初期状態にする。その後前述のように
各回路が動作して、式(2)、(3)の最初の計算値
W_X1、W_Y1の値を計算し、プログラム用メモリの
RAMエリアにそのW_X1、W_Y1の値を記憶させる。
次の周期においては、別のRAMエリアに新たに
計算で求めたW_X2、W_Y2の値を記憶し以下同様な
動作を繰返す。

このような計算を行なう動作を、動つりあい試
験機本体からの測定開始信号STAがON後、一定
時間（たとえば３秒間）繰返し行なうことによ
り、数十周期以上のフーリエ変換値が求まる。次
に、これらの平均値V_X、V_Yを計算する。Ｃ回加
算累計した場合は次式で表わされる。

V_X＝１／Ｃ（W_X1＋W_X2＋…＋W_XC）＝１／Ｃ_C 〓^P=1 W_XP ……(4) V_Y＝１／Ｃ_C 〓^P=1 W_YP ……(5) Ｃは加算累計回数で、マイコン自身が計数し、
自己のレジスタあるいはRAMエリアに記憶する
プログラムも必要である。

このようにして計算したV_X、V_Yの値は、回転
主軸と同期する信号成分のみが抽出されているの
で、試験体２６、回転主軸２２とその付属物すべ
てを含んだ動不つりあいと所定の関係を有してい
る。

次に、計算したV_X、V_Yの値を使用して、マイ
コン４３がプログラム用メモリ４４に格納された
プログラムに従つて試験体２６の不つりあい量、
角度を計算する動作について作業者の操作手順と
ともに述べる。

第５図において、１０〜１７の番号のついたも
のは第２図で説明したものと同じもので、マイコ
ン４３は、インターフエイス回路４２を介して、
スイツチ１２〜１７の状態を検知し、不つりあい
量および角度をデイジタル値で数表示器１０と１
１に表示する。さらに自動修正用として、EX、
outなる不つりあい量と角度のデイジタル信号出
力がインターフエイス回路４２より出力される。
なお４６は後述するように作業者のための確認用
のランプで、マイコン４３によりON−OFF制御
される。

今、第６図のように試験体２６の不つりあいを
U_Wとし、回転主軸２２とその付属物による不つ
りあいをＵ→_Aとしてベクトル表示し、その合成ベ
クトルをＵ→_Oとすると、Ｕ→_Oは振動検出器３１の出
力S_Wに含まれている回転主軸と同期した信号成
分Svの振幅Smに比例し、その方向（不つりあい
角度と表現する）は、Svの位相角ρによつて表
わされる。前述のV_X、V_Yの合成ベクトルをV_Oと
すると、V_Oは位相検出器３０の取付位置と試験
体の位相基準点の違いや増幅器３７による位相の
ズレにより一定角度δ分だけ、前記第５図に示し
た合成ベクトルＵ→_Oより遅れるが、その大きさは
不つりあい信号成分S_vの振幅と比例し、よつてＵ→
_Ｏの大きさとも比例する。

したがつて、ｋを正実数とすれば、Ｕ→_O＝ｋＶ→_O∠δ°＝ｋ∠δ°（V_X＋jV_Y）……(6) の関係式が成立する。（ただしj²＝−１）(6)式に
おいて、ｋとδは定数であるが、その値はまだ未
知である。

さらに、Ｕ→_O＝Ｕ→_W＋Ｕ→_A ……(7) の関係があるが、Ｕ→_Aの値も未知であるので、試
験体の不つりあいＵ→_Wを求めるためには、これら
の未知の定数を測定する必要があり、前述した予
備駆動と称する作業がこれに相当する。

今、Ｕ→_A＝ｋ∠δ°（ａ＋jb） ……(8) と表わせば (7)式に(6)、(8)式を代入して、Ｕ→_W＝Ｕ→_O−Ｕ→_A ＝ｋ∠δ°｛（V_X−ａ）＋ｊ（V_Y−ｂ）｝ ……(9) となる。

