JPH0316287Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0316287Y2 JPH0316287Y2 JP17376485U JP17376485U JPH0316287Y2 JP H0316287 Y2 JPH0316287 Y2 JP H0316287Y2 JP 17376485 U JP17376485 U JP 17376485U JP 17376485 U JP17376485 U JP 17376485U JP H0316287 Y2 JPH0316287 Y2 JP H0316287Y2
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- JP
- Japan
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- wafers
- wafer
- carrier
- nozzle
- gas pressure
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、半導体製造プロセスに於いて、キヤ
リアに搭載されたウエハの枚数をカウントする装
置に関するものである。
リアに搭載されたウエハの枚数をカウントする装
置に関するものである。
従来の技術
半導体製造プロセスでは、ウエハに対してはク
リーンルーム内に於いて各種の処理が施される
が、エツチング処理、水洗等の工程に於いてはウ
エハは、第3図に示すようなキヤリアC中に整列
されて搭載されて処理されている。このようなキ
ヤリアCには、溝9が所定間隔で形成されてお
り、各溝9のそれぞれに1枚ずつ、通常25枚程度
のウエハW(第3図では8枚用のキヤリアを示し
ている)が所定間隔で整列されて処理が行われる
のであるが、ウエハ自体が極めて薄い(通浄、約
250〜400μm)ものであるため、液処理や遠心乾
燥処理中にウエハが割れてしまうことがある。こ
のような場合、破損クズが他のウエハにウエハに
付着したり、そのまま遠心乾燥を行うとバランス
がくずれてしまうので、ウエハの枚数をチエツク
する必要がある。
リーンルーム内に於いて各種の処理が施される
が、エツチング処理、水洗等の工程に於いてはウ
エハは、第3図に示すようなキヤリアC中に整列
されて搭載されて処理されている。このようなキ
ヤリアCには、溝9が所定間隔で形成されてお
り、各溝9のそれぞれに1枚ずつ、通常25枚程度
のウエハW(第3図では8枚用のキヤリアを示し
ている)が所定間隔で整列されて処理が行われる
のであるが、ウエハ自体が極めて薄い(通浄、約
250〜400μm)ものであるため、液処理や遠心乾
燥処理中にウエハが割れてしまうことがある。こ
のような場合、破損クズが他のウエハにウエハに
付着したり、そのまま遠心乾燥を行うとバランス
がくずれてしまうので、ウエハの枚数をチエツク
する必要がある。
考案が解決しようとする問題点
従来、このウエハ枚数カウントの作業は人間が
行つていたのであるが、クリーンルーム内に人間
が入るのは好ましくないので、キヤリア中のウエ
ハ枚数を自動的にカウントする装置の開発が要望
されていた。このような自動カウント装置として
は、接触レバーを接触させて検出する機械的検出
装置、或いは、光センサを用いて検出する光学的
検出装置を用いることが考えられる。
行つていたのであるが、クリーンルーム内に人間
が入るのは好ましくないので、キヤリア中のウエ
ハ枚数を自動的にカウントする装置の開発が要望
されていた。このような自動カウント装置として
は、接触レバーを接触させて検出する機械的検出
装置、或いは、光センサを用いて検出する光学的
検出装置を用いることが考えられる。
しかしながら、機械的検出装置を用いる場合に
は、接触レバーをウエハに接触しなければならな
いので、ウエハを汚損したり、傷を付けてしまう
という問題がある。また、光学的検出装置による
場合は、処理液等の蒸気による光センサの曇り等
によつて光センサが誤動作してしまうという問題
がある。
は、接触レバーをウエハに接触しなければならな
いので、ウエハを汚損したり、傷を付けてしまう
という問題がある。また、光学的検出装置による
場合は、処理液等の蒸気による光センサの曇り等
によつて光センサが誤動作してしまうという問題
がある。
本考案は、このような現状に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、ウエハを汚
