JPH03170667A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
- Publication number
- JPH03170667A JPH03170667A JP31123189A JP31123189A JPH03170667A JP H03170667 A JPH03170667 A JP H03170667A JP 31123189 A JP31123189 A JP 31123189A JP 31123189 A JP31123189 A JP 31123189A JP H03170667 A JPH03170667 A JP H03170667A
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- JP
- Japan
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- substrate
- target
- sputtering
- substrate holder
- counter electrode
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、基板とターゲットとの間でグロー放電を起こ
させ、ターゲットからスパッタされたターゲット原子を
基板上に付着させて膜形威を行うスパッタリング装置に
関する。
させ、ターゲットからスパッタされたターゲット原子を
基板上に付着させて膜形威を行うスパッタリング装置に
関する。
基板上にy4膜を形戒する装置として、従来よりスパッ
タリング装置が用いられている。このスパッタリング装
置では、一般に、真空容器内に例えばアルゴンガス等の
所定のガスを封入し、基板とターゲットとの間に、スパ
ッタ電源による電圧を印加してグロー放電を起こさせる
。そして、夕一ゲットにガスイオンを衝突させることに
よりスパッタされたスパッタリング粒子(ターゲット原
子)を基板表面に付着させ、基板上に薄膜を形威してい
る.また、通常、戒膜の前には、まず逆スパッタリング
(以下、単に「逆スパッタ」という)を行い、基板表面
のクリーニングを行う.さらにプレスパッタリング(以
下、単に「ブレスパッタ」という)を行い、ターゲット
表面のクリーニングを行って放電の安定化を図るように
し“Cいる. このようなスパッタリング装置の一例を第3図に示す。
タリング装置が用いられている。このスパッタリング装
置では、一般に、真空容器内に例えばアルゴンガス等の
所定のガスを封入し、基板とターゲットとの間に、スパ
ッタ電源による電圧を印加してグロー放電を起こさせる
。そして、夕一ゲットにガスイオンを衝突させることに
よりスパッタされたスパッタリング粒子(ターゲット原
子)を基板表面に付着させ、基板上に薄膜を形威してい
る.また、通常、戒膜の前には、まず逆スパッタリング
(以下、単に「逆スパッタ」という)を行い、基板表面
のクリーニングを行う.さらにプレスパッタリング(以
下、単に「ブレスパッタ」という)を行い、ターゲット
表面のクリーニングを行って放電の安定化を図るように
し“Cいる. このようなスパッタリング装置の一例を第3図に示す。
図において、真空容器50内には、基仮51が保持され
る基板ホルダ52が回転可能に設けられている。基板5
lに対向し得る位置に夕一ゲット53が配置されている
。また、基板51とターゲット53との間には、シャッ
ター54.55がそれぞれ回転可能に設けられている。
る基板ホルダ52が回転可能に設けられている。基板5
lに対向し得る位置に夕一ゲット53が配置されている
。また、基板51とターゲット53との間には、シャッ
ター54.55がそれぞれ回転可能に設けられている。
シャンク−54.55には、第3図の■矢視図に相当す
る第4図に示すように、孔54a,55aがそれぞれ形
成されている。また、基板ホルダ52及びターゲット5
3にはスパッタ電源回路60が接続されている。
る第4図に示すように、孔54a,55aがそれぞれ形
成されている。また、基板ホルダ52及びターゲット5
3にはスパッタ電源回路60が接続されている。
逆スパッタ時には、基板ホルダ52及びシャッター54
.55をそれぞれ回転させ、それぞれの位置関係を第3
図に示すような状態とする。即ち、ターゲット53から
離れた位置に基仮5lを配許させるとともに、シャッタ
ー54の孔54aを基Fi.51に対向させ、シャッタ
ー55の孔55aをターケ゛ット53に対向させる。そ
して、スバック電源回路60から基板ホルダ52に高周
波電圧を印加して、基板5■とシャッター55との間で
