JPH0315916A - BiCMOS基準回路 - Google Patents
BiCMOS基準回路Info
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- JPH0315916A JPH0315916A JP2033618A JP3361890A JPH0315916A JP H0315916 A JPH0315916 A JP H0315916A JP 2033618 A JP2033618 A JP 2033618A JP 3361890 A JP3361890 A JP 3361890A JP H0315916 A JPH0315916 A JP H0315916A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/411—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/30—Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明はB i CMOS集積回路の分野に関するもの
である。
である。
[従来の技術および問題点]
現在まで、エミッタ結合論理回路(ECL)の信@電圧
振幅と信号マージンは、単一オン・チップ電圧基準回路
によって制御ざれていた。この従来の方式の問題点は、
電圧は、基準回路の物理的近傍の電源電圧レベルをのみ
正確に基準としていることである。電S電流に伴って電
圧降下があるために、実際の′R源電圧は半導体チップ
全体にわたってかなり変化しており、したがって、基準
電圧トシテハ使えない.VLS I 8 i CMO
S回路の設計においてECL論理回路が使われる時、こ
のことが特に問題点であることがわかっている。
振幅と信号マージンは、単一オン・チップ電圧基準回路
によって制御ざれていた。この従来の方式の問題点は、
電圧は、基準回路の物理的近傍の電源電圧レベルをのみ
正確に基準としていることである。電S電流に伴って電
圧降下があるために、実際の′R源電圧は半導体チップ
全体にわたってかなり変化しており、したがって、基準
電圧トシテハ使えない.VLS I 8 i CMO
S回路の設計においてECL論理回路が使われる時、こ
のことが特に問題点であることがわかっている。
第1図はa準的ECLゲートの回路図である。
この回路は、(N形バイボーラ・トランジスタO1およ
び02とをそなえた)差動対2とソース・・フォロワ段
階4とを有する。N形バイボーラ・トランジスタ04お
よび05が接続されていて、このゲートの出力を構成す
る。このゲートの電力消費ハV R E F 1信号(
VREFIG,tJ圧である)によって!!1111さ
れる。もしトランジスタo3がその動作中飽和状態にな
らないように保持されているならば、(1・ランジスタ
03のエミッタに接続された抵抗器Rを流れる)電流I
。Sは(VREF1−VBE)/Rl.:等しい。電圧
VREF1はこのゲートの出力電圧振幅を制IlIlす
る。このゲートの高出力レベルと低出力レベルとの間の
差はI。sxRであり、そしてこれは差動対のプル・ア
ップ抵抗器の両端間の電比降下であることがわかる。こ
のゲートの入力トリップ点は、電lIi電圧■CCとト
ランジスタ02のベースの電圧との間の信号電圧VRE
F2によって設定される。もしこのECLゲートの入力
(接続点IN)がこのゲートと同じような別のECLゲ
ートの出力からの信号によって駆動されるならば、最大
の信号マージンと最良の特性をうるために、VREF2
はこの出力電圧振幅の中点に設定ざれるべきである。も
しVREF1とVREF2が一定レベルに保たれるなら
ば、vCCとVEEの電源線路上の電圧降下はこの2つ
の電仕駐準を投立たなくするであろう。
び02とをそなえた)差動対2とソース・・フォロワ段
階4とを有する。N形バイボーラ・トランジスタ04お
よび05が接続されていて、このゲートの出力を構成す
る。このゲートの電力消費ハV R E F 1信号(
VREFIG,tJ圧である)によって!!1111さ
れる。もしトランジスタo3がその動作中飽和状態にな
らないように保持されているならば、(1・ランジスタ
03のエミッタに接続された抵抗器Rを流れる)電流I
。Sは(VREF1−VBE)/Rl.:等しい。電圧
VREF1はこのゲートの出力電圧振幅を制IlIlす
る。このゲートの高出力レベルと低出力レベルとの間の
差はI。sxRであり、そしてこれは差動対のプル・ア
ップ抵抗器の両端間の電比降下であることがわかる。こ
のゲートの入力トリップ点は、電lIi電圧■CCとト
ランジスタ02のベースの電圧との間の信号電圧VRE
F2によって設定される。もしこのECLゲートの入力
(接続点IN)がこのゲートと同じような別のECLゲ
ートの出力からの信号によって駆動されるならば、最大
の信号マージンと最良の特性をうるために、VREF2
はこの出力電圧振幅の中点に設定ざれるべきである。も
しVREF1とVREF2が一定レベルに保たれるなら
ば、vCCとVEEの電源線路上の電圧降下はこの2つ
の電仕駐準を投立たなくするであろう。
第2図はチップ上のvcctu源パッドとVEE電源バ
ンドの物理的な配茸図と、それに関連したグラフを示し
ている。第2図に83いて、各パッドは相互に接近して
いる。電圧VREFIと電圧VREF2を生ずるバンド
・ギャップ基準回路は電源パッドの近くに配置され、そ
してECL回路の各ブロックは電源パッドから遠い位置
に配置される。電源線路が有する抵抗値はモデル化して
抵抗器Rで表される。
ンドの物理的な配茸図と、それに関連したグラフを示し
ている。第2図に83いて、各パッドは相互に接近して
