JPH03167405A - 周縁の位置検出方法 - Google Patents

周縁の位置検出方法

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JPH03167405A
JPH03167405A JP30473889A JP30473889A JPH03167405A JP H03167405 A JPH03167405 A JP H03167405A JP 30473889 A JP30473889 A JP 30473889A JP 30473889 A JP30473889 A JP 30473889A JP H03167405 A JPH03167405 A JP H03167405A
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Tadaaki Yamaura
山浦 忠彰
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鵜澤 高吉
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、構造物の穴等の周縁の位置を正確に検出する
装置、より詳しくは比較的狭隘な場所であって、かつ、
めくら穴等であってもその周縁の位置を検出するのに好
適な周縁の位置検出方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、ロボット等で構造物のボルトを自動的に締付けた
り、複数の部材を組立てる場合には、ボルトを締付ける
位置、あるいは部材が合致する位置を検知する必要があ
り、その方法として工業用テレビカメラ又は電荷結合映
像素子(CCD)カメラと画像処理装置を用いる方法と
、光学素子を用いる方法とが知られている. 〔発明が解決しようとする課題〕 工業用テレビカメラと画像処理装置を用いて穴の位置を
検出する場合には、比較的正確な検出を行うことが可能
であるが、多額の設備費を必要とする上に操作が煩雑で
あって、実用上問題がある.従って、より安価で操作が
簡単な光学素子を用いる方法が採用されている。
ところで、この光学素子による方法にも問題がある。そ
の一例を第11図を参照して説明すれば、穴の明いた基
板aをパレッ}bの上に載せ、この基板aの下方に光源
Cを設け、この光源Cから基仮aの穴dを通過した光を
ホイダイオードからなる4分割受光素子eの受光面に照
射してその受光量に比例した出力電圧を演算装置fに導
いて穴dの位置を計算するものである。
しかしながら、この穴位置検出方法によると光源Cと受
光素子eの間に、被検出物である基板aを置く必要があ
る。従って、光源Cまたは受光素子eを基仮aの反対側
に置くことができない場合や穴がめくら穴等である場合
には採用することができないと言う問題がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は前記した問題点を解決するためになされたもの
であって、発光体と、該発光体よりの投光が被検査体よ
り反射した光を受ける2個を1組とする受光素子を複数
組配置した位置検出装置を、該穴等の中心、もしくは複
数の穴等の中心線に対称的に振り分けて配置し、前記複
数組の受光素子の出力の大小によって前記位置検出装置
の位置を移動させて前記穴等の周縁を検出することを特
徴とする周縁の位置検出方法である。
即ち、穴や凹部等に位置合わせをしたい場合に、その穴
等の周縁を含んで反射する反射光を2個を1組とする受
光素子の複数組で受けて、この複数組の受光素子の出力
のバランスによって穴等の位置を検出するものである。
〔作 用〕
本発明は、穴等の周縁の反射光を2個をIMとする複数
組、好ましくは4個の受光素子で前記反射光を一体的に
受光し、その出力がほぼ等しくなる位置に複数組の受光
素子を一体的に移動して前記周縁の位置、即ち穴の位置
を検出することができる。
本発明によれば、構造物に明けられたボルト穴にボルト
を挿通ずる場合や、めくら穴にボルト等を挿入する場合
に反射光を利用してその穴の位置を正確に測定すること
ができる。
〔実 施 例〕
以下、第1図ないし第lO図を参照して本発明による周
縁の位置検出方法検出方法の実施例を説明する. まず、本発明において周縁とは、1個の穴ないしは凹部
の周縁位置、段差部、あるいは複数個の穴ないしは凹部
の周縁の位置等、他の箇所と光学的に区別できる部分を
意味する。
そして本発明においては、1個の穴ないしは凹部の場合
には、その穴の周縁と、複数の発光素子のと中心との間
のズレを検出することが可能である。更に、複数個の穴
等の場合には、この穴等の中心線の左右に各組の発光素
子を配置し、これらの発光素子の出力のバランスによっ
てその穴等の周縁の位置を検出するものである.第l図
は穴等の周縁位置検出装置の概略を示す側面図、第2図
は同平面図、第3図は同斜視図である。
これらの図において直交する仮想軸1、2上に対称的に
4個の円弧状切欠部3を有する上部フランジ4と下部フ
