JPH03160381A - 磁気カードの特性測定装置 - Google Patents
磁気カードの特性測定装置Info
- Publication number
- JPH03160381A JPH03160381A JP29877389A JP29877389A JPH03160381A JP H03160381 A JPH03160381 A JP H03160381A JP 29877389 A JP29877389 A JP 29877389A JP 29877389 A JP29877389 A JP 29877389A JP H03160381 A JPH03160381 A JP H03160381A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- magnetic
- ferromagnetic material
- shaped ferromagnetic
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 104
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 claims description 66
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000005374 Kerr effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 abstract 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 7
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 2
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 230000008451 emotion Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はカード状強磁性体の磁気特性を非破壊で測定す
る装置に関する． ［従来の技術］ 従来、カード状強磁性体は、例えばテレホンカード等の
ようなブリペイドカード、オンラインカード、ＰＯＳマ
ーク等として多用されており、磁化の状態を測定する為
にはカード状強磁性体の一部を通常、例えば小円板状に
切断して測定を行なっていたが、この様な測定法は試料
全体を測定するものではないから均一性に欠け、また切
り取ったムｔ 東１ｔ＋Ｉ．ｔ−ＰＩ、ｔ−Ｉｆｐ
（７’ｌ ！！ ゴ；セｔ Ａ５ Ｘ １１
日 晴１ シ ｔｐｒ１ ’ＩＨ 情？性の
均一性が不明瞭であった． また、試料の打ち抜きの操作を含めて多数個■試料を測
定する必要のためにに測定に長時間を空し、更に試料の
打ち抜き作業のため、磁歪が残右し測定の精度に問題が
ある．又、測定した試料輻使用できない等、種々の欠点
があった．従って，この様な測定は非破壊で行なうこと
力゛より望ま，しい． また、ここで、従来のカード状強磁性体は、保磁力（Ｈ
ｃ）値として６σＱ Ｏｅ前後程度のものであったため
，磁気の消去、記入等の操作が比較的容易であり，問題
があった．これらの消去、記入等をより安全にするため
にはＨｃ値として例えば、２００［Ｏｅ以上程度の価に
することが好ましい．然しなから、このような大きなＨ
ａ値を有するカードを作成，或は検査等する為には１ｉ
磁石の両磁極の間隔を少なくともカードの幅以上の距離
を有する必要がある為、数十トンに達する巨大な磁鉄心
を用いた装置が必要となり，そのような装置の製作は高
価となり、設置が困難であった．［発明が解決しようと
する課題］ 本発明は、従来の様にカード状強磁性体の磁気特性を測
定する為、カード状強磁性体を切断等することなく、非
破壊で、しかも小型の装置を用いて被測定カード状強磁
性体のＨｃ値として例えば、６００ ０ｅ程度の場合の
みならず、２０００ ０ｅ以上程度の大きな価を有する
カード状強磁性体であっても，Ｍｉ化の状態を容易に測
定することの可能な，しかも小型の装置を提供しようと
するものである．［課賂を解決するための手段］ 本発明は、 １、被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に．Ｉｉｆｉ場を印加する両磁極に前記被
測定カード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を設
け，更に該両磁極の中間に、磁気特性の検出手段を設け
てなるカード状強磁性体の電磁光学特性又は電磁気特性
を非破壊で測定する装置、 ２．被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記被測定カ
ード状強磁性体を挿通しうる細，隙状の貫通孔を設け，
更に該両磁極の中間に、磁気カー効果検出手段を設けて
なるカード状強磁性体の電磁光学特性を非破壊で測定す
る装置、３．被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同
一方向、又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記
被測定カード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を
設け、更に該両ｍ極の中間に，前記両磁極に設けた細隙
に対応する貫通孔を有する検出コイルを配置したカード
状強磁性体の電磁気特性を非破壊で測定する装置、 である． 本発明装置に使用することのできるカード状強磁性体と
は，例えばテレホンカード等のようなブリペイドカード
、オンラインカード、ＰＯＳマーク等で、例えば幅５４
乃至５８ｍｍ、長さ８５乃至８８＋ｎｍ、厚サｏ．ｉ乃