いる。電圧VREFIと電圧VREF2を生ずるバンド
・ギャップ基準回路は電源パッドの近くに配置され、そ
してECL回路の各ブロックは電源パッドから遠い位置
に配置される。電源線路が有する抵抗値はモデル化して
抵抗器Rで表される。
第2図のグラフは、距離に対する選定された電圧の変化
を示したグラフである。X軸はその上に示された対応す
るECL@路の電源パッドからの距離を示し、そしてY
軸はそのECLゲートの中の主信号のf! ri.を表
す。vCC電源線路とVEF電iIr1線路とに沿って
の電圧降下が、グラフの中の黒い領域で示されている。
を示したグラフである。X軸はその上に示された対応す
るECL@路の電源パッドからの距離を示し、そしてY
軸はそのECLゲートの中の主信号のf! ri.を表
す。vCC電源線路とVEF電iIr1線路とに沿って
の電圧降下が、グラフの中の黒い領域で示されている。
電源線路の端部にあるECL回路は最も大きな電圧降1
・を受ける。
・を受ける。
VREFIとVREF2は電源パッドを基準しているか
ら、それらはパッドからどのように遠く離れていても、
それには無関係に一定のレベルにある。1プれども、局
所ECL回路におけるVREF1によって生ずる電流は
一定ではない。
ら、それらはパッドからどのように遠く離れていても、
それには無関係に一定のレベルにある。1プれども、局
所ECL回路におけるVREF1によって生ずる電流は
一定ではない。
これは、電源線路に沿って、ECLゲートの出力電圧の
低下という結果をもたらす。ECLゲートの高レベル出
力もまた、vCC線路内の電圧降下によって、低下する
。これらの効果は信号マージンを大幅に劣化させる。も
しma16J路内の電圧降下が出力?t1モ振幅の半分
以上であるならば、チップは正常動作とは全く程遠いも
のとなるであろう。
低下という結果をもたらす。ECLゲートの高レベル出
力もまた、vCC線路内の電圧降下によって、低下する
。これらの効果は信号マージンを大幅に劣化させる。も
しma16J路内の電圧降下が出力?t1モ振幅の半分
以上であるならば、チップは正常動作とは全く程遠いも
のとなるであろう。
第3図は、標準的JDECパッケージの中に納まるよう
に設計されたSRAMの1つの例の図面である。第3図
にはまた、距離に対する選定ざれた電圧のグラフも示さ
れており、この,グラフは第2図に示されたグラフに対
応するものである。第3図では、チップの両端にM源パ
ッドが配置ざれている。電源線路に沿って電L[降−ト
が起こることの効果は(Jぼ同じであるが、この場合に
は、信号電圧振幅はより大きく、そして出力信号を受け
取る次のECL段階に、順方向バイアスが加わることに
より突然に破局的に動作しなくなることが起こりつる。
に設計されたSRAMの1つの例の図面である。第3図
にはまた、距離に対する選定ざれた電圧のグラフも示さ
れており、この,グラフは第2図に示されたグラフに対
応するものである。第3図では、チップの両端にM源パ
ッドが配置ざれている。電源線路に沿って電L[降−ト
が起こることの効果は(Jぼ同じであるが、この場合に
は、信号電圧振幅はより大きく、そして出力信号を受け
取る次のECL段階に、順方向バイアスが加わることに
より突然に破局的に動作しなくなることが起こりつる。
第4図は、第2図および第3図に示された回路と同様の
構成であるが、多重(2個の)バンド・ギャップ基準回
路の図面である。第4図にもまた、距離に対する選定ざ
れた電圧の対応するグラフが示されている。2個のバン
ド・ギVツブ回路が、パッケージのおのおのの端部に配
置されている。
構成であるが、多重(2個の)バンド・ギャップ基準回
路の図面である。第4図にもまた、距離に対する選定ざ
れた電圧の対応するグラフが示されている。2個のバン
ド・ギVツブ回路が、パッケージのおのおのの端部に配
置されている。
この方式では、大きな設計領域が必要である。これらの
基準回路の配置の囚Jf性は、この方式の有効性を小さ
くする。基準回路から最も遠く離れているECL回路は
なお信号の劣化を受けることになり、そしてそれはそれ
らの位置でどの位大きな電圧降下があるかに依存してい
る。同じような問題点は、電流モード論理(CML)ゲ
ートを有する他の回路においても起こる。第5図は標準
的CMLゲートの回路図であって、このゲートは、トラ
ンジスタ03に接続された2つのトランジスタ01およ
び02で構成される、差動対2を有するVREFIの値
またはVEEの値のいずれかが変わると、このゲートを
流れる電流が変わると共に、信号の振幅も変わることは
すぐにわかるであろう。ざらに、VREF2またはvC
Cが変わると、この回路阻止a能を信頼性のあるものに
するのに要求される、雑音マージンに有害な影響を与え
る。B + CMOS/ECL回路ブロックの電流に及
ぼす基準電圧の効果は、第6図に示されている。第6図
は、基準電圧の変化に対する電流IEEの変化を示した
グラフである。
基準回路の配置の囚Jf性は、この方式の有効性を小さ
くする。基準回路から最も遠く離れているECL回路は
なお信号の劣化を受けることになり、そしてそれはそれ
らの位置でどの位大きな電圧降下があるかに依存してい
る。同じような問題点は、電流モード論理(CML)ゲ
ートを有する他の回路においても起こる。第5図は標準
的CMLゲートの回路図であって、このゲートは、トラ
ンジスタ03に接続された2つのトランジスタ01およ
び02で構成される、差動対2を有するVREFIの値
またはVEEの値のいずれかが変わると、このゲートを
流れる電流が変わると共に、信号の振幅も変わることは
すぐにわかるであろう。ざらに、VREF2またはvC
