JPH0315714B2 - - Google Patents
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- JPH0315714B2 JPH0315714B2 JP57037872A JP3787282A JPH0315714B2 JP H0315714 B2 JPH0315714 B2 JP H0315714B2 JP 57037872 A JP57037872 A JP 57037872A JP 3787282 A JP3787282 A JP 3787282A JP H0315714 B2 JPH0315714 B2 JP H0315714B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/38—Particle discrimination and measurement of relative mass, e.g. by measurement of loss of energy with distance (dE/dx)
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、検出器内でα粒子および（または）
β粒子により生ずる検出器パルスがいずれもナノ
秒範囲の特定の立上がり時間中は粒子固有のほぼ
一定の傾斜で立上がる前縁を有する場合に、α粒
子により生じ第１の傾斜を有するαパルスとβ粒
子により生じ第１の傾斜にくらべて実質的に小さ
い第２の傾斜を有するβパルスとを選別する方法
および装置に関するものである。
β粒子により生ずる検出器パルスがいずれもナノ
秒範囲の特定の立上がり時間中は粒子固有のほぼ
一定の傾斜で立上がる前縁を有する場合に、α粒
子により生じ第１の傾斜を有するαパルスとβ粒
子により生じ第１の傾斜にくらべて実質的に小さ
い第２の傾斜を有するβパルスとを選別する方法
および装置に関するものである。
このようなαパルスおよびβパルスを生ずる検
出器は特開昭56−153269号公報に記載されてい
る。
出器は特開昭56−153269号公報に記載されてい
る。
本発明の目的は、検出器の出力端に生ずる検出
器パルスと、粒子エネルギーにより定まるパルス
波高に無関係に、できるかぎり一義的にαパルス
もしくはβパルスとして同定し得る方法と、それ
を実施するための回路装置とを提供することにあ
る。
器パルスと、粒子エネルギーにより定まるパルス
波高に無関係に、できるかぎり一義的にαパルス
もしくはβパルスとして同定し得る方法と、それ
を実施するための回路装置とを提供することにあ
る。
この目的は本発明によれば、特許請求の範囲第
１項に記載の方法と、それを実施するための特許
請求の範囲第３項に記載の装置とにより達成され
る。
１項に記載の方法と、それを実施するための特許
請求の範囲第３項に記載の装置とにより達成され
る。
本発明により得られる利点は特に、検出感度を
従来どおりとすれば測定時間を非常に短縮し得る
こと、測定時間を従来どおりとすれば検出感度を
非常に高め得ること、特にα−β混合試料の場合
にαパルスレートの測定誤差を非常に小さくし得
ること、時間分解能を非常に高くし得ること、α
パルスとβパルスとの分離を非常に高い精度で行
ない得ることである。
従来どおりとすれば測定時間を非常に短縮し得る
こと、測定時間を従来どおりとすれば検出感度を
非常に高め得ること、特にα−β混合試料の場合
にαパルスレートの測定誤差を非常に小さくし得
ること、時間分解能を非常に高くし得ること、α
パルスとβパルスとの分離を非常に高い精度で行
ない得ることである。
以下、図面により本発明を一層詳細に説明す
る。
る。
最初の20ないし30nsの間、αパルスおよびβパ
ルスの前縁はほぼ直線上に立上り、その傾斜はα
パルスとβパルスとでは著しく相違する。特にこ
の範囲で、αパルスの立上がり分ΔU〓はβパルス
の立上がり分ΔU〓の約２倍の大きさである。この
関係が両パルスの最初の30ns＝t1にわたり第１図
に示されている。両パルスとその後の経過は立上
がりの傾斜に関して大差がなくなる。従つて、選
別の基準として立上がりの傾斜ΔU〓／Δtおよび
ΔU〓／Δtを利用することは最初の20ないし30ns
の間でしか可能でない。
ルスの前縁はほぼ直線上に立上り、その傾斜はα
パルスとβパルスとでは著しく相違する。特にこ
の範囲で、αパルスの立上がり分ΔU〓はβパルス
の立上がり分ΔU〓の約２倍の大きさである。この
関係が両パルスの最初の30ns＝t1にわたり第１図
に示されている。両パルスとその後の経過は立上
がりの傾斜に関して大差がなくなる。従つて、選
別の基準として立上がりの傾斜ΔU〓／Δtおよび
ΔU〓／Δtを利用することは最初の20ないし30ns
の間でしか可能でない。
従つて、本発明の方法では検出器パルスの時間
選別が行なわれる。所与の一定時間t1の間にαパ
ルスおよびβパルスが到達する振幅Ａは著しく相
違する（A〓＝ΔU〓はA〓＝Δ〓の約２倍）ので、時
間選別の後に行なわれる振幅選別により大部分の
事象の検出器パルスは一義的にαパルスもしくは
βパルスとして同定可能である。残りの数パーセ
ントの事象は一義的に同定され得ず、αまたはβ
パルスとして計数され、これが少数であるほど測
定装置は良好であるという判定尺度に用いられ
る。
選別が行なわれる。所与の一定時間t1の間にαパ
ルスおよびβパルスが到達する振幅Ａは著しく相
違する（A〓＝ΔU〓はA〓＝Δ〓の約２倍）ので、時
間選別の後に行なわれる振幅選別により大部分の
事象の検出器パルスは一義的にαパルスもしくは
βパルスとして同定可能である。残りの数パーセ
ントの事象は一義的に同定され得ず、αまたはβ
パルスとして計数され、これが少数であるほど測
定装置は良好であるという判定尺度に用いられ
る。
第２図は、本発明の方法を実施するための選別
回路のブロツク回路図が示されている。
回路のブロツク回路図が示されている。
αおよび（または）β粒子の同時測定用の特開
昭56−153269号公報に記載された検出器１のなか
で検出器パルス２が発せられ、これらの検出器パ
ルス２は検出器の構造に関係して生ずる信号減弱
の補償のため、検出器１に内蔵されており50Ωの
出力インピーダンスを有する第１の増幅器３によ
り増幅される。検出器は50Ω同軸ケーブルによ
り、検出器パルス２を所定の時間t2だけ遅延させ
る遅延線４を介して、検出器パルス２の前縁５の
立上がりを所定の時間選別のために設定された時
間t1の後に中断させる電子スイツチ６に接続され
ている。
昭56−153269号公報に記載された検出器１のなか
で検出器パルス２が発せられ、これらの検出器パ
ルス２は検出器の構造に関係して生ずる信号減弱
の補償のため、検出器１に内蔵されており50Ωの
出力インピーダンスを有する第１の増幅器３によ
