JPS639872A - アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 - Google Patents
アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置Info
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- JPS639872A JPS639872A JP15377386A JP15377386A JPS639872A JP S639872 A JPS639872 A JP S639872A JP 15377386 A JP15377386 A JP 15377386A JP 15377386 A JP15377386 A JP 15377386A JP S639872 A JPS639872 A JP S639872A
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- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 title claims abstract description 19
- 230000005374 Kerr effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 29
- 239000005300 metallic glass Substances 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 abstract 1
- 229910000808 amorphous metal alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910000976 Electrical steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000474 nursing effect Effects 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
介護し針麩」U乞!一
本発明はアモルファス金属、殊にアモルファス合金の薄
帯の磁区構造検知装置に関する。
帯の磁区構造検知装置に関する。
従来の技術
近年、アモルファス合金薄帯作成技術が発明され、配合
する金属の種類、元素の組合せ等によって各種のアモル
ファス合金薄帯が得られ幅の広い種々の特徴を有してい
る。例えば(1)透磁率が高い、(2)鉄損が小さい、
(3)磁歪を広い範囲で制御できる、(4)電気抵抗率
が高く、温度変化が小さい、(5)熱膨張係数や剛性率
の温度係数が小さい、(6)機械的強度が大きい、(7
)化学的安定性(耐蝕性)がある、(8)耐放射線損傷
性がある、等である。
する金属の種類、元素の組合せ等によって各種のアモル
ファス合金薄帯が得られ幅の広い種々の特徴を有してい
る。例えば(1)透磁率が高い、(2)鉄損が小さい、
(3)磁歪を広い範囲で制御できる、(4)電気抵抗率
が高く、温度変化が小さい、(5)熱膨張係数や剛性率
の温度係数が小さい、(6)機械的強度が大きい、(7
)化学的安定性(耐蝕性)がある、(8)耐放射線損傷
性がある、等である。
これら諸特性の結果、ろう接材分野、パーマロイ、フェ
ライト、等の電子用分野、珪素鋼板代替分野、各種セン
サー分野、高強靭、高耐摩耗性材料、触媒用材料、高耐
蝕性材料、耐放射線性材料、超電導材料、恒弾性材、等
の各種広範な用途に使用し得るものであるが、これらア
モルファス金属、殊にアモルファス合金の薄帯の磁気的
特性を知ることは、希望する材質を得るためにも、極め
て重要な手段となってくる。
ライト、等の電子用分野、珪素鋼板代替分野、各種セン
サー分野、高強靭、高耐摩耗性材料、触媒用材料、高耐
蝕性材料、耐放射線性材料、超電導材料、恒弾性材、等
の各種広範な用途に使用し得るものであるが、これらア
モルファス金属、殊にアモルファス合金の薄帯の磁気的
特性を知ることは、希望する材質を得るためにも、極め
て重要な手段となってくる。
従来用いられていたカー(KERR)効果による磁区構
造観測装置は、試料の表面が鏡面状態か、あるいはこれ
に相当する状態のものでなければ観測された像のコント