Cが変わると、この回路阻止a能を信頼性のあるものに
するのに要求される、雑音マージンに有害な影響を与え
る。B + CMOS/ECL回路ブロックの電流に及
ぼす基準電圧の効果は、第6図に示されている。第6図
は、基準電圧の変化に対する電流IEEの変化を示した
グラフである。
[発明の目的と要約]
本発明の1つの目的は、新規でかつ優れた性能を有する
基準回路をうることである。
基準回路をうることである。
本発明のまた別の目的は、8 i CMOS基準回路を
うることである。
うることである。
本発明の前記目的は、局所電源レベルに関して定められ
る阜準電1モを設置することによってえられる。局所電
源レベルは基準′Ni流源の回路を用いて設定ざれる。
る阜準電1モを設置することによってえられる。局所電
源レベルは基準′Ni流源の回路を用いて設定ざれる。
この基準?8流源は、電源の変動に対して特別の考察を
することなしに、チップを横断して経路を定めることが
できる。この′4流源は、局所電源レベルに対して基準
電圧を発生するアナログ駆動器への入力としての役割り
を果たす。その上に本発明が実施される半導体チップは
、PMOS電流鏡映器で実施される電流源フィードバッ
クと共に動作する、グローバル・バンド・ギャップ基準
回路を使用する。アナログ駆動器として、B+CMOS
OP1(!岨器が用いられる。このアナログ駆動器
はバンド・−4!ヤップ基準出力を要求されたレベルに
変換し、それにより、そのチップのECL回路に対し低
インピーダンス源がえられる。(グローバル・バンド・
ギャップ基準回路からの)グローバル・バンド・ギャッ
プ電圧を電流基準に変I!I!ηることにより、そして
局所ECL回路ブロックに電圧基準を再び生ずることに
より、グローバル・バンド・ギャップ回路の電源線路と
局所ECLブロックとの間の電圧降下差の効果は、事実
上なくなる。
することなしに、チップを横断して経路を定めることが
できる。この′4流源は、局所電源レベルに対して基準
電圧を発生するアナログ駆動器への入力としての役割り
を果たす。その上に本発明が実施される半導体チップは
、PMOS電流鏡映器で実施される電流源フィードバッ
クと共に動作する、グローバル・バンド・ギャップ基準
回路を使用する。アナログ駆動器として、B+CMOS
OP1(!岨器が用いられる。このアナログ駆動器
はバンド・−4!ヤップ基準出力を要求されたレベルに
変換し、それにより、そのチップのECL回路に対し低
インピーダンス源がえられる。(グローバル・バンド・
ギャップ基準回路からの)グローバル・バンド・ギャッ
プ電圧を電流基準に変I!I!ηることにより、そして
局所ECL回路ブロックに電圧基準を再び生ずることに
より、グローバル・バンド・ギャップ回路の電源線路と
局所ECLブロックとの間の電圧降下差の効果は、事実
上なくなる。
[発明の効果J
本発明により次の利点がえられる。
(1) 簡明なECL信号電圧がECL回路ブロック
内で最大の速さで変化する。
内で最大の速さで変化する。
(2) 単一終端ECL信号に対するトラックド基準
により最大信号マージンがえられる。
により最大信号マージンがえられる。
(3) オフ・チップ・インタフェースに対する精密
基準レベルにより高特性I/Oがえられる。
基準レベルにより高特性I/Oがえられる。
+41 ?4源線路電圧降下の効果は最小であり、か
つ、回路ブロック内に抑えられている。
つ、回路ブロック内に抑えられている。
{5} ゲートをスイッチングするざいのフィードバ
ック雑音がバンド・ギャップ基準回路へ戻って伝播する
ことを防止することにより改良されたチップ動作マージ
ンがえられる。
ック雑音がバンド・ギャップ基準回路へ戻って伝播する
ことを防止することにより改良されたチップ動作マージ
ンがえられる。
{6} 低インピーダンス電圧基準源により高度の電
流処理性能がえられ、このことはまた、バイボーラ・ト
ランジスタ処理マージンを改良するのに役立つ。
流処理性能がえられ、このことはまた、バイボーラ・ト
ランジスタ処理マージンを改良するのに役立つ。
[実浦例]
本発明の前記目的およびその他の目的と、本発明の特徴
および利点は、添付図面を参照しての下記の詳細な説明
により明らかになるであろう。
および利点は、添付図面を参照しての下記の詳細な説明
により明らかになるであろう。
第7図は、本発明の好ましい実施例と、選定された電圧
対チップ距離のグラフとを示した図面である。各ECL
回路ブロックはそれ自身の基準回路VREGENを有づ
る。ECLが受信するのは電圧ではなくて、基準電流発
生器からの電流基準である。基準ffi流発生器は、チ
ップ上に分布しているECLゲートのような遠隔位置に
信号を送る前に、バンドギャップ堪t1!電流からの?
+2圧を電流に変換する。これらの位置において、この
鎗準電流は電圧に変換され、それで局所ECLグートの
ような局所回路に対する正しい基準電流かえられる。し
たがって、本発明では、各ECLLブロックに接続され
たN源線路内の電圧降下という前記問題点が事実上ない
。この図面に示されているように、V’REF1とVR
EF2は局所電源レベルに正しく基づいている。各EC
Lブロックの中のI/O信号はいまは正しいレベルにあ
るので、最大信号マージンが復活する。信号はブロック
からブロックへオフセットしているだけである。
対チップ距離のグラフとを示した図面である。各ECL
回路ブロックはそれ自身の基準回路VREGENを有づ
る。ECLが受信するのは電圧ではなくて、基準電流発
生器からの電流基準である。基準ffi流発生器は、チ
ップ上に分布しているECLゲートのような遠隔位置に
信号を送る前に、バンドギャップ堪t1!電流からの?