り増幅される。検出器は50Ω同軸ケーブルによ
り、検出器パルス２を所定の時間t2だけ遅延させ
る遅延線４を介して、検出器パルス２の前縁５の
立上がりを所定の時間選別のために設定された時
間t1の後に中断させる電子スイツチ６に接続され
ている。
検出器１の出力端Ａは所定の第１のしきい値S1
を有する第１のコンパレータ７と所定の第２のし
きい値S2（S2＞S1）を有する第２のコンパレータ
８とに接続されている。
を有する第１のコンパレータ７と所定の第２のし
きい値S2（S2＞S1）を有する第２のコンパレータ
８とに接続されている。
第１のコンパレータ７の非反転出力端はデイジ
タル遅延回路９を介して、また第２のコンパレー
タ８の反転出力端は直接に始動回路１０に接続さ
れており、この始動回路は検出器パルス２の振幅
Ａが第２のしきい値S2を越えているときに限つて
時間選別をトリガする。
タル遅延回路９を介して、また第２のコンパレー
タ８の反転出力端は直接に始動回路１０に接続さ
れており、この始動回路は検出器パルス２の振幅
Ａが第２のしきい値S2を越えているときに限つて
時間選別をトリガする。
始動回路１０の出力端はレベル整合回路１１に
接続されており、このレベル整合回路は“０”か
ら“１”への入力信号の変化を０から−5Vへの
電圧変化に変換する。
接続されており、このレベル整合回路は“０”か
ら“１”への入力信号の変化を０から−5Vへの
電圧変化に変換する。
レベル整合回路１１の後に接続されているゲー
ト時間パルス発生器１２は所定の一定のナノ秒範
囲のパルス幅t3を有するゲート時間パルス１３を
発する。
ト時間パルス発生器１２は所定の一定のナノ秒範
囲のパルス幅t3を有するゲート時間パルス１３を
発する。
ゲート時間パルス発生器１２の出力端は電子ス
イツチ６の制御入力端に接続されており、この電
子スイツチはゲート時間パルス１３により時間t3
の間は導通する。
イツチ６の制御入力端に接続されており、この電
子スイツチはゲート時間パルス１３により時間t3
の間は導通する。
検出器パルスの時間遅延t2は信号処理に必要な
構成要素の時間遅延に応じて選定され、遅延線４
により設定されている。
構成要素の時間遅延に応じて選定され、遅延線４
により設定されている。
ゲート時間パルス１３の前縁１４は遅延時間t2
の終了の直前に位置する。電子スイツチ６はゲー
ト時間パルス１３の後縁１５により不導通状態に
戻される（第１図参照）。すなわち、後縁１５は
時間選別用の時間t1の終了時点を定め、その時点
における振幅A〓，A〓で検出器パルス２の前縁５
の立上がりを停止させる。
の終了の直前に位置する。電子スイツチ６はゲー
ト時間パルス１３の後縁１５により不導通状態に
戻される（第１図参照）。すなわち、後縁１５は
時間選別用の時間t1の終了時点を定め、その時点
における振幅A〓，A〓で検出器パルス２の前縁５
の立上がりを停止させる。
電子スイツチ６の後にパルス整形回路１６が接
続されており、このパルス整形回路は時間選別さ
れた検出器パルス２の振幅A〓，A〓に相当する信
号電圧をコンデンサの電荷に変換し、時間選別に
より得られた振幅A〓，A〓のピーク状最高値を時
間的に延長する。
続されており、このパルス整形回路は時間選別さ
れた検出器パルス２の振幅A〓，A〓に相当する信
号電圧をコンデンサの電荷に変換し、時間選別に
より得られた振幅A〓，A〓のピーク状最高値を時
間的に延長する。
パルス整形回路１６の出力端は所定の第３のし
きい値S3（S3＞S2）を有する第３のコンパレータ
１９と所定の第４のしきい値S4（S4＞S3）を有す
る第４のコンパレータ２０との入力端に接続され
ている。
きい値S3（S3＞S2）を有する第３のコンパレータ
１９と所定の第４のしきい値S4（S4＞S3）を有す
る第４のコンパレータ２０との入力端に接続され
ている。
第３のコンパレータ１９の反転出力端は第４の
メモリ２１に、また第４のコンパレータ２０の反
転出力端は第５のメモリ２２に接続されている。
メモリ２１に、また第４のコンパレータ２０の反
転出力端は第５のメモリ２２に接続されている。
第４のメモリ２１および第５のメモリ２２の出
力端の後に、時間選別および振幅選別された検出
器パルスをα信号、β信号およびαまたはβ信号
に分類する評価論理回路２３が接続されている。
力端の後に、時間選別および振幅選別された検出
器パルスをα信号、β信号およびαまたはβ信号
に分類する評価論理回路２３が接続されている。
評価論理回路２３の後にα信号用の第１のカウ
ンタ２４、β信号用の第２のカウンタ２５および
αまたはβ信号用の第３のカウンタ２６が接続さ
れている。
ンタ２４、β信号用の第２のカウンタ２５および
αまたはβ信号用の第３のカウンタ２６が接続さ
れている。
第１のコンパレータ７の反転出力端の後に限時
回路２７が接続されており、この限時回路の出力
端は評価論理回路２３と接続されている。
回路２７が接続されており、この限時回路の出力
端は評価論理回路２３と接続されている。
測定時間の終了時に限時回路２７は第４のメモ
リ２１および第５のメモリ２２の内容を評価論理
回路２３を介してカウンタ２４，２５，２６の１
つに伝達するための読出しパルスを発する。また
メモリのリセツト用としてリセツト論理回路２８
がその第１の入力端で第１のコンパレータ７の反
転出力端と、第２の入力端で限時回路２７の出力
端と接続されており、このリセツト論理回路の出
力端がリセツト論理回路自体および始動回路１０
のなかのメモリならびに第４および第５のメモリ
２１，２２のリセツト入力端と接続されている。
リ２１および第５のメモリ２２の内容を評価論理
回路２３を介してカウンタ２４，２５，２６の１
つに伝達するための読出しパルスを発する。また
メモリのリセツト用としてリセツト論理回路２８
がその第１の入力端で第１のコンパレータ７の反
転出力端と、第２の入力端で限時回路２７の出力
端と接続されており、このリセツト論理回路の出
力端がリセツト論理回路自体および始動回路１０
のなかのメモリならびに第４および第５のメモリ
２１，２２のリセツト入力端と接続されている。
メモリの各々は１つの双安定マルチバイブレー
タから成つている。
タから成つている。
第３図にはコンパレータ、メモリ、始動回路１
０、評価論理回路２３およびリセツト論理回路２
８の回路図が示されている。
０、評価論理回路２３およびリセツト論理回路２
８の回路図が示されている。
始動回路１０は、信号振幅A〓，A〓が第２のし
きい値S2を越えているときに限つて、その出力端
３０にレベル整合回路１１をトリガする信号を発
する。
きい値S2を越えているときに限つて、その出力端
３０にレベル整合回路１１をトリガする信号を発
する。
始動回路１０は各１つの第２双安定マルチバイ
ブレータ３１、第３の双安定マルチバイブレータ