したり、傷めたりすることがなく、処理液蒸気等
にも影響されずに、キヤリア中のウエハの枚数を
カウントすることのできる装置を提供することで
ある。
のであり、その目的とするところは、ウエハを汚
したり、傷めたりすることがなく、処理液蒸気等
にも影響されずに、キヤリア中のウエハの枚数を
カウントすることのできる装置を提供することで
ある。
問題点を解決するための手段
上記目的は、キヤリア中に整列されて搭載され
たウエハの枚数をカウントする装置であつて、所
定圧力のガスを噴出しながらウエハの整列方向に
走査させられるノズルと、該ノズル内のガス圧力
を検出する検出部を備え、検出されたガス圧力の
変化に基づいてキヤリア中のウエハの枚数をカウ
ントするものであることを特徴とするキヤリア中
のウエハ枚数カウント装置によつて達成される。
たウエハの枚数をカウントする装置であつて、所
定圧力のガスを噴出しながらウエハの整列方向に
走査させられるノズルと、該ノズル内のガス圧力
を検出する検出部を備え、検出されたガス圧力の
変化に基づいてキヤリア中のウエハの枚数をカウ
ントするものであることを特徴とするキヤリア中
のウエハ枚数カウント装置によつて達成される。
作 用
本考案のキヤリア中のウエハ枚数カウント装置
に於いては、ノズルが所定圧力のガスを噴出しな
がら、ウエハの整列方向にウエハ上を走査させら
れると、該ノズル内のガス圧力がウエハのない所
では低く、ウエハのある所では高くなるので、上
記の走査に伴つて該ガス圧力値は、各パルスがそ
れぞれのウエハに対応したパルス列を呈するよう
になる。従つて、パルスの数をカウントすること
によつてキヤリア中のウエハの枚数がカウントさ
れることになる。
に於いては、ノズルが所定圧力のガスを噴出しな
がら、ウエハの整列方向にウエハ上を走査させら
れると、該ノズル内のガス圧力がウエハのない所
では低く、ウエハのある所では高くなるので、上
記の走査に伴つて該ガス圧力値は、各パルスがそ
れぞれのウエハに対応したパルス列を呈するよう
になる。従つて、パルスの数をカウントすること
によつてキヤリア中のウエハの枚数がカウントさ
れることになる。
実施例
以下に、本考案の実施例を添付図面と共に説明
する。
する。
第2図は、本考案に係るウエハ枚数カウント装
置の一実施例の斜視図である。本実施例装置は、
ウエハをエツチング液により処理し、その後ウエ
ハを水洗する工程に使用されるものである。図に
於いて、1は処理槽、2は水洗槽、3は搬送装置
である。搬送装置3は、昇降アーム31に設けら
れた4個の吊り金具32の下端にキヤリアCを保
持し、壁4の中空部42に設けられた駆動装置3
3によつて、壁4に櫛形状に形成された溝穴41
に沿つて上下左右に移動させられ、キヤリアCを
所定時間処理槽1内に入れてウエハWをエツチン
グ処理し、続いて同じく所定時間だけキヤリアC
を水洗槽2,2内に順次入れてウエハWを水洗さ
せるようにする。これら搬送装置3の一連の動作
の制御は制御装置5によつてなされる。
置の一実施例の斜視図である。本実施例装置は、
ウエハをエツチング液により処理し、その後ウエ
ハを水洗する工程に使用されるものである。図に
於いて、1は処理槽、2は水洗槽、3は搬送装置
である。搬送装置3は、昇降アーム31に設けら
れた4個の吊り金具32の下端にキヤリアCを保
持し、壁4の中空部42に設けられた駆動装置3
3によつて、壁4に櫛形状に形成された溝穴41
に沿つて上下左右に移動させられ、キヤリアCを
所定時間処理槽1内に入れてウエハWをエツチン
グ処理し、続いて同じく所定時間だけキヤリアC
を水洗槽2,2内に順次入れてウエハWを水洗さ
せるようにする。これら搬送装置3の一連の動作
の制御は制御装置5によつてなされる。
本実施例のカウント装置6のうちガス噴出ノズ
ル61及びガス圧力検出部62は、搬送装置3に
取り付けられており、例えば、乾燥N2ガス等の
ガスを所定圧力Poで供給するガス供給源G側の
弁63を開くと、ガスはガス圧力検出部62を介
してガス噴出ノズル61に送られるようにされて
いる。該ノズル61は、その先端がキヤリアC中
に整列されたウエハWより一定距離を保ちながら
ウエハW上を通過するように、搬送装置3に取り
付けられたエアシリンダ64によつてウエハWの
整列方向に移動させられる。
ル61及びガス圧力検出部62は、搬送装置3に
取り付けられており、例えば、乾燥N2ガス等の
ガスを所定圧力Poで供給するガス供給源G側の