+2圧を電流に変換する。これらの位置において、この
鎗準電流は電圧に変換され、それで局所ECLグートの
ような局所回路に対する正しい基準電流かえられる。し
たがって、本発明では、各ECLLブロックに接続され
たN源線路内の電圧降下という前記問題点が事実上ない
。この図面に示されているように、V’REF1とVR
EF2は局所電源レベルに正しく基づいている。各EC
Lブロックの中のI/O信号はいまは正しいレベルにあ
るので、最大信号マージンが復活する。信号はブロック
からブロックへオフセットしているだけである。
ECL回路ブロック間のグローバル信号通信の問題点を
解決するために、いくつかの回路技術を用いることがで
きる。これらの技術は次のものを有している。すなわち
、差動信弓の使用、送信器からのトリップ点基準を有す
る単一終端信号、レベル・シフタ回路、VCC?!!源
線路電圧降下を最小にすることである。vCC降下を最
小に保つために、設計のさい、vcca路により多くの
領域を使うことができる。幅の大きな■CC電源線路を
用いると、その抵抗値は小さくなる。本発明より以前に
おいては、vcca路とVEEIi路との幅はいずれも
、電圧降下を小さくするために大きくなければならなか
った。個別の回路からの要請に応じて、これらの技術の
うちの1つまたは全部を用いることができる。ECLブ
ロックの闇の通信に対する差動信号により最良の信号マ
ージンかえられるが、より多くの設計領域を必要とし、
そしてまた利用可能な信号で実行できる論理動作があり
服される。単一終端信号を用いることができる。
解決するために、いくつかの回路技術を用いることがで
きる。これらの技術は次のものを有している。すなわち
、差動信弓の使用、送信器からのトリップ点基準を有す
る単一終端信号、レベル・シフタ回路、VCC?!!源
線路電圧降下を最小にすることである。vCC降下を最
小に保つために、設計のさい、vcca路により多くの
領域を使うことができる。幅の大きな■CC電源線路を
用いると、その抵抗値は小さくなる。本発明より以前に
おいては、vcca路とVEEIi路との幅はいずれも
、電圧降下を小さくするために大きくなければならなか
った。個別の回路からの要請に応じて、これらの技術の
うちの1つまたは全部を用いることができる。ECLブ
ロックの闇の通信に対する差動信号により最良の信号マ
ージンかえられるが、より多くの設計領域を必要とし、
そしてまた利用可能な信号で実行できる論理動作があり
服される。単一終端信号を用いることができる。
けれども、1−リップ点基準レベルは、信号マージンを
改良するために、送信器から受信回路へ送られなければ
ならない。送信器および受信器の両方にレベル・シフタ
回路をそなえることにより、効果的な通信を行なうこと
ができるが、ある程度複雑な回路が付加ざれることにな
るであろう。けれども、最も簡単な方法はアース線路を
改良することである。ECL回路内で(VCC電源線路
の幅を大きくすることにより> VCC線路の電圧降下
が小さくなると、同じ憤だけ信号マージンが実効的に改
良される。
改良するために、送信器から受信回路へ送られなければ
ならない。送信器および受信器の両方にレベル・シフタ
回路をそなえることにより、効果的な通信を行なうこと
ができるが、ある程度複雑な回路が付加ざれることにな
るであろう。けれども、最も簡単な方法はアース線路を
改良することである。ECL回路内で(VCC電源線路
の幅を大きくすることにより> VCC線路の電圧降下
が小さくなると、同じ憤だけ信号マージンが実効的に改
良される。
第8図は、第7図の実施例と類似した、本発明の実施例
であるが、回路設計のきいにVCC電源線路により多く
の領域を割り当てることによって、vCC電源線路の電
圧降下が最小にされている。
であるが、回路設計のきいにVCC電源線路により多く
の領域を割り当てることによって、vCC電源線路の電
圧降下が最小にされている。
グラフに示されているように、本発明の回路は、標準的
な基準法よりも、VEE線路上により多くの電圧降下を
許容することができる。もしvCC電源線路電圧が図に
示されている通りであるならば、すべてのブロックから
のすべてのECL1/O(入力/出力)信号は整合する
であろう。
な基準法よりも、VEE線路上により多くの電圧降下を
許容することができる。もしvCC電源線路電圧が図に
示されている通りであるならば、すべてのブロックから
のすべてのECL1/O(入力/出力)信号は整合する
であろう。
本発明により、M源バツドと回路1ロツクに対するバン
ド・ギ1lツブやffi流発生器の物理的位置はそれ程
重要ではなくなる。
ド・ギ1lツブやffi流発生器の物理的位置はそれ程
重要ではなくなる。
本発明の回路の重要な素子は8 i CMOSバンド・
ギャップ回路である。このB i CMOSバンド・ギ
ャップ回路は電源の変動に対しtm感ではない。このバ
ンド・ギャップ回路は1988年2月29日受付のシリ
アル番号07/161.694号に開示されている。こ
の回路を第9図について説明する。第9図は標準バンド
・ギャップ基準回路の図面である。電流源がN形バイボ
ーラ・トランジスタQ2のベースと、N形パイボーラ・
トランジスタQ1のコレクタとに接続される。Q1のベ
ースはN形トランジスタnQ3のコレクタに接続される
。トランジスタnQ3のベースとトランジスタQ3のベ
ースが接続される。図面に示されている抵抗器の抵抗値
の相対値が、図面に記入されている。電圧は矢印の間に
示されている。この回路の出力は基準電圧VREFであ
る。基準出力V R E F l.t V B E ト
k X テル’) V B E ( k lj: トラ
ンジスタnQ3のコレクタに接続された抵抗器の分母で
ある)との和に等しい。トランジスタQ1は負フィード
バック増幅器として用いられ、それにより、VREFを
シリコンのバンド・ギャップ電圧(約1.25ボルト)
にほぼ等しく保って温度安定性を最大にする。この回路
の(電流源からの)負荷電流Iaの変動はVREF出力
に直接に効果をおよぼす。1a電流が変動ずる主要な原
因の1つは、電源の変動である。本発明のバンド・ギャ
ップ電流はN流faをできるだけ安定に保つ.この目的
のために安定な′Ii[源をうる回路技術は数多くある
が、それらの多くは信頼性に欠け、かつ、l1雑であり
、かつ、大きな設計領域が必要である。例えば、最も酋