ラストが低下し、特にTV右カメラ通してモニター画面
に映してみることは殆んど不可能に近かった。
造観測装置は、試料の表面が鏡面状態か、あるいはこれ
に相当する状態のものでなければ観測された像のコント
ラストが低下し、特にTV右カメラ通してモニター画面
に映してみることは殆んど不可能に近かった。
発明が解決しようとする問題点
前述のアモルファス金属薄帯の表面は、凹凸が著しく、
光源よりの反射光は殆んどが雑音を多く含んだ散乱光で
、S/Nは極めて低く、情報光は、散乱光の雑音に埋も
れて、観測は不可能であった。
光源よりの反射光は殆んどが雑音を多く含んだ散乱光で
、S/Nは極めて低く、情報光は、散乱光の雑音に埋も
れて、観測は不可能であった。
またCODカメラを用いた場合に、周知の如く、このカ
メラの量子効率と波長特性が極めて高く、通常の偏光子
、検光子を用いただけでは、COD素子の感度が飽和状
態になり、モニター画面はハレーシロンのみとなって観
測は不可能に近い。これはCODカメラの近赤外光に対
する感度がピークを持つ理由によるものと考えられる。
メラの量子効率と波長特性が極めて高く、通常の偏光子
、検光子を用いただけでは、COD素子の感度が飽和状
態になり、モニター画面はハレーシロンのみとなって観
測は不可能に近い。これはCODカメラの近赤外光に対
する感度がピークを持つ理由によるものと考えられる。
従来のビジコンカメラはこの点ハレーションが少ないが
、量子効率が低く、可視光域中心の感度も低い上に約5
000以上の外部磁場によってカメラが影響され、画面
が揺れ易いため使用し得ない。
、量子効率が低く、可視光域中心の感度も低い上に約5
000以上の外部磁場によってカメラが影響され、画面
が揺れ易いため使用し得ない。
作 用
本発明は磁化又は磁界を印加したアモルファス金属、殊
にアモルファス合金薄帯に磁気カー(KERR)効果測
定装置により、光源より射出され長の偏光を斜に照射し
、その反射光を検光子を通してCODカメラに受光、撮
像し、この映像を更にリアルタイムTV画像処理装置を
用いて画像処理するものである。
にアモルファス合金薄帯に磁気カー(KERR)効果測
定装置により、光源より射出され長の偏光を斜に照射し
、その反射光を検光子を通してCODカメラに受光、撮
像し、この映像を更にリアルタイムTV画像処理装置を
用いて画像処理するものである。
ここで、磁化或は磁界を印加した金属表面等に偏光を照
射すると、磁気カー効果により磁化状況に応じて、その
反射光が回折現象を起すことは知られていたが、本発明
に於いては磁気カー効果測定装置にCODカメラを使用
する際、光源よりの源より発する480mμに中心波長
を選び、殊に400〜550mμの範囲で量子効率を下
げることなく偏光を使用すると、光源からの散乱光のう
ち、情報光の含まれる割合を高めてリアルタイムTV画
像処理装置にかけることによりすぐれたアモルファス金
属薄帯の磁区構造をコントラストよく明瞭に観測するこ
とが出来る。
射すると、磁気カー効果により磁化状況に応じて、その
反射光が回折現象を起すことは知られていたが、本発明
に於いては磁気カー効果測定装置にCODカメラを使用
する際、光源よりの源より発する480mμに中心波長
を選び、殊に400〜550mμの範囲で量子効率を下
げることなく偏光を使用すると、光源からの散乱光のう
ち、情報光の含まれる割合を高めてリアルタイムTV画
像処理装置にかけることによりすぐれたアモルファス金
属薄帯の磁区構造をコントラストよく明瞭に観測するこ
とが出来る。
問題を解決するための手段
本発明は磁気カー効果測定手段、CODカメラ及びリア
ルタイムTV画像処理手段を結合してなるアモルファス
金属薄帯の磁区構造検知装置である。
ルタイムTV画像処理手段を結合してなるアモルファス
金属薄帯の磁区構造検知装置である。
これを図面に基づき詳述すると、本発明に使用しうる磁
気カー(KERR)効果測定手段は、光源l、例えばレ
ーザー光線発振手段、超高圧水銀燈、キセノンランプ又
はハロゲンランプなどの光線発生手段より発生した光線
は、コンデンサレンズ2、ピンホール3、コリメーター
レンズ4、フィルタを取り出し、試料台7上に載置した
試料、アモルファス金属薄帯8表面に斜に照射し、その
反射光を対物レンズ10.検光子11、ピンホール12
、接眼fi13を通してCODカメラI4に受光する。
