JPH0316009Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、凹みなどの深さのほか、円柱や円
筒、球体等の外径も測れるようにした、計測器に
関する。

従来、被計測物の凹み部の深さを計測する計測
器としては、第１，２図に示すような深さ計があ
り、移動可能の測定子４を有する微小変位計とし
て、第１図に示す深さ計では、マイクロメータ１
と直読目盛部２とがそなえられており、第２図に
示す深さ計ではダイアルゲージ５がそなけられて
いる。

これらの微小変位計は基台３に固定保持されて
おり、この基台３と被計測物とが接触する接触面
３ａを基準として、測定子４の先端が凹み部に当
接するまでの測定子４の移動距離をマイクロメー
タ１の直読目盛部２やダイアルゲージ５で読み取
ることにより、凹みの深さが計測されるが、円柱
等の外径を測ることはできない。

一方、円柱、円筒、球体等を被計測物とし、そ
の外径を計測する場合には、上述したような深さ
計とは別に、従来、ノギスやマイクロメータなど
の計測器によつて被計測物の直径を直接挟んで計
測している。

ところが、機械装置が構造物等を構成している
円柱あるいは円筒などの外径を計測する際には、
被計測物としての円柱あるいは円筒などの外周の
片側半分のみしか露出していない場合や、周囲の
空間が狭い場合があり、このような場合、被計測
物の直径をノギスやマイクロメータなどの計測器
によつて直接挟むことができず、計測が不可能に
なるという問題点がある。

本考案は上述した諸点に鑑みて、一つの計測器
で凹み等の深さのほか、円柱等の外径も測れるよ
うにし、しかも円柱等の外周の一部分だけからで
も外径を求められるようにした、計測器を提供す
ることを目的とする。

このため本考案の計測器は、移動可能の測定子
を有する微小変位計と、同微小変位計を保持する
基台とをそなえ、同基台において、被計測物に接
触しうる一対の接触腕が、上記測定子の移動方向
と直交する平面内に配設された互いに平行な一対
のピンにより、上記測定子に関して対称の位置に
それぞれ枢着されるとともに、これらの接触腕の
被計測物への接触面の開き角度を180度および180
度よりも小さい所定角度にそれぞれ設定しうるス
トツパーが設けられたことを特徴としている。

以下、図面により本考案の一実施例としての計
測器について説明すると、第３図はその側面図、
第４図は第３図の−断面図、第５図は円柱の
外径の計測状態を示す側面図、第６図は凹み部の
深さの計測状態を示す側面図である。

第３図に示すように、移動可能な測定子４を有
する微小変位計として、マイクロメータ１と直読
目盛部２とがそなえられており、このマイクロメ
ータ１および直読目盛部２は基台本体６に固定保
持されている。

また、第３，４図に示すように、一対の接触面
１３，１３が、測定子４の移動方向と直交する平
面内に配設される互いに平行な一対のピン９，９
により、それぞれ基台本体６において測定子４に
関し対称な位置に回動自在に枢着されている。

なお、接触腕１３，１３の下端面は、被計測物
に当接する接触面１３ａ，１３ａとして滑らかな
平面に形成されている。

そして、接触面１３ａ，１３ａの開き角度が所
要の角度θ₁に固定されるように、接触腕１３，１
３にはそれぞれストツパー８，８が設けられる。

一方、基台本体６には一対のストツパー７，７
が設けられて、ストツパー７，７がそれぞれ接触
腕１３，１３の上面に係合することにより、接触
面１３ａ，１３ａの開き角度を所定の角度θ₂（＝
180度）に固定し得るようになつている。

上述の構成により、円形断面を有する被計測物
１０の外径を計測する際には、第５図に示すよう
に、開き角度を90度に開きストツパー８，８によ
つて固定した接触腕１３，１３の接触面１３ａ，
１３ａに被計測物１０の外周を当接させた状態
で、マイクロメータ１を操作して測定子４を移動
させ、測定子４の先端が被計測物１０の表面に接
するまでの測定子４の移動距離を計測する。

