JPH0317106B2 - - Google Patents
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- JPH0317106B2 JPH0317106B2 JP57087164A JP8716482A JPH0317106B2 JP H0317106 B2 JPH0317106 B2 JP H0317106B2 JP 57087164 A JP57087164 A JP 57087164A JP 8716482 A JP8716482 A JP 8716482A JP H0317106 B2 JPH0317106 B2 JP H0317106B2
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- JP
- Japan
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- capacitance
- signal line
- board
- probe
- substrate
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Links
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 22
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- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
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- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、基板上の各信号線の絶縁導通の良否
を判定する絶縁導通判定装置に関する。
を判定する絶縁導通判定装置に関する。
[発明の技術的背景]
従来から基板の信号線の絶縁導通判定装置とし
て、信号線に絶縁層を介して電極板を対向させ、
このとき信号線と電極板との間に発生する静電容
量をプローブを介して測定し、これと正規の構造
を有する信号線パターンの持つべき基準静電容量
とを比較して良否を判定する静電容量測定方式に
よる絶縁導通判定装置が知られている。
て、信号線に絶縁層を介して電極板を対向させ、
このとき信号線と電極板との間に発生する静電容
量をプローブを介して測定し、これと正規の構造
を有する信号線パターンの持つべき基準静電容量
とを比較して良否を判定する静電容量測定方式に
よる絶縁導通判定装置が知られている。
このような静電容量方式による絶縁導通判定装
置に用いる基準静電容量は、従来基板の信号線パ
ターンを自動設計する際用いた大型コンピユータ
のデータから信号線の面積を計算し、この計算結
果から静電容量を算出して、これを登録して用い
られていた。
置に用いる基準静電容量は、従来基板の信号線パ
ターンを自動設計する際用いた大型コンピユータ
のデータから信号線の面積を計算し、この計算結
果から静電容量を算出して、これを登録して用い
られていた。
また、この基準静電容量と測定された基板の信
号線の静電容量との比較、良否の判定も全て大型
コンピユータを用いたバツチ処理により行なわれ
ていた。
号線の静電容量との比較、良否の判定も全て大型
コンピユータを用いたバツチ処理により行なわれ
ていた。
[背景技術の問題点]
しかしながら、このような従来の基準静電容量
データの登録方法によるときは、大型コンピユー
タの使用が前提となるため大型コンピユータを利
用できない状況のもとでは使用できないという難
点があつた。
データの登録方法によるときは、大型コンピユー
タの使用が前提となるため大型コンピユータを利
用できない状況のもとでは使用できないという難
点があつた。
また測定から判定までのリードタイムが長く、
大型コンピユータの稼動状況に測定器の稼動が左
右されるという難点があつた。
大型コンピユータの稼動状況に測定器の稼動が左
右されるという難点があつた。
さらにまた、例えばセラミツク基板のように信
号線パターン形成後焼結工程があるような場合に
は、基板が焼結時に収縮するため設計時の計算に
より求めた静電容量データに対して誤差を生じ、
この誤差を基板の収縮をもとに補正しようとして
も基板の収縮の仕方に一定の傾向があるようなと
きは完全に補正することがきわめて困難であると
いう難点もあつた。
号線パターン形成後焼結工程があるような場合に
は、基板が焼結時に収縮するため設計時の計算に
より求めた静電容量データに対して誤差を生じ、
この誤差を基板の収縮をもとに補正しようとして
も基板の収縮の仕方に一定の傾向があるようなと
きは完全に補正することがきわめて困難であると
いう難点もあつた。
[発明の目的]
本発明の目的は、大型コンピユータを要するこ
となく、しかも基板の収縮等による判定誤差を軽
減して、良好に基板の絶縁導通の良否判定を行う
ことのできる絶縁導通判定装置を提供することに
ある。
となく、しかも基板の収縮等による判定誤差を軽