通の1つの設計法では、I,ffi流を発生するのにま
た別のバンド・ギャップを使用する。
ギャップ回路である。このB i CMOSバンド・ギ
ャップ回路は電源の変動に対しtm感ではない。このバ
ンド・ギャップ回路は1988年2月29日受付のシリ
アル番号07/161.694号に開示されている。こ
の回路を第9図について説明する。第9図は標準バンド
・ギャップ基準回路の図面である。電流源がN形バイボ
ーラ・トランジスタQ2のベースと、N形パイボーラ・
トランジスタQ1のコレクタとに接続される。Q1のベ
ースはN形トランジスタnQ3のコレクタに接続される
。トランジスタnQ3のベースとトランジスタQ3のベ
ースが接続される。図面に示されている抵抗器の抵抗値
の相対値が、図面に記入されている。電圧は矢印の間に
示されている。この回路の出力は基準電圧VREFであ
る。基準出力V R E F l.t V B E ト
k X テル’) V B E ( k lj: トラ
ンジスタnQ3のコレクタに接続された抵抗器の分母で
ある)との和に等しい。トランジスタQ1は負フィード
バック増幅器として用いられ、それにより、VREFを
シリコンのバンド・ギャップ電圧(約1.25ボルト)
にほぼ等しく保って温度安定性を最大にする。この回路
の(電流源からの)負荷電流Iaの変動はVREF出力
に直接に効果をおよぼす。1a電流が変動ずる主要な原
因の1つは、電源の変動である。本発明のバンド・ギャ
ップ電流はN流faをできるだけ安定に保つ.この目的
のために安定な′Ii[源をうる回路技術は数多くある
が、それらの多くは信頼性に欠け、かつ、l1雑であり
、かつ、大きな設計領域が必要である。例えば、最も酋
通の1つの設計法では、I,ffi流を発生するのにま
た別のバンド・ギャップを使用する。
第10図【よ本発明に用いられるB i CMOSバン
ド・ギャップ回路の図面である。標準的バンド・ギIF
ツブ回路とは異なって、この回路はrfImで、かつ、
Iaffi流を発生するための第2のバンド・ギャップ
回路を必要としない。この回路は、負荷電流を生ずるた
めに、それ自身のバンド・ギャップ出力を利用する。こ
のことは、PチャンネルMOSトランジスタP1および
P2を用いることにより、出力電圧VREFによって生
じ、トランジスタQ4から抵抗3Rを通る電流Iを、フ
ィードバック増幅器であるトランジスタQ1の負荷に鏡
映化して流すことによりえられる。安定な電圧出力VR
EFにより安定な負荷電流かえられ、および自己フィー
ドバックによってその逆もえられる。図面に示されてい
るように、この回路をその自己フィードバックによるビ
ロ電流モード(これはゼロ・フィードバックを生ずる)
でないように保つために、スタート・アップ回路が必要
である。
ド・ギャップ回路の図面である。標準的バンド・ギIF
ツブ回路とは異なって、この回路はrfImで、かつ、
Iaffi流を発生するための第2のバンド・ギャップ
回路を必要としない。この回路は、負荷電流を生ずるた
めに、それ自身のバンド・ギャップ出力を利用する。こ
のことは、PチャンネルMOSトランジスタP1および
P2を用いることにより、出力電圧VREFによって生
じ、トランジスタQ4から抵抗3Rを通る電流Iを、フ
ィードバック増幅器であるトランジスタQ1の負荷に鏡
映化して流すことによりえられる。安定な電圧出力VR
EFにより安定な負荷電流かえられ、および自己フィー
ドバックによってその逆もえられる。図面に示されてい
るように、この回路をその自己フィードバックによるビ
ロ電流モード(これはゼロ・フィードバックを生ずる)
でないように保つために、スタート・アップ回路が必要
である。
基準出力がいったん正しいレベルになれば、スタート・
アップ回路はもはや必要ではなく、そして発生しうる悪
影響を避けるために、電気的に非接続にすべきである。
アップ回路はもはや必要ではなく、そして発生しうる悪
影響を避けるために、電気的に非接続にすべきである。
各分校を流れる電流は同じに保たれて、トラッキング性
能が最大にされていることを断っておく。
能が最大にされていることを断っておく。
第11図は、3ボルトから7ボルトのVCCffi圧に
対し本発明のバンド・ギャップ回路の出力を示した図面
である。全範囲にわたって14ミリボルトの出力の変化
がみられる(0.35%〉が、4ボルトから7ボルトの
vCCの領域ではこの回路の動作はざらに良好である。
対し本発明のバンド・ギャップ回路の出力を示した図面
である。全範囲にわたって14ミリボルトの出力の変化
がみられる(0.35%〉が、4ボルトから7ボルトの
vCCの領域ではこの回路の動作はざらに良好である。
この領域内では出力は5ミリボルト変わる(0.16%
〉だけである。
〉だけである。
第12図は本発明の基準電流・電圧変換回路の図面であ
る。この回路はECL回路ブロックの各局所位置に用い
られる。グローバル・バンド・ギャップ電圧VREFI
I準電流rREFに変換され、そして遠隔のECL回路
ブロックに送られる。
る。この回路はECL回路ブロックの各局所位置に用い
られる。グローバル・バンド・ギャップ電圧VREFI
I準電流rREFに変換され、そして遠隔のECL回路
ブロックに送られる。
ECLブロックにおいて、IREF電流はPチャンネル
・トランジスタ13および15によって鏡映化され、そ
してバイボーラ・トランジスタQ20と抵抗器Rとを通
って、局所VEE電圧レベルに対応したVREFレベル
を再び生ずる。この回路からの出力は《図示されている
ように)ECL回路に直接に接続づることができる。ま
たは、この回路の出力は演鋒増幅器(OP増幅器)に接
続づることかでぎ、それによりもっと大きな電流を処理
しつる性能がえられる、または+!4なる電圧基準レベ
ルを再び生ずることができるというより大きな適応性を
うることができる。Pチャンネル・トランジスタ15と
バイボーラ・トランジスタQ20とに接続された1・ラ
ンジスタQIOのエミッタから、VREF信号がえられ
る。
・トランジスタ13および15によって鏡映化され、そ
してバイボーラ・トランジスタQ20と抵抗器Rとを通
って、局所VEE電圧レベルに対応したVREFレベル
を再び生ずる。この回路からの出力は《図示されている
ように)ECL回路に直接に接続づることができる。ま
たは、この回路の出力は演鋒増幅器(OP増幅器)に接
続づることかでぎ、それによりもっと大きな電流を処理
