JPH03167407A - 表示図柄のずれ検査装置 - Google Patents
表示図柄のずれ検査装置Info
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- JPH03167407A JPH03167407A JP1308246A JP30824689A JPH03167407A JP H03167407 A JPH03167407 A JP H03167407A JP 1308246 A JP1308246 A JP 1308246A JP 30824689 A JP30824689 A JP 30824689A JP H03167407 A JPH03167407 A JP H03167407A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は製品の包装紙に印刷された商品名等の図柄の位
置ずれを検査する装置に関する。
置ずれを検査する装置に関する。
例えば石餘のような製品は、個々に包装紙にて包装され
た上、一つの箱に複数個詰められており、各々の石鹸の
上面部分にあたる包装紙には商品名等の図柄が印刷され
ている。従って、上記包装の際に包装紙のずれにより、
前記図柄が所定位置に位置しない石鹸が一つでもあると
、目立ち易く、商品に対する品質やブランドを損ねる恐
れがある。
た上、一つの箱に複数個詰められており、各々の石鹸の
上面部分にあたる包装紙には商品名等の図柄が印刷され
ている。従って、上記包装の際に包装紙のずれにより、
前記図柄が所定位置に位置しない石鹸が一つでもあると
、目立ち易く、商品に対する品質やブランドを損ねる恐
れがある。
そこで、従来は、個々の石鹸に対して図柄が所定位置に
あるか否かを目視点検により検査していたが、ラインの
流れが早いこともあり、正確な検査は不可能であった。
あるか否かを目視点検により検査していたが、ラインの
流れが早いこともあり、正確な検査は不可能であった。
本発明は上述した問題をなくすためになされたものであ
り、表示図柄の位置ずれの検査を自動化した表示図柄の
ずれ検査装置を提供することを目的とする。
り、表示図柄の位置ずれの検査を自動化した表示図柄の
ずれ検査装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の表示図柄のずれ検査装置は、第1図に示すよう
に、製品もしくは製品の包装紙に記された図柄の位置ず
れを検査する装置であって、検査対象とする前記図柄も
しくは該図柄の一部の領域■を含むようにして撮像する
カメラAと、前記カメラA”i?撮像した画像データを
記憶する第1の画像データ記憶手段Bと、 位置ずれのない前記図柄もしくは該図柄の一部の基準と
なる基本データを記憶する第2の画像データ記憶手段C
と、 前記領域Rと同じ大きさとした検出領域qを、該領域R
を含む検索領域Q内で順次シフ1・させたときに、該検
出領域qに対応して、前記第1の画像データ記憶手段B
より読み出した検出データと、前記第2の画像データ記
憶千段Cより読み出した基本データとを各画lP.毎に
比較を行って両データ間でのマッチング度合いを閥べる
テンプレートマッチング手段Dと、 前記テンプレートマッチングによる比鮫により、マッチ
ング度合いが最高であったときの前記検出領域qのシフ
ト位置に基づき当該図柄もしくは該図柄の一部が正常な
位置にあるか否かを判定する位置判定手段Eとを備えた
ことを持微とする。
に、製品もしくは製品の包装紙に記された図柄の位置ず
れを検査する装置であって、検査対象とする前記図柄も
しくは該図柄の一部の領域■を含むようにして撮像する
カメラAと、前記カメラA”i?撮像した画像データを
記憶する第1の画像データ記憶手段Bと、 位置ずれのない前記図柄もしくは該図柄の一部の基準と
なる基本データを記憶する第2の画像データ記憶手段C
と、 前記領域Rと同じ大きさとした検出領域qを、該領域R
を含む検索領域Q内で順次シフ1・させたときに、該検
出領域qに対応して、前記第1の画像データ記憶手段B
より読み出した検出データと、前記第2の画像データ記
憶千段Cより読み出した基本データとを各画lP.毎に
比較を行って両データ間でのマッチング度合いを閥べる
テンプレートマッチング手段Dと、 前記テンプレートマッチングによる比鮫により、マッチ
ング度合いが最高であったときの前記検出領域qのシフ
ト位置に基づき当該図柄もしくは該図柄の一部が正常な
位置にあるか否かを判定する位置判定手段Eとを備えた
ことを持微とする。
比較検査の際の基準となる基本データとして、検査対象
とする図柄もしくは該図柄の一部と同一であってかつ位
置ずれのない画像データを第2の画像データ記憶手段C
に登録させておき、一方、カメラAにて、検査対象の図
柄もしくは図柄の一部の領域Rを含む画像データを撮像
して第1の画像データ記憶手段Bに記憶させる。そして