ランジ5とを保持筒6で上下に間隔を明けて連結し、こ
の保持筒6の先端内部には図示しない電源装置に接続さ
れ、等し間隔に配置された4個の発光体7(例えば発光
ダイオード)の中心Olが前記仮想軸1.2の交点Oと
同一になるように設けられている。
下部フランジ5と上部フランジ4に設けた円弧状切欠部
3には、それぞれ円筒状の絶縁物からなる棒状の支持体
8が嵌合して設けられ、更にこれらの支持体8の中間部
の外周を固定バンド9(プラスチック製)で包囲して全
体として枠状に組上げている. 前記4本の円筒状に支持体8の先端部には受光素子(レ
ンズを含む)10a〜10dがそれぞれ設けられている
。そしてこれらの受光素子10a〜19dは演算装置1
1に接続されている。なお、上部フランジ4にはロボッ
トハンドル等の取付け穴l7が設けられている. この演算装置1lは、第8図に示す如く、増幅器12a
〜12dと差動増幅器13a, 13bを含む回路で構
威されている。そして発光体マより投射される光線Lが
被検査体15の表面で反射し、これを受光素子10aで
受けて発生した出力電圧は増幅器12aに導かれ、出力
信号V.となり、受光素子11cからの出力信号V,と
加算されて差動増幅器13aに人力される。
一方、受光素子12bの出力信号V,と受光素子12d
の出力信号■4とが加算されて前記差動増幅器13aに
人力される。これらの出力信号VtとVtにより第7図
に示されるように、被検査体l5に設けた穴等の周縁l
6の中心02と各受光素子10a−10dの中心Oとの
間にX方向への変位量ΔXが検出されるようになってい
る。
一方、受光素子12aの出力信号V1と、受光素子12
bの出力信号Vtが加算され、かつ受光素子12cの出
力信号V,と受光素子12dの出力信号■4とが加算さ
れて差動増幅器13bに入力され、穴等の周縁l6の中
心02と、各受光素子IQa〜10dの中心OとのY方
向への変位量ΔYが検出されるようになっている。
複数個の受光素子10a. 10b. 10c及び10
dの受光範囲が第7図のように、ΔX及びΔY方向にズ
レている場合には、当然のことながら各受光素子の受光
量が変化することになる.そこでこれらの受光量が均一
になるように被検査体l5に形威されている穴等の周縁
部16の中心02に対して4個の受光素子の中心Oが一
致するようにロボットの腕等を操作する. 第4図、第5図及び第6図は本発明の第2の実施例を示
すものであって、前記第1の実施例と本質的に同一なも
のであるが、相違点は次の通りである。
この実施例においては、下部フランジ5には複数の支持
板17が取付けられ、これによってリング状の発光体7
aが、その中心O,が仮想軸1.2の交点Oと同一にな
るように支持されている.また、先端部に受光素子10
a〜10dを設けた支持体8は上下に設けたフランジ4
.5によって支持され、これらのフランジ4.5の中央
部には保持筒6が設けられている。
そしてこの保持筒6の内部にねし締め機の駆動軸l8が
設けられており、この駆動軸l8の先端に設けた把持具
18aによってボルト20を把持して被検査体l5に設
けた穴21の中に複数の受光素子の中心Oと、穴2lの
中心O,の位置合わせを行ないながら挿入される。そし
て被検査体l5の裏面に突出したボルト20に対してナ
ットを螺合して構造物を組立てることが可能である.第
9図と第10図は第3の実施例を示すものであって、前
記第1と第2の実施例が1つの穴への位置決めであった
のに対して、この実施例の場合は2つの穴に対する位置
決めの例を示している。
即ち、被検査体15a上に2つの穴21a,2lbが中
心距1iiILだけ離れている時の穴21a. 2lb
の周縁の位置検出方法を示している。
支持軸25の先端に溝形保持器26と保持器底板26a
を取付け、この底板26aに保護管27を左右対称に植
立し、更にこの保護管27に対して対称的に別の保護管
28.28を植立する。そしてこの保護管27に発光素
子29を左右対称に2個設ける。
そしてこの発光素子29の間を結ぶ中心軸に対して対称
的に、ある距離をおいてそれぞれ受光素子30a, 3
0b. 30c, 30dを左右対称に設けたものであ
る。なお、発光素子29は2個の円21a, 2lbの
穴の一部を照射し、この反射光を前記穴21a,2lb
に沿って対称的に設けられた受光素子30aと30c1
及び30bと30dをそれぞれ1組とする受光素子で受
けるように構戒している。
前記構造の位置検出装置において、2組の受光素子30
a . 30bあるいは30c. 30dの中心間の距
離をl、2つの穴21a.2lbの直径をDとするとき
、図示の場合には、 ・・・(L−D</!<L)の関係となる。
また、図示していないが、 ・・・(L<II!<L+D)の関係ともなる。
前記関係を利用して2つの穴21a, 2lbの位置を
受光素子30a〜30dで検出しながら、位置検出装置
を支持している支持軸25が数値制御等の制御手段によ
って前記穴21a.2lbに受光素子30a.30b.