３２、第２のナンドゲート３３および第３のナン
ドゲート３４から成つている。
ブレータ３１、第３の双安定マルチバイブレータ
３２、第２のナンドゲート３３および第３のナン
ドゲート３４から成つている。
第２のナンドゲート３３はその第１の入力端で
デイジタル遅延回路９の出力端に、また第２の入
力端で第２のコンパレータ８の反転出力端に接続
されており、この第２のナンドゲートの後に第２
の双安定マルチバイブレータ３１が接続されてい
る。
デイジタル遅延回路９の出力端に、また第２の入
力端で第２のコンパレータ８の反転出力端に接続
されており、この第２のナンドゲートの後に第２
の双安定マルチバイブレータ３１が接続されてい
る。
第２の双安定マルチバイブレータ３１の非反転
出力端３５は第３のナンドゲート３４の第１の入
力端に接続されており、その第２の入力端は第２
のコンパレータ８の非反転出力端と接続されてい
る。
出力端３５は第３のナンドゲート３４の第１の入
力端に接続されており、その第２の入力端は第２
のコンパレータ８の非反転出力端と接続されてい
る。
第３のナンドゲート３４の出力端の後に第３の
双安定マルチバイブレータ３２が接続されてお
り、その反転出力端はレベル整合回路１１に接続
されている。
双安定マルチバイブレータ３２が接続されてお
り、その反転出力端はレベル整合回路１１に接続
されている。
レベル整合回路１１は主としてpnpトランジス
タ３６から成り、そのベースは始動回路１０の出
力端３０に、エミツタは5Vの正電圧に、またコ
レクタは−5Vの負電圧に接続されている。
タ３６から成り、そのベースは始動回路１０の出
力端３０に、エミツタは5Vの正電圧に、またコ
レクタは−5Vの負電圧に接続されている。
レベル整合回路１１の出力端は回路点Ｃを介し
て、第４図に示されているゲート時間パルス発生
器１２の第６の双安定マルチバイブレータ３７の
入力端と接続されている。
て、第４図に示されているゲート時間パルス発生
器１２の第６の双安定マルチバイブレータ３７の
入力端と接続されている。
第６の双安定マルチバイブレータ３７の反転出
力端３８はドライバ回路３９を介して、電界効果
トランジスタ４０として構成された電子スイツチ
６の制御入力端と接続されている。
力端３８はドライバ回路３９を介して、電界効果
トランジスタ４０として構成された電子スイツチ
６の制御入力端と接続されている。
また双安定マルチバイブレータ３７の非反転出
力端４１は電界効果トランジスタ４０の導通時間
t3を定める遅延回路４２を介してリセツト入力端
に帰還されている。
力端４１は電界効果トランジスタ４０の導通時間
t3を定める遅延回路４２を介してリセツト入力端
に帰還されている。
レベル整合回路１１から発せられた制御信号の
立下がり縁は第６の双安定マルチバイブレータ３
７をトリガし、その反転出力端３８を−5Vから
0Vへ切換え、それにより第１図に示されている
ゲート時間パルス１３の前縁１４を生ずる。
立下がり縁は第６の双安定マルチバイブレータ３
７をトリガし、その反転出力端３８を−5Vから
0Vへ切換え、それにより第１図に示されている
ゲート時間パルス１３の前縁１４を生ずる。
同時に非反転出力端４１が０から−5Vへ移行
する。この信号は遅延回路４２により時間t3だけ
遅らせてリセツト入力端に帰還され、ゲート時間
パルス１３の後縁１５を生ずる。それにより電子
スイツチ６の導通時間t3が定められる。
する。この信号は遅延回路４２により時間t3だけ
遅らせてリセツト入力端に帰還され、ゲート時間
パルス１３の後縁１５を生ずる。それにより電子
スイツチ６の導通時間t3が定められる。
回路点Ｄに到来する検出器パルス２は電子スイ
ツチ６の導通時間t3の間に到来する部分すなわち
前縁５のみが電子スイツチ６を通過してパルス整
形回路１６に到達する（時間選別）。それにより
パルス整形回路１６のコンデンサ４３は時間t3の
間だけ充電され、続いて次回測定サイクルの開始
時までに放電する。このコンデンサの後に接続さ
れている積分回路４４は時間選別により得られた
パルス振幅A〓，A〓のピーク状最高値１７（第１
図参照）を時間的に延長する。こうして得られた
信号は回路点Ｅを経て第２の増幅器１８（第２図
参照）に与えられ、そこで増幅された後に回路点
Ｂを経て、振幅選別を行なう回路部分に伝達され
る。
ツチ６の導通時間t3の間に到来する部分すなわち
前縁５のみが電子スイツチ６を通過してパルス整
形回路１６に到達する（時間選別）。それにより
パルス整形回路１６のコンデンサ４３は時間t3の
間だけ充電され、続いて次回測定サイクルの開始
時までに放電する。このコンデンサの後に接続さ
れている積分回路４４は時間選別により得られた
パルス振幅A〓，A〓のピーク状最高値１７（第１
図参照）を時間的に延長する。こうして得られた
信号は回路点Ｅを経て第２の増幅器１８（第２図
参照）に与えられ、そこで増幅された後に回路点
Ｂを経て、振幅選別を行なう回路部分に伝達され
る。
双安定マルチバイブレータとして構成された第
４のメモリ２１の非反転出力端４５は第１のアン
ドゲート４６の第１の入力端に、またその反転出
力端４７は第２のアンドゲート４８の第１の入力
端に接続されている（第３図）。第２のアンドゲ
ート４８の第２の入力端は第５のメモリ２２の非
反転出力端４９に接続されている。
４のメモリ２１の非反転出力端４５は第１のアン
ドゲート４６の第１の入力端に、またその反転出
力端４７は第２のアンドゲート４８の第１の入力
端に接続されている（第３図）。第２のアンドゲ
ート４８の第２の入力端は第５のメモリ２２の非
反転出力端４９に接続されている。
第５のメモリ２２の反転出力端５０は第３のア
ンドゲート５１の第１の入力端に接続されてい
る。
ンドゲート５１の第１の入力端に接続されてい
る。
第２のアンドゲート４８の出力端は第４のアン
ドゲート５２の第１の入力端に接続されている。
第１のアンドゲート４６の第２の入力端、第３の
アンゲート５１の第２の入力端および第４のアン
ドゲート５２の第２の入力端は限時回路２７の出
力端に接続されている。
ドゲート５２の第１の入力端に接続されている。
第１のアンドゲート４６の第２の入力端、第３の
アンゲート５１の第２の入力端および第４のアン
ドゲート５２の第２の入力端は限時回路２７の出
力端に接続されている。
第１のアンドゲート４６の出力端はβ事象を計
数する第２のカウンタ２５に、第３のアンドゲー
ト５１の出力端はα事象を計数する第１のカウン
タ２４に、また第４のアンドゲート５２の出力端
はαカウンタ２４にもβカウンタ２５にも一義的
に対応づけられないαおよびβ事象を計数する第
３のカウンタ２６に接続されている。第１ないし
第４のアンドゲート４６，４８，５１，５２は評
価論理回路２３を形成している。
数する第２のカウンタ２５に、第３のアンドゲー
ト５１の出力端はα事象を計数する第１のカウン