、検査時には、前記領域と同じ大きさとした検出領域q
を、該領域Rを含む所定の検索領域Q内で順次シフトさ
せたときに、該検出領域qに対応して、前記第1の画像
データ記憶手段Bより、順次に検出データとして読み出
され、この検出データと、第2の画像データ記憶千段C
から読み出した基本データとが、テンプレートマッチン
グ手段Dにおいて、各画素毎に比較されて両データ間で
のマッチング度合いが凋べられ、マッチング度合が最高
となったときの前記検出領域qの位置から当該図柄もし
くは該図柄の一部が正常な位置にあったか否かが位置判
定手段Eによって判定される。
とする図柄もしくは該図柄の一部と同一であってかつ位
置ずれのない画像データを第2の画像データ記憶手段C
に登録させておき、一方、カメラAにて、検査対象の図
柄もしくは図柄の一部の領域Rを含む画像データを撮像
して第1の画像データ記憶手段Bに記憶させる。そして
、検査時には、前記領域と同じ大きさとした検出領域q
を、該領域Rを含む所定の検索領域Q内で順次シフトさ
せたときに、該検出領域qに対応して、前記第1の画像
データ記憶手段Bより、順次に検出データとして読み出
され、この検出データと、第2の画像データ記憶千段C
から読み出した基本データとが、テンプレートマッチン
グ手段Dにおいて、各画素毎に比較されて両データ間で
のマッチング度合いが凋べられ、マッチング度合が最高
となったときの前記検出領域qの位置から当該図柄もし
くは該図柄の一部が正常な位置にあったか否かが位置判
定手段Eによって判定される。
第2図に本発明の表示図柄のずれ検査装置の一実施例を
示している。
示している。
!は、検査対象の石鎗を示しており、コンベア2により
、図中左方向に一定の速度で搬送されている。3及び4
は、検査位置に石鹸!が搬送されたか否かを検出するセ
ンサーである。5は検査位置にある石Mlに対して照明
するための照明灯であり、商用周波に伴うちらつきをな
くすために高周波蛍光灯を用いている.6はCCD撮像
素子を用いたカメラであり、検査位置にある石鹸lの上
面の画像を捕らえる。
、図中左方向に一定の速度で搬送されている。3及び4
は、検査位置に石鹸!が搬送されたか否かを検出するセ
ンサーである。5は検査位置にある石Mlに対して照明
するための照明灯であり、商用周波に伴うちらつきをな
くすために高周波蛍光灯を用いている.6はCCD撮像
素子を用いたカメラであり、検査位置にある石鹸lの上
面の画像を捕らえる。
7は本装置を集中制御するためのCPU(中央演算処理
装置)であり、内部には、後で詳しく述べる画像処理の
際に機能する画像処理郎7aを有する。8は、CPU7
が行う制御プログラムを格納するROM(リードオンリ
ーメモリ)である。9は、信号入力郎であり、前記セン
サー3.4よりの検出信号はこの信号入力郎9を介して
CPU7に取り込まれる。IOは、前記カメラ6よりの
映像信号を記憶する画像メモリであり、1lは、カメラ
6による撮像画面をモニターするための画像モニターデ
ィスプレイである。l2は、種々の設定条件等を入力す
るためのキーボードである。l3は、本装置の検査によ
り、表示図柄の位置ずれによる不良が検出された石鹸l
をラインの流れから排出させるための排出装置であり、
14は、排出装置13に対するCPU7の信号出力部で
ある,!5は、本装置にて行なった検査結果を表示する
計測結果表示ディスプレイであり、16は、前記検査結
果をデータとして記憶するためのフロッピーディスク装
置である。
装置)であり、内部には、後で詳しく述べる画像処理の
際に機能する画像処理郎7aを有する。8は、CPU7
が行う制御プログラムを格納するROM(リードオンリ
ーメモリ)である。9は、信号入力郎であり、前記セン
サー3.4よりの検出信号はこの信号入力郎9を介して
CPU7に取り込まれる。IOは、前記カメラ6よりの
映像信号を記憶する画像メモリであり、1lは、カメラ
6による撮像画面をモニターするための画像モニターデ
ィスプレイである。l2は、種々の設定条件等を入力す
るためのキーボードである。l3は、本装置の検査によ
り、表示図柄の位置ずれによる不良が検出された石鹸l
をラインの流れから排出させるための排出装置であり、
14は、排出装置13に対するCPU7の信号出力部で
ある,!5は、本装置にて行なった検査結果を表示する
計測結果表示ディスプレイであり、16は、前記検査結
果をデータとして記憶するためのフロッピーディスク装
置である。
次に上記構成になる装置の動作を第3図(A)のフロー
チャートに従って説明する。
チャートに従って説明する。
まず最初に、以下に説明する検査の際に必要となる基本
パターンについて述べる。第4図は、カメラ6で撮像さ
れた石鹸lの画像を示しており、外枠4lはカメラ6の
撮像領域である。石鹸lにおいて、“bac”とあるの
は商標名であり、“WH夏TE”とあるのは商品名であ
り、又、石鹸1の下方にあるのは、ストライプの図柄を