減して、良好に基板の絶縁導通の良否判定を行う
ことのできる絶縁導通判定装置を提供することに
ある。
[発明の概要]
すなわち本発明の基板の絶縁導通判定装置は、
第1図に示すように、基板Pに形成された信号線
にプローブ1aを接触させることにより、この信
号線と絶縁層を介して対向配置された電極板1b
との間の静電容量を測定する静電容量測定器1
と、前記プローブ1aと基板Pとを相対移動させ
る駆動装置2と、前記プローブ1aを基板Pの信
号線に所定の順序で接触させるよう前記駆動装置
2を制御する制御装置3と、前記静電容量測定器
1で測定された基板Pの信号線ごとの静電容量デ
ータを記憶する基準静電容量記憶器4と、前記基
準静電容量記憶器4が記憶する静電容量データと
前記静電容量測定器4が測定した判定対象の基板
の対応する信号線の静電容量データとを比較する
比較器5とを有することを特徴としている。
第1図に示すように、基板Pに形成された信号線
にプローブ1aを接触させることにより、この信
号線と絶縁層を介して対向配置された電極板1b
との間の静電容量を測定する静電容量測定器1
と、前記プローブ1aと基板Pとを相対移動させ
る駆動装置2と、前記プローブ1aを基板Pの信
号線に所定の順序で接触させるよう前記駆動装置
2を制御する制御装置3と、前記静電容量測定器
1で測定された基板Pの信号線ごとの静電容量デ
ータを記憶する基準静電容量記憶器4と、前記基
準静電容量記憶器4が記憶する静電容量データと
前記静電容量測定器4が測定した判定対象の基板
の対応する信号線の静電容量データとを比較する
比較器5とを有することを特徴としている。
上記した基準静電容量記憶器4、比較器5およ
び制御装置3のデータに関する処理を扱う部分
は、小型コンピユータにより構成される。
び制御装置3のデータに関する処理を扱う部分
は、小型コンピユータにより構成される。
本発明の絶縁導通判定装置においては、作業員
により静電容量測定器1の基板支持機構1cに予
め他の手段により良品と判定された基準となる基
板Pがセツトされ、作業員が制御装置3を操作し
て基板Pの信号線の端子を順にプロービングする
ことにより、基板Pの信号線と電極板1b間の静
電容量データが基準静電容量記憶器4に登録さ
れ、同時に信号線の各端子の座標データが図示を
省略した端子位置記憶器に登録される。
により静電容量測定器1の基板支持機構1cに予
め他の手段により良品と判定された基準となる基
板Pがセツトされ、作業員が制御装置3を操作し
て基板Pの信号線の端子を順にプロービングする
ことにより、基板Pの信号線と電極板1b間の静
電容量データが基準静電容量記憶器4に登録さ
れ、同時に信号線の各端子の座標データが図示を
省略した端子位置記憶器に登録される。
基板の絶縁導通判定を行う場合は、判定対象の
基板Pを静電容量測定器1にセツトして、基板P
において予め決められた基準端子に対して座標交
換のためのプロービングを行つた後、制御装置3
により、端子位置記憶器4に記憶された座標デー
タが順番に読み出され、この座標データを基に駆
動装置2の制御を行いながら、基板Pの各信号線
について自動的にプロービングを行う。
基板Pを静電容量測定器1にセツトして、基板P
において予め決められた基準端子に対して座標交
換のためのプロービングを行つた後、制御装置3
により、端子位置記憶器4に記憶された座標デー
タが順番に読み出され、この座標データを基に駆
動装置2の制御を行いながら、基板Pの各信号線
について自動的にプロービングを行う。
そして、プロービング動作のタイミング信号に
より、基準静電容量記憶器4に登録されている静
電容量データが制御装置3により順に読み出され
て比較器5に入力され、同時に判定対象の基板P
の対応する静電容量データも比較器5に入力され
て、その差信号から信号線の絶縁導通の判定が行
われる。
より、基準静電容量記憶器4に登録されている静
電容量データが制御装置3により順に読み出され
て比較器5に入力され、同時に判定対象の基板P
の対応する静電容量データも比較器5に入力され
て、その差信号から信号線の絶縁導通の判定が行
われる。
[発明の実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。
る。
第2図は本発明に係る一実施例の基板の絶縁導
通判定装置の構成を説明するためのブロツク図で
ある。
通判定装置の構成を説明するためのブロツク図で
ある。
同図に示すように、この基板の絶縁導通判定装
置は、基板上の信号線端子にプローブ23を接触
させて信号線端子と電極板22との間の静電容量
を測定する静電容量測定器11と、この静電容量
測定器11の測定可動部110を駆動する駆動装
置12と、各部の制御を行うシステムコントロー
ラ13と、予め静電容量測定器11で測定された
基準となる静電容量データを記憶する基準静電容
量記憶器およびこの基準静電容量データと測定対
象の基板から得た静電容量データとを比較する比
較器としての機能を有し、かつ基板上の端子位置
におけるプローブ23の座標データを記憶してこ
の座標データを基に駆動装置12の制御などを行