さて、予備駆動は、任意の試験体を使用して行
なうもので、その操作手順を説明すると、１切換スイツチ１２をＱ１の位置にし、マイコ
ン４３に予備駆動を知らせる。

２試験体をアダプタ２６に取付けた後、駆動モ
ータを回転させる。振動状態が安定して機械本
体からの測定開始信号STAが出るとマイコン
は前述のごとく一定時間計算を繰返して、V_X、
V_Yの値を算出し、その値をV_X1、V_Y1として記
憶する。

第７図ａはこの時のベクトル図で試験体の不
つりあいベクトルＵ→_W1とすればＵ→₁＝Ｕ→_W1＋Ｕ→_A ＝ｋ∠δ°（V_X1＋jV_Y1） ……(10) の関係になる。

マイコンはV_X1、V_Y1の値を計算し、記憶す
るとランプ４６を点灯し、これを作業者に知ら
せる。

作業者は、このランプ４６を確認後、押釦ス
イツチ１３を押して、第７図ａの状態であるこ
とをマイコンに教えると、ランプ４２が消灯す
る。

３駆動モータを止め、アダプタ２７に対し試験
体２６を前の位置から０以外の任意の角度ａ度
回転させて取付け、再び駆動モータを回転させ
る。この時の計算で求めたV_X、V_Yの値をV_X2、
V_Y2とすると、第７図ｂのベクトル図となり、Ｕ→₂＝Ｕ→_W1∠a°＋Ｕ→_A ＝ｋ∠δ°（V_X2＋jV_Y2） ……（11）となる。

作業者はランプ４６の点灯を確認し、角度ａ
をデイジタルスイツチ１７に設定後、スイツチ
１４を押し、マイコンに第７図ｂの状態である
ことを教える。

４駆動モータを止め、試験体２６を角度ａ分回
転して取付けたまま、ためし重りを試験体の任
意の角度γ度に取付けて再び駆動モータを回転
させる。この時の計算したV_X、V_Yの値をV_X3、
V_Y3とすると、第７図ｃのベクトル図となり、Ｕ→₃＝Ｕ→_W1∠a°＋Ｕ→_A＋Ｗ→ ＝ｋ∠δ°（V_X3＋jV_Y3） ……（12）が成立する。Ｗ→はためし重りによる不つりあい
ベクトルでその重量値をｗグラムとするとＷ→＝ｗ∠γ° ……（13）の関係がある。

作業者は同様にランプ４６の点灯を確認し
て、デイジタルスイツチ１６と１７にｗの値と
γ度を設定して押釦スイツチ１５を押し、第７
図ｃの状態であることをマイコンに知らせる。
するとマイコンは、デイジタルスイツチの数値
の込むとともに、記憶したV_X1〜V_X3、V_Y1〜
V_Y3を用いて式（11）、（12）、（13）より、 δ°＝γ°−tan^-1V_Y3−V_Y2／V_X3−V_X2 ……(15) 式(8)、(10)、（11）よりａ＝１／２｛−V_X1cosα°＋V_Y1sinα°＋V_X2＋（V_X1cosα°＋V_Y1sinα°−V_X2）cotα／２｝ ……(16) ｂ＝１／２｛−V_Y1cosα°＋V_X1sinα°＋V_Y2＋（−V_X1cosα°＋V_Y1sinα°＋V_X2）cotα／２｝ ……(17) （α≠０）を求めることができるのでこれらの各定数を計
算後、ランプ４６を消灯させる。

以上の３回の測定で予備駆動が終了し、任意の
試験変の不つりあいを測定できるようになる。測
定を行なうには、作業者が切換スイツチ１２を
Q₂に切換えて、測定であることをマイコンに知
らせ、マイコンはこれをインターフエイス回路４
０を介して感知し、試験機本体部からの測定開始
信号STAを受けると前述のようにV_X、V_Yの値を
計算して記憶し、試験体の不つりあいを算出す
る。即ち、試験体の不つりあい量をU_W、不つり
あい角度をWとすれば、Ｕ→_W＝U_W∠_W ……（18）であるから式(4)より U_W＝ｋ√（_X−）²＋（_Y−）²
……（19） A＝δ°＋tan^-1V_Y−ｂ／V_X−ａ ……（20）となり、このV_W、_Wの値を、数表示器１０，１
１により表示する。