タ２４に、また第４のアンドゲート５２の出力端
はαカウンタ２４にもβカウンタ２５にも一義的
に対応づけられないαおよびβ事象を計数する第
３のカウンタ２６に接続されている。第１ないし
第４のアンドゲート４６，４８，５１，５２は評
価論理回路２３を形成している。
第１のコンパレータ７の反転出力端の後に第１
の単安定マルチバイブレータ５３が、またその後
に第２の単安定マルチバイブレータ５４が接続さ
れており、これらの単安定マルチバイブレータは
限時回路２７を形成している。限時回路２７の出
力端は第１の双安定マルチバイブレータ５５の入
力端に接続されており、その反転出力端は第１の
ナンドゲート５７の第１の入力端に接続されてい
る。第１のナンドゲート５７の第２の入力端は第
１のコンパレータ７の反転出力端に接続されてい
る。第１のナンドゲート５７の出力端は第１のコ
ンパレータ７の反転出力端に接続されている。第
１のナンドゲート５７の出力端は第１ないし第５
双安定マルチバイブレータ５５，３１，３２，２
１，２２のリセツト入力端に接続されている。第
１の双安定マルチバイブレータ５５および第１の
ナンドゲート５７はリセツト論理回路２８を形成
している。
の単安定マルチバイブレータ５３が、またその後
に第２の単安定マルチバイブレータ５４が接続さ
れており、これらの単安定マルチバイブレータは
限時回路２７を形成している。限時回路２７の出
力端は第１の双安定マルチバイブレータ５５の入
力端に接続されており、その反転出力端は第１の
ナンドゲート５７の第１の入力端に接続されてい
る。第１のナンドゲート５７の第２の入力端は第
１のコンパレータ７の反転出力端に接続されてい
る。第１のナンドゲート５７の出力端は第１のコ
ンパレータ７の反転出力端に接続されている。第
１のナンドゲート５７の出力端は第１ないし第５
双安定マルチバイブレータ５５，３１，３２，２
１，２２のリセツト入力端に接続されている。第
１の双安定マルチバイブレータ５５および第１の
ナンドゲート５７はリセツト論理回路２８を形成
している。
次に、信号振幅別に回路の作動の仕方を説明す
る。
る。
S1＜Ａ＜S2
検出器信号２の振幅Ａが第１のしきい値S1を越
えているが、第２のしきい値S2には達していない
場合、第１のコンパレータ７の非反転出力端、従
つてまた第２のナンドゲート３３の第１の入力端
が“０”から“１”へセツトされる。第２のコン
パレータ８の反転出力端と接続されている第２の
ナンドゲート３３の第２の入力端は“１”にとど
まるので、第２のナンドゲート３３の出力端、従
つてまた第２の双安定マルチバイブレータ３１の
入力端およびその非反転出力端は“１”から
“０”に切換わる。
えているが、第２のしきい値S2には達していない
場合、第１のコンパレータ７の非反転出力端、従
つてまた第２のナンドゲート３３の第１の入力端
が“０”から“１”へセツトされる。第２のコン
パレータ８の反転出力端と接続されている第２の
ナンドゲート３３の第２の入力端は“１”にとど
まるので、第２のナンドゲート３３の出力端、従
つてまた第２の双安定マルチバイブレータ３１の
入力端およびその非反転出力端は“１”から
“０”に切換わる。
こうして第３のナンドゲート３４の第１の入力
端が“０”に移行し、その第２の入力端は“０”
にとどまるので、その出力端は“１”にとどま
る。従つて第３のメモリ３２の反転出力端が
“０”にとどまるので、始動回路１０は時間およ
び振幅選別による測定過程を開始しない。
端が“０”に移行し、その第２の入力端は“０”
にとどまるので、その出力端は“１”にとどま
る。従つて第３のメモリ３２の反転出力端が
“０”にとどまるので、始動回路１０は時間およ
び振幅選別による測定過程を開始しない。
第１のコンパレータ７の反転出力端は同時に
“１”から“０”へ切換わる。その立下がり縁に
より第１の単安定マルチバイブレータ５３がトリ
ガされて、その出力端に所定の継続時間の“１”
信号を生ずる。この信号が“０”に復帰する際の
立下がり縁により第２の単安定マルチバイブレー
タ５４がトリガされて、その出力端すなわち限時
回路２７の出力端に所定の継続時間の“１”信号
を生ずる。この出力端は評価論理回路２３の第１
のアンドゲート４６の第１の入力端に接続されて
いる。第１のアンドゲート４６の第２の入力端に
は“１”信号が与えられているので、第１の入力
端に限時回路２７から“１”信号が与えられる
と、第１のアンドゲート４６の後に接続されてい
るβ信号用の第２のカウンタ２５がカウントパル
スを受ける。
“１”から“０”へ切換わる。その立下がり縁に
より第１の単安定マルチバイブレータ５３がトリ
ガされて、その出力端に所定の継続時間の“１”
信号を生ずる。この信号が“０”に復帰する際の
立下がり縁により第２の単安定マルチバイブレー
タ５４がトリガされて、その出力端すなわち限時
回路２７の出力端に所定の継続時間の“１”信号
を生ずる。この出力端は評価論理回路２３の第１
のアンドゲート４６の第１の入力端に接続されて
いる。第１のアンドゲート４６の第２の入力端に
は“１”信号が与えられているので、第１の入力
端に限時回路２７から“１”信号が与えられる
と、第１のアンドゲート４６の後に接続されてい
るβ信号用の第２のカウンタ２５がカウントパル
スを受ける。
Ａ＞S2
検出器信号２の振幅Ａが第１のしきい値S1およ
び第２のしきい値S2を越えている場合、第２のコ
ンパレータ８の非反転出力端従つてまた第３のナ
ンドゲート３４の第２の入力端が“０”から
“１”へ切換わる。その第１の入力端は“１”で
あるから、その出力端は“１”から“０”へ移行
する。その立下がり縁により第３のメモリ３２が
セツトされ、始動回路１０の出力端３０は“０”
から“１”へ切換わる。
び第２のしきい値S2を越えている場合、第２のコ
ンパレータ８の非反転出力端従つてまた第３のナ
ンドゲート３４の第２の入力端が“０”から
“１”へ切換わる。その第１の入力端は“１”で
あるから、その出力端は“１”から“０”へ移行
する。その立下がり縁により第３のメモリ３２が
セツトされ、始動回路１０の出力端３０は“０”
から“１”へ切換わる。
レベル整合回路１１がこの始動回路１０のトリ
ガパルスを0Vから−5Vへの電圧変化に変換す
る。この立下がり縁により第６の双安定マルチバ
イブレータ３７がセツトされ、その反転出力端３
８は−5Vから0Vへ切換わり、スイツチ６を導通
させるためのゲート時間パルス１３（第１図参
照）の前縁１４を生ずる。非反転出力端４１の信
号が、遅延回路４２により設定可能な約30nsの時
間t3の後に双安定マルチバイブレータ３７をリセ
ツトする。その際に、スイツチ６を不導通状態に
復帰させるゲート時間パルス１３の後縁１５が生
ずる。こうして時間選別された検出器信号に対し
て振幅選別が行なわれる。
ガパルスを0Vから−5Vへの電圧変化に変換す