逆スパッタを行う。また、第3図に示す状態から、スパ
ッタ電源回路60を切り換えてターゲッ1・53に高周
波電圧を印加して、ターゲット53とシャッター54と
の間でプレスパッタを行う。
.55をそれぞれ回転させ、それぞれの位置関係を第3
図に示すような状態とする。即ち、ターゲット53から
離れた位置に基仮5lを配許させるとともに、シャッタ
ー54の孔54aを基Fi.51に対向させ、シャッタ
ー55の孔55aをターケ゛ット53に対向させる。そ
して、スバック電源回路60から基板ホルダ52に高周
波電圧を印加して、基板5■とシャッター55との間で
逆スパッタを行う。また、第3図に示す状態から、スパ
ッタ電源回路60を切り換えてターゲッ1・53に高周
波電圧を印加して、ターゲット53とシャッター54と
の間でプレスパッタを行う。
戒膜時には、シャッター55の孔55aをターゲット5
3に対向させた状態で、シャッター54及び基板ホルダ
52を回転させて、シャッター54の孔54a及び基仮
5工をターゲット53に対向させる。この状態から基板
ホルダ52に高周波電圧を印加する。すると、基板51
とターゲット53との間でスパッタリングが行われ、凸
板5■上に薄膜が形威される。
3に対向させた状態で、シャッター54及び基板ホルダ
52を回転させて、シャッター54の孔54a及び基仮
5工をターゲット53に対向させる。この状態から基板
ホルダ52に高周波電圧を印加する。すると、基板51
とターゲット53との間でスパッタリングが行われ、凸
板5■上に薄膜が形威される。
〔発明が解決しようとする課題]
前記従来の構戒では、逆スパッタ及びプレスパッタを行
うのに2枚のシャッター54.55及びその駆動機構が
必要となる。また、逆スパッタ,プレスパッタ,及びス
パッタリングの各々の場合について、各シャッター54
.55を回転させ、孔54a.55aをそれぞれ所定位
置に移動させなければならない。このため、シャッター
54,55の?1雑な回転制御機構が必要となる。
うのに2枚のシャッター54.55及びその駆動機構が
必要となる。また、逆スパッタ,プレスパッタ,及びス
パッタリングの各々の場合について、各シャッター54
.55を回転させ、孔54a.55aをそれぞれ所定位
置に移動させなければならない。このため、シャッター
54,55の?1雑な回転制御機構が必要となる。
この発明の目的は、構造を簡略化できるスパッタリング
装置を提供することにある。
装置を提供することにある。
本発明に係るスパッタリング装置は、基板とターゲット
との間でグロー放電を起こさせ、ターゲットからスパッ
タされたターゲット原子を基板上に付着させて膜形成を
行うスパッタリング装置であって、前記基板を保持する
ための回転自在な基板ホルダと、対向電極と、アースシ
ールド部材と、回転制!:III手段とを備えている。
との間でグロー放電を起こさせ、ターゲットからスパッ
タされたターゲット原子を基板上に付着させて膜形成を
行うスパッタリング装置であって、前記基板を保持する
ための回転自在な基板ホルダと、対向電極と、アースシ
ールド部材と、回転制!:III手段とを備えている。
前記対向電極は、基板と対向し得る位置に設けられ、基
板との間で逆スパッタを行うためのものである。前記ア
ースシールド部材は、基板取付部を除く基板ホルダ周囲
に設けられた部材である。
板との間で逆スパッタを行うためのものである。前記ア
ースシールド部材は、基板取付部を除く基板ホルダ周囲
に設けられた部材である。
前記回転制御手段は、逆スパッタ時に基板が前記対向電
極と対向し、プレスパッタ時にアースシールド部材がタ
ーゲットと対向するよう、基板ホルダを回転させる手段
である。
極と対向し、プレスパッタ時にアースシールド部材がタ
ーゲットと対向するよう、基板ホルダを回転させる手段
である。
本発明に係るスパッタリング装置では、逆スパッタ時に
は、回転制御手段により基板ホルダを回転させて、基板
ホルダに保持された基板を対向電極に対向させる。そし
て、基板と対向電極との問で逆スパッタが行われる.ま
た、プレスパッタ時には、基板ホルダ周囲のアースシー
ルド部材をターゲットに対向させて、ターゲットとアー
スシールド部材との間でプレスパッタが行われる。
は、回転制御手段により基板ホルダを回転させて、基板
ホルダに保持された基板を対向電極に対向させる。そし
て、基板と対向電極との問で逆スパッタが行われる.ま
た、プレスパッタ時には、基板ホルダ周囲のアースシー
ルド部材をターゲットに対向させて、ターゲットとアー
スシールド部材との間でプレスパッタが行われる。
このように、逆スパッタ時には対向電極が基板に対向し