示している。
パターンについて述べる。第4図は、カメラ6で撮像さ
れた石鹸lの画像を示しており、外枠4lはカメラ6の
撮像領域である。石鹸lにおいて、“bac”とあるの
は商標名であり、“WH夏TE”とあるのは商品名であ
り、又、石鹸1の下方にあるのは、ストライプの図柄を
示している。
検査対象とするパターン(以下検査パターンRという)
は、前記文字あるいは図柄のいずれを採用してもよいが
、本実施例では、“bac”の内の中央の文字“a”と
した。これに伴い比較の際の基準となるパターンとして
、検査パターンRと同一の基本パターンR0を予め登録
しておく必要かあり、この基本パターンRnに対する情
報としては、第5図(A)に示したように、文字゜a”
の領域に対する画素データと、文字“a”の、石鹸lの
端縁よりの距HXs yのデータを含み、その登録方法
については後で述べる。
は、前記文字あるいは図柄のいずれを採用してもよいが
、本実施例では、“bac”の内の中央の文字“a”と
した。これに伴い比較の際の基準となるパターンとして
、検査パターンRと同一の基本パターンR0を予め登録
しておく必要かあり、この基本パターンRnに対する情
報としては、第5図(A)に示したように、文字゜a”
の領域に対する画素データと、文字“a”の、石鹸lの
端縁よりの距HXs yのデータを含み、その登録方法
については後で述べる。
さて、ステップS1において、検査対象とする石餘1の
品種をキーボードl2により選択すると、品M毎Cこ登
録されていた基本パターンR0から所望のものがフロッ
ピーディスク装置から読み出される。次のステップS2
でセンサー3.4よりの検出信号待ちとなり、石鹸lか
所定の検査位置に来て、センサー3.4より所定の検出
信号がCPU7に取り込まれると、ステップS3にてカ
メラ6で撮像した石鹸lの画像が画像メモリーlOに取
り込まれる。
品種をキーボードl2により選択すると、品M毎Cこ登
録されていた基本パターンR0から所望のものがフロッ
ピーディスク装置から読み出される。次のステップS2
でセンサー3.4よりの検出信号待ちとなり、石鹸lか
所定の検査位置に来て、センサー3.4より所定の検出
信号がCPU7に取り込まれると、ステップS3にてカ
メラ6で撮像した石鹸lの画像が画像メモリーlOに取
り込まれる。
ステップS4では、石鹸1が検査位[ζこ次々ζこ搬送
さ゜れているか否かが判定され、続けて搬送されている
ときは次のステップS5に進む、ところでカメラ6より
1フィールドの画面を取り込むにはl/60秒必要とす
るので、シャッター付きカメラを用いた場合、フィール
ドの先頭でシャッターを切るので、次の画像取り込みに
l/60秒待つことになる。従って、センサー3.4よ
りの検出信号と、実際の画像取り込みとの間に最悪の場
合で1/60秒のずれが発生し、ライン速度が40n/
分の場合、第4図で示したように、1/60秒の間に石
鹸lがllIIIII1移動することになる。そこでこ
のステップS5において、画像メモリー10に記憶され
た石鹸lの画像データから、石鹸lの一方の端縁Lを検
出し、撮像領域4l内の石鹸1の、ライン流れ方向に対
する離隔距離X(第5図(B)に図示)を求め、又、石
鹸lの、ライン流れ方向と直交する方向に対する離隔距
離Y(第5図(C)に図示)を求め、正確な測定位置に
ある石鹸Iに対して同様に測定した距離から、前記石鹸
1の画像データが位置補正される。ステップS6では、
第5図(D)に示すように、検査パターンRである文字
“a”を中心とした検索領域Qが決定される。
さ゜れているか否かが判定され、続けて搬送されている
ときは次のステップS5に進む、ところでカメラ6より
1フィールドの画面を取り込むにはl/60秒必要とす
るので、シャッター付きカメラを用いた場合、フィール
ドの先頭でシャッターを切るので、次の画像取り込みに
l/60秒待つことになる。従って、センサー3.4よ
りの検出信号と、実際の画像取り込みとの間に最悪の場
合で1/60秒のずれが発生し、ライン速度が40n/
分の場合、第4図で示したように、1/60秒の間に石
鹸lがllIIIII1移動することになる。そこでこ
のステップS5において、画像メモリー10に記憶され
た石鹸lの画像データから、石鹸lの一方の端縁Lを検
出し、撮像領域4l内の石鹸1の、ライン流れ方向に対
する離隔距離X(第5図(B)に図示)を求め、又、石
鹸lの、ライン流れ方向と直交する方向に対する離隔距
離Y(第5図(C)に図示)を求め、正確な測定位置に
ある石鹸Iに対して同様に測定した距離から、前記石鹸
1の画像データが位置補正される。ステップS6では、
第5図(D)に示すように、検査パターンRである文字
“a”を中心とした検索領域Qが決定される。
次のステップS7では、第5図(E)に示すごとく、検
索領域Qに対して、次々にシフトさせる小区画の領域(
以下検出領域qという)から読み出した画像データ(以