る。この立下がり縁により第６の双安定マルチバ
イブレータ３７がセツトされ、その反転出力端３
８は−5Vから0Vへ切換わり、スイツチ６を導通
させるためのゲート時間パルス１３（第１図参
照）の前縁１４を生ずる。非反転出力端４１の信
号が、遅延回路４２により設定可能な約30nsの時
間t3の後に双安定マルチバイブレータ３７をリセ
ツトする。その際に、スイツチ６を不導通状態に
復帰させるゲート時間パルス１３の後縁１５が生
ずる。こうして時間選別された検出器信号に対し
て振幅選別が行なわれる。
振幅選別は次の３つの場合にわけられる。
S2＜Ａ＜S3 一義的β信号
検出器パルス２の振幅Ａがしきい値S1およびS2
よりも大きいので、時間選別された信号がコンパ
レータ１９および２０に与えられる（Ａ＜S2の場
合の説明を参照）。しかし、振幅Ａがしきい値S3
（S3＜S4）に達していないので、第４のメモリ２
１の両出力端４５，４７および第５のメモリ２２
の両出力端４９，５０は不変にとどまる。評価論
理回路２３のアンドゲート４６，５１および５２
のうち第１入力端に“１”信号を与えられている
のは第４のメモリ２１の非反転出力端に接続され
ている第１のアンドゲート４６のみであるから、
限時回路２７の“１”信号により第１のアンドゲ
ート４６の出力端のみが“１”にセツトされ、第
２のカウンタ２５がβ信号を計算する。
よりも大きいので、時間選別された信号がコンパ
レータ１９および２０に与えられる（Ａ＜S2の場
合の説明を参照）。しかし、振幅Ａがしきい値S3
（S3＜S4）に達していないので、第４のメモリ２
１の両出力端４５，４７および第５のメモリ２２
の両出力端４９，５０は不変にとどまる。評価論
理回路２３のアンドゲート４６，５１および５２
のうち第１入力端に“１”信号を与えられている
のは第４のメモリ２１の非反転出力端に接続され
ている第１のアンドゲート４６のみであるから、
限時回路２７の“１”信号により第１のアンドゲ
ート４６の出力端のみが“１”にセツトされ、第
２のカウンタ２５がβ信号を計算する。
S3＜Ａ＜S4 αまたはβ信号
前記のように、時間選別された信号がコンパレ
ータ１９および２０に与えられる。第３のコンパ
レータ１９の反転出力端および第４のメモリ２１
の非反転出力端４５が“１”から“０”へ移行
し、メモリ２１の反転出力端４７は“０”から
“１”へ移行する。第５のメモリ２２の非反転出
力端４９は“１”に、またその反転出力端５０は
“０”にとどまる。第２のアンドケード４８は第
１および第２入力端が共に“１”となるので、そ
の出力端も“１”となる。それにより、アンドゲ
ート４６，５１および５２のうち第１入力端に
“１”信号を与えられているのは第４のアンドゲ
ート５２のみとなるから、限時回路２７の“１”
信号により第４のアンドゲート５２の出力端のみ
が“１”にセツトされ、第３のカウンタ２６がカ
ウントパルスを受ける。カウンタ２６が計数する
パルスが少数であるほど、測定装置は良好であ
る。
ータ１９および２０に与えられる。第３のコンパ
レータ１９の反転出力端および第４のメモリ２１
の非反転出力端４５が“１”から“０”へ移行
し、メモリ２１の反転出力端４７は“０”から
“１”へ移行する。第５のメモリ２２の非反転出
力端４９は“１”に、またその反転出力端５０は
“０”にとどまる。第２のアンドケード４８は第
１および第２入力端が共に“１”となるので、そ
の出力端も“１”となる。それにより、アンドゲ
ート４６，５１および５２のうち第１入力端に
“１”信号を与えられているのは第４のアンドゲ
ート５２のみとなるから、限時回路２７の“１”
信号により第４のアンドゲート５２の出力端のみ
が“１”にセツトされ、第３のカウンタ２６がカ
ウントパルスを受ける。カウンタ２６が計数する
パルスが少数であるほど、測定装置は良好であ
る。
Ａ＞S4 一義的α信号
第３のコンパレータ１９の反転出力端および第
４のメモリ２１の非反転出力端４５が“１”から
“０”へ移行し、メモリ２１の反転出力端４７が
“０”から“１”へ移行するのに加えて、第４の
コンパレータ２０の反転出力端および第５のメモ
リ２２の非反転出力端４９が“１”から“０”へ
移行し、メモリ２２の反転出力端５０が“０”か
ら“１”へ移行する。それにより、アンドケード
４６，５１および５２のうち第１入力端に“１”
信号を与えられているのは第３のアンドケード５
１のみとなるから、限時回路２７の“１”信号に
より第３のアンドケード５１の出力端のみが
“１”にセツトされ、第１のカウンタ２４がαパ
ルスを計数する。この場合、アンドケード４６お
よび５２は第１入力端が“０”であるから、第２
入力端に限時回路２７の“１”信号が与えられて
も出力端は“０”にとどまり、従つてそれらの後
に接続されているカウンタ２５および２６はカウ
ントパルスを受けない。
４のメモリ２１の非反転出力端４５が“１”から
“０”へ移行し、メモリ２１の反転出力端４７が
“０”から“１”へ移行するのに加えて、第４の
コンパレータ２０の反転出力端および第５のメモ
リ２２の非反転出力端４９が“１”から“０”へ
移行し、メモリ２２の反転出力端５０が“０”か
ら“１”へ移行する。それにより、アンドケード
４６，５１および５２のうち第１入力端に“１”
信号を与えられているのは第３のアンドケード５
１のみとなるから、限時回路２７の“１”信号に
より第３のアンドケード５１の出力端のみが
“１”にセツトされ、第１のカウンタ２４がαパ
ルスを計数する。この場合、アンドケード４６お
よび５２は第１入力端が“０”であるから、第２
入力端に限時回路２７の“１”信号が与えられて
も出力端は“０”にとどまり、従つてそれらの後
に接続されているカウンタ２５および２６はカウ
ントパルスを受けない。
こうして、第２の単安定マルチバイブレータ５
４の出力端の“１”信号は第４および第５のメモ
リ２１，２２に対する読出し信号として用いられ
る。第１の単安定マルチバイブレータ５３の出力
端が“１”となつている時間中は時間選別が行な
われる。第２の単安定マルチバイブレータ５４の
出力端における“１”信号の立下がり縁は第４お
よび第５のメモリ２１，２２の読出し過程を終了
させ、かつ同時に第１の双安定マルチバイブレー
タ５５の反転出力端５６および第１のナンドゲー
ト５７の第１の入力端を“１”にセツトする。そ
の第２の入力端すなわち第１のコンパレータ７の
反転出力端と接続されている入力端は同じく
“１”であるから、第１のナンドゲート５７の出
力端は“０”に移行する。それにより第１ないし
第５のメモリ５５，３１，３２，２１，２２は所
定の初期状態にリセツトされ、新たな測定に備え
る状態となる。
４の出力端の“１”信号は第４および第５のメモ
リ２１，２２に対する読出し信号として用いられ
る。第１の単安定マルチバイブレータ５３の出力
端が“１”となつている時間中は時間選別が行な