う小型コンピユータ14と、独立して駆動装置1
2を制御可能な操作盤15とからその主要部が構
成されている。
置は、基板上の信号線端子にプローブ23を接触
させて信号線端子と電極板22との間の静電容量
を測定する静電容量測定器11と、この静電容量
測定器11の測定可動部110を駆動する駆動装
置12と、各部の制御を行うシステムコントロー
ラ13と、予め静電容量測定器11で測定された
基準となる静電容量データを記憶する基準静電容
量記憶器およびこの基準静電容量データと測定対
象の基板から得た静電容量データとを比較する比
較器としての機能を有し、かつ基板上の端子位置
におけるプローブ23の座標データを記憶してこ
の座標データを基に駆動装置12の制御などを行
う小型コンピユータ14と、独立して駆動装置1
2を制御可能な操作盤15とからその主要部が構
成されている。
第2図は上記した静電容量測定器11の測定可
動部110の詳細を示す側面図である。
動部110の詳細を示す側面図である。
同図に示すように、この測定可動部110は、
基板を水平に支持するための基板支持台11a
と、この基板支持台11aを基板と平行する面内
でX方向およびY方向に移動させる移動テーブル
21と、この移動テーブル21の上方に水平方向
に移動可能に配置され、基板側に絶縁層22aを
有しかつ中央部に窓22bを設けた電極板22
と、この電極板22の窓22bを通じ、基板支持
台11a上に支持された基板の信号線端子に対し
上下方向に接離可能な状態で配置されたプローブ
23とを備えている。
基板を水平に支持するための基板支持台11a
と、この基板支持台11aを基板と平行する面内
でX方向およびY方向に移動させる移動テーブル
21と、この移動テーブル21の上方に水平方向
に移動可能に配置され、基板側に絶縁層22aを
有しかつ中央部に窓22bを設けた電極板22
と、この電極板22の窓22bを通じ、基板支持
台11a上に支持された基板の信号線端子に対し
上下方向に接離可能な状態で配置されたプローブ
23とを備えている。
移動テーブル21は、基板をX方向およびY方
向に移動させるXYテーブル21aと、この移動
範囲を拡張するスライドテーブル21bとから構
成されている。
向に移動させるXYテーブル21aと、この移動
範囲を拡張するスライドテーブル21bとから構
成されている。
そしてこれら移動テーブル21およびプローブ
23は上述の駆動装置12により駆動される。
23は上述の駆動装置12により駆動される。
電極板22の窓22b上には、モニタ用のテレ
ビカメラ24が配置されており、このテレビカメ
ラ24はプローブ23が下降したとき基板の信号
線端子に接触する位置をクロスヘアモニタ25の
十字線を中心に写し出すようにセツトされてい
る。
ビカメラ24が配置されており、このテレビカメ
ラ24はプローブ23が下降したとき基板の信号
線端子に接触する位置をクロスヘアモニタ25の
十字線を中心に写し出すようにセツトされてい
る。
移動テーブル21は、駆動装置12を制御する
操作盤15のロータリーエンコーダ15a,15
bを操作することにより、任意の位置へ移動可能
とされており、またプローブ23も操作盤15か
らの操作により基板の信号線端子に接触するよう
になつている。
操作盤15のロータリーエンコーダ15a,15
bを操作することにより、任意の位置へ移動可能
とされており、またプローブ23も操作盤15か
らの操作により基板の信号線端子に接触するよう
になつている。
そして、プローブ23操作のタイミング信号に
従つて、プローブ23が接触した基板上の各信号
線端子と電極板22との間の静電容量が順次静電
容量測定器11により測定され、A/D変換器1
7にてデジタル信号に変換された後、小型コンピ
ユータ14に入力されて登録されるようになつて
いる。
従つて、プローブ23が接触した基板上の各信号
線端子と電極板22との間の静電容量が順次静電
容量測定器11により測定され、A/D変換器1
7にてデジタル信号に変換された後、小型コンピ
ユータ14に入力されて登録されるようになつて
いる。
また、このときプローブ23が接触した信号線
端子位置の座標データも順次小型コンピユータ1
4に登録されるようになつている。
端子位置の座標データも順次小型コンピユータ1
4に登録されるようになつている。
小型コンピユータ14に登録された座標データ
は、良否を判定すべき基板を移動テーブル21に
セツトした後、操作盤15からの作業員の指示に
より送られる測定開始信号により順次読み出され
る。そして読み出した座標データを基に、システ
ムコントローラ13は駆動装置12を制御して、
移動テーブル21を指定された位置へ移動するよ
う構成されている。
は、良否を判定すべき基板を移動テーブル21に
セツトした後、操作盤15からの作業員の指示に
より送られる測定開始信号により順次読み出され
る。そして読み出した座標データを基に、システ
ムコントローラ13は駆動装置12を制御して、
移動テーブル21を指定された位置へ移動するよ
う構成されている。
なお小型コンピユータ14には座標変換プログ
ラムが内蔵されており、移動テーブル21上にセ