至０．５ｍｍ程度のものが多い．これらのカード状強磁
性体は，通常基板、例え７４−ＩＩ ＋ｆＭ １、
−Ｆ ｌ ． ％Ｊ ：Ｈ −／
二−１ −ｃ−Ｔｈ 町１ ５言き厚紙等の上に
磁性膜を付着させ、場合によりその上にアルミニウム箔
の様なシルバー層を設けてなる．更に要すればそのシル
バー層の上に印刷層を設けてなることが多い． これらのカードの有する保磁力値を前記の様にＨｃ値と
して例えば、２０００ ０ｅ以上の程度の価に強力に磁
化した場合であっても、本発明装置を用いれば，容易に
電磁光学特性又は電磁気特性を測定することが可能であ
る． 以下、本発明を図面に基づき説明する．第１図はカード
状強磁性体を非破壊で測定等する為の本発明装置の内、
カード状強磁性体に磁場を印加する装置（Ａ）及びカー
ド状強磁性体の有する電磁光学特性又は電磁気特性の検
出手段（Ｂ）、例えば電磁光学特性を磁気カー効果によ
り測定する装置を用いた場合の正面図である．第２図は
第１図装置のカード状強磁性体に磁場を印加するＩｆ！
ｔ（Ａ）部分の側面図である．第３図は第２図の装置部
分の平面図である．第４図はカ−本発明装置の内、カー
ド状強磁性体に磁場を印加する装ａ （Ａ）及びカード
状強磁性体の有する電磁気特性の検出手段（３３）とし
てカード状強磁性体を電磁気的に測定する装置を用いた
場合の正面図であり、第５図は同じく平面図である．更
に第６図は本発明に使用するカード状強磁性体を電磁気
的に測定する装置の配置構造該略図である．第７図は実
施例ｌに於で試験用カードがＨｅ値６００ ０ｅの場合
の微分カーブ及び積分カーブを示す．第８図は同じ＜Ｈ
ｃ値２，７５０ ０ｅの場合の微分カーブ及び積分カー
ブを示す． 第１図乃至第５図において、磁心１にコイル２２′を巻
き付けて生成した電磁石の両磁極３，３′には被測定カ
ード状強磁性体４を挿通することの可能な細隙状貫通孔
５、５′を設けてある．両磁極３、３′の細隙状貫通孔
５、５′は，力一ド状強磁性体４を磁極の一方より挿入
して他方より取り出すことが可能である． 従って、細隙状貫通孔５、５′は被測定カード状強磁性
体４よりもやや大きく作成すればよく、例えば幅５３ｍ
ｍ乃至５９ｍｍ或は幅８３ｎｕ＋＋乃至９０ｍｍ、厚さ
０．０８ｍｍ乃至Ｉｎ＋ａ＋程度までのものが好ましい
．また，両磁極３、３′間の距離は接近している程小型
の装置とすることができるが、１ ０ｌｌＩｍ乃至２０
！ＩＩＩＩ１程度が好ましい． 次に、第１図乃至第３図に示すようにカード状強磁性体
の有する電磁光学特性の検出手段（Ｂ）として磁気カー
効果を用いて測定する装置を示す． この装置は光源６として超高圧水銀燈等を使用し、コン
デンサーレンズ７、ビンホール８，コリメーターレンズ
９、フィルターｌＯ及び偏光子１ｌにより４００ｏ＋ｕ
乃至５５０ｍ４ｔ、試料に依っては４８０ｍｇ乃至５５
０ｍμ．の直締又は楕円偏光を取り出し、反射鏡ｌ２を
経て対物レンズｌ３の中心軸を含まない一側に対物レン
ズｌ３に垂直に入射させ、その射出光を、強磁界を印加
することのできる手段である両磁極３％３′の細隙状の
貫通孔５、５′中のいずれか又はそれらに渡ってｉ置し
てあるカード状強磁性体４に投射し、その反射光を再び
同一の対物レンズ１３の中心軸を含まない他側に入射さ
せ、その射出光を反射鏡１２を経て検光子ｌ４を通過さ
せ、更に必要に応じ、フィルター１５を通過させた後、
ビンホールｌ６、接眼レンズｌ７観測手段ｌ８を施すも
のである． この装置を用いて本発明を実施する際は、この装置（Ａ
・）の細隙状の貫通孔部に基板上に磁性膜を設けたカー
ド状強磁性体を、その磁界の方向と同一方向又は直角方
向に挿入し、磁場を印加した状態で、第１図の様にして
磁気カー効果を使用する電磁光学特性を測定し、順次挿
通してあるカード状強磁性体を移動させることにより、
カード状強磁性体のすべての部分の電磁光学特性を非破
壊で測定することが可能である． この例は特開昭６３−１０４０１５号記載の発明を利用
した発明例であるが、磁気カー効果を使用する電磁気光
学特性を観測する手段ならばこの外いずれの手段を使用
することもできる． 次に第４図及び第５図に示すように，カード状油膳琳ル
ハ七小！柵附百此神ハ邊山キＥルｌＤ）ハ例として、電
磁気特性を測定する装置につき述べると、基板上に磁性
膜を設け、その上に更にシルバー層、要すれば印刷層を
設けたカード状強磁性体を使用し、カード状強磁性体に
磁場を印加する装置（Ａ）の両Ｍ１極３、３′の中間に
あって前記両磁極３、３′中に設けた細隙状の貫通孔５
、５′に対応してほぼ一致する細隙状の貫通孔１９を有
する検出コイル２０、この検出コイルと平行し、かつ前
記両磁極３、３′の間に標準コイル２１、補償コイル２
２を配置して成るカード状強磁性体の電磁気特性を非破
壊で測定する装置（Ｂ）である．ここで、細隙状の貫通
孔ｌ９を有する検出コイル２０は，例えば，特公昭４５
−１００３１号記載同様の原理を使用した装置として磁
気特性を非破壊で測定することができる． 即ち，装置（Ａ）の両磁極３、３′及び装置（Ｂ）の検
出コイル２０を通じて設けてある細隙状の貫通孔５、５
′ｌ９中にカード状強磁性体を載置する．このカード状
強磁性体は、その位置を順ｋ費ｌＨＩセ朴ヱ甲レｌ−ｅ
レｈふーＶムルハ讃榴此卦表非破壊で測定することがで
きる． 本発明を実施する装置は例えば第６図に示す様にコイル
Ｎ，を巻回した電磁石ｌの磁心３、３゛間に設けた検出
コイルＮ２中には試料４を載置してある．別に補償コイ
ルＮ３，標準コイルＮ４を設け、特公昭４５−１００３
１号記載の“０”位相発振が“π一位相発振へ反転する
こととなり，位相検波器の様な検知手段を用いて試料中
の磁界の存在及びその極性を検知することが出来る原理
と同様の原理により試料中の磁界の存在及びその極性を
検知することができる． 今、第６図において、カード状強磁性体である試料をコ