下検出データという)と、基本パターンR0の画像デー
タ(以下基本データという)とのマッチングを度合いを
調べるテンプレートマッチングが行われる。このテンプ
レートマッチングの処理を第6図〜第8図のパターン図
を用いて具体的に説明する。
索領域Qに対して、次々にシフトさせる小区画の領域(
以下検出領域qという)から読み出した画像データ(以
下検出データという)と、基本パターンR0の画像デー
タ(以下基本データという)とのマッチングを度合いを
調べるテンプレートマッチングが行われる。このテンプ
レートマッチングの処理を第6図〜第8図のパターン図
を用いて具体的に説明する。
第6図における1−1−1−9図は、テンプレートマッ
チングの第1段階を示しており、I−1図において、1
2X12画素の領域は第5図(D)に示した検索領域Q
に相当し、円で囲んだ3×3画素の領域Rにある白又は
黒ドットが検査対象の検査パターンRを示しており、各
画素における白ドット及び黒ドットを“0”,“l”で
表わすと、この検査パターンRは次のような画素情報を
持つ。
チングの第1段階を示しており、I−1図において、1
2X12画素の領域は第5図(D)に示した検索領域Q
に相当し、円で囲んだ3×3画素の領域Rにある白又は
黒ドットが検査対象の検査パターンRを示しており、各
画素における白ドット及び黒ドットを“0”,“l”で
表わすと、この検査パターンRは次のような画素情報を
持つ。
した検出領域qであり、この検出領域qよりの検出デー
タと、基本パターンR0よりの基本データとどの程度マ
ッチングしているかを調べるようになっているが、以下
に説明するマッチング判定をわかり易くするために、検
出領域qに基本パターンR。
タと、基本パターンR0よりの基本データとどの程度マ
ッチングしているかを調べるようになっているが、以下
に説明するマッチング判定をわかり易くするために、検
出領域qに基本パターンR。
の画素情報を示した。
I−1図においては、検出領域qより読み出した検出デ
ータは、 調べるために、対応する各画素間で減算を行なうと次表
のようになる。
ータは、 調べるために、対応する各画素間で減算を行なうと次表
のようになる。
上表でわかるように減算結果が0となっtこ個数をカウ
ントすることにより、マッチングした画素数がわかり、
パターン1−1ではマッチング画素数は4個である。
ントすることにより、マッチングした画素数がわかり、
パターン1−1ではマッチング画素数は4個である。
1−1図でのマッチング判定が終わると、1−2図で示
したように、検出領域qは右方向に4画素分シフトする
。このI−2図での検出データは前回と同様、すべて“
0”であるため、マッチング画素数は4個である。
したように、検出領域qは右方向に4画素分シフトする
。このI−2図での検出データは前回と同様、すべて“
0”であるため、マッチング画素数は4個である。
次の1−3図で示すように検出領域qが右端までくると
、次の1−4図で示すよう1こ、検出領域qは左端に戻
ると共1こ4画素分下方にシフトする。
、次の1−4図で示すよう1こ、検出領域qは左端に戻
ると共1こ4画素分下方にシフトする。
次の1−5rlJになると、検出領域qと、検査パター
ンRとで一部の画素で合致するようになる。このときの
検出データは、 であり、基本データとの減算を行なうと、Oとなったマ
ッチング画素数は、6個であり、パターンI−t〜I−
4のときに比べてマッチング度合いが高くなっている。
ンRとで一部の画素で合致するようになる。このときの
検出データは、 であり、基本データとの減算を行なうと、Oとなったマ
ッチング画素数は、6個であり、パターンI−t〜I−
4のときに比べてマッチング度合いが高くなっている。
以下の1−6図〜I−9図におけるマッチング画素数は
それぞれ4個であるため、第一段階のマッチングにおい
ては、■−5図での比較でマッチング度合いは最も高く
なる。そこで■−10図に示したように、I−5図にお
ける検出領域qを中心として周囲に2画素分だけ広げた
領域Q゛を、第7図に示す第2段階での検索領域として
いる。
それぞれ4個であるため、第一段階のマッチングにおい
ては、■−5図での比較でマッチング度合いは最も高く
なる。そこで■−10図に示したように、I−5図にお
ける検出領域qを中心として周囲に2画素分だけ広げた
領域Q゛を、第7図に示す第2段階での検索領域として
いる。
I[−1図では、検出領域qは、検索領域Q゜内の左上
から始まり、今度は2画素づつシフトする。
から始まり、今度は2画素づつシフトする。
この場合も、第1段階と同様に、マッチング画素数を調
べると、n−1,n−4、II−7及び■一9図では4
個であるのに対し、II−2、If−3、n−5及びI
I−6図では6個となり、マッチング度合いが高くなっ
ている。尚、本実施例では説明を簡略化するために、画
像データを12Xl2の144画素とし、基準画像デー