弁63を開くと、ガスはガス圧力検出部62を介
してガス噴出ノズル61に送られるようにされて
いる。該ノズル61は、その先端がキヤリアC中
に整列されたウエハWより一定距離を保ちながら
ウエハW上を通過するように、搬送装置3に取り
付けられたエアシリンダ64によつてウエハWの
整列方向に移動させられる。
本実施例に於いては、ガス圧力検出部62は、
第1図aに示すように、第一のガス圧力検出装置
A及び第二のガス圧力検出装置Bを有しており、
両検出装置A,Bには、ノズル61内のガス圧力
に比例して撓み量が変化する薄膜A1,B1と、
薄膜A1,B1の撓み量がある設定値以上になる
とONし、それ以下ではOFFとなるマイクロスイ
ツチA2,B2がそれぞれ設けられている。ここ
で、第一のガス圧力検出装置Aのマイクロスイツ
チA2の作動ガス圧力値PAと、第二のガス圧力
検出装置BのマイクロスイツチB2の作動ガス圧
力値PBとの関係は、PA>PBとなるように設定
されている。
第1図aに示すように、第一のガス圧力検出装置
A及び第二のガス圧力検出装置Bを有しており、
両検出装置A,Bには、ノズル61内のガス圧力
に比例して撓み量が変化する薄膜A1,B1と、
薄膜A1,B1の撓み量がある設定値以上になる
とONし、それ以下ではOFFとなるマイクロスイ
ツチA2,B2がそれぞれ設けられている。ここ
で、第一のガス圧力検出装置Aのマイクロスイツ
チA2の作動ガス圧力値PAと、第二のガス圧力
検出装置BのマイクロスイツチB2の作動ガス圧
力値PBとの関係は、PA>PBとなるように設定
されている。
第1図aに示すように、マイクロスイツチA
2,B2の一方の電極は、図外の直流定電圧源に
接続されており、他方の電極は、AND回路65
を介してカウンタ67に接続されている。また、
マイクロスイツチA2の他方の電極はカウンタ6
6にも接続されている。
2,B2の一方の電極は、図外の直流定電圧源に
接続されており、他方の電極は、AND回路65
を介してカウンタ67に接続されている。また、
マイクロスイツチA2の他方の電極はカウンタ6
6にも接続されている。
例えば、処理工程が終了し、搬送装置3が作動
して、キヤリアCが上昇すると、エアシリンダ6
4が作動して、キヤリアC中に整列されて搭載さ
れたウエハW上を一定の間隔を保つて、ガスを噴
出しているノズル61が図中の矢印の方向に走査
される。この場合、キヤリアC中のウエハのうち
3番目に搭載されていたウエハは破損によりその
全部がキヤリアCより脱落しており、5番目のウ
エハW5は破損していて、長さbだけ部分的に欠
落しているものとする。
して、キヤリアCが上昇すると、エアシリンダ6
4が作動して、キヤリアC中に整列されて搭載さ
れたウエハW上を一定の間隔を保つて、ガスを噴
出しているノズル61が図中の矢印の方向に走査
される。この場合、キヤリアC中のウエハのうち
3番目に搭載されていたウエハは破損によりその
全部がキヤリアCより脱落しており、5番目のウ
エハW5は破損していて、長さbだけ部分的に欠
落しているものとする。
ここで、ノズル61の開口端がウエハWがない
部分を指向している時には、前述の如く、噴出し
ているガスに対する障害物はないので、ノズル6
1内のガス圧力は供給圧力Poと略同じであるが、
走査の途中に於いて、ノズル61の開口端が健全
なウエハ、例えばウエハW1を指向している時に
は、該ウエハはガスの噴出に対する障害物となる
ので、ノズル61内のガス圧力はPaに上昇する。
一方、ノズル開口端が、部分的に欠落している5
番目のウエハW5を指向するようになつた時は、
該ウエハもガス噴出に対する障害となるのでノズ
ル61内のガス圧力は上昇するが、障害の度合い
は健全なウエハのそれより小さいので、この時の
ノズル内のガス圧力はPb(Pb<Pa)となる。こ
のノズル内のガス圧力とノズル61の走査距離と
の関係を図示すると、第1図bに示すようなパル
ス列となる。
部分を指向している時には、前述の如く、噴出し
ているガスに対する障害物はないので、ノズル6
1内のガス圧力は供給圧力Poと略同じであるが、
走査の途中に於いて、ノズル61の開口端が健全
なウエハ、例えばウエハW1を指向している時に
は、該ウエハはガスの噴出に対する障害物となる
ので、ノズル61内のガス圧力はPaに上昇する。
一方、ノズル開口端が、部分的に欠落している5
番目のウエハW5を指向するようになつた時は、
該ウエハもガス噴出に対する障害となるのでノズ