イルＮ２に挿入しない状態で、ｔｍ石ｌの励磁コイルＮ
．に接続された直流三角波バイボーラ電源（Ｂ． Ｐ）
を駆動すると、磁場の強さは（＋）と（−）に、約０．
１秒から０．３秒の間に変化を繰り返す． この結果、磁場中に設置された検出コイルＮ２、補償コ
イルＮｓ、標準コイルＮ４には磁場強度の変化に対応し
た磁束の変化が誘導される． この場合には，試料を検出コイルＮ，に挿入しなくとも
コイルＨｚの両端に電圧が発生し，その大きさは試料が
励磁されて生じた磁東ΦがＮ．を貫通して発生する電圧
よりも大きいので、この状態では測定手段には結び付か
ない． そこでコイルＮ２とＮ，の巻数ｎオとｎ３を等しくし、
この二つのコイルを逆向きに接続すれば、夫々コイルＮ
２、Ｎ３に誘起した電圧は打消され、結果として、回路
中の抵抗器Ｒ０の両端に発生する電圧は０となる． この状態で、検出コイルＮ３の中に試料を挿入すると、
励磁磁場によって磁化された試料から発生する磁束がＮ
８コイルのみを貫通するので、抵抗器Ｒ０の両端には（
１）式に示される微分電圧ｄΦ Ｅｉ＝ ・ｎｇ・ｘ １０・” （Ｖ ）・・・ （
１ ）ｄｔ が発生する． この電圧を入力として積分回路に導入し、時間について
積分すると ＝−ｎ，ΦＸ １０−” （Ｍｘ Ｔｕｒｎｓ１つま
り、積分増幅器ＡｍｐＩに接続することによって磁東Φ
が求められる．また、検出コイルＮ２に誘起された電圧
Ｅｉが積分回路に入力された場合に流れる電流は Ｅｉ Ｉ ＝ − （Ａ） Ｒｏ またこの電流は積分回路のコンデンサＣ （Ｆ）に充電
されるので、増幅器の出力電圧Ｅｏ （Ｖ）はここで
Ｅｃ：コンデンサの充電電圧 Ｑ：コンデンサに蓄えられる電荷 従って積分増幅器ＡｍｐＩの出力電圧Ｅ０は（１）、（
２）式を（３）式に代入して となり、．磁束Φの値は、積分増幅器Ａｍｐ Ｉの出力
電圧Ｅ０に比例した値であることがわかる．本装置の積
分増幅器Ａ＋ｓｐＩは第６図中、ＲＥＣＯＲＤＥＲとし
て示すＸ−Ｙ記録計又はディジタル ストレージ スコ
ープ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｔｏｒａｇｅ Ｓｃｏｐｅ）
と接続してＮ３Φの値を直読又は記録するようになって
おり、ＥＯ（７）値は＋ ２Ｖ／Ｆ． Ｓテある．なお
，積分増幅器Ａｍｐ Ｉの前から微分電圧を出力として
取り出せば微分カーブが得られ、ＳＷを積分増幅器の出
力側に切り換えれば、積分カーブ、即ちヒステリシスカ
ーブ （Ｈｙｓｔｅｒｅｓｉｓ Ｃｕｒｖｅ）（ Ｂ−
Ｈカーブ）が得られる． 更に，標準コイルＮ４の両端には砺磁用電磁石の磁界強
度に比例した電圧Ｅ．が得られ，積分増幅器Ａｍｐ Ｈ
を通して、ｘ−Ｙ記録計又はディジタルストレージスコ
ープのＸ軸に接続する． 標準コイルＮ４の巻数をｎ４、コイルの断面積をＳ （
ａｍ’） ，磁界強度をＨとすると、標準コイルが空気
中に配置されている状態では、 標準コイル内の磁束は Φ。＝ Ｓ・Ｂ （Ｍ．）・・・・・・（５）標準コイ
ルＮ４の両端の誘起電圧は ｄΦ。
る装置に関する． ［従来の技術］ 従来、カード状強磁性体は、例えばテレホンカード等の
ようなブリペイドカード、オンラインカード、ＰＯＳマ
ーク等として多用されており、磁化の状態を測定する為
にはカード状強磁性体の一部を通常、例えば小円板状に
切断して測定を行なっていたが、この様な測定法は試料
全体を測定するものではないから均一性に欠け、また切
り取ったムｔ 東１ｔ＋Ｉ．ｔ−ＰＩ、ｔ−Ｉｆｐ
（７’ｌ ！！ ゴ；セｔ Ａ５ Ｘ １１
日 晴１ シ ｔｐｒ１ ’ＩＨ 情？性の
均一性が不明瞭であった． また、試料の打ち抜きの操作を含めて多数個■試料を測
定する必要のためにに測定に長時間を空し、更に試料の
打ち抜き作業のため、磁歪が残右し測定の精度に問題が
ある．又、測定した試料輻使用できない等、種々の欠点
があった．従って，この様な測定は非破壊で行なうこと
力゛より望ま，しい． また、ここで、従来のカード状強磁性体は、保磁力（Ｈ
ｃ）値として６σＱ Ｏｅ前後程度のものであったため
，磁気の消去、記入等の操作が比較的容易であり，問題
があった．これらの消去、記入等をより安全にするため
にはＨｃ値として例えば、２００［Ｏｅ以上程度の価に
することが好ましい．然しなから、このような大きなＨ
ａ値を有するカードを作成，或は検査等する為には１ｉ
磁石の両磁極の間隔を少なくともカードの幅以上の距離
を有する必要がある為、数十トンに達する巨大な磁鉄心
を用いた装置が必要となり，そのような装置の製作は高
価となり、設置が困難であった．［発明が解決しようと
する課題］ 本発明は、従来の様にカード状強磁性体の磁気特性を測
定する為、カード状強磁性体を切断等することなく、非
破壊で、しかも小型の装置を用いて被測定カード状強磁
性体のＨｃ値として例えば、６００ ０ｅ程度の場合の
みならず、２０００ ０ｅ以上程度の大きな価を有する
カード状強磁性体であっても，Ｍｉ化の状態を容易に測
定することの可能な，しかも小型の装置を提供しようと
するものである．［課賂を解決するための手段］ 本発明は、 １、被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に．Ｉｉｆｉ場を印加する両磁極に前記被
測定カード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を設
け，更に該両磁極の中間に、磁気特性の検出手段を設け
てなるカード状強磁性体の電磁光学特性又は電磁気特性
を非破壊で測定する装置、 ２．被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記被測定カ
ード状強磁性体を挿通しうる細，隙状の貫通孔を設け，
更に該両磁極の中間に、磁気カー効果検出手段を設けて
なるカード状強磁性体の電磁光学特性を非破壊で測定す
