JPH03170068A - ロジック・アナライザ - Google Patents

ロジック・アナライザ

Info

Publication number
JPH03170068A
JPH03170068A JP1310146A JP31014689A JPH03170068A JP H03170068 A JPH03170068 A JP H03170068A JP 1310146 A JP1310146 A JP 1310146A JP 31014689 A JP31014689 A JP 31014689A JP H03170068 A JPH03170068 A JP H03170068A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
conditions
sampling
circuit
trigger
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1310146A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasutomo Konishi
康友 小西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niigata Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Niigata Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Niigata Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd filed Critical Niigata Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1310146A priority Critical patent/JPH03170068A/ja
Publication of JPH03170068A publication Critical patent/JPH03170068A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はロジック・アナライザ、特に測定したデータを
記憶するメモリの制御を行なうロジック・アナライザに
関する6 〔従来の技術〕 従来、この種のロジック・アナライザく特にタイミング
・アナライザ)はサンプリングクロツクによる測定デー
タを書込み停止のトリガ信号が加えられるまですべてメ
モリに記憶するか、測定データの変化点のみを記憶する
方式となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のロジック・アナライザは各測定チャンネ
ルに割り当てられた記憶容量は固定であり、1回の測定
期間中のサンプリング・クロツクの周期は一定となって
いるので、時間軸上で隔てられた2点の信号間の相互間
係を観測しようとすると、高速のサンプリング・クロツ
クを使用することが出来ず、必要な時点の信号間の時間
差の詳細な測定やノズルパルスの検出がしばしば困難に
なるという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のロジック・アナライザは、コンパレータとサン
プリング回路とメモリとトリガコンビネーション回路と
メモリコントロール回路と操作.表示回路を有するロジ
ック・アナライザにおいて、前記メ.モリを複数エリア
に分割する手段と、各チャネルに割り当てるメモリの記
憶容量を任意に設定する手段と、複数のトリガ条件およ
びサンプリング条件を設定,保持する手段と、上記の複
数エリアに分割されたメモリエリア毎に上記のトリガ条
件およびサンプリング条件を1対1に対応させて判定す
る手段とを含んで構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する. 第1図は本発明の一実施例のブロック図である. コンパレータ1は多チャンネルの入力信号とスレッショ
ルドレベルを比較し、入力信号を“1”あるいは“O″
の2つのレベルに変換する.変換されたデータ信号はサ
ンプリング回路2に加えられる。サンプリング回路2は
各種サンプリング方式に従って、サンプリングクロック
によりデータ信号をサンプルし、メモリ3にデータを出
力する。
メモリ3はサンプリング回路2へ加えられたと同じ周期
のサンプリ・ングクロックで記憶する。メモリ3の記憶
動作は書込み停止のトリガ信号が加えられるまで続けら
れる。
トリガコンビネーション回路4は、トリガ信号を有効に
選ぶため、各チャンネルに入力された信号がある一定の
論理パターンになったときトリガ信号を発生する。
メモリコントロール回路5はトリガコンビネーション回
路4で検出されたトリガ信号を基に、メモリ3の記憶動
作を停止するタイミングをコントロールする。
操作・表示回路6は、測定条件の設定と測定データの結
果を表示する。
次に本発明のロジック・アナライザの動作について説明
する。
メモリ3の各チャンネルに割り当てられたメモリの記憶
容量を複数エリアに分割して使用する為、メモリコント
ロール回路5はメモリ3の各エリア例えば、A,B,C
の3つのエリアに分割して管理する。
一方、トリガコンビネーション回路4は複数のトリガ条
件およびサンプリング条件を設定出来る様、複数組存在
する。
各組のトリガコンビネーション回路4にはそれぞれ独立
したトリガ条件とスレッショルドレベルおよびサンプリ
ングクロックの周期等のサンプリング条件を操作・表示
回路6より設定する.測定の実際の動作はトリガコンビ
ネーション回路4に設定された第1のトリガ条件が満た
された時のトリガ信号により、メモリコントロール回路
5は、メモリ3のAのエリアの記憶動作を停止する. 同様にトリガコンビネーション回路4に設定された第2
のトリガ条件が満たされた時のトリガ信号により、メモ
リコントロール回路5はメモリ3のBのエリア記憶動作
を停止する。
以下分割されたメモリ3の各メモリエリアについて、ト
リガ条件およびサンプリング条件が1対lに対応するよ
うにしておく。
上記のように構成することで一回の測定で複数のトリガ
条件あるいは異なったサンプリングクロックでの測定が
可能となり、限られた長さのメモリに観測したい部分の
みを記憶させることが可能となる。
また、メモリ3の各チャンネルに割り当てるメモリの記
憶容量を任意に変更する手段として、各チャンネノレに
割り当てられたa,b,c・・・のメモリを各チャンネ
ルと1対1に対応させるだけでなく、例えば、第1のチ
ャンネルに未使用のチャンネルのメモリを割り当てa,
b,cの3つのチャンネル分の記憶容量を確保すること
で、見かけ上数倍〜十数倍の記憶容量を持たせ、長時間
の測定データの観測が可能になる。
〔発明の効果〕 以上説明したように本発明は、ロジック・アナライザに
内蔵されたメモリの分割使用および複数のトリガ条件お
よびサンプリング条件を設定し、上記の分割されたメモ
リエリアとの対応をとるようにメモリコントロールする
ことにより、時間軸で隔てられた2点以上の信号間の相
互関係を観測する際、観測したい部分のみを高速サンプ
リングクロックで測定出来る効果がある。
また、各チャンネルに割り当てるメモリの記憶容量を任
意に変更出来る様にすることにより、限られたメモリの
記憶容量を有効に使用し、特定のチャンネルについて長
時間の観測ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。 1・・・コンパレータ、2・・・サンプリング回路、3
・・・メモリ、4・・・トリガコンビネーション回路、
5・・・メモリコントロール回路、6・・・操作・表示
回1゜        6−=8い .