ル61内のガス圧力は上昇するが、障害の度合い
は健全なウエハのそれより小さいので、この時の
ノズル内のガス圧力はPb(Pb<Pa)となる。こ
のノズル内のガス圧力とノズル61の走査距離と
の関係を図示すると、第1図bに示すようなパル
ス列となる。
マイクロスイツチA2の作動ガス圧力値PAを、
ガス圧力Paより少し低い値に設定し、マイクロ
スイツチB2の作動ガス圧力値PBを、ガス圧力
Pbより少し低い値に設定しておけば、ノズル6
1が1番目及び2番目のウエハW1,W2の上に
ある時にはノズル内のガス圧力はPaとなるので、
マイクロスイツチA2がONされ、カウンタ66
に信号が送られ、カウンタ66はカウントアツプ
される。ノズル61が3番目のウエハがあつた位
置を指向するようになつても、前述のようにノズ
ル61内のガス圧力は上昇しないのでマイクロス
イツチA2,B2ともOFFのままであり、両カ
ウンタ66,67は作動しない。4番目のウエハ
W4によつて、カウンタ66がカウントアツプさ
れる。部分的に欠落している5番目のウエハW5
の位置では、前述の如く、ノズル内のガス圧力値
はPbまでしか上昇しないので、マイクロスイツ
チB2のみがONし、マイクロスイツチA2は
OFFのままである。従つて、カウンタ67のみ
がカウントアツプされる。6番目のウエハW6に
於いては、カウンタ66がカウントアツプされ
る。以下、同様にして、ノズル61がキヤリアC
全体を走査し終われば、カウンタ66のカウント
値が健全なウエハの枚数であり、カウンタ67の
カウント値は破損が生じて欠落しているウエハの
枚数となる。
ガス圧力Paより少し低い値に設定し、マイクロ
スイツチB2の作動ガス圧力値PBを、ガス圧力
Pbより少し低い値に設定しておけば、ノズル6
1が1番目及び2番目のウエハW1,W2の上に
ある時にはノズル内のガス圧力はPaとなるので、
マイクロスイツチA2がONされ、カウンタ66
に信号が送られ、カウンタ66はカウントアツプ
される。ノズル61が3番目のウエハがあつた位
置を指向するようになつても、前述のようにノズ
ル61内のガス圧力は上昇しないのでマイクロス
イツチA2,B2ともOFFのままであり、両カ
ウンタ66,67は作動しない。4番目のウエハ
W4によつて、カウンタ66がカウントアツプさ
れる。部分的に欠落している5番目のウエハW5
の位置では、前述の如く、ノズル内のガス圧力値
はPbまでしか上昇しないので、マイクロスイツ
チB2のみがONし、マイクロスイツチA2は
OFFのままである。従つて、カウンタ67のみ
がカウントアツプされる。6番目のウエハW6に
於いては、カウンタ66がカウントアツプされ
る。以下、同様にして、ノズル61がキヤリアC
全体を走査し終われば、カウンタ66のカウント
値が健全なウエハの枚数であり、カウンタ67の
カウント値は破損が生じて欠落しているウエハの
枚数となる。
キヤリアに搭載されたウエハの枚数より、カウ
ントされた健全なウエハの枚数が少なければ、破
損したウエハがあることになるので、その破損ク
ズによつて他のウエハが損害を破るのを防止する
ため、洗浄装置の運転を停止する等の適宜の処置
が採られる。更に、本実施例のカウント装置で
は、破損したウエハの枚数をもカウントすること
ができるので、より適切な処置を採るようにする
ことができる。
ントされた健全なウエハの枚数が少なければ、破
損したウエハがあることになるので、その破損ク
ズによつて他のウエハが損害を破るのを防止する
ため、洗浄装置の運転を停止する等の適宜の処置
が採られる。更に、本実施例のカウント装置で
は、破損したウエハの枚数をもカウントすること
ができるので、より適切な処置を採るようにする
ことができる。
尚、ウエハには、第5図に示すように、一方の
側に位置決め用のオリエンテーシヨンフラツト
(以下、「OF」という。)7が形成されているのが
通常である。このようなウエハWをキヤリアCに
ランダムに搭載するならば、OF7がノズル61
に向いているウエハとそうでないウエハとが混在
するようになり、そのままの状態で上記のカウン
トを行うならば、OF7がノズルに向いているウ
エハを、破損したウエハとして誤つてカウントし
てしまう恐れがある。これを防止するためには、
例えば、ウエハWをキヤリアCに搭載する際に、
第6図aに示すように、キヤリアCの下部に配さ
れたローラ8をウエハWの端面に接触させながら
回転させると、OF7の位置でローラ8はウエハ
Wと接触しなくなりウエハWは回転しなくなるの