気カー(KERR)効果測定手段は、光源l、例えばレ
ーザー光線発振手段、超高圧水銀燈、キセノンランプ又
はハロゲンランプなどの光線発生手段より発生した光線
は、コンデンサレンズ2、ピンホール3、コリメーター
レンズ4、フィルタを取り出し、試料台7上に載置した
試料、アモルファス金属薄帯8表面に斜に照射し、その
反射光を対物レンズ10.検光子11、ピンホール12
、接眼fi13を通してCODカメラI4に受光する。
なおフィルターは受光側の5′として用いてもよい。
ここで試料アモルファス金属薄帯8は、必要に応じ50
0e以上程度の直流又は交流磁界を印加し得る様、アモ
ルファス金属薄帯の側方に、例えばヘルムホルツコイル
9.9′が設置されている。
0e以上程度の直流又は交流磁界を印加し得る様、アモ
ルファス金属薄帯の側方に、例えばヘルムホルツコイル
9.9′が設置されている。
COD (Charge Coupled Devic
e)カメラとは、金属−酸化物一半導体で形成したMO
Sダイオードであり、ゲート電極がモザイク状に配列さ
れているCCD全固体撮像素子を有するカメラで、カメ
ラヘッド部14−1とカメラ制御部14−2とよりなる
。
e)カメラとは、金属−酸化物一半導体で形成したMO
Sダイオードであり、ゲート電極がモザイク状に配列さ
れているCCD全固体撮像素子を有するカメラで、カメ
ラヘッド部14−1とカメラ制御部14−2とよりなる
。
前記CODカメラへの受光光をカメラヘッド部のCCD
全固体撮像素子で光電変換された信号は、カメラ制御部
のアナログ又はディジタル走査によって映像信号として
出力される。
全固体撮像素子で光電変換された信号は、カメラ制御部
のアナログ又はディジタル走査によって映像信号として
出力される。
CODカメラ14よりの出力信号は、リアルタイムTV
画像処理部へ送られる。このリアルタイム画像処理部は
、その内部に高速で作動するA/D変換部f7、演算処
理部(メモリ書込み)1g、メモリ部19、演算処理部
(メモリ読出し)20、エンハンス処理部21.D/A
変換部22を含んで構成されている。
画像処理部へ送られる。このリアルタイム画像処理部は
、その内部に高速で作動するA/D変換部f7、演算処
理部(メモリ書込み)1g、メモリ部19、演算処理部
(メモリ読出し)20、エンハンス処理部21.D/A
変換部22を含んで構成されている。
まず、資料アモルファス金属薄帯8に磁界を印加しない
時の像を演算処理部18で積分しく30)、メモリ部1
9、に記憶し、背景像とする(31)。
時の像を演算処理部18で積分しく30)、メモリ部1
9、に記憶し、背景像とする(31)。
次に試料アモルファス金属薄帯8に直流又は交流磁界を
印加し、CODカメラI4からの映像信号から前記背景
像を引きながら、メモリ19を使ってアベレージング処
理をする(32)と同時にエンハンス処理部21でコン
トラストを強調しく33〜37)、D/A変換部22を
通してTV表示する(28)。
印加し、CODカメラI4からの映像信号から前記背景
像を引きながら、メモリ19を使ってアベレージング処
理をする(32)と同時にエンハンス処理部21でコン
トラストを強調しく33〜37)、D/A変換部22を
通してTV表示する(28)。
ここで、背景像を引くことにより、金属表面の不均一に
起因するCODカメラ出力電圧のバラツキを除去し、磁
界による変化成分のみを抽出することができる。
起因するCODカメラ出力電圧のバラツキを除去し、磁
界による変化成分のみを抽出することができる。
演算処理部での積分は、同一映像を数回加算するもので
、静止画に対するS/N改善をもたらし、加算回数をN
とするとS倍のS/N改善効果がある。一方、アベレー
ジングは人力画像データとメモリ画像データの重み付け
をして、メモリの書込みデータとするもので、動画像に
対するS/N改善である。重み付は係数をKとするとf
Σに−1−倍のS/N改善効果がある。Kの値はリモコ
ンボックス24.25にて行う。
、静止画に対するS/N改善をもたらし、加算回数をN
とするとS倍のS/N改善効果がある。一方、アベレー
ジングは人力画像データとメモリ画像データの重み付け
をして、メモリの書込みデータとするもので、動画像に
対するS/N改善である。重み付は係数をKとするとf
Σに−1−倍のS/N改善効果がある。Kの値はリモコ
ンボックス24.25にて行う。
又エンハンス処理部は濃度エンハンスルックアップテー