る装置、３．被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同
一方向、又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記
被測定カード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を
設け、更に該両ｍ極の中間に，前記両磁極に設けた細隙
に対応する貫通孔を有する検出コイルを配置したカード
状強磁性体の電磁気特性を非破壊で測定する装置、 である． 本発明装置に使用することのできるカード状強磁性体と
は，例えばテレホンカード等のようなブリペイドカード
、オンラインカード、ＰＯＳマーク等で、例えば幅５４
乃至５８ｍｍ、長さ８５乃至８８＋ｎｍ、厚サｏ．ｉ乃
至０．５ｍｍ程度のものが多い．これらのカード状強磁
性体は，通常基板、例え７４−ＩＩ ＋ｆＭ １、
−Ｆ ｌ ． ％Ｊ ：Ｈ −／
二−１ −ｃ−Ｔｈ 町１ ５言き厚紙等の上に
磁性膜を付着させ、場合によりその上にアルミニウム箔
の様なシルバー層を設けてなる．更に要すればそのシル
バー層の上に印刷層を設けてなることが多い． これらのカードの有する保磁力値を前記の様にＨｃ値と
して例えば、２０００ ０ｅ以上の程度の価に強力に磁
化した場合であっても、本発明装置を用いれば，容易に
電磁光学特性又は電磁気特性を測定することが可能であ
る． 以下、本発明を図面に基づき説明する．第１図はカード
状強磁性体を非破壊で測定等する為の本発明装置の内、
カード状強磁性体に磁場を印加する装置（Ａ）及びカー
ド状強磁性体の有する電磁光学特性又は電磁気特性の検
出手段（Ｂ）、例えば電磁光学特性を磁気カー効果によ
り測定する装置を用いた場合の正面図である．第２図は
第１図装置のカード状強磁性体に磁場を印加するＩｆ！
ｔ（Ａ）部分の側面図である．第３図は第２図の装置部
分の平面図である．第４図はカ−本発明装置の内、カー
ド状強磁性体に磁場を印加する装ａ （Ａ）及びカード
状強磁性体の有する電磁気特性の検出手段（３３）とし
てカード状強磁性体を電磁気的に測定する装置を用いた
場合の正面図であり、第５図は同じく平面図である．更
に第６図は本発明に使用するカード状強磁性体を電磁気
的に測定する装置の配置構造該略図である．第７図は実
施例ｌに於で試験用カードがＨｅ値６００ ０ｅの場合
の微分カーブ及び積分カーブを示す．第８図は同じ＜Ｈ
ｃ値２，７５０ ０ｅの場合の微分カーブ及び積分カー
ブを示す． 第１図乃至第５図において、磁心１にコイル２２′を巻
き付けて生成した電磁石の両磁極３，３′には被測定カ
ード状強磁性体４を挿通することの可能な細隙状貫通孔
５、５′を設けてある．両磁極３、３′の細隙状貫通孔
５、５′は，力一ド状強磁性体４を磁極の一方より挿入
して他方より取り出すことが可能である． 従って、細隙状貫通孔５、５′は被測定カード状強磁性
体４よりもやや大きく作成すればよく、例えば幅５３ｍ
ｍ乃至５９ｍｍ或は幅８３ｎｕ＋＋乃至９０ｍｍ、厚さ
０．０８ｍｍ乃至Ｉｎ＋ａ＋程度までのものが好ましい
．また，両磁極３、３′間の距離は接近している程小型
の装置とすることができるが、１ ０ｌｌＩｍ乃至２０
！ＩＩＩＩ１程度が好ましい． 次に、第１図乃至第３図に示すようにカード状強磁性体
の有する電磁光学特性の検出手段（Ｂ）として磁気カー
効果を用いて測定する装置を示す． この装置は光源６として超高圧水銀燈等を使用し、コン
デンサーレンズ７、ビンホール８，コリメーターレンズ
９、フィルターｌＯ及び偏光子１ｌにより４００ｏ＋ｕ
乃至５５０ｍ４ｔ、試料に依っては４８０ｍｇ乃至５５
０ｍμ．の直締又は楕円偏光を取り出し、反射鏡ｌ２を
経て対物レンズｌ３の中心軸を含まない一側に対物レン
ズｌ３に垂直に入射させ、その射出光を、強磁界を印加
することのできる手段である両磁極３％３′の細隙状の
貫通孔５、５′中のいずれか又はそれらに渡ってｉ置し
てあるカード状強磁性体４に投射し、その反射光を再び
同一の対物レンズ１３の中心軸を含まない他側に入射さ
せ、その射出光を反射鏡１２を経て検光子ｌ４を通過さ
せ、更に必要に応じ、フィルター１５を通過させた後、
ビンホールｌ６、接眼レンズｌ７観測手段ｌ８を施すも
のである． この装置を用いて本発明を実施する際は、この装置（Ａ
・）の細隙状の貫通孔部に基板上に磁性膜を設けたカー
ド状強磁性体を、その磁界の方向と同一方向又は直角方
向に挿入し、磁場を印加した状態で、第１図の様にして
磁気カー効果を使用する電磁光学特性を測定し、順次挿
通してあるカード状強磁性体を移動させることにより、
カード状強磁性体のすべての部分の電磁光学特性を非破
壊で測定することが可能である． この例は特開昭６３−１０４０１５号記載の発明を利用
した発明例であるが、磁気カー効果を使用する電磁気光
学特性を観測する手段ならばこの外いずれの手段を使用
することもできる． 次に第４図及び第５図に示すように，カード状油膳琳ル
ハ七小！柵附百此神ハ邊山キＥルｌＤ）ハ例として、電
磁気特性を測定する装置につき述べると、基板上に磁性
膜を設け、その上に更にシルバー層、要すれば印刷層を
設けたカード状強磁性体を使用し、カード状強磁性体に
磁場を印加する装置（Ａ）の両Ｍ１極３、３′の中間に
あって前記両磁極３、３′中に設けた細隙状の貫通孔５
、５′に対応してほぼ一致する細隙状の貫通孔１９を有
する検出コイル２０、この検出コイルと平行し、かつ前
記両磁極３、３′の間に標準コイル２１、補償コイル２
２を配置して成るカード状強磁性体の電磁気特性を非破
壊で測定する装置（Ｂ）である．ここで、細隙状の貫通
孔ｌ９を有する検出コイル２０は，例えば，特公昭４５
−１００３１号記載同様の原理を使用した装置として磁
気特性を非破壊で測定することができる． 即ち，装置（Ａ）の両磁極３、３′及び装置（Ｂ）の検