、またプレスパッタ時にはアースシールド部材がターゲ
ットに対向する。従って、従来設けられていたシャッタ
ーやその回転機構が不要となる. なお、或膜時には、回転制御手段により基板ホルダを回
転させて、基板をターゲットに対向さセ、ターゲットと
基板との間でスパッタリングが行われる。スパッタされ
たターゲット原子は基板上に付着して戒膜処理が行われ
る。
、またプレスパッタ時にはアースシールド部材がターゲ
ットに対向する。従って、従来設けられていたシャッタ
ーやその回転機構が不要となる. なお、或膜時には、回転制御手段により基板ホルダを回
転させて、基板をターゲットに対向さセ、ターゲットと
基板との間でスパッタリングが行われる。スパッタされ
たターゲット原子は基板上に付着して戒膜処理が行われ
る。
第1図は本発明の一実施例によるスパッタリング装置を
示している。
示している。
図において、真空容器1の上部には、基板ホルダ2が回
転自在に設けられている。基板ホルダ2には、クランプ
4により威膜ずべき基板3が保持されている.基板3の
保持部を除く基板ホルダ2周囲には、所定間隔Sを介し
てアースシールド部材5が取り付けられている。このア
ースシールド部材5は、基板ホルダ2と一体的に回転す
るように支持されている。また、その支持部5aは、ブ
ラシ20を介してアースに接続されている。なお、間隔
Sは、通常5IIII!1程度に設定されている。また
、アースシールド′部材5の基板側部分5bの取付高さ
位置は、基板3と同程度になっている。これにより、プ
レスパッタからスパッタリングに移行した際に放電状態
が大きく変化しないようになっている。基板ホルダ2の
下方には、基板3と対向し得る位置に、基板3との間で
逆スパッタを行うための対向電極6が配置されている。
転自在に設けられている。基板ホルダ2には、クランプ
4により威膜ずべき基板3が保持されている.基板3の
保持部を除く基板ホルダ2周囲には、所定間隔Sを介し
てアースシールド部材5が取り付けられている。このア
ースシールド部材5は、基板ホルダ2と一体的に回転す
るように支持されている。また、その支持部5aは、ブ
ラシ20を介してアースに接続されている。なお、間隔
Sは、通常5IIII!1程度に設定されている。また
、アースシールド′部材5の基板側部分5bの取付高さ
位置は、基板3と同程度になっている。これにより、プ
レスパッタからスパッタリングに移行した際に放電状態
が大きく変化しないようになっている。基板ホルダ2の
下方には、基板3と対向し得る位置に、基板3との間で
逆スパッタを行うための対向電極6が配置されている。
この対向電極6はアースに接続されている。また、対向
電極6から離れて基板3と対向し得る位置に、ターゲッ
ト7が配置されている。
電極6から離れて基板3と対向し得る位置に、ターゲッ
ト7が配置されている。
ターゲット7としては、第1図の■矢視略図に相当する
第2図に示すように、3つのターゲット7a,7b及び
7cが90゜間隔で設けられている。各ターゲッ}7a
,7b及び7Cはそれぞれターゲットホルダ8に保持さ
れている。また、各ターゲット7a,7b及び7cの周
囲には、上部に開口10aを有する円筒状の防着筒10
が設けられている。
第2図に示すように、3つのターゲット7a,7b及び
7cが90゜間隔で設けられている。各ターゲッ}7a
,7b及び7Cはそれぞれターゲットホルダ8に保持さ
れている。また、各ターゲット7a,7b及び7cの周
囲には、上部に開口10aを有する円筒状の防着筒10
が設けられている。
真空容器1の外部には、ブーり及びチェーンからなる駆
動機構11を介して、基板ホルダ2を回転駆動するため
のモータ12が設けられている。
動機構11を介して、基板ホルダ2を回転駆動するため
のモータ12が設けられている。
このモータ12には、モータ12の回転量を制御するた
めの制御手段13が接続されている。また、装置外部に
は、高周波電圧を印加するためのスパッタ電源回路l4
が設けられている.このスパッタ電源回路14は、スイ
ッチ15を有している。
めの制御手段13が接続されている。また、装置外部に
は、高周波電圧を印加するためのスパッタ電源回路l4
が設けられている.このスパッタ電源回路14は、スイ
ッチ15を有している。
このスイッチ15の接点15a.15bはそれぞれ基板
ホルダ2及びターゲット8に接続されている.なお、真
空容器lには、ガス導入系9及び排気系16が接続され
ている。
ホルダ2及びターゲット8に接続されている.なお、真
空容器lには、ガス導入系9及び排気系16が接続され
ている。
次に、動作について説明する.