ツトされた基板の1個または2個の基準端子にプ
ローブ23を接触させることにより、実際の基板
の信号線端子位置の座標と小型コンピユータ14
上の対応する座標データとの差が零となるように
座標変換を行い、この座標変換後のデータにより
移動テーブル21の移動が行われる。これによ
り、基板支持台11a上での各基板ごとの信号線
端子の位置ずれを吸収するようにしている。
ラムが内蔵されており、移動テーブル21上にセ
ツトされた基板の1個または2個の基準端子にプ
ローブ23を接触させることにより、実際の基板
の信号線端子位置の座標と小型コンピユータ14
上の対応する座標データとの差が零となるように
座標変換を行い、この座標変換後のデータにより
移動テーブル21の移動が行われる。これによ
り、基板支持台11a上での各基板ごとの信号線
端子の位置ずれを吸収するようにしている。
そしてプロービング動作のタイミング信号に従
つて、小型コンピユータ14に予め登録された基
準静電容量データがシステムコントローラ13に
より順に読み出され、測定された静電容量データ
と比較されて、その差信号から基板上の各信号線
の絶縁導通の良否判定が行われるようになつてい
る。
つて、小型コンピユータ14に予め登録された基
準静電容量データがシステムコントローラ13に
より順に読み出され、測定された静電容量データ
と比較されて、その差信号から基板上の各信号線
の絶縁導通の良否判定が行われるようになつてい
る。
次に上記実施例の装置の操作方法について説明
する。
する。
まず小型コンピユータ14に基準となる座標デ
ータおよび基準静電容量データを登録するため、
他の検査手段により良品と判定された基板を移動
テーブル21上にセツトし、クロスヘアモニタ2
5を見ながら基板上の信号線端子位置がプローブ
23との接触位置にくるよう操作盤15のロータ
リーエンコーダ15a,15bを操作する。
ータおよび基準静電容量データを登録するため、
他の検査手段により良品と判定された基板を移動
テーブル21上にセツトし、クロスヘアモニタ2
5を見ながら基板上の信号線端子位置がプローブ
23との接触位置にくるよう操作盤15のロータ
リーエンコーダ15a,15bを操作する。
基板の信号線端子位置がプローブ23先端の位
置と整合したところで、プローブ23を降下させ
てプローブ23の先端と基板上の信号線端子とを
接触させて、基板の信号線端子と電極板22との
間の静電容量の測定を行なう。測定された値は
A/D変換器17によりデジタル信号に変換され
た後、小型コンピユータ14に転送されて記憶さ
れる。またこれと同時にXYテーブル21aの現
在の座標が小型コンピユータ14に読み込まれて
記憶される。
置と整合したところで、プローブ23を降下させ
てプローブ23の先端と基板上の信号線端子とを
接触させて、基板の信号線端子と電極板22との
間の静電容量の測定を行なう。測定された値は
A/D変換器17によりデジタル信号に変換され
た後、小型コンピユータ14に転送されて記憶さ
れる。またこれと同時にXYテーブル21aの現
在の座標が小型コンピユータ14に読み込まれて
記憶される。
以上の操作が基板上の他の全ての信号線端子に
ついても同様に行われ、これら全ての信号線端子
についての静電容量データおよび座標データがこ
れから行なわれる絶縁導通判定処理のための基準
データとして小型コンピユータ14に登録され
る。
ついても同様に行われ、これら全ての信号線端子
についての静電容量データおよび座標データがこ
れから行なわれる絶縁導通判定処理のための基準
データとして小型コンピユータ14に登録され
る。
次に、判定対象となる同種の基板を基板支持台
11a上に置き、予め設定された1個または2個
の位置決め用の基準端子にプローブ23を当てて
小型コンピユータ14内での座標交換を行う。こ
の後、測定開始信号を入力することにより、小型
コンピユータ14から基準の座標データが順次読
み出される。
11a上に置き、予め設定された1個または2個
の位置決め用の基準端子にプローブ23を当てて
小型コンピユータ14内での座標交換を行う。こ
の後、測定開始信号を入力することにより、小型
コンピユータ14から基準の座標データが順次読
み出される。
この基準座標データを基にシステムコントロー
ラ13は、移動テーブル21およびプローブ23
の各駆動装置12を駆動させて測定対象基板の各
信号線端子に順次プローブ23を接触させて行
く。
ラ13は、移動テーブル21およびプローブ23
の各駆動装置12を駆動させて測定対象基板の各
信号線端子に順次プローブ23を接触させて行
く。
このようにしてプローブ23で基板上の各信号
線端子を順次辿つて行き、その都度信号線端子と
電極板22との間の静電容量を測定してデジタル
信号化し、この静電容量データと先に登録された
基準静電容量データとを比較して差を求めて行く
ことにより、基板上の信号線間の絶縁状態および
信号線の有無が判断される。
線端子を順次辿つて行き、その都度信号線端子と
電極板22との間の静電容量を測定してデジタル
信号化し、この静電容量データと先に登録された
基準静電容量データとを比較して差を求めて行く