で(第6図b参照)、OF7が上部にある状態のま
までウエハWがキヤリアに搭載されるのを防止す
ることができる。
側に位置決め用のオリエンテーシヨンフラツト
(以下、「OF」という。)7が形成されているのが
通常である。このようなウエハWをキヤリアCに
ランダムに搭載するならば、OF7がノズル61
に向いているウエハとそうでないウエハとが混在
するようになり、そのままの状態で上記のカウン
トを行うならば、OF7がノズルに向いているウ
エハを、破損したウエハとして誤つてカウントし
てしまう恐れがある。これを防止するためには、
例えば、ウエハWをキヤリアCに搭載する際に、
第6図aに示すように、キヤリアCの下部に配さ
れたローラ8をウエハWの端面に接触させながら
回転させると、OF7の位置でローラ8はウエハ
Wと接触しなくなりウエハWは回転しなくなるの
で(第6図b参照)、OF7が上部にある状態のま
までウエハWがキヤリアに搭載されるのを防止す
ることができる。
考案の効果
以上の説明から明らかなように、本考案の装置
は、キヤリアに搭載されたウエハの枚数をカウン
トする際に、ウエハと機械的に接触することがな
いので、ウエハを於損したり、損傷することがな
く、光学的手段は用いていないので、処理液等の
蒸気等に影響されることがなく正確なカウントを
行うことができる。
は、キヤリアに搭載されたウエハの枚数をカウン
トする際に、ウエハと機械的に接触することがな
いので、ウエハを於損したり、損傷することがな
く、光学的手段は用いていないので、処理液等の
蒸気等に影響されることがなく正確なカウントを
行うことができる。
第1図a,bは本考案の一実施例の説明図、第
2図はこの実施例の使用例の説明図、第3図はキ
ヤリアの一例の斜視図、第4図はこのキヤリアに
ウエハを搭載した状態の斜視図、第5図はウエハ
の平面図、第6図a,bはウエハの配向の仕方の
説明図である。 A……第一のガス圧力検出装置、B……第二の
ガス圧力検出装置、C……キヤリア、G……ガス
供給源、W,W1〜W8……ウエハ、6……ガス
圧力検出部、61……ノズル。
2図はこの実施例の使用例の説明図、第3図はキ
ヤリアの一例の斜視図、第4図はこのキヤリアに
ウエハを搭載した状態の斜視図、第5図はウエハ
の平面図、第6図a,bはウエハの配向の仕方の
説明図である。 A……第一のガス圧力検出装置、B……第二の
ガス圧力検出装置、C……キヤリア、G……ガス
供給源、W,W1〜W8……ウエハ、6……ガス
圧力検出部、61……ノズル。
Claims (1)
- キヤリア中に整列されて搭載されたウエハの枚
数をカウントする装置であつて、所定圧力のガス
を噴出しながらウエハの整列方向に走査させられ
るノズルと、該ノズル内のガス圧力を検出する検
出部を備え、検出されたガス圧力の変化に基づい
てキヤリア中のウエハの枚数をカウントするもの
であることを特徴とするキヤリア中のウエハ枚数
カウント装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17376485U JPH0316287Y2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17376485U JPH0316287Y2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6282738U JPS6282738U (ja) | 1987-05-27 |
| JPH0316287Y2 true JPH0316287Y2 (ja) | 1991-04-08 |
Family
ID=31111529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17376485U Expired JPH0316287Y2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0316287Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP17376485U patent/JPH0316287Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6282738U (ja) | 1987-05-27 |
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