30c.30dが近づいてくる。
しかし、これらの受光素子30a,30b.30c.3
0dの出力が等しくないときは、穴21a,2lb上の
正しい位置に位置検出装置が到達していないので第8図
の差動増幅器13a. 13bの出力によって誤差のフ
ィードバック制御を行ない、誤差がゼロとなるように支
持軸25を移動させる。なお、この2つの離れた位置に
明けられた穴の周縁を照射した際に得られる反射光の分
布は第7図に示したものに類似したものとなる。
また、被検査体15aの2個の穴を結ぶ中心線と位置検
出装置の中心線がある角度をなして傾斜している場合に
は、各受光素子の出力の関係は、 30a <30c , 30b >30d 、または、
30a >30c , 30b <30d  となる。
従って、前記関係より各受光素子の被検査体15aに対
する傾斜を修正することができる。
〔発明の効果〕
本発明は、発光体と、該発光体よりの投光が被検査体よ
り反射した光を受ける2個を1&I1とする受光素子を
複数組配置した位置検出装置を、該穴等の中心、もしく
は複数の穴等の中心線に対称的に振り分けて配置し、前
記複数組の受光素子の出力の大小によって前記位置検出
装置の位置を移動させて前記穴等の周縁を検出すること
を特徴とする周縁の位置検出方法である。
従って、本発明によれば、次の効果を奏することができ
る。
穴等の周縁部を含む部分の反射光を受光してその穴等の
位置を検出するものであるので、透光しない条件の被検
査物、即ち、めくら穴であってもその位置を正確に検出
することができるのである。
受光素子は2個を1組として配置したものであって、1
つの穴の場合にはその周縁に2組、即ち4個が配置され
ることになる。そして反射光を得る穴ないしは凹部を含
んだ範囲に投光された反射光を受光してその反射光の大
小、即ち、受光素子を出力を検出してその出力がバラン
スするように制御することによって穴等に対して受光素
子の位置を調節することができる。
従って、本発明は、その穴等と受光素子との関係位置を
反射光を利用して制御できるので、ボルト締め装置や穴
等に棒状物等を嵌合させる装置等に利用することができ
る.
【図面の簡単な説明】
第1図〜第10図は本発明の実施例を示すものであって
、第1図は第1の実施例に係る位置検出装置の正面図、
第2図は底面図、第3図は同装置の斜視図である。 第4図は第2の実施例に係る位置検出装置の正面図、第
5図は同底面図、第6図は同装置の斜視図である。 第7図は4つの受光素子の反射光量分布図、第8図は位
置検出装置の回路図である。 第9図は離れて位置する2つの穴の位置を検出する第3
の実施例に係る装置の正面図、第10図は同底面図であ
る。 そして第11図は従来の穴の位置検出装置の説明図であ
る。 1.  2・・・仮想軸   3・・・円弧状切欠部4
・・・上部フランジ  5・・・下部フランジ6・・・
保持筒     7・・・発光体8・・・支持体   
  9・・・固定バンド10a.10b,10c,10
d −・−受光素子とレンズ1l・・・演算装置 12a,12b,12c.12d −増幅器13a,1
3b・・・差動増幅器 15,15a・・・被検査体1
6・・・周縁       l7・・・支持板18・・
・ねじ締め機駆動軸 18a・・・つかみ部20・・・
ボルト      21・・・穴29・・・発光素子 30a,30b,30c.30d −受光素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 発光体と、該発光体よりの投光が被検査体より反射した
    光を受ける2個を1組とする受光素子を複数組配置した
    位置検出装置を、該穴等の中心、もしくは複数の穴等の
    中心線に対称的に振り分けて配置し、前記複数組の受光
    素子の出力の大小によって前記位置検出装置の位置を移
    動させて前記穴等の周縁を検出することを特徴とする周
    縁の位置検出方法。
JP1304738A 1989-11-27 1989-11-27 周縁の位置検出方法 Expired - Lifetime JPH0658207B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62127603A (ja) * 1985-11-29 1987-06-09 Hitachi Ltd 相対位置計測修正方法と装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62127603A (ja) * 1985-11-29 1987-06-09 Hitachi Ltd 相対位置計測修正方法と装置

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