ことにより、基板上の信号線間の絶縁状態および
信号線の有無が判断される。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の基板の絶縁導通判
定装置によれば、予め良品と判断された基板から
基準静電容量データを直接取り込んで登録し、こ
の基準静電容量データを用いて基板上の各信号線
の絶縁導通の良否判定を行うようにしたので、大
型コンピユータを使用できない条件下でも良好に
用いることができ、リアルタイムで迅速に基板の
絶縁導通の判定を行うことができる。
定装置によれば、予め良品と判断された基板から
基準静電容量データを直接取り込んで登録し、こ
の基準静電容量データを用いて基板上の各信号線
の絶縁導通の良否判定を行うようにしたので、大
型コンピユータを使用できない条件下でも良好に
用いることができ、リアルタイムで迅速に基板の
絶縁導通の判定を行うことができる。
また製造時の収縮による誤差などのように同種
の基板について同一の傾向で生じる誤差も相殺さ
れるので精度の高い判定を行うことができる。
の基板について同一の傾向で生じる誤差も相殺さ
れるので精度の高い判定を行うことができる。
第1図は本発明の基板の絶縁導通判定装置の構
成を示すブロツク図、第2図は本発明に係る一実
施例の基板の絶縁導通判定装置の構成を示すブロ
ツク図、第3図は第2図における静電容量測定器
の測定可動部の詳細を示す側面図である。 11…静電容量測定器、12…駆動装置、13
…システムコントローラ、14…小型コンピユー
タ、15…操作盤、17…A/D変換器、21…
移動テーブル、22…電極板、23…プローブ、
24…テレビカメラ、25…クロスヘアモニタ、
110…測定可動部。
成を示すブロツク図、第2図は本発明に係る一実
施例の基板の絶縁導通判定装置の構成を示すブロ
ツク図、第3図は第2図における静電容量測定器
の測定可動部の詳細を示す側面図である。 11…静電容量測定器、12…駆動装置、13
…システムコントローラ、14…小型コンピユー
タ、15…操作盤、17…A/D変換器、21…
移動テーブル、22…電極板、23…プローブ、
24…テレビカメラ、25…クロスヘアモニタ、
110…測定可動部。
Claims (1)
- 1 基板に形成された信号線にプローブを接触さ
せることにより、この信号線と絶縁層を介して対
向配置された電極板との間の静電容量を測定する
静電容量測定器と、前記プローブと基板とを互い
に平行する面内で相対移動させる駆動装置と、前
記プローブを基板の信号線に所定の順序で接触さ
せるよう前記駆動装置を制御する制御装置と、前
記静電容量測定器で測定された基板の信号線ごと
の静電容量データを記憶する基準静電容量記憶器
と、前記基準静電容量記憶器が記憶する静電容量
データと前記静電容量測定器が測定した判定対象
の基板の対応する信号線の静電容量データとを比
較する比較器とを有することを特徴とする基板の
絶縁導通判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087164A JPS58204374A (ja) | 1982-05-22 | 1982-05-22 | 基板の絶縁導通判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087164A JPS58204374A (ja) | 1982-05-22 | 1982-05-22 | 基板の絶縁導通判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58204374A JPS58204374A (ja) | 1983-11-29 |
| JPH0317106B2 true JPH0317106B2 (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=13907343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57087164A Granted JPS58204374A (ja) | 1982-05-22 | 1982-05-22 | 基板の絶縁導通判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58204374A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001330579A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Nec Ibaraki Ltd | パターン検査方法及びパターン検査装置及び記録媒体 |
-
1982
- 1982-05-22 JP JP57087164A patent/JPS58204374A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58204374A (ja) | 1983-11-29 |
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