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. コンパレータとサンプリング回路とメモリとトリガコン
    ビネーション回路とメモリコントロール回路と操作・表
    示回路を有するロジック・アナライザにおいて、前記メ
    モリを複数エリアに分割する手段と、各チャネルに割り
    当てるメモリの記憶容量を任意に設定する手段と、複数
    のトリガ条件およびサンプリング条件を設定、保持する
    手段と、上記の複数エリアに分割されたメモリエリア毎
    に上記のトリガ条件およびサンプリング条件を1対1に
    対応させて判定する手段とを含むことを特徴とするロジ
    ック・アナライザ。
JP1310146A 1989-11-28 1989-11-28 ロジック・アナライザ Pending JPH03170068A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1310146A JPH03170068A (ja) 1989-11-28 1989-11-28 ロジック・アナライザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1310146A JPH03170068A (ja) 1989-11-28 1989-11-28 ロジック・アナライザ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03170068A true JPH03170068A (ja) 1991-07-23

Family

ID=18001722

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1310146A Pending JPH03170068A (ja) 1989-11-28 1989-11-28 ロジック・アナライザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03170068A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1172360A (en) Multi-speed logic analyzer
US4434488A (en) Logic analyzer for a multiplexed digital bus
KR20010024360A (ko) 집적회로 테스터용 포맷 민감성 타이밍 교정
US5686846A (en) Time duration trigger
KR100851550B1 (ko) 테스트 시스템 및 그것의 고전압 측정 방법
JPH0322949B2 (ja)
US5086280A (en) Continuously variable pulsewidth waveform formation device employing two memories
US6892338B2 (en) Analog/digital characteristics testing device and IC testing apparatus
JPS62147366A (ja) 周波数測定回路
USRE34843E (en) Signal controlled waveform recorder
SU658509A1 (ru) Устройство дл контрол логических блоков
KR100193207B1 (ko) 메모리 테스트를 위한 리프레쉬 회로
KR930000160B1 (ko) 디지탈 집적회로의 성능평가용 테스트 시스템
KR970010005B1 (ko) 터치스크린을 이용한 파형 검사장치
JP2882413B2 (ja) 平均値の高速良否判定装置
SU1149194A1 (ru) Устройство дл контрол динамических параметров интегральных схем
JPH01267473A (ja) 集積回路試験回路
SU714304A1 (ru) Анализатор частотных характеристик
JPH02143172A (ja) ロジックアナライザ
SU788057A1 (ru) Устройство контрол больших интегральных схем на динамических моп-структурах
JPH0673227B2 (ja) 磁気デイスク特性測定装置
JPH01143100A (ja) 高速ランダムアクセスメモリテスト装置
JPH02271273A (ja) Lsi評価装置
JPH04340482A (ja) Ic試験装置のデバイス動作電流測定回路
JPH03274467A (ja) デジタルオシロスコープ