出コイル２０を通じて設けてある細隙状の貫通孔５、５
′ｌ９中にカード状強磁性体を載置する．このカード状
強磁性体は、その位置を順ｋ費ｌＨＩセ朴ヱ甲レｌ−ｅ
レｈふーＶムルハ讃榴此卦表非破壊で測定することがで
きる． 本発明を実施する装置は例えば第６図に示す様にコイル
Ｎ，を巻回した電磁石ｌの磁心３、３゛間に設けた検出
コイルＮ２中には試料４を載置してある．別に補償コイ
ルＮ３，標準コイルＮ４を設け、特公昭４５−１００３
１号記載の“０”位相発振が“π一位相発振へ反転する
こととなり，位相検波器の様な検知手段を用いて試料中
の磁界の存在及びその極性を検知することが出来る原理
と同様の原理により試料中の磁界の存在及びその極性を
検知することができる． 今、第６図において、カード状強磁性体である試料をコ
イルＮ２に挿入しない状態で、ｔｍ石ｌの励磁コイルＮ
．に接続された直流三角波バイボーラ電源（Ｂ． Ｐ）
を駆動すると、磁場の強さは（＋）と（−）に、約０．
１秒から０．３秒の間に変化を繰り返す． この結果、磁場中に設置された検出コイルＮ２、補償コ
イルＮｓ、標準コイルＮ４には磁場強度の変化に対応し
た磁束の変化が誘導される． この場合には，試料を検出コイルＮ，に挿入しなくとも
コイルＨｚの両端に電圧が発生し，その大きさは試料が
励磁されて生じた磁東ΦがＮ．を貫通して発生する電圧
よりも大きいので、この状態では測定手段には結び付か
ない． そこでコイルＮ２とＮ，の巻数ｎオとｎ３を等しくし、
この二つのコイルを逆向きに接続すれば、夫々コイルＮ
２、Ｎ３に誘起した電圧は打消され、結果として、回路
中の抵抗器Ｒ０の両端に発生する電圧は０となる． この状態で、検出コイルＮ３の中に試料を挿入すると、
励磁磁場によって磁化された試料から発生する磁束がＮ
８コイルのみを貫通するので、抵抗器Ｒ０の両端には（
１）式に示される微分電圧ｄΦ Ｅｉ＝ ・ｎｇ・ｘ １０・” （Ｖ ）・・・ （
１ ）ｄｔ が発生する． この電圧を入力として積分回路に導入し、時間について
積分すると ＝−ｎ，ΦＸ １０−” （Ｍｘ Ｔｕｒｎｓ１つま
り、積分増幅器ＡｍｐＩに接続することによって磁東Φ
が求められる．また、検出コイルＮ２に誘起された電圧
Ｅｉが積分回路に入力された場合に流れる電流は Ｅｉ Ｉ ＝ − （Ａ） Ｒｏ またこの電流は積分回路のコンデンサＣ （Ｆ）に充電
されるので、増幅器の出力電圧Ｅｏ （Ｖ）はここで
Ｅｃ：コンデンサの充電電圧 Ｑ：コンデンサに蓄えられる電荷 従って積分増幅器ＡｍｐＩの出力電圧Ｅ０は（１）、（
２）式を（３）式に代入して となり、．磁束Φの値は、積分増幅器Ａｍｐ Ｉの出力
電圧Ｅ０に比例した値であることがわかる．本装置の積
分増幅器Ａ＋ｓｐＩは第６図中、ＲＥＣＯＲＤＥＲとし
て示すＸ−Ｙ記録計又はディジタル ストレージ スコ
ープ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｔｏｒａｇｅ Ｓｃｏｐｅ）
と接続してＮ３Φの値を直読又は記録するようになって
おり、ＥＯ（７）値は＋ ２Ｖ／Ｆ． Ｓテある．なお
，積分増幅器Ａｍｐ Ｉの前から微分電圧を出力として
取り出せば微分カーブが得られ、ＳＷを積分増幅器の出
力側に切り換えれば、積分カーブ、即ちヒステリシスカ
ーブ （Ｈｙｓｔｅｒｅｓｉｓ Ｃｕｒｖｅ）（ Ｂ−
Ｈカーブ）が得られる． 更に，標準コイルＮ４の両端には砺磁用電磁石の磁界強
度に比例した電圧Ｅ．が得られ，積分増幅器Ａｍｐ Ｈ
を通して、ｘ−Ｙ記録計又はディジタルストレージスコ
ープのＸ軸に接続する． 標準コイルＮ４の巻数をｎ４、コイルの断面積をＳ （
ａｍ’） ，磁界強度をＨとすると、標準コイルが空気
中に配置されている状態では、 標準コイル内の磁束は Φ。＝ Ｓ・Ｂ （Ｍ．）・・・・・・（５）標準コイ
ルＮ４の両端の誘起電圧は ｄΦ。
Ｅ＊＝ｎａ ＝ ｎａΦ。ｘ １０−’ｆＶｌ
ｄｔ この誘起電圧Ｅ２を積分増幅器Ａｍｐ ＩＩに導入して
積分すると ＝−ｎ４Φ ｏ Ｘ １０−’（＆４ｘ Ｔｕｒｎｓｌ
これをディジタル ストレイジ スコープの垂直軸（ｘ
−ｙ記録計でも可）に加えると斜線を画き、この斜線の
垂直方向の大きさは、標準コイルＮ４の磁束の値に比例
するので、（５）式の結果から、斜線の垂直部分の大き
さにより、磁束Φが判明する． 従って磁束密度Ｂは ｂ として求めることができる． ［作用１ 本発明装置は前記の様に両磁心中にはカード状強磁性体
が挿通可能な細隙状の貫通孔を有するので、例えカード
が大きくても両磁心の間隔はごく接近したちのを使用し
てカード状強磁性体の磁気特性を測定するすることが可
能である．殊に本発明装置（Ａ）の両磁心に挟まれた部
分の磁気特性を測定するために電磁気特性を利用して測
定する場合は，装置ＣＢ）中の検出コイル２０は装！
（Ａ）の両磁極３、３′の中間に設けてなり、それによ
り装置（Ａ）の励Ｅｎ磁界による信号を補償コイルを用
いてキャンセルすることとなり両ｍｔｆｉ３、３′の中
間に位置するカード状強磁性体の磁・東反転を取り出す
ことができる．本発明装置（Ａ）、（Ｂ）を通じて被測
定カード状強磁性体がその形状を保ったまま自由にその
測定位置を選択することが可能であり、必要に応じ、そ
の全体をも順次測定することが可能である． ［実施例］ Ｅｎｔｉ間の距離が１６ｍｍであり、貫通孔として幅５
６＋ｎｍ、高さ０．５ｍｍの細隙を有する第４図及び第
５図に示す電磁石及び検出コイルを用いた装置を使用し
て直流電磁石（ Ｈｍａｘ±８０００ ０ｅ） （重量
約５０Ｋｇ）を用い、第６図に示す様な配置構造該略図
に記載の装置を使用して幅約５４ｍｍ、長さ約８６問、
厚さ約０．２５ｍｍの片側全面にｍ性膜及びアルミニウ
ム扮を用いたシルバー層を塗布した試験カードを試料と
して使用した． Ｈｃ値として６００ ０ｅの試験カードを使用して測定