成膜前には、まず逆スパッタ及びプレスパッタを行う。
この場合には、制御手段l3の制御により、モータl2
を駆動して基板ホルダ2を所定量回転させ、基板3を対
向電極6に対向させる。この時、各ターゲット7a,7
b及び7cにはアースシールド部材5の基板側部分5b
が対向している。次ニ、スパッタ電源回路14のスイッ
ヂ15を接点15a側に切り換える。すると、基板ホル
ダ2を介して基仮3に高周波電圧が印加され、基板3と
対向電極6との間で逆スパッタが行われる.これにより
、基板3表面に付着していた不純物が除去され、基板ク
リーニングが行われる。また、各ターゲット7a,7b
及び7cの周囲には防若筒lOが設けられているため、
逆スパッタ時に除去された不純物が各ターゲット7a,
7b及び7Cに付着するのを防止することができる。ま
た、基板ホルダ2の対向電極6対向面はアースシールド
部材5により覆われているので、逆スパッタ時の放電エ
ネルギーを基板3表面に集中させることができる。
を駆動して基板ホルダ2を所定量回転させ、基板3を対
向電極6に対向させる。この時、各ターゲット7a,7
b及び7cにはアースシールド部材5の基板側部分5b
が対向している。次ニ、スパッタ電源回路14のスイッ
ヂ15を接点15a側に切り換える。すると、基板ホル
ダ2を介して基仮3に高周波電圧が印加され、基板3と
対向電極6との間で逆スパッタが行われる.これにより
、基板3表面に付着していた不純物が除去され、基板ク
リーニングが行われる。また、各ターゲット7a,7b
及び7cの周囲には防若筒lOが設けられているため、
逆スパッタ時に除去された不純物が各ターゲット7a,
7b及び7Cに付着するのを防止することができる。ま
た、基板ホルダ2の対向電極6対向面はアースシールド
部材5により覆われているので、逆スパッタ時の放電エ
ネルギーを基板3表面に集中させることができる。
逆スパッタ終了後、スパッタ電源回路l4のスイッヂl
5を接点15b側に切り換える。すると、各ターゲッI
−7a,7b及び7cに高周波電圧が印加されて、各タ
ーゲット1a,7b及び7cとアースシールド部材5と
の間でプレスパッタが行われる.これにより、各ターゲ
ッ}7a,7b及び70表面のクリーニングが行われる
.成膜時には、制御手段13の制御により、モータ12
を駆動して基板ホルダ2を回転させ、夕一ゲット7a,
7b及び7cのうちスパッタすべきいずれかのターゲッ
トに基板3を対向させる.そして、スパッタすべきター
ゲットにスパッタ電源回路l4から高周波電圧を印加す
る。すると、このターゲットと基板3との間でグロー放
電が発生し、ターゲットからスパッタされたスパッタ原
子が基板3上に付着して戒膜処理が行われる.このとき
、防着筒10の開口10aは基板3近傍に位置している
ので、ターゲットからスバツタされたターゲット原子が
基板3以外の部分に付着するのを防止することができる
。次に、基板ホルダ2を回転させて基板3を残りのター
ゲットに対向さ〜仕、残りのターゲットに順に高周波電
圧を印加して威膜処理を行う。このようにして、基板3
上に多層膜が形1戊される. このような本実施例では、逆スバツタ時には、対向電極
6が基板3に対向し、またプレスバ・ノタ時にはアース
シールド部材5が各ターゲット7a,7b及び7Cに対
向するので、従来設けられていたシャッターやその回転
機構が不要となり、これにより構造を簡略化することが
できる。
5を接点15b側に切り換える。すると、各ターゲッI
−7a,7b及び7cに高周波電圧が印加されて、各タ
ーゲット1a,7b及び7cとアースシールド部材5と
の間でプレスパッタが行われる.これにより、各ターゲ
ッ}7a,7b及び70表面のクリーニングが行われる
.成膜時には、制御手段13の制御により、モータ12
を駆動して基板ホルダ2を回転させ、夕一ゲット7a,
7b及び7cのうちスパッタすべきいずれかのターゲッ
トに基板3を対向させる.そして、スパッタすべきター
ゲットにスパッタ電源回路l4から高周波電圧を印加す
る。すると、このターゲットと基板3との間でグロー放
電が発生し、ターゲットからスパッタされたスパッタ原
子が基板3上に付着して戒膜処理が行われる.このとき
、防着筒10の開口10aは基板3近傍に位置している
ので、ターゲットからスバツタされたターゲット原子が
基板3以外の部分に付着するのを防止することができる
。次に、基板ホルダ2を回転させて基板3を残りのター
ゲットに対向さ〜仕、残りのターゲットに順に高周波電
圧を印加して威膜処理を行う。このようにして、基板3
上に多層膜が形1戊される. このような本実施例では、逆スバツタ時には、対向電極
6が基板3に対向し、またプレスバ・ノタ時にはアース
シールド部材5が各ターゲット7a,7b及び7Cに対
向するので、従来設けられていたシャッターやその回転
機構が不要となり、これにより構造を簡略化することが
できる。
(a) 前記実施例では、1つの基板に対して複数の
ターゲットが配置されたスパッタリング装置に本発明を
適用した場合について説明したが、戒膜処理すべき基板
は襟数個設けられていてもよい。なお、この場合には、
プレスパッタ時においてターゲットと対向しない位置に
基板を配置させる必要がある。
ターゲットが配置されたスパッタリング装置に本発明を
適用した場合について説明したが、戒膜処理すべき基板
は襟数個設けられていてもよい。なお、この場合には、
プレスパッタ時においてターゲットと対向しない位置に