われる。第２の単安定マルチバイブレータ５４の
出力端における“１”信号の立下がり縁は第４お
よび第５のメモリ２１，２２の読出し過程を終了
させ、かつ同時に第１の双安定マルチバイブレー
タ５５の反転出力端５６および第１のナンドゲー
ト５７の第１の入力端を“１”にセツトする。そ
の第２の入力端すなわち第１のコンパレータ７の
反転出力端と接続されている入力端は同じく
“１”であるから、第１のナンドゲート５７の出
力端は“０”に移行する。それにより第１ないし
第５のメモリ５５，３１，３２，２１，２２は所
定の初期状態にリセツトされ、新たな測定に備え
る状態となる。
第１のメモリ５５の出力端５６の信号と第１の
コンパレータ７の反転出力端の信号とのナンド条
件の成立により上記各メモリをリセツトすること
によつて、第１のコンパレータ７のしきい値S1が
超過されなかつた時すなわち検出器信号２が導線
上に存在しない時に限つて上記各メモリがリセツ
トされることを保証される。
コンパレータ７の反転出力端の信号とのナンド条
件の成立により上記各メモリをリセツトすること
によつて、第１のコンパレータ７のしきい値S1が
超過されなかつた時すなわち検出器信号２が導線
上に存在しない時に限つて上記各メモリがリセツ
トされることを保証される。
αまたはβパルスの継続時間は約150nsであり、
また１回の測定に必要な時間は約1.2μsである。
パルスの統計的分布により１回の測定の間に１つ
またはそれ以上の後続パルスが出現し得る。従つ
て、１回の測定過程が第３のメモリ３２のセツト
により開始されると直ちに、回路がリセツトされ
て新たな測定の準備を整えるまで後続のαまたは
βパルスは回路により抑制される。
また１回の測定に必要な時間は約1.2μsである。
パルスの統計的分布により１回の測定の間に１つ
またはそれ以上の後続パルスが出現し得る。従つ
て、１回の測定過程が第３のメモリ３２のセツト
により開始されると直ちに、回路がリセツトされ
て新たな測定の準備を整えるまで後続のαまたは
βパルスは回路により抑制される。
正確な測定のための前提条件は、リセツトが時
間的に２つの測定信号の間に行なわれ、測定装置
が検出器信号２の入来の際に測定に備えた状態に
あることである。
間的に２つの測定信号の間に行なわれ、測定装置
が検出器信号２の入来の際に測定に備えた状態に
あることである。
回路装置が所定の論理条件に従つて作動するこ
とにより、時間選別が常に検出器信号２の前縁の
立上がりとともに開始することが保証されてい
る。
とにより、時間選別が常に検出器信号２の前縁の
立上がりとともに開始することが保証されてい
る。
第１図は最初の20ns間のαおよびβパルスの前
縁および時間選別を制御するゲート時間パルスを
示す波形図、第２図は選別回路のブロツク回路
図、第３図はコンパレータ、メモリ、始動回路、
評価論理回路およびリセツト論理回路の回路図、
第４図はゲート時間パルス発生器、電子スイツチ
およびパルス整形回路の回路図である。 １……検出器、２……検出器パルス、３……増
幅器、４……遅延線、５……検出器パルスの前
縁、６……電子スイツチ、７，８……コンパレー
タ、９……デイジタル遅延回路、１０……始動回
路、１１……レベル整合回路、１２……ゲート時
間パルス発生器、１３……ゲート時間パルス、１
４……ゲート時間パルスの前縁、１５……ゲート
時間パルスの後縁、１６……パルス整形回路、１
７……ΔU〓，ΔU〓の最高値、１８……増幅器、１
９，２０……コンパレータ、２１，２２……メモ
リ（双安定マルチバイブレータ）、２３……評価
論理回路、２４〜２６……カウンタ、２７……限
時回路、２８……リセツト論理回路、３０……始
動回路の出力端、３１，３２……双安定マルチバ
イブレータ、３３，３４……ナンドゲート、３５
……非反転出力端、３６……pnpトランジスタ、
３７……双安定マルチバイブレータ、３８……反
転出力端、３９……ドライバ回路、４０……電界
効果トランジスタ、４１……非反転出力端、４２
……遅延回路、４３……コンデンサ、４４……積
分回路、４５……非反転出力端、４６……アンド
ゲート、４７……反転出力端、４８……アンドゲ
ート、４９……非反転出力端、５０……反転出力
端、５１，５２……アンドゲート、５３，５４…
…単安定マルチバイブレータ、５５……双安定マ
ルチバイブレータ、５６……反転出力端、５７…
…ナンドゲート、A〓，A〓……パルス振幅、S1〜
S4……しきい値、t1……時間選別用の時間、t2…
…検出器パルスの遅延時間、t3……ゲート時間パ
ルス幅（電子スイツチ導通時間）。
縁および時間選別を制御するゲート時間パルスを
示す波形図、第２図は選別回路のブロツク回路
図、第３図はコンパレータ、メモリ、始動回路、
評価論理回路およびリセツト論理回路の回路図、
第４図はゲート時間パルス発生器、電子スイツチ
およびパルス整形回路の回路図である。 １……検出器、２……検出器パルス、３……増
幅器、４……遅延線、５……検出器パルスの前
縁、６……電子スイツチ、７，８……コンパレー
タ、９……デイジタル遅延回路、１０……始動回
路、１１……レベル整合回路、１２……ゲート時
間パルス発生器、１３……ゲート時間パルス、１
４……ゲート時間パルスの前縁、１５……ゲート
時間パルスの後縁、１６……パルス整形回路、１
７……ΔU〓，ΔU〓の最高値、１８……増幅器、１
９，２０……コンパレータ、２１，２２……メモ
リ（双安定マルチバイブレータ）、２３……評価
論理回路、２４〜２６……カウンタ、２７……限
時回路、２８……リセツト論理回路、３０……始
動回路の出力端、３１，３２……双安定マルチバ
イブレータ、３３，３４……ナンドゲート、３５
……非反転出力端、３６……pnpトランジスタ、
３７……双安定マルチバイブレータ、３８……反
転出力端、３９……ドライバ回路、４０……電界
効果トランジスタ、４１……非反転出力端、４２
……遅延回路、４３……コンデンサ、４４……積
分回路、４５……非反転出力端、４６……アンド
ゲート、４７……反転出力端、４８……アンドゲ
ート、４９……非反転出力端、５０……反転出力
端、５１，５２……アンドゲート、５３，５４…
…単安定マルチバイブレータ、５５……双安定マ
ルチバイブレータ、５６……反転出力端、５７…
…ナンドゲート、A〓，A〓……パルス振幅、S1〜
S4……しきい値、t1……時間選別用の時間、t2…
…検出器パルスの遅延時間、t3……ゲート時間パ
ルス幅（電子スイツチ導通時間）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検出器１内でα粒子および（または）β粒子
により生ずる検出器パルス２がいずれもナノ秒範
囲の特定の立上がり時間中は粒子固有のほぼ一定
の傾斜で立上がる前縁５を有する場合に、α粒子
により生じ第１の傾斜を有するαパルスとβ粒子