以上の計算や入出力の制御はすべて、プログラ
ム用メモリ４４に格納されたプログラムに従つて
行なわれる。

本実施例においては、前述の角度α、γをデイ
ジタルスイツチ１７を用いて可変設定できるよう
にしているが、一般的には、α、γの値は固定に
してもさしつかえない場合も多く、その時は、マ
イコンのプログラム用メモリ４４に定数として登
録しておき、デイジタルスイツチ１７をなくすこ
とができる。デイジタルスイツチ１６についても
同様である。

本実施例に用いたＡ−Ｄ変換器は、±１ボルト
を極性判定の１ビツトと11ビツト精度で分解でき
るものであり、市販されているLSIで、安価に入
手できる。Ａ−Ｄ変換器の入力値が１ボルトを越
えた場合には、Ａ−Ｄ変換器の前に切換えスイツ
チを配置し、分圧してＡ−Ｄ変換器に入力するよ
うな構成とし、この分圧切換スイツチを制御する
プログラムを付加すれば広範囲な不つりあい量の
自動測定を行なう測定器も可能である。

一方、振動検出器の出力Swの中から、より高
精度に不つりあい成分V_X、V_Yを計算するために
は、Ａ−Ｄ変換器３８の入力において、前記雑音
成分が少ない方がよい。そのために、前置増幅器
３７とＡ−Ｄ変換器３８との間に、不つりあい信
号周波数付近の信号成分のみを通過させる帯域フ
イルタを挿入する。この帯域フイルタにより不つ
りあい成分の位相ずれが生ずるが、前記(6)式のδ
の中にこの位相ずれ分も含まれるので、すべての
計算式を変更しなくてもよい。

第５図の実施例では、第４図で明らかなように
初めの１周期間の振動信号を記憶回路に順次取込
み記憶し、次の１周期間に計算を行なうやり方に
より回路を減らす工夫をしているが、もうひとつ
ずつ同様の記憶回路、カウンタ、ゲート回路を設
け、一方がデータの時、他方の記憶回路に記憶さ
れているデータをマイコンが読み出して計算し、
これを交互に繰返すような構成にすれば、さらに
高精度に不つりあい信号成分を抽出できる。

第５図の実施例ではＡ−Ｄ変換された振動信号
データS_W1〜S_WMの値はマイコン４３とは無関係
に記憶回路３９に順次記憶される。マイコンのプ
ログラム用メモリ４４の中のRAMエリアは記憶
回路と同じ働きをするのでマイコンが管理するこ
とによりハードウエア構成部分（回路）をマイコ
ンソフト（プログラム）で代用させることも可能
である。即ち、第８図のような、記憶回路３９、
をなくした構成とし、これらの機能をプログラム
用メモリ４４のRAMエリアの一部をあて、Ａ−
Ｄ変換器のデータDAを変換終了信号Ｓ３のタイ
ミングでマイコンが順次このRAMエリアに格納
させてゆく動作プログラムを追加することにより
同様な原理で実施できる。同様に微分回路４５を
なくしてＳ５信号をマイコンプログラムにより出
力することも可能である。