しつる性能がえられる、または+!4なる電圧基準レベ
ルを再び生ずることができるというより大きな適応性を
うることができる。Pチャンネル・トランジスタ15と
バイボーラ・トランジスタQ20とに接続された1・ラ
ンジスタQIOのエミッタから、VREF信号がえられ
る。
第13図は前記で説明したOP増幅器の駆動回路の図面
である。OP増幅器駆動回路は点線で囲まれた部分であ
る。このOP増幅器は利得1構成に接続されていて,そ
の入力に接続されたのと向じ電圧レベルをその出力に生
ずる。バイボーラ・トランジスタQ30、Q40とff
i流源CSとを脊する差初段階の利得を改善するために
、負荷に対し1〕チャンネル電流源MP1を使用する。
である。OP増幅器駆動回路は点線で囲まれた部分であ
る。このOP増幅器は利得1構成に接続されていて,そ
の入力に接続されたのと向じ電圧レベルをその出力に生
ずる。バイボーラ・トランジスタQ30、Q40とff
i流源CSとを脊する差初段階の利得を改善するために
、負荷に対し1〕チャンネル電流源MP1を使用する。
トランジスタQ30とトランジスタQ40との間のVC
Effi圧の差によって生ずる可能性のある入力オフセ
ットを小さくするために、カスケード・トランジスタQ
11#よびQ12が用いられる。
Effi圧の差によって生ずる可能性のある入力オフセ
ットを小さくするために、カスケード・トランジスタQ
11#よびQ12が用いられる。
OP増幅器駆動回路からの出力は、トランジスタQ5の
エミッタからえられる。このOP増幅器を他の部分に接
続するこのほかの回路部分は、ゲートが接続されたPチ
ャンネル・トランジスタMP2およびMP3を有する。
エミッタからえられる。このOP増幅器を他の部分に接
続するこのほかの回路部分は、ゲートが接続されたPチ
ャンネル・トランジスタMP2およびMP3を有する。
ダイオード接続されたトランジスタQ50はP′f−ヤ
ンネル・トランジスタMP3に接続され、そして基準電
流IREFを生ずる。
ンネル・トランジスタMP3に接続され、そして基準電
流IREFを生ずる。
本発明の実験的な試作品は0.8u
B i CMO82重金属法で作成された.#作電源は
Oボルトなしい7ボルトである。バンド・ギPップとO
P11’l@器の設計領域の大部分は、動作安定のため
に用いられる補償用コンデンサによって占められる。出
力バンド・ギirツプ電圧は1.356ボルトと測定さ
れ、その温度係数番よ1℃当り2 0 0 1)Ilm
であった。これは少し大きいが、それはバンド・ギャッ
プの抵抗器囚子kが最適埴でないためである。OP増幅
器の開放ループ利1gは45dbであったが、これはこ
の回路内でのその目的に対して適切な値である。1■V
の入力Aフヒットが測定された。このバンド・ギャップ
回路の電源阻止比は47dbであり、一方、OP増幅器
に対する朔止比は67dbであった。この回路はtle
g B i CMOS SRAMt’実施された。
Oボルトなしい7ボルトである。バンド・ギPップとO
P11’l@器の設計領域の大部分は、動作安定のため
に用いられる補償用コンデンサによって占められる。出
力バンド・ギirツプ電圧は1.356ボルトと測定さ
れ、その温度係数番よ1℃当り2 0 0 1)Ilm
であった。これは少し大きいが、それはバンド・ギャッ
プの抵抗器囚子kが最適埴でないためである。OP増幅
器の開放ループ利1gは45dbであったが、これはこ
の回路内でのその目的に対して適切な値である。1■V
の入力Aフヒットが測定された。このバンド・ギャップ
回路の電源阻止比は47dbであり、一方、OP増幅器
に対する朔止比は67dbであった。この回路はtle
g B i CMOS SRAMt’実施された。
この回路のブロック線図が第14図に示されている。電
源パッドはチップの裏側にある。グローバル・バンド・
ギャップはVCCffi源パッドの近くに配置される。
源パッドはチップの裏側にある。グローバル・バンド・
ギャップはVCCffi源パッドの近くに配置される。
基準電流はこの回路の他の側へ供給され、そして局所E
CL回路位置で再び生ずる。
CL回路位置で再び生ずる。
B i CMOS回路は、このSRAMの中のグローバ
ル通信に対して使用される。前記回路の特徴は、電源電
圧降下効果が小さいことと、ECL信号マージンが大き
イコトト、VLSI B+CMOSECLチップのE
CL回路特性が改良されていることである。
ル通信に対して使用される。前記回路の特徴は、電源電
圧降下効果が小さいことと、ECL信号マージンが大き
イコトト、VLSI B+CMOSECLチップのE
CL回路特性が改良されていることである。
本発明は、好ましい実施例および一定の変更実施例を参
照しながら、詳細に説明されてきたけれども、これらの
説明は例として示したのであって、本発明がこれらに限
定されることを意味するものではない。水明4111に
示された実施例の詳細な点について、本発明の範囲内に
おいて、多くの変更のなしうること、およびこの他の実
施例を追加しうることは、当業者にとって可能であるこ
とがすぐにわかるであろう。例えば、前記エミツタ結合
論理ゲートの代りに、他の形式の論理回路を川いること
ができる。このようなものとしては、例えば、TTL%
DTL1RTL,およびCML回路がある。さらに、ア
ナログ回路を論理回路の代りに用いることができる。さ
らに、基準電F[を必要とするどのような回路も、前記
ECL回路の代りに用いることができる。図而では具体
例として電界効果トランジスタとバイボーラ・トランジ
スタが示されたけれども、電界効果トランジスタの代り
にバイボーラ・トランジスタを用いることができ、また
その逆も可能である。また、N形トランジスタの代りに
P形トランジスタを用いることができ、またその逆も可
能である。同様に、Pチャンネル・トランジスタの代り
にNチャンネル・トランジスタを用いることが可能であ
り、またその逆も可能である。本発明の特,7l−請求
の範聞はこのような変更および追加をすべて包含するも
のでる。
照しながら、詳細に説明されてきたけれども、これらの
説明は例として示したのであって、本発明がこれらに限
定されることを意味するものではない。水明4111に
示された実施例の詳細な点について、本発明の範囲内に
おいて、多くの変更のなしうること、およびこの他の実