タを3×3の9画素としたため、前記のn−2、II−
3、II−5及びn−6図でマッチング度合いが等しく
なったが、実際に適用する検索領域Qは、60X60の
3600画素であり、検出領域qは28X2Bの784
画業であるため、いずれかのマッチングでマッチング度
合いが最高となる。ここでは、n−2図でマッチング度
合が最高となったとして以下話しを進める。
べると、n−1,n−4、II−7及び■一9図では4
個であるのに対し、II−2、If−3、n−5及びI
I−6図では6個となり、マッチング度合いが高くなっ
ている。尚、本実施例では説明を簡略化するために、画
像データを12Xl2の144画素とし、基準画像デー
タを3×3の9画素としたため、前記のn−2、II−
3、II−5及びn−6図でマッチング度合いが等しく
なったが、実際に適用する検索領域Qは、60X60の
3600画素であり、検出領域qは28X2Bの784
画業であるため、いずれかのマッチングでマッチング度
合いが最高となる。ここでは、n−2図でマッチング度
合が最高となったとして以下話しを進める。
II−10図で示したように、II−6図における検出
領域qを中心として周囲に1画素分だけ広げた領域とし
た検索領域Q”を設定し、次に第8図に示す第3段階へ
進む。
領域qを中心として周囲に1画素分だけ広げた領域とし
た検索領域Q”を設定し、次に第8図に示す第3段階へ
進む。
第3段階においては、検出領域qは、検索領域Q”内を
左上から1画素づつシフトする。この場合のマッチング
度合いは、図から明らかなように、III−9図で検出
データと基本データとが完全に合致するtこめに最高と
なり、マッチング画素数は9個となる。そこで次のステ
ップS8ではIII−10図で示したように、[[−9
図における検出領域qの位置がどこにあったかを検出し
、その検出した位置を石鹸lの検査パターンRであった
文字@a“の位置とし、その位置と基本パターンR0に
対する前記距111x,y(第5図(A)図示)とから
、検査対象の石鹸lにおける表示図柄のずれ量が演算さ
れる。ステップS9では、そのずれ量の大きさから良品
か不良品かの判定が行われ、ずれ量が規定値よりも大き
く不良品と判定されたときは、ステップSIOの排出処
理に進む。
左上から1画素づつシフトする。この場合のマッチング
度合いは、図から明らかなように、III−9図で検出
データと基本データとが完全に合致するtこめに最高と
なり、マッチング画素数は9個となる。そこで次のステ
ップS8ではIII−10図で示したように、[[−9
図における検出領域qの位置がどこにあったかを検出し
、その検出した位置を石鹸lの検査パターンRであった
文字@a“の位置とし、その位置と基本パターンR0に
対する前記距111x,y(第5図(A)図示)とから
、検査対象の石鹸lにおける表示図柄のずれ量が演算さ
れる。ステップS9では、そのずれ量の大きさから良品
か不良品かの判定が行われ、ずれ量が規定値よりも大き
く不良品と判定されたときは、ステップSIOの排出処
理に進む。
第3図(B)は、ステップSIOの排出処理を示すサブ
ルーチンであり、まず、ステップS21+こて、当該石
鹸lが排出装置l3によってラインから排除され、次の
ステップS22でこのような排出動作が連続したか否か
の判定が行われ、排出動作が単発的に生じる場合は、ス
テップS25に進み、計測結果表示ディスプレイ15に
排出動作したことを示す表示がなされる。一方、前記排
出動作が連続した場合は、生産ラインに問題があるとし
て、ステップS22からステップS23に進み、生産ラ
インが停止され、次のステップS24で異常表示がなさ
れる。
ルーチンであり、まず、ステップS21+こて、当該石
鹸lが排出装置l3によってラインから排除され、次の
ステップS22でこのような排出動作が連続したか否か
の判定が行われ、排出動作が単発的に生じる場合は、ス
テップS25に進み、計測結果表示ディスプレイ15に
排出動作したことを示す表示がなされる。一方、前記排
出動作が連続した場合は、生産ラインに問題があるとし
て、ステップS22からステップS23に進み、生産ラ
インが停止され、次のステップS24で異常表示がなさ
れる。
第3図(A)に戻り、次のステップSllでは、ずれ量
等が叶測結果、表示ディスプレイl5に表示され、次の
ステップS12でキーボード12より、終了のキーを押
したときは、この検出モードが終了し、元のステップS
lに戻るが、そうでない場合は、ステップS2に戻り、
次に検査位置に送給される石鹸lに対して上述と同様な
検査を行なう。
等が叶測結果、表示ディスプレイl5に表示され、次の
ステップS12でキーボード12より、終了のキーを押
したときは、この検出モードが終了し、元のステップS
lに戻るが、そうでない場合は、ステップS2に戻り、
次に検査位置に送給される石鹸lに対して上述と同様な
検査を行なう。
このように、検査過程においては、ラインを流れる石a