ブルで構成されており16ビツトの画像データの場合は
、観察したい部分を選択して、その範囲のコントラスト
を強調するもので、見やすい画像を得ることができる。
ブルで構成されており16ビツトの画像データの場合は
、観察したい部分を選択して、その範囲のコントラスト
を強調するもので、見やすい画像を得ることができる。
以上の画像処理により、従来、予想されなかったアモル
ファス金属薄帯の磁区構造が明瞭に観測出来る様になっ
たものである。
ファス金属薄帯の磁区構造が明瞭に観測出来る様になっ
たものである。
なお本発明に使用するリアルタイムTV画像処理装置は
、少くとも毎秒25フレ一ム以上、好ましくは毎秒30
フレ一ム以上の画像処理することが可能でなければなら
ないものである。
、少くとも毎秒25フレ一ム以上、好ましくは毎秒30
フレ一ム以上の画像処理することが可能でなければなら
ないものである。
本発明で使用しうるアモルファス金属薄帯、殊にアモル
ファス合金薄帯とは、例えば配合原料を溶融し、溶融金
属を急冷し、通常2mm〜20cm幅、lOμra−1
00μm厚の非晶質リボンとして製造されるもので、例
えばFeB51. FeB51C。
ファス合金薄帯とは、例えば配合原料を溶融し、溶融金
属を急冷し、通常2mm〜20cm幅、lOμra−1
00μm厚の非晶質リボンとして製造されるもので、例
えばFeB51. FeB51C。
FeCrBSilFeCoBSiSFeNiMoB、
CoFeMnB51等の合金を例示することができる。
CoFeMnB51等の合金を例示することができる。
実施例
第1図の装置を使用し、光源としてtoowの超高圧水
銀燈を使用し、フィルターを使用して480〜550m
μの直線偏光を射出する。
銀燈を使用し、フィルターを使用して480〜550m
μの直線偏光を射出する。
アモルファスリボン2705MN(アライド社製合金商
品名で、F e7aB +*S isの組成よりなる)
の巾約3CII11厚さ約20μ巾の薄帯を試料として
使用し、この薄帯に500eの磁界を十−交互に印加し
た後前記偏光を斜に照射する。
品名で、F e7aB +*S isの組成よりなる)
の巾約3CII11厚さ約20μ巾の薄帯を試料として
使用し、この薄帯に500eの磁界を十−交互に印加し
た後前記偏光を斜に照射する。
アモルファス合金薄帯を反射した偏光は対物レンズ、検
光子、ピンホール、接眼鏡を経てTf−26A形CCD
カメラ(日本型気味式会社製商品名)の受光部14−1
へ達する。CODカメラ受光部14−1での映像信号は
カメラ制御部14−2へ送られ、ディジタル化した画像
信号電流としてリアルタイムTV画像処理装置イメージ
Σ(日本アビオニクス株式会社製商品名)のビデオ切換
部16を経てA/D変換部17へ入力される。
光子、ピンホール、接眼鏡を経てTf−26A形CCD
カメラ(日本型気味式会社製商品名)の受光部14−1
へ達する。CODカメラ受光部14−1での映像信号は
カメラ制御部14−2へ送られ、ディジタル化した画像
信号電流としてリアルタイムTV画像処理装置イメージ
Σ(日本アビオニクス株式会社製商品名)のビデオ切換
部16を経てA/D変換部17へ入力される。
ここで、A/D変換部」7は8ビット/画素として構成
され、画素構成は64にD−RAM使用により640X
480画素/画面であり、背景画像を入力して積分した
積分結果は16ビツト/画素、積分時間33 m5ec
/画面(8,3秒/256画面)である。
され、画素構成は64にD−RAM使用により640X
480画素/画面であり、背景画像を入力して積分した
積分結果は16ビツト/画素、積分時間33 m5ec
/画面(8,3秒/256画面)である。
更に背景除去像に対する動的ノイズ除去としては5n=
Ln−B 但し、L二人力画像、B:背景画像、S:入力画像−背
景画像、K:重み付係数(K=2.4,6,8゜16ビ
ツト)、M:画像メモリ(640X480X16ビツト
)、n:画像数として計算される。
Ln−B 但し、L二人力画像、B:背景画像、S:入力画像−背
景画像、K:重み付係数(K=2.4,6,8゜16ビ
ツト)、M:画像メモリ(640X480X16ビツト
)、n:画像数として計算される。
又背景除去像に対する静的ノイズ除去としては次の様に
計算される。
計算される。
Sn=Ln−B
Mn= ”X (Sn) m:2’ 〜2’N