により生じ第１の傾斜にくらべて実質的に小さい
第２の傾斜を有するβパルスとを選別する方法に
おいて、 (a) 所定の第２のしきい値S2を越える各検出器パ
ルス２の振幅A〓，A〓が前縁５のほぼ一定の傾
斜の立上がりの範囲内に設定された一定時間t1
の間に測定され（時間選別）、 (b) 時間選別により測定された検出器パルス２の
信号振幅A〓，A〓が複数のしきい値S1，S2，S3，
S4に対する大小関係を評価され（振幅選別）、
その際に () 最大のしきい値である第４のしきい値S4
を越えているパルス振幅Ａは一義的α信号と
して評価され、 () 小さいほうから２番目の第２のしきい値
S2と３番目の第３のしきい値S3（S2＜S3＜S4）
との間のパルス振幅Ａは一義的β信号として
評価され、 () 第３のしきい値S3と第４のしきい値S4と
の間のパルス振幅Ａは一義的α信号とも一義
的β信号ともみなし得ない測定誤差分を表わ
すαまたはβ信号として評価され (c) 最小のしきい値である第１のしきい値S1（S1
＜S2）を越えているが第２のしきい値S2には達
していない各検出器パルス２の振幅Ａは時間選
別によらずに一義的β信号として評価される
（振幅選別） ことを特徴とするα粒子によるパルスとβ粒子に
よるパルスとの選別方法。 ２ (a) 第２のしきい値S2よりも大きい振幅Ａを
有する各検出器パルス２が信号処理のために必
要な構成要素の時間遅れに応じて設定された時
間t2だけ遅延され (b) 遅延時間t2の終了後に開始する検出器パルス
２の前縁５の立上がりが時間選別用に設定され
た時間t1の終了後に停止され、 (c) 時間選別用の時間t1が、検出器パルス２の立
上がりの直前に位置する立上がり縁１４を有し
ナノ秒範囲の所定の時間t3だけ継続するゲート
時間パルス１３の立下がり縁１５により定めら
れ、 (d) 時間選別された検出器パルス２の信号電圧が
蓄積キヤパシタンスの電荷に変換され、 (e) 蓄積キヤパシタンスの充放電電圧経過が積分
されて、時間選別された検出器パルス２の信号
電圧のピーク状最高値が時間的に延長された最
高値に変換される ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の方
法。 ３ 検出器１内でα粒子および（または）β粒子
により生ずる検出器パルス２がいずれもナノ秒範
囲の特定の立上がり時間中は粒子固有のほぼ一定
の傾斜で立上がる前縁５を有する場合に、α粒子
により生じ第１の傾斜を有するαパルスとβ粒子
により生じ第１の傾斜にくらべて実質的に小さい
第２の傾斜を有するβパルスとを選別する装置に
おいて、 (a) 検出器１の出力端が、検出器パルス２を所定
の時間t2だけ遅延させる遅延線４を介して、検
出器パルス２の前縁５の立上がりを所定の時間
選別のために設定された時間t1の後に中断させ
る電子スイツチ６に接続されており、 (b) 検出器１の出力端が所定の第１のしきい値S1
を有する第１のコンパレータ７と所定の第２の
しきい値S2（S2＞S1）を有する第２のコンパレ
ータ８とに接続されており、 (c) 第１のコンパレータ７の非反転出力端はデイ
ジタル遅延回路９を介して、また第２のコンパ
レータ８の反転出力端は直接に、検出器パルス
２の振幅Ａが第２のしきい値S2を越えていると
きに限つて時間選別をトリガするための始動回
路１０に接続されており、 (d) 始動回路１０の出力端は“０”から“１”へ
の入力信号の変化を０から−5Vへの電圧変化
に変換するレベル整合回路１１に接続されてお
り、 (e) レベル整合回路１１の後に、所定の一定のナ
ノ秒範囲のパルス幅t3を有するゲート時間パル
ス１３を発するゲート時間パルス発生器１２が
接続されており、 (f) ゲート時間パルス発生器１２の出力端は、ゲ
ート時間パルス１３のパルス幅t3の間だけ電子
スイツチ６を導通されるため電子スイツチ６の
制御入力端に接続されており、 (g) 電子スイツチ６の後に、時間選別された検出
器パルス２の振幅A〓，A〓に相当する信号電圧
を電荷に変換した上で信号電圧のピーク状最高
値１７を時間的に延長するパルス整形回路１６
が接続されており、 (h) パルス整形回路１６の出力端が第２の増幅器
１８を介して所定の第３のしきい値S3（S3＞S2）
を有する第３のコンパレータ１９と所定の第４
のしきい値S4（S4＞S3）を有する第４のコンパ
レータ２０との入力端に接続されており、 (i) 第３のコンパレータ１９の反転出力端は第４
のメモリ２１に、また第４のコンパレータ２０
の反転出力端は第５のメモリ２２に接続されて
おり、 (j) 第４のメモリ２１および第５のメモリ２２の
出力端は、時間選別および振幅選別された検出
器パルスをα信号、β信号およびαまたはβ信
号に分類する評価論理回路２３に接続されてお
り、 (k) 第１のコンパレータ７の反転出力端の後に限
時回路２７が接続されており、この限時回路の
出力端は、所定の時点で第４のメモリ２１およ
び第５のメモリ２２の内容を評価論理回路２３
の後に接続されている複数個のカウンタ２４，
２５，２６の１つに伝達させるための読出しパ
ルスを与えるべく評価論理回路２３と接続され
ており、 (l) リセツト論理回路２８がその第１の入力端で
第１のコンパレータ７の反転出力端と、第２の
入力端で限時回路２７の出力端と接続されてお
り、このリセツト論理回路の出力端がリセツト
論理回路自体内の第１のメモリ５５と始動回路
１０内の第２および第３のメモリ３１，３２と
第４および第５のメモリ２１，２２とのリセツ
ト入力端に接続されている ことを特徴とするα粒子によるパルスとβ粒子に
よるパルスとの選別装置。 ４ (a) 第１の入力端でデイジタル遅延回路９の
出力端に、また第２の入力端で第２のコンパレ
ータ８の反転出力端に接続されている第２のナ
ンドゲート３３の後に第２の双安定マルチバイ
ブレータ３１が接続されており、 (b) 第２の双安定マルチバイブレータ３１の非反
転出力端３５は第３のナンドゲート３４の第１
の入力端に接続されており、その第２の入力端
は第２のコンパレータ８の非反転出力端と接続
されており、 (c) 第３のナンドゲート３４の出力端の後に第３
の双安定マルチバイブレータ３２が接続されて
おり、その反転出力端はレベル整合回路１１に
接続されており、 (d) 第２の双安定マルチバイブレータ３１、第３
の双安定マルチバイブレータ３２、第２のナン
ドゲート３３および第３のナンドゲート３４が
始動回路１０を形成しており、この始動回路か
ら、信号振幅A〓，A〓が第２のしきい値S2を越
えているときに限つて、その出力端３０にレベ
ル整合回路１１をトリガする信号が発せられる ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の装
置。 ５ レベル整合回路１１が主としてpnpトランジ