tに対してリアルタイムでその表示図柄の位置ずれが検
査され、そのずれ量が計測結果表示ディスプレイl5に
表示されるが、上記の基本パターンが未登録の初期の動
作においても、表示図柄のずれ量のみが表示されるので
、そのずれ量をチェックすることにより、良品か不良品
を判断することができる。これにより、良品と判断した
石鹸1に対する検査パターンRを、基本パターンR0と
してフロッピーディスク装置l6に登録すればよい。
tに対してリアルタイムでその表示図柄の位置ずれが検
査され、そのずれ量が計測結果表示ディスプレイl5に
表示されるが、上記の基本パターンが未登録の初期の動
作においても、表示図柄のずれ量のみが表示されるので
、そのずれ量をチェックすることにより、良品か不良品
を判断することができる。これにより、良品と判断した
石鹸1に対する検査パターンRを、基本パターンR0と
してフロッピーディスク装置l6に登録すればよい。
上述したテンプレートマッチングにおいては、比較動作
を3段階に分け、各段階に適正な検索領域Q.Q’,Q
”を設定するようにしたので、一つの石atに対して行
なうべき総比較回数を低減できる。例えば、検索領域Q
を60X60画素、検出領域qを28X28画素とした
とき、検索領域Q内でパターン比較のために検出領域q
を移動する範囲は第1段階では4画素毎に比較するので
32÷4=8回の移動になり原点での比較を含めて9回
の移動となり、横方向へ9回、縦方向へ9回の計81回
の基本パターンとの比較をする。
を3段階に分け、各段階に適正な検索領域Q.Q’,Q
”を設定するようにしたので、一つの石atに対して行
なうべき総比較回数を低減できる。例えば、検索領域Q
を60X60画素、検出領域qを28X28画素とした
とき、検索領域Q内でパターン比較のために検出領域q
を移動する範囲は第1段階では4画素毎に比較するので
32÷4=8回の移動になり原点での比較を含めて9回
の移動となり、横方向へ9回、縦方向へ9回の計81回
の基本パターンとの比較をする。
第2段階では第1段階で最も一致具合いの良かった場所
を中心に2画素毎に9回の基本パターンとの比較をする
。
を中心に2画素毎に9回の基本パターンとの比較をする
。
第3段階では第2段階で最も一致具合いの良かった場所
を中心に1画素毎に9回の基本パターンとの比較をする
。
を中心に1画素毎に9回の基本パターンとの比較をする
。
従って比較回数の合計は
9X9+9+9=99回となる。
一方、これを通常の!画素毎のテンプレートマッチング
法で行う場合、 60−28=32 横方向へ32画素、縦方向へ32画素の比較移動が必要
であり、原点の比較を含めると、33回の比較が必要で 33X33=1089回にもなる。
法で行う場合、 60−28=32 横方向へ32画素、縦方向へ32画素の比較移動が必要
であり、原点の比較を含めると、33回の比較が必要で 33X33=1089回にもなる。
このように本発明に適用したテンプレートマッチング法
では比較回数を通常の11分の1程度に低減でき高速の
検査が可能となるので、石鹸lのように藍分間に250
ないし300個もの大量が流れるラインであっても、当
該検査装置を安価なコンピュータ装置によって実現でき
る。
では比較回数を通常の11分の1程度に低減でき高速の
検査が可能となるので、石鹸lのように藍分間に250
ないし300個もの大量が流れるラインであっても、当
該検査装置を安価なコンピュータ装置によって実現でき
る。
以上説明したように、本発明は、検査する製品に対する
画像データに対し、所定の読出し領域を順次シフトさせ
つつして読み出した検出データと、予め登録してあった
位置ずれのない基本データとのマッチング程度をテンプ
レートマッチング法にて調べることにより、当該製品の
図柄もしくは図柄の一部の位置を検出し、良・不良を判
定するようにしたので、登録する基本データを変えるだ
けで種々の商品に対する表示図柄の位置ずれを検出でき
る。又、テンプレートマッチングでのパターン比較の際
、検出領域qを1画素づつではなく、数画素づつシフト
させて、検出すべき図柄もしくは図柄の一部のおおまか
な位置を検出し、次にこの検出した立置を中心とした検
索領域Q゜に狭めて、以下同様なパターン比較を行う方
法を採用すれば、パターン比較回数を大幅に低減でき、
それ故、処理速度の遅い安価なコンピュータ装置にて本
装置を実現できる。
画像データに対し、所定の読出し領域を順次シフトさせ
つつして読み出した検出データと、予め登録してあった
位置ずれのない基本データとのマッチング程度をテンプ
レートマッチング法にて調べることにより、当該製品の
図柄もしくは図柄の一部の位置を検出し、良・不良を判
定するようにしたので、登録する基本データを変えるだ
けで種々の商品に対する表示図柄の位置ずれを検出でき
る。又、テンプレートマッチングでのパターン比較の際
、検出領域qを1画素づつではなく、数画素づつシフト