このとき、測定子４の移動距離としては、一対
の接触面１３ａ，１３ａの交点Ｑを基準とし、交
点Ｑからの移動距離ｈを計測する。

そして、簡単な幾何学的関係により、移動距離
ｈから円柱１０の外径ｄは次式で求められる。

ｄ＝2h／（√２−１） （θ＝90度の場合） この関係式を用いて、直読目盛部２には、測定
子４の移動距離ｈに応じた外径ｄの値をあらかじ
め目盛つておくか、または移動距離ｈに応じた外
径ｄの値を演算する演算回路をそなえ、その演算
結果をデイジタル表示するデイジタルメータを設
けるようにすれば、外径ｄの値が直接求められる
ようになる。

このように、被計測物１０の外径を直接挟まず
に外径ｄを求めることができるので、被計測物１
０がその一部しか露出していない場合や、周囲の
空間が狭い場合でも、外径の計測が可能となる。

なお、接触面１３ａ，１３ａの開き角度は、被
計測物１０の外径ｄの大きさと、接触腕１３，１
３の長さとの関係あるいは周囲の環境などによ
り、90度以外の角度（例えば60度や120度）に固
定されることもあり、その場合にも外径ｄの値は
測定子４の移動距離ｈを用いて簡単な式で求めら
れる。特に、開き角度を60度とした場合には、半
径ｒは点Ｑからの測定子４の移動距離ｈに等しく
なる。すなわち、 ｄ＝2h （θ＝60度の場合） という関係が成り立つ。

また、第６図に示すように、被計測物１１にお
ける凹み部Ｐの深さｔを計測する際には、接触腕
１３，１３の上端面をストツパー７に係合させ
て、接触面１３ａ，１３ａの開き角度を180度に
すれば、第１，２図に示した従来の深さ計と同様
にして、凹み部Ｐの深さｔを計測することができ
る。

ストツパー７を解除して接触腕１３，１３を相
互に閉じることにより、この計測器をコンパクト
な状態で収納したり携帯したりすることができ
る。

以上詳述したように、本考案の計測器によれ
ば、次のような効果ないし利点が得られる。

(1) 一対の接触腕の被計測物への接触面の開き角
度を180度にストツパーを用いて設定すること
により、上記被計測物における凹みに微小変位
計の測定子を進入させて従来の深さ計と同様に
凹みの深さを計測することができる。

(2) 一対の接触腕の被計測物への接触面の開き角
度を180度よりも小さい所定角度（例えば60度、
90度、120度等）にストツパーを用いて設定す
ることにより、上記一対の接触腕を、円形断面
を有する被計測物の外周へ当接させて、その外
径を計測することができる。

(3) 上記(2)項における外径計測の際には、被計測
物の外径の大きさや周囲の環境に応じて、上記
接触面の開き角度を最適の角度に設定して、適
切に計測を行なえる利点もある。

(4) ストツパーを解除して接触腕を相互に閉じる
ことにより、この計測器をコンパクトな状態で
収納したり携帯したりすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１，２図は従来の計測器としての深さ計を示
す側面図、第３〜６図は本考案の一実施例として
の計測器を示すもので、第３図はその側面図、４
図は第３図の−断面図、第５図は円柱の外径
の計測状態を示す側面図、第６図は凹み部の深さ
の計測状態を示す側面図である。 １……マイクロメータ、２……直読目盛部、４
……測定子、６……基台本体、７，８……ストツ
パー、９……ピン、１０，１１……被計測物、１
３……接触腕、１３ａ……接触面、Ｐ……凹み
部。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 移動可能の測定子を有する微小変位計と、同微
   小変位計を保持する基台とをそなえ、同基台にお
   いて、被計測物に接触しうる一対の接触腕が、上
   記測定子の移動方向と直交する平面内に配設され
   た互いに平行な一対のピンにより、上記測定子に
   関して対称の位置にそれぞれ枢着されるととも
   に、これらの接触腕の被計測物への接触面の開き
   角度を180度および180度よりも小さい所定角度に
   それぞれ設定しうるストツパーが設けられたこと
   を特徴とする、計測器。