施例を追加しうることは、当業者にとって可能であるこ
とがすぐにわかるであろう。例えば、前記エミツタ結合
論理ゲートの代りに、他の形式の論理回路を川いること
ができる。このようなものとしては、例えば、TTL%
DTL1RTL,およびCML回路がある。さらに、ア
ナログ回路を論理回路の代りに用いることができる。さ
らに、基準電F[を必要とするどのような回路も、前記
ECL回路の代りに用いることができる。図而では具体
例として電界効果トランジスタとバイボーラ・トランジ
スタが示されたけれども、電界効果トランジスタの代り
にバイボーラ・トランジスタを用いることができ、また
その逆も可能である。また、N形トランジスタの代りに
P形トランジスタを用いることができ、またその逆も可
能である。同様に、Pチャンネル・トランジスタの代り
にNチャンネル・トランジスタを用いることが可能であ
り、またその逆も可能である。本発明の特,7l−請求
の範聞はこのような変更および追加をすべて包含するも
のでる。
以上の説明に関して更に以下の項を開示する。
(1) その動作により基準電圧を生ずる電圧基準回
路と、 前記電圧基準回路に付随して動作し前記基準電圧から導
かれて基準電流を生ずる基準電流発生器と、 正しく動作するために一定の基Q!電圧を必要とする少
なくとも1つの部分回路と、 前記部分回路への前記基準my1に基づいて一定の前記
基準電圧を生ずるように動作する少なくとも1つの電圧
発生回路と、 を有する基準回路。
路と、 前記電圧基準回路に付随して動作し前記基準電圧から導
かれて基準電流を生ずる基準電流発生器と、 正しく動作するために一定の基Q!電圧を必要とする少
なくとも1つの部分回路と、 前記部分回路への前記基準my1に基づいて一定の前記
基準電圧を生ずるように動作する少なくとも1つの電圧
発生回路と、 を有する基準回路。
(2) 第1項において、接続されている少なくとも
1つの電源をさらに有する、前記基準回路。
1つの電源をさらに有する、前記基準回路。
(3) 第1項において、電力の供給のための接続線
路をさらに有する、前記基準回路。
路をさらに有する、前記基準回路。
(4) 第1項において、
少なくとも第1端子と第2端子をイiし、かつ、前記第
1端子のバイアスが前記第2端子を通る基準電流をal
l11Ilする第1装請と、前記第1装置の前記第2端
子に接続され、かつ、前記第2端子を通る前記基準電流
をそれ自身を通して鏡映を行なうための電流鏡映器と、
前記MFM&lIPI!器に接続され、かつ、前記第1
端子への鏡映電流によって決定ざれたバイアスを供給す
るためのバンド・ギャップ部分回路と、を有し、前記電
圧基準回路がバンド・ギャップ多様性を有する、前記基
準回路。
1端子のバイアスが前記第2端子を通る基準電流をal
l11Ilする第1装請と、前記第1装置の前記第2端
子に接続され、かつ、前記第2端子を通る前記基準電流
をそれ自身を通して鏡映を行なうための電流鏡映器と、
前記MFM&lIPI!器に接続され、かつ、前記第1
端子への鏡映電流によって決定ざれたバイアスを供給す
るためのバンド・ギャップ部分回路と、を有し、前記電
圧基準回路がバンド・ギャップ多様性を有する、前記基
準回路。
(5) 第4項において、前記電流鏡映器が竹記第1
装置からの予め定められた電流を受け取るためのダイオ
ード装置を有し、かつ、前記ダイオード装置が前記第1
装置の前記第2端子に接続されJ3よび前記バンド・ギ
ャップ部分回路に接続ざれたトランジスタに接続された
、前記基準回路。
装置からの予め定められた電流を受け取るためのダイオ
ード装置を有し、かつ、前記ダイオード装置が前記第1
装置の前記第2端子に接続されJ3よび前記バンド・ギ
ャップ部分回路に接続ざれたトランジスタに接続された
、前記基準回路。
(6) 第5項において、ptJ記ダイオード装置が
ダイオード構成に接続されたトランジスタを有する前記
基準回路。
ダイオード構成に接続されたトランジスタを有する前記
基準回路。
(7) 第1項において、少なくとも1つの前記電圧
発生回路が電流・電圧変換回路に接続ざれた電流鏡映器
を有する、前記基準回路。
発生回路が電流・電圧変換回路に接続ざれた電流鏡映器
を有する、前記基準回路。
(8) 第7項において、前記電圧変換回路が基壓雷
圧出力を供給する第2トランジスタに接Hされた第1ト
ランジスタを有する、前記基準回路。
圧出力を供給する第2トランジスタに接Hされた第1ト
ランジスタを有する、前記基準回路。
(9) 第7項において、前記Wa流R映器が2個の
ゲート接R1!界効果トランジスタを有する、前記基準
回路。
ゲート接R1!界効果トランジスタを有する、前記基準
回路。
(10)第8項において、前記第1トランジスタおよび
前記第2トランジスタがバイボーラ・トランジスタであ
る、前記基準回路。
前記第2トランジスタがバイボーラ・トランジスタであ
る、前記基準回路。
(11)第7項において、前記電流・電圧変換回路が演
算増幅器を有する、前記基準回路。
算増幅器を有する、前記基準回路。
(12)第11項において、前記演算増幅器がB i
CMOS演算1rJ輸器である、前記基準回路。
CMOS演算1rJ輸器である、前記基準回路。
(13)第11項において、前記演算増幅器が差初増幅
器と前記差勤増幅器に接続された電界効東電i源とを有
し、かつ、前記N′tI1111が動作して前記差動増
幅器に対する負荷としての役割りを果たす、前記基準回
路。
器と前記差勤増幅器に接続された電界効東電i源とを有
し、かつ、前記N′tI1111が動作して前記差動増
幅器に対する負荷としての役割りを果たす、前記基準回
路。
(14)第13項において、前記電界効果1!!流源が
動作して前記基準電流発生器からの前記基準JR流の鏡
映化を行なう、前記基準回路。
動作して前記基準電流発生器からの前記基準JR流の鏡
映化を行なう、前記基準回路。
(15)正しく動作するために一定の基準電圧を必要と
する回路のための基準ICEの発生法であって、グロー
バル基準電圧を発生する段階と、前記グローバル基準電
圧からえられた基準Ti流を発生する段階と、 前記基準電流からえられた前記一定の基準電圧を前記回
路に供給する段階と、 を有する前記基準電圧の発生法。
する回路のための基準ICEの発生法であって、グロー
バル基準電圧を発生する段階と、前記グローバル基準電
圧からえられた基準Ti流を発生する段階と、 前記基準電流からえられた前記一定の基準電圧を前記回