させて、検出すべき図柄もしくは図柄の一部のおおまか
な位置を検出し、次にこの検出した立置を中心とした検
索領域Q゜に狭めて、以下同様なパターン比較を行う方
法を採用すれば、パターン比較回数を大幅に低減でき、
それ故、処理速度の遅い安価なコンピュータ装置にて本
装置を実現できる。
第1図は本発明の表示図柄のずれ検査装置のクレーム対
応図、第2図は本発明の一実施例を示すシステム図、第
3図(A)及び第3図(B)は第2図図示の装置の制御
動作を示すフローチャート、第4図は、第2図の装置に
おいて、カメラ4こて撮像された石鎗の画像を示す図、
第5図(A)は、第4図図示の石蛤に対する基本パター
ンを示す図、第5図(B)及び第5図(C)は撮像した
石鹸の位置補正を説明するための図、第5図(D)は、
石鹸に゛おける検査パターンに対して設定した検索領域
を示す図、第5図(E)は、テンプレートマッチングを
示す図、第5図(F)は、検査結果であるずれ量を示す
図、第6図ないし第8図は、テンプレートマッチングで
なされる比較処理を示すパターン図である。 !・・・石鹸、2・・・コンベア、3.4・・・センサ
ー5・・・照明灯、6・・・カメラ、7・・・CPU,
7a・・・画像処理部、8・・・ROM,lO・・・画
像メモリー 11・・・画像モニターディスプレイ、l2・・・キー
ボード、l3・・・排出装置、l5・・・計測結果表示
ディスプレイ、l6・・・フロッピーディスク装置。
応図、第2図は本発明の一実施例を示すシステム図、第
3図(A)及び第3図(B)は第2図図示の装置の制御
動作を示すフローチャート、第4図は、第2図の装置に
おいて、カメラ4こて撮像された石鎗の画像を示す図、
第5図(A)は、第4図図示の石蛤に対する基本パター
ンを示す図、第5図(B)及び第5図(C)は撮像した
石鹸の位置補正を説明するための図、第5図(D)は、
石鹸に゛おける検査パターンに対して設定した検索領域
を示す図、第5図(E)は、テンプレートマッチングを
示す図、第5図(F)は、検査結果であるずれ量を示す
図、第6図ないし第8図は、テンプレートマッチングで
なされる比較処理を示すパターン図である。 !・・・石鹸、2・・・コンベア、3.4・・・センサ
ー5・・・照明灯、6・・・カメラ、7・・・CPU,
7a・・・画像処理部、8・・・ROM,lO・・・画
像メモリー 11・・・画像モニターディスプレイ、l2・・・キー
ボード、l3・・・排出装置、l5・・・計測結果表示
ディスプレイ、l6・・・フロッピーディスク装置。
Claims (2)
- (1)製品もしくは製品の包装紙に記された図柄の位置
ずれを検査する装置であって、 検査対象とする前記図柄もしくは該図柄の一部の領域R
を含むようにして撮像するカメラと、前記カメラで撮像
した画像データを記憶する第1の画像データ記憶手段と
、 位置ずれのない前記図柄もしくは該図柄の一部の基準と
なる基本データを記憶する第2の画像データ記憶手段と
、 前記領域Rと同じ大きさとした検出領域qを、該領域R
を含む検索領域Q内で順次シフトさせたときに、該検出
領域qに対応して、前記第1の画像データ記憶手段より
読み出した検出データと、前記第2の画像データ記憶手
段より読み出した基本データとを各画素毎に比較を行っ
て両データ間でのマッチング度合いを調べるテンプレー
トマッチング手段と、 前記テンプレートマッチングによる比較により、マッチ
ング度合いが最高であったときの前記検出領域qのシフ
ト位置に基づき当該図柄もしくは該図柄の一部が正常な
位置にあるか否かを判定する位置判定手段とを備えたこ
とを特徴とする表示図柄のずれ検査装置。 - (2)上記テンプレートマッチング手段は、検出領域q
をm画素づつシフトさせることにより、マッチング度合
いが最高となったときの検出領域qの位置を中心とした
第2の検索領域Q′(<Q)を設定し、この第2の検索
領域Q′に対し、検出領域qをn(<m)画素づつシフ
トさせる操作を、検出領域qのシフト量が1画素となる
まで繰り返す、請求項1記載の表示図柄のずれ検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1308246A JPH0663734B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 表示図柄のずれ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1308246A JPH0663734B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 表示図柄のずれ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03167407A true JPH03167407A (ja) | 1991-07-19 |