基板を配置させる必要がある。
(b) 前記実施例では、基板ホルダ及び各ターゲッ
トが上下に配置された横置型の装置に本発明が適用され
た場合について説明したが、本発明は、これらが縦姿勢
で保持される縦置型の装置にも同様に適用することがで
きる。(C) 対向電極6と各ターゲット7a,7b
及び7Cが充分に離れている場合には、防着筒10は省
略することができる。
トが上下に配置された横置型の装置に本発明が適用され
た場合について説明したが、本発明は、これらが縦姿勢
で保持される縦置型の装置にも同様に適用することがで
きる。(C) 対向電極6と各ターゲット7a,7b
及び7Cが充分に離れている場合には、防着筒10は省
略することができる。
本発明に係るスバックリング装置では、逆スパッタ時に
は対向電極が基板と対向し、またプレスパッタ時にはア
ースシールド部材がターゲットと対向するので、従来設
けられていたシャッターやその回転miI!が不要とな
り、これにより構造を簡略化することができる。
は対向電極が基板と対向し、またプレスパッタ時にはア
ースシールド部材がターゲットと対向するので、従来設
けられていたシャッターやその回転miI!が不要とな
り、これにより構造を簡略化することができる。
第1図は本発明の一実施例によるスパッタリング装置の
縦断面概略図、第2図は第1図の■矢視略図、第3図は
従来装置の第1図に相当する図、第4図は第3図の■矢
視略図である。 2・・・基板ホルダ、3・・・基板、5・・・アースシ
ールド部拐、6・・・対向電極、7a.7b,7c・・
・夕一ゲット、12・・・モータ、13・・・制御手段
、l4・・・スパッタ電源回路.
縦断面概略図、第2図は第1図の■矢視略図、第3図は
従来装置の第1図に相当する図、第4図は第3図の■矢
視略図である。 2・・・基板ホルダ、3・・・基板、5・・・アースシ
ールド部拐、6・・・対向電極、7a.7b,7c・・
・夕一ゲット、12・・・モータ、13・・・制御手段
、l4・・・スパッタ電源回路.
Claims (1)
- (1)基板とターゲットとの間でグロー放電を起こさせ
、ターゲットからスパッタされたターゲット原子を基板
上に付着させて膜形成を行うスパッタリング装置であっ
て、 前記基板を保持するための回転自在な基板ホルダと、前
記基板と対向し得る位置に設けられ基板との間で逆スパ
ッタを行うための対向電極と、基板取付部を除く前記基
板ホルダ周囲に設けられたアースシールド部材と、逆ス
パッタ時に基板が前記対向電極と対向し、プレスパッタ
時に前記アースシールド部材がターゲットと対向するよ
う前記基板ホルダを回転させる回転制御手段とを備えた
スパッタリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31123189A JPH03170667A (ja) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31123189A JPH03170667A (ja) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03170667A true JPH03170667A (ja) | 1991-07-24 |
Family
ID=18014672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31123189A Pending JPH03170667A (ja) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03170667A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20120211351A1 (en) * | 2006-11-08 | 2012-08-23 | Atsushi Tomyo | Method and apparatus for forming silicon dots and method and apparatus for forming a substrate with silicon dots and insulating film |
| JP2017501306A (ja) * | 2013-10-24 | 2017-01-12 | マイヤー・ブルガー・(ジャーマニー)・アクチエンゲゼルシャフト | 磁電管構造体 |
-
1989
- 1989-11-29 JP JP31123189A patent/JPH03170667A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20120211351A1 (en) * | 2006-11-08 | 2012-08-23 | Atsushi Tomyo | Method and apparatus for forming silicon dots and method and apparatus for forming a substrate with silicon dots and insulating film |
| JP2017501306A (ja) * | 2013-10-24 | 2017-01-12 | マイヤー・ブルガー・(ジャーマニー)・アクチエンゲゼルシャフト | 磁電管構造体 |
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