を行なった結果の積分カーブ（Ｂ−１１曲線）及び微分
カーブを夫々第７図（Ａ）及び（Ｂ）に示す．また、Ｈ
ｅ値として２．７５０ ０ｅの試験カードを使用した結
果の積分カーブ及び微分カーブを夫々第８図（Ａ）及び
（Ｂ）に示す． この試験カードを順次移動させることによって逐次図形
を検査しカーブの異常の有無によりカードの良否を判定
することができる． 「 ８さ Ｉ日 ｔｒ＋ ｔ’ｎ Ｊ！Ｌ １本
発明装置は前記の通りであり、前記のような作用を有す
る６のであるので、例え被測定資料であるカード状強磁
性体が相当な大きさを有していてち、高々数十ｋｇ程度
の比較的小型の電磁石を用いた装置を使用し、被測定資
料を破壊することなく例えカード状強磁性体の磁気特性
がＨｃ値として例えば、２０００ ０ｅ以上程度の様な
大きな価のものであっても、そのｔ磁気特性又は電磁光
学特性を容易に測定等することが可能となったものであ
りその利益は極めて大きい．
ｄｔ この誘起電圧Ｅ２を積分増幅器Ａｍｐ ＩＩに導入して
積分すると ＝−ｎ４Φ ｏ Ｘ １０−’（＆４ｘ Ｔｕｒｎｓｌ
これをディジタル ストレイジ スコープの垂直軸（ｘ
−ｙ記録計でも可）に加えると斜線を画き、この斜線の
垂直方向の大きさは、標準コイルＮ４の磁束の値に比例
するので、（５）式の結果から、斜線の垂直部分の大き
さにより、磁束Φが判明する． 従って磁束密度Ｂは ｂ として求めることができる． ［作用１ 本発明装置は前記の様に両磁心中にはカード状強磁性体
が挿通可能な細隙状の貫通孔を有するので、例えカード
が大きくても両磁心の間隔はごく接近したちのを使用し
てカード状強磁性体の磁気特性を測定するすることが可
能である．殊に本発明装置（Ａ）の両磁心に挟まれた部
分の磁気特性を測定するために電磁気特性を利用して測
定する場合は，装置ＣＢ）中の検出コイル２０は装！
（Ａ）の両磁極３、３′の中間に設けてなり、それによ
り装置（Ａ）の励Ｅｎ磁界による信号を補償コイルを用
いてキャンセルすることとなり両ｍｔｆｉ３、３′の中
間に位置するカード状強磁性体の磁・東反転を取り出す
ことができる．本発明装置（Ａ）、（Ｂ）を通じて被測
定カード状強磁性体がその形状を保ったまま自由にその
測定位置を選択することが可能であり、必要に応じ、そ
の全体をも順次測定することが可能である． ［実施例］ Ｅｎｔｉ間の距離が１６ｍｍであり、貫通孔として幅５
６＋ｎｍ、高さ０．５ｍｍの細隙を有する第４図及び第
５図に示す電磁石及び検出コイルを用いた装置を使用し
て直流電磁石（ Ｈｍａｘ±８０００ ０ｅ） （重量
約５０Ｋｇ）を用い、第６図に示す様な配置構造該略図
に記載の装置を使用して幅約５４ｍｍ、長さ約８６問、
厚さ約０．２５ｍｍの片側全面にｍ性膜及びアルミニウ
ム扮を用いたシルバー層を塗布した試験カードを試料と
して使用した． Ｈｃ値として６００ ０ｅの試験カードを使用して測定
を行なった結果の積分カーブ（Ｂ−１１曲線）及び微分
カーブを夫々第７図（Ａ）及び（Ｂ）に示す．また、Ｈ
ｅ値として２．７５０ ０ｅの試験カードを使用した結
果の積分カーブ及び微分カーブを夫々第８図（Ａ）及び
（Ｂ）に示す． この試験カードを順次移動させることによって逐次図形
を検査しカーブの異常の有無によりカードの良否を判定
することができる． 「 ８さ Ｉ日 ｔｒ＋ ｔ’ｎ Ｊ！Ｌ １本
発明装置は前記の通りであり、前記のような作用を有す
る６のであるので、例え被測定資料であるカード状強磁
性体が相当な大きさを有していてち、高々数十ｋｇ程度
の比較的小型の電磁石を用いた装置を使用し、被測定資
料を破壊することなく例えカード状強磁性体の磁気特性
がＨｃ値として例えば、２０００ ０ｅ以上程度の様な
大きな価のものであっても、そのｔ磁気特性又は電磁光
学特性を容易に測定等することが可能となったものであ
りその利益は極めて大きい．
第１図はカード状強磁性体を非破壊で測定等する為の本
発明装置の内、カード状強磁性体に磁場を印加する装置
（Ａ）及びカード状強磁性体の有する磁気特性の検出手
段（Ｂ）として電磁光学特性を磁気カー効果により測定
する装置を用いた場合の正面図である．第２図は第１図
装置のカード状強磁性体に磁場を印加する装置（Ａ）部
分の側面団アふス− 笛１団ｔ峠笛ワ隋ｍ基脣猟４ｍ五
石田である．第４図はカード状強磁性体を非破壊で測定
等することのできる本発明装置の内、カード状強磁性体
に磁場を印加する装置（Ａ）及びカード状強磁性体の磁
気特性を電磁気的に測定する装置を用いた場合の正面図
であり、第５図は同じく平面図である．また，第６図は
本発明に使用するカード状強磁性体の磁気特性を電磁気
的に測定する装置の配置構造該略図である．第７図Ａ及
びＢは実施例１に於で試験用カードがＨｃ値６００ ０
ｅの場合の夫々積分カーブ及び微分カーブを示す．第８
図Ａ及びＢは同じ＜Ｈｃ値２，７５０ ０ｅの場合の夫
々積分カーブ及び微分カーブを示す． ｌ・・・磁心、２、２′・・・コイル、３，３′・・・
磁極４・・・カード状強磁性体、５、５′・・・細隙状
の貫通孔、６・・・光源，７・・・コンデンサーレンズ
、８・・・ビンホール、９・・・コリメーターレンズ、
ｌＯ・・・フィルター １１・・・偏光子． １２・・
・反射鏡．ｔ３・・・対物レンズ，１４・・・検光子、
１５・・・フィルター ｌ６・・・ビンホール， １７
・・・接眼レンズ、ｌ８・・・観測手段，１９・・・磁
極３３′中に設けた細隙状の貫通孔５、５′に対応する
検出コイルＮ２中に設けた細隙状の貫通孔、Ｎ．・・・
検出コイル、Ｎ３・・・補償コイル、Ｎ４・・・標準コ
イル． Ａｍｐ Ｉ・・・積分増幅器Ｙ又はＢ軸、Ａｍ
ｐ ＴＩ・・・積分増幅器Ｘ又はＨ軸、Ｂ．Ｐ・・・バ
イボーラー電源．以上 特許出願人 有限会社 アスヵ電子代理人 弁
理士 渋 谷 理第 図 第 図 ゝ／ 第 図 第 閃 第 躬 Ｂ （Ａ） Ｂ ＦＢ） 第 図 Ｂ （Ａ） （Ｂ） 手系売ネ甫正書 平成２年３月１５日