第９図は第２図〜第７図に示す実施例の諸操作
の手順をフローチヤートにしたものである。

以上の通り本発明は従来のアナログ回路を使用
した動つりあい測定装置を単にデイジタル化した
ものではなく、デイジタル化するためにサンプリ
ングのタイミングを決定する発振器とカウンタを
使つて、試験体の回転周期と比例するカウンタの
計数値Ｍを得、１周期分のみの振動検出器の信号
を前期発振器の出力パルスのタイミングでデイジ
タル値に変換し、その結果から１周期分の不つり
あい信号成分をフーリエ変換によつて算出しよう
とするものであり、結果として、試験体の回転数
に応じて適切な情報量を得ることによつて短時間
で安定した測定結果を得ることができるものであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例の動つりあい試験機の測定器の
パネル図、第２図は本発明の第１実施例の測定器
のパネル図、第３図は縦形動つりあい試験機本体
部の簡略図、第４図は前記本体部の振動検出器の
出力Swと基準位相信号Spの波形図および第１実
施例のタイミングチヤート、第５図は本発明の第
１実施例のブロツク図、第６図は試験体の不つり
あいU_W、本体部の回転主軸とその付属部による
不つりあいU_A、本発明回路における合成電圧ベ
クトルV_Oとの関係図、第７図ａ〜ｃは予備駆動
時の３つの状態を示すベクトル図、第８図は本発
明の第２の実施例のブロツク図、第９図は第１実
施例におけるマイクロコンピユータの動作の概略
フローチヤートである。１０……不つりあい量の数表示器、１１……不
つりあい角度の数表示器、１２……切換スイツ
チ、１３〜１５……押釦スイツチ、１６，１７…
…デイジタルスイツチ、３２……フリツプフロツ
プ回路、３３……パルス発振器、３４……ゲート
回路、３６……カウンタ回路、３７……前置増幅
器、３８……Ａ−Ｄ変換器、３９……記憶回路、
４２……インターフエイス回路、４３……マイク
ロコンピユータ、４４……プログラム用メモリ、
４５……微分回路、４６……確認ランプ、EX，
OUT……外部デイジタル出力信号。

Claims

【特許請求の範囲】１試験体に回転力を与え、試験体が回転した
時、前記試験体のもつ不つりあいにより発生する
振動を妨げないようにした機構部と、前記振動を
検知し、電気信号に変換する振動検出器と、前記
試験体の回転と同期したパルス信号を発生する基
準位相検出器と、前記振動検出器の出力をサンプ
リングするタイミングを決定する発振器と、前記
発振器の出力パルスを前記基準位相検出器の出力
信号の１周期分の間計数するカウンタ回路と、前
記カウンタ回路の計数と同時に前記振動検出器の
信号を前記発振器の出力パルスのタイミングごと
にデイジタル値に変換するＡ−Ｄ変換器と、前記
Ａ−Ｄ変換器の基準位相検出器の出力信号の１周
期分のデータを順次記憶する第１の記憶手段と、
前記カウンタ回路の計数値をＭ、前記記憶手段に
記憶されているデイジタル値をS_WQとして不つり
あい信号成分W_X、W_Yを式 W_X＝１／Ｍ_M 〓^Q=1 S_WQcos（360／ＭＱ）及び W_Y＝１／Ｍ_M 〓^Q=1 S_WQcos（360／ＭＱ）によつて算出する第１の計算手段と、前記W_X、
W_Yの値の複数周期分の平均値V_X、V_Yを算出する
第２の計算手段と、試験体の不つりあい量U_Wと
不つりあい角度φ_Wを式 U_W＝Ｋ√（_X−）²＋（_Y−）²及び φ_W＝δ°＋tan^-1V_Y−ｂ／V_X−ａ（ただしａ、ｂ、ｋ、δは定数）により算出する第３の計算手段と、第１ステツプ
として前記試験体を前記機構部の基準位置に対に
取付けた場合の前記第２の計算手段の出力を
V_X1、V_Y1として記憶し、第２ステツプとして、
試験体を前記基準位置に対しα度回転させた位置
に取付けた状態での前記第２の計算手段の出力を
V_X2、V_Y2として記憶し、第３ステツプとして前
記試験体の取付位置を変えずに試験体上に既知の
重量Ｗのためし重りを角度γ度の位置取り付けた
状態の前記第２の計算手段の出力をV_X3、V_Y3と
して記憶する第２の記憶手段と、上記各ステツプ
の記憶タイミングを合図する入力手段と、前記定
数ａ、ｂ、ｋ、δの値を計算式 δ°＝γ°−tan^-1V_Y3−V_Y2／V_X3−V_X2 ａ＝１／２｛−V_X1cosα°＋V_Y1sinα°＋V_X2 ＋（V_X1cosα°＋V_Y1sinα°−V_X2）cotα／２｝ｂ＝１／２｛−V_Y1cosα°＋V_X1sinα°＋V_Y2 ＋（−V_X1cosα°＋V_Y1sinα°−V_X2）cotα／２｝ただし（α≠０）により算出する第４の計算手段と、前記U_W、φ_W
の出力手段とで構成されたことを特徴とするデイ
ジタル式動つりあい測定装置。