| JPH0663734B2 JPH0663734B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=17978699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1308246A Expired - Lifetime JPH0663734B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 表示図柄のずれ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0663734B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5872871A (en) * | 1995-04-25 | 1999-02-16 | Nippondenso Co., Ltd. | Method and device for measuring the position of a pattern |
| JP2002189001A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-05 | Kao Corp | 半透明成形体の表面検査方法 |
| JP2010025855A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Sakata Denki | 軌道変位測定装置 |
| JP2013234862A (ja) * | 2012-05-07 | 2013-11-21 | Bridgestone Corp | 検査方法及び検査装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60190802A (ja) * | 1984-07-20 | 1985-09-28 | Hitachi Ltd | 位置検出方法及びその装置 |
| JPS6159575A (ja) * | 1984-08-30 | 1986-03-27 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
| JPS61151709A (ja) * | 1984-12-26 | 1986-07-10 | Hitachi Ltd | 図形パタ−ンの位置合せ方法及びその装置 |
| JPS61176807A (ja) * | 1985-02-01 | 1986-08-08 | Hitachi Ltd | 回路パターン検査装置 |
-
1989
- 1989-11-28 JP JP1308246A patent/JPH0663734B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60190802A (ja) * | 1984-07-20 | 1985-09-28 | Hitachi Ltd | 位置検出方法及びその装置 |
| JPS6159575A (ja) * | 1984-08-30 | 1986-03-27 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
| JPS61151709A (ja) * | 1984-12-26 | 1986-07-10 | Hitachi Ltd | 図形パタ−ンの位置合せ方法及びその装置 |
| JPS61176807A (ja) * | 1985-02-01 | 1986-08-08 | Hitachi Ltd | 回路パターン検査装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5872871A (en) * | 1995-04-25 | 1999-02-16 | Nippondenso Co., Ltd. | Method and device for measuring the position of a pattern |
| JP2002189001A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-05 | Kao Corp | 半透明成形体の表面検査方法 |
| JP2010025855A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Sakata Denki | 軌道変位測定装置 |
| JP2013234862A (ja) * | 2012-05-07 | 2013-11-21 | Bridgestone Corp | 検査方法及び検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0663734B2 (ja) | 1994-08-22 |
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