=1 但し、L、B、S、M、nは上記同様の意味を有する。
=1 但し、L、B、S、M、nは上記同様の意味を有する。
なお、輝度強調有効データをフルスケール表示する際は
、256階調でD/A変換部は8ビット/画素として構
成されている。
、256階調でD/A変換部は8ビット/画素として構
成されている。
結局、画像処理方式としては、ある1方向の飽和状態の
磁区パターンを積分して背景画像とし、ライブ像との差
分をとってエンハンスした後、アベレージングするもの
であり、これにより動的観測が可能になったものである
。
磁区パターンを積分して背景画像とし、ライブ像との差
分をとってエンハンスした後、アベレージングするもの
であり、これにより動的観測が可能になったものである
。
第4図は本発明装置に於いてCODカメラによる映像信
号を直接モニターTVに写したもので、アモルファス合
金薄帯につきリアルタイムTV画像処理を行なわない場
合を示し、第5図はこれに対し本発明によるリアルタイ
ムTV画像処理手段を施した場合の画像処理の結果を示
す。この結果から第5図は明らかに金属ドメインの磁区
構造を示している。
号を直接モニターTVに写したもので、アモルファス合
金薄帯につきリアルタイムTV画像処理を行なわない場
合を示し、第5図はこれに対し本発明によるリアルタイ
ムTV画像処理手段を施した場合の画像処理の結果を示
す。この結果から第5図は明らかに金属ドメインの磁区
構造を示している。
効 果
前記の様に本発明によりアモルファス金属、殊にアモル
ファス合金薄帯の磁区模様の運動や回転の状態を知るこ
とが出来、B−H特性と合せて磁区構造が明確となり、
アモルファス金属薄帯の他の物理、化学的特性と相撲っ
て、目的材料としての適否を明確にすることが出来た画
期的な装置である。
ファス合金薄帯の磁区模様の運動や回転の状態を知るこ
とが出来、B−H特性と合せて磁区構造が明確となり、
アモルファス金属薄帯の他の物理、化学的特性と相撲っ
て、目的材料としての適否を明確にすることが出来た画
期的な装置である。
第1図は本発明のアモルファス金属薄帯の磁区構造検知
手段における磁気カー効果測定部並びにCODカメラ部
の説明図であり、第2図は同じくリアルタイムTV画像
処理部のブロック図であり、第3図は同じくリアルタイ
ムTV画像処理部のフ第5図は本発明装置を使用して得
られる画像処理を施したアモルファス金属薄帯表面の磁
区構造を示すものである。 特許出願人 有限会社アスカ電子 rrijC冨τ− 第31!l 葬 4a 纂 51の 手続補正書 昭和61年11月6日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第153773号 2、発明の名称 アそルファス金属薄帯の磁区構造検知装置3、補正をす
る者 4、代理人 郵便番号〒223 自 発 8、補正の内容 (1)明細書につき (1) 第8頁第15行「起因する」とあるのを「起
因する」と訂正します。 (2第9頁第7行「エンハンス処理部」の次に「21」
を加入します。 (3)第11頁第5行「64にD−RAMJとあるのを
r 64KD−RAMJと訂正します。 (4)第11頁第12行 とあるのを次の通り訂正します。 (II)図面につき (1)第1図。別紙の通り符号グの名称「ヘルムホルツ
フィルター」とあるのを「ヘルムホルツコイル」と訂正
します。(別紙の通り)9、添付書頌 (1)図面 第1図(訂正) 1通以上
手段における磁気カー効果測定部並びにCODカメラ部
の説明図であり、第2図は同じくリアルタイムTV画像
処理部のブロック図であり、第3図は同じくリアルタイ
ムTV画像処理部のフ第5図は本発明装置を使用して得
られる画像処理を施したアモルファス金属薄帯表面の磁
区構造を示すものである。 特許出願人 有限会社アスカ電子 rrijC冨τ− 第31!l 葬 4a 纂 51の 手続補正書 昭和61年11月6日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第153773号 2、発明の名称 アそルファス金属薄帯の磁区構造検知装置3、補正をす
る者 4、代理人 郵便番号〒223 自 発 8、補正の内容 (1)明細書につき (1) 第8頁第15行「起因する」とあるのを「起
因する」と訂正します。 (2第9頁第7行「エンハンス処理部」の次に「21」
