JPH03159262A - 半導体装置の実装構造 - Google Patents

半導体装置の実装構造

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JPH03159262A
JPH03159262A JP29923989A JP29923989A JPH03159262A JP H03159262 A JPH03159262 A JP H03159262A JP 29923989 A JP29923989 A JP 29923989A JP 29923989 A JP29923989 A JP 29923989A JP H03159262 A JPH03159262 A JP H03159262A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
package
mold
mounting structure
leads
Prior art date
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Pending
Application number
JP29923989A
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English (en)
Inventor
Masami Uchida
将巳 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は半導体装置の実装構造に関する。
[従来の技術] 従来の半導体装置の実装構造は、第3図のように、IC
を実装した金属フレーム11をトランス[発明が解決し
ようとする課題] しかし、近年工Oの多ピン化、パッケージの薄型化によ
り工0をポリイミドをペースにしたフレキシブル基板に
’I’AB実装するという方法が主流になりつつある。
このようなTAB実装品をモーいため、モールド後棚冊
あるいはテープ状態で製品を扱う場合に従来のようにリ
ードのみでパッケージをささえるとリードへ自重による
ストレスが加わり、リード強度が低下するという問題を
有する。また、パッケージのバーインや型持をするため
に、リードを切断するとパッケージがテープから抜けて
、その後の扱いが単品で扱うことになり、生産性が悪(
なるという問題があった。
本発明はかかる問題点を解決するもので、その目的とす
るところは、リードへのストレスもな(リード切断後も
テープ状態でバーイン、型持及び製品が扱えるような半
導体装置の実装構造を提供するところにある。
[課題を解決するための手段] 本発明の半導体装置の実装構造はフレキシブルテープに
10チツプをTAB実装した半導体素子の実装構造にお
いて、トランスファーモールドした後の当該半導体素子
のパッケージから出るパリを当該テープにかさなるまで
成長させ、パッケージをささえることを特徴とする。
[実施例] 第1図、第2図は本発明の実施例を示すものである。第
1図−はモールド成形型の断面図であり、第2図は、モ
ールド成形後の製品を示したものである。第2図の4は
ポリイミドのベースフィルムであり、10はモールドの
パリ、7はパッケージを示す。図かられかる゛ようにパ
ッケージ7から出たモールドのパリ10がポリイミドの
ベースフィルム4まで伸び、かさなりをもつ。このこと
によりモールドのパリでパッケージがささえられ、リー
ド6へのストレスがな(なる。またバーインや型持をす
るためリード6をメツキリード9から切断しり一ド6が
ベースフィルムからはなれてもパッケージ7はポリイミ
ドのベースフィルム上に固定されている。そのため通常
スプロケットホール8を用いて行なうバーイン、型持及
び次工程の加工がテープ状態で行なえるので自動化、合
理化が容易に行なえる。
第1図はモールドのパリ10を作るためのモールド型断
面を示したものである。図中の1は金型の金属部を示し
、2はパッケージ7のキャビティ一部を示す。また4は
ポリイミドのペースフィルムチあり、キャビティー2か
らベースフィルムまでモールドのパリ10が成長するよ
5にゲート5をもうけベースフィルム4とのかさなりを
もたすため、ゲート3にすき間5をも5けである。この
パリ発生用ゲート3を通してモールド成形特キャビティ
ー2から出たモールド材がポリイミドのベースフィルム
まで至りパッケージをささえるパリ10が出来るのであ
る。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、モールドのパリを利
用してパッケージをベースフィルムに固定することによ
り、パッケージの端子へのストレスがかからないばかり
でなく、メツキリードから端子を切断してもテープ状態
でバーインや型持が出来、また次工程の加工もテープ状
態で行なえるため工程の自動化1合理化が容易に行なえ
る。
特に最近はトランジスタの集積化が高まり、工Oチップ
が太き(なっている。このような大チッ、プの場合には
、第2図のようにメツキリードの引きまわしが制限され
、かつメモリエOのようにスクーリ9ング(バーインや
型持)が必要なICを実装する場合に非常に有効となる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体装置をモールドするときのモー
ルド型の断面図。 第2図は本発明の半導体装置を示す上面図。 第3図は従来の半導体装置を示す上面図。 1・・・・・・・・・金型の金属部 2・・・・・・・・・キャビティー 3・・・・・・・・・パリ用ゲート部 4・・・・・・・・・ベースフィルム 5・・・・・・・・・ゲート部とベースフィルムのする
間6・・・・・・・・・パッケージのリード7・・・・
・・・・・パッケージ 8・・・・・・・・・スプロケットホール9・・・・・
・・・・メツキリード 10・・・・・・・・・パリ 11・・・・・・・・・リードフレーム取止

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フレキシブルテープにICチップをTAB実装した半導
    体素子の実装構造において、トランスファーモールドし
    た後の当該半導体素子のパッケージから出るパリを当該
    テープにかさなるまで成長させ、パッケージをささえる
    ことを特徴とする半導体装置の実装構造。
JP29923989A 1989-11-17 1989-11-17 半導体装置の実装構造 Pending JPH03159262A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480833B1 (ko) * 2000-07-29 2005-04-07 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 고밀도 리드프레임의 구조

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480833B1 (ko) * 2000-07-29 2005-04-07 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 고밀도 리드프레임의 구조

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