発明装置の内、カード状強磁性体に磁場を印加する装置
（Ａ）及びカード状強磁性体の有する磁気特性の検出手
段（Ｂ）として電磁光学特性を磁気カー効果により測定
する装置を用いた場合の正面図である．第２図は第１図
装置のカード状強磁性体に磁場を印加する装置（Ａ）部
分の側面団アふス− 笛１団ｔ峠笛ワ隋ｍ基脣猟４ｍ五
石田である．第４図はカード状強磁性体を非破壊で測定
等することのできる本発明装置の内、カード状強磁性体
に磁場を印加する装置（Ａ）及びカード状強磁性体の磁
気特性を電磁気的に測定する装置を用いた場合の正面図
であり、第５図は同じく平面図である．また，第６図は
本発明に使用するカード状強磁性体の磁気特性を電磁気
的に測定する装置の配置構造該略図である．第７図Ａ及
びＢは実施例１に於で試験用カードがＨｃ値６００ ０
ｅの場合の夫々積分カーブ及び微分カーブを示す．第８
図Ａ及びＢは同じ＜Ｈｃ値２，７５０ ０ｅの場合の夫
々積分カーブ及び微分カーブを示す． ｌ・・・磁心、２、２′・・・コイル、３，３′・・・
磁極４・・・カード状強磁性体、５、５′・・・細隙状
の貫通孔、６・・・光源，７・・・コンデンサーレンズ
、８・・・ビンホール、９・・・コリメーターレンズ、
ｌＯ・・・フィルター １１・・・偏光子． １２・・
・反射鏡．ｔ３・・・対物レンズ，１４・・・検光子、
１５・・・フィルター ｌ６・・・ビンホール， １７
・・・接眼レンズ、ｌ８・・・観測手段，１９・・・磁
極３３′中に設けた細隙状の貫通孔５、５′に対応する
検出コイルＮ２中に設けた細隙状の貫通孔、Ｎ．・・・
検出コイル、Ｎ３・・・補償コイル、Ｎ４・・・標準コ
イル． Ａｍｐ Ｉ・・・積分増幅器Ｙ又はＢ軸、Ａｍ
ｐ ＴＩ・・・積分増幅器Ｘ又はＨ軸、Ｂ．Ｐ・・・バ
イボーラー電源．以上 特許出願人 有限会社 アスヵ電子代理人 弁
理士 渋 谷 理第 図 第 図 ゝ／ 第 図 第 閃 第 躬 Ｂ （Ａ） Ｂ ＦＢ） 第 図 Ｂ （Ａ） （Ｂ） 手系売ネ甫正書 平成２年３月１５日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記被測定カ
ード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を設け、更
に該両磁極の中間に、磁気特性の検出手段を設けてなる
カード状強磁性体の電磁光学特性又は電磁気特性を非破
壊で測定する装置。 ２、被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記被測定カ
ード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を設け、更
に該両磁極の中間に、磁気カー効果検出手段を設けてな
るカード状強磁性体の電磁光学特性を非破壊で測定する
装置。 ３、被測定カード状強磁性体の磁界の方向と同一方向、
又は直角方向に、磁場を印加する両磁極に前記被測定カ
ード状強磁性体を挿通しうる細隙状の貫通孔を設け、更
に該両磁極の中間に、前記両磁極に設けた細隙に対応す
る貫通孔を有する検出コイルを配置したカード状強磁性
体の電磁気特性を非破壊で測定する装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29877389A JPH03160381A (ja) | 1989-11-18 | 1989-11-18 | 磁気カードの特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29877389A JPH03160381A (ja) | 1989-11-18 | 1989-11-18 | 磁気カードの特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03160381A true JPH03160381A (ja) | 1991-07-10 |
Family
ID=17864031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29877389A Pending JPH03160381A (ja) | 1989-11-18 | 1989-11-18 | 磁気カードの特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03160381A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102590769A (zh) * | 2011-01-14 | 2012-07-18 | 株式会社日立产机系统 | 强磁性材料的磁力特性测定方法以及磁力特性测定装置 |
| JP2014190745A (ja) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Fujitsu Ltd | 磁気特性測定方法及び装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5134309U (ja) * | 1974-09-06 | 1976-03-13 | ||
| JPS5559353A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | Magnetic property measuring device |
| JPS62106381A (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | マイクロカ−効果測定装置 |
| JPS639872A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-16 | Asuka Denshi:Kk | アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 |