を加入します。 (3)第11頁第5行「64にD−RAMJとあるのを
r 64KD−RAMJと訂正します。 (4)第11頁第12行 とあるのを次の通り訂正します。 (II)図面につき (1)第1図。別紙の通り符号グの名称「ヘルムホルツ
フィルター」とあるのを「ヘルムホルツコイル」と訂正
します。(別紙の通り)9、添付書頌 (1)図面 第1図(訂正) 1通以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 磁気カー効果測定手段、CCDカメラによる撮像手
段及びリアルタイムTV画像処理手段を結合してなるア
モルファス金属薄帯の磁区構造検知装置。 2 磁気カー効果測定手段は光源よりの光線を偏光子に
より偏光を射出させ、アモルファス金属薄帯に斜に照射
し、その反射光を検光子を通過させてCCDカメラの受
光素子に撮像させる途中に於いてフィルターを使用する
ことにより400〜550mμの波長の偏光として使用
し、前記アモルファス金属薄帯に磁界を印加する手段を
設けるものであり、次にCCDカメラによる撮像手段は
、前記CCDカメラの受光素子に受光した光を光電変換
し、アナログ又はディジタル走査により映像信号として
出力する手段であり、及びリアルタイムTV画像処理手
段は、前記CCDカメラよりの出力映像信号を必要に応
じディジタル処理した後、積分処理、減算処理、エンハ
ンス処理及びD/A変換処理を行う手段であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のアモルファス金属
薄帯の磁区構造検知装置。 3 光源はレーザー光線発生手段、超高圧水銀燈、キセ
ノンランプ又はハロゲンランプのいずれかより選ばれた
手段により得られたものである特許請求の範囲第1項又
は第2項記載のアモルファス金属薄帯の磁区構造検知装
置。 4 偏光は400〜550mμの直線又は楕円偏光であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項の
いずれかに記載のアモルファス金属薄帯の磁区構造検知
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15377386A JPS639872A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15377386A JPS639872A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS639872A true JPS639872A (ja) | 1988-01-16 |
Family
ID=15569821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15377386A Pending JPS639872A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | アモルフアス金属薄帯の磁区構造検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS639872A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03160381A (ja) * | 1989-11-18 | 1991-07-10 | Asuka Denshi:Kk | 磁気カードの特性測定装置 |
| JPH06109655A (ja) * | 1992-09-28 | 1994-04-22 | Nippon Steel Corp | 磁気光学欠陥検査装置 |
-
1986
- 1986-06-30 JP JP15377386A patent/JPS639872A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03160381A (ja) * | 1989-11-18 | 1991-07-10 | Asuka Denshi:Kk | 磁気カードの特性測定装置 |
| JPH06109655A (ja) * | 1992-09-28 | 1994-04-22 | Nippon Steel Corp | 磁気光学欠陥検査装置 |
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