スタ３６から成り、そのベースは始動回路１０の
出力端３０に、エミツタは数Ｖの正電圧に、また
コレクタは正電圧と同じ大きさの負電圧に接続さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第３項
記載の装置。 ６ (a) 第６の双安定マルチバイブレータ３７が
レベル整合回路１１の出力端ｃの後に接続され
ており、 (b) レベル整合回路１１から発せられたトリガ信
号によりゲート時間パルス１３の前縁１４を生
ずる第６の双安定マルチバイブレータ３７の反
転出力端３８がドライバ回路３９を介して、電
界効果トランジスタ４０として構成されており
ゲート時間パルス１３の前縁１４により導通状
態に切換えられるべき電子スイツチ６の制御入
力端に接続されており、 (c) 第６の双安定マルチバイブレータ３７の非反
転出力端４１が、電界効果トランジスタ４０の
導通時間t3を定める遅延回路４２を介してリセ
ツト入力端に帰還されており、 (d) 第６の双安定マルチバイブレータ３７、ドラ
イバ回路３９および遅延回路４２がゲート時間
パルス発生器１２を形成している ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の装
置。 ７ (a) 双安定マルチバイブレータとして構成さ
れた第４のメモリ２１の非反転出力端４５が第
１のアンドゲート４６の第１の入力端に接続さ
れており、 (b) 第４のメモリ２１の反転出力端４７が第２の
アンドゲート４８の第１の入力端に接続されて
おり、 (c) 双安定マルチバイブレータとして構成された
第５のメモリ２２の非反転出力端４９が第２の
アンドゲート４８の第２の入力端に接続されて
おり、 (d) 第５のメモリ２２の反転出力端５０が第３の
アンドゲート５１の第１の入力端に接続されて
おり、 (e) 第２のアンドゲート４８の出力端が第４のア
ンドゲート５２の第１の入力端に接続されてお
り、 (f) 第１のアンドゲート４６の第２の入力端、第
３のアンドゲート５１の第２の入力端および第
４のアンドゲート５２の第２の入力端は限時回
路２７の出力端に接続されており、 (g) 第１のアンドゲート４６の出力端はβ事象を
計数する第２のカウンタ２５に、第３のアンド
ゲート５１の出力端はα事象を計数する第１の
カウンタ２４に、また第４のアンドゲート５２
の出力端はαカウンタ２４にもβカウンタ２５
にも一義的に対応づけられないαおよびβ事象
を計数する第３のカウンタ２６に接続されてお
り、 (h) 第１ないし第４のアンドゲート４６，４８，
５１，５２が評価論理回路２３を形成している ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の装
置。 ８ (a) 第１のコンパレータ７の反転出力端の後
に第１の単安定マルチバイブレータ５３が、ま
たその後に第２の単安定マルチバイブレータ５
４が接続されており、 (b) 第１および第２の単安定マルチバイブレータ
５３，５４が限時回路２７を形成している ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の装
置。 ９ (a) 限時回路２７の出力端が第１の双安定マ
ルチバイブレータ５５の入力端に接続されてお
り、その反転出力端が第１のナンドゲート５７
の第１の入力端に接続されており、 (b) 第１のナンドゲート５７の第２の入力端は第
１のコンパレータ７の反転出力端に接続されて
おり、 (c) 第１のナンドゲート５７の出力端が第１ない
し第５の双安定マルチバイブレータ５５，３
１，３２，２１，２２のリセツト入力端に接続
されており、 (d) 第１の双安定マルチバイブレータ５５および
第１のナンドゲート５７がリセツト論理回路２
８を形成している ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の装
置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP81103119A EP0063624B1 (de) | 1981-04-25 | 1981-04-25 | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Diskriminieren von durch alpha- und/oder beta-Strahler erzeugten Impulsen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57179774A JPS57179774A (en) | 1982-11-05 |
| JPH0315714B2 true JPH0315714B2 (ja) | 1991-03-01 |
Family
ID=8187678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57037872A Granted JPS57179774A (en) | 1981-04-25 | 1982-03-10 | Method and device for selecting pulse by alpha particle and pulse by beta particle |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| EP (1) | EP0063624B1 (ja) |
| JP (1) | JPS57179774A (ja) |
| DE (1) | DE3173230D1 (ja) |
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| US10031060B2 (en) | 2016-07-13 | 2018-07-24 | Mauro & Associates, Llc | Continuous, real time monitor for airborne depleted uranium particles in the respiratory range and corresponding method of use |
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- 1981-07-14 US US06/283,189 patent/US4454587A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-03-10 JP JP57037872A patent/JPS57179774A/ja active Granted
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