-
1989
- 1989-11-18 JP JP29877389A patent/JPH03160381A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5134309U (ja) * | 1974-09-06 | 1976-03-13 | ||
| JPS5559353A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | Magnetic property measuring device |
| JPS62106381A (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | マイクロカ−効果測定装置 |
| JPS639872A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-16 | Asuka Denshi:Kk | アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102590769A (zh) * | 2011-01-14 | 2012-07-18 | 株式会社日立产机系统 | 强磁性材料的磁力特性测定方法以及磁力特性测定装置 |
| JP2014190745A (ja) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Fujitsu Ltd | 磁気特性測定方法及び装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Hayes et al. | Converse magnetoelectric composite resonator for sensing small magnetic fields | |
| US7241630B2 (en) | Paramagnetic particle detection | |
| US20130257461A1 (en) | Metrology for contactless measurement of electrical resistance change in magnetoresistive samples | |
| JPH05264699A (ja) | 磁場測定装置 | |
| US3984763A (en) | Device for the non-destructive measurement of the remanent flux density of magnetic recording media, especially magnetic discs | |
| JPS6352345B2 (ja) | ||
| US5287056A (en) | Surface magnetometer with modulated flux gate section | |
| US4847561A (en) | Domain and domain wall transition spectroscopy | |
| JPH03160381A (ja) | 磁気カードの特性測定装置 | |
| JPH07115033A (ja) | 積層セラミックコンデンサの方向識別方法 | |
| CN115407250A (zh) | 一种反铁磁磁力计和反铁磁磁化表征的方法 | |
| JP2006090825A (ja) | 磁気免疫測定装置 | |
| EP1146347B1 (en) | Magnetic particle detection | |
| Lee et al. | The use of the Kerr effect for studying the magnetization of a reflecting surface | |
| JPH09178649A (ja) | 磁気光学特性測定装置 | |
| JPH11101863A (ja) | 被測定試料の交流磁気特性を測定する方法 | |
| Burdin | Measurement of magnetostriction using a strain gauge bridge with alternating excitation | |
| Voronov et al. | Bismuth‐substituted Iron Garnet Films for Magnetophotonics: Part B–Devices and Applications | |
| SU1580298A1 (ru) | Магнитометр | |
| Büttner et al. | Investigation of magnetic active core sizes and hydrodynamic diameters of a magnetically fractionated ferrofluid | |
| Hoseizadeh et al. | Design and Implementation of a Rotating Magnetic Field Probes for Barkhausen Noise Measurement | |
| RU2544276C1 (ru) | Способ измерения параметров наноразмерных магнитных пленок | |
| KR100285641B1 (ko) | 박강판 흠탐상을 위한 자기센서의 신호처리 방법 | |
| JPH07104043A (ja) | 磁気センサ | |
| JPH0460477A (ja) | 超電導体の磁気特性測定方法 |