路に供給する段階と、 を有する前記基準電圧の発生法。
(16).ECL回路の動作のさい直流電源電圧が降下
する影響のないB i CMOS電流m基準回路が開示
される。本発明は、VLS[ BiCMOS回路にE
CL設計技術を実II!iするさいに基本的に重要であ
る.,電!源回路を用いて、ECL電圧基準は局所的電
源電圧に正しく基づくように、基準電圧は局所的に発生
ざれる。高精度オン・チップ4. 電圧基準と電流源をつるために、M源に敏感でないバン
ド・ギャップ!3準発生器が用いられる。このバンド・
ギャップ回路はM O S l−ランジスタとバイボー
ラ・トランジスタの両方を使用し、そしてバイボーラだ
けを用いた同様な回路よりはるかに簡単である。
する影響のないB i CMOS電流m基準回路が開示
される。本発明は、VLS[ BiCMOS回路にE
CL設計技術を実II!iするさいに基本的に重要であ
る.,電!源回路を用いて、ECL電圧基準は局所的電
源電圧に正しく基づくように、基準電圧は局所的に発生
ざれる。高精度オン・チップ4. 電圧基準と電流源をつるために、M源に敏感でないバン
ド・ギャップ!3準発生器が用いられる。このバンド・
ギャップ回路はM O S l−ランジスタとバイボー
ラ・トランジスタの両方を使用し、そしてバイボーラだ
けを用いた同様な回路よりはるかに簡単である。
【図面の簡単な説明】
第1図は標準的ECLゲートのfEJ路図、第2図は半
導体チップ上のvCCとVEEの電源パッドの物理的配
置とそれに関連したグラフ図、第3図は標準的JDEC
パッケージの中に納まるように設計されたS尺AMの1
つの実施例を示す図、第にvccrrtm線路により大
きな領域を割り当てることによりvCC電源線路が最小
にされており、第9図は標準的バンド・ギャップ基tP
−回路図、第10図は本発明に用いられるB i CM
OSバンド・ギャップ回路図、第11図は3ボルトから
7ボルトまでのvcct圧に対する本発明のバンド・キ
ャップ回路の出力図、第12図は本発明の基準電流・電
圧変換器の回路図、第13図はOP1!1幅器駆動回路
図、第14図は基単回路のブロック線図。
導体チップ上のvCCとVEEの電源パッドの物理的配
置とそれに関連したグラフ図、第3図は標準的JDEC
パッケージの中に納まるように設計されたS尺AMの1
つの実施例を示す図、第にvccrrtm線路により大
きな領域を割り当てることによりvCC電源線路が最小
にされており、第9図は標準的バンド・ギャップ基tP
−回路図、第10図は本発明に用いられるB i CM
OSバンド・ギャップ回路図、第11図は3ボルトから
7ボルトまでのvcct圧に対する本発明のバンド・キ
ャップ回路の出力図、第12図は本発明の基準電流・電
圧変換器の回路図、第13図はOP1!1幅器駆動回路
図、第14図は基単回路のブロック線図。
Claims (2)
- (1)その動作により基準電圧を生ずる電圧基準回路と
、 前記基準回路に付随して動作し前記基準電圧から導かれ
て基準電流を生ずる基準電流発生器と、正しく動作する
ために一定の基準電圧を必要とする少なくとも1つの部
分回路と、 前記部分回路への前記基準電流に基づいて一定の前記基
準電圧を生ずるように動作する少なくとも1つの電圧発
生回路と、 を有する基準回路。 - (2)正しく動作するために一定の基準電圧を必要とす
る回路のための基準電圧の発生法であって、グローバル
基準電圧を発生する段階と、 前記グローバル基準電圧からえられた基準電流を発生す
る段階と、 前記基準電流からえられた前記一定の基準電圧を前記回
路に供給する段階と、 を有する前記基準電圧の発生法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US310800 | 1989-02-14 | ||
| US07/310,800 US5001362A (en) | 1989-02-14 | 1989-02-14 | BiCMOS reference network |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0315916A true JPH0315916A (ja) | 1991-01-24 |
| JP2912660B2 JP2912660B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=23204167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2033618A Expired - Lifetime JP2912660B2 (ja) | 1989-02-14 | 1990-02-14 | BiCMOS基準回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5001362A (ja) |
| EP (1) | EP0383095B1 (ja) |
| JP (1) | JP2912660B2 (ja) |
| KR (1) | KR900013520A (ja) |
| DE (1) | DE69020178T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5309040A (en) * | 1989-11-07 | 1994-05-03 | Fujitsu Limited | Voltage reducing circuit |
| JP2683948B2 (ja) * | 1990-06-19 | 1997-12-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
| US5120994A (en) * | 1990-12-17 | 1992-06-09 | Hewlett-Packard Company | Bicmos voltage generator |
| US5291455A (en) * | 1992-05-08 | 1994-03-01 | Motorola, Inc. | Memory having distributed reference and bias voltages |
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