JPH03176892A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JPH03176892A JPH03176892A JP1314665A JP31466589A JPH03176892A JP H03176892 A JPH03176892 A JP H03176892A JP 1314665 A JP1314665 A JP 1314665A JP 31466589 A JP31466589 A JP 31466589A JP H03176892 A JPH03176892 A JP H03176892A
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- JP
- Japan
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- circuit
- memory cell
- cell array
- logic circuit
- semiconductor integrated
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路装置に関し、特に論理回路と
メモリとを備えた半導体集積回路装置に適用して有効な
技術に関するものである。
メモリとを備えた半導体集積回路装置に適用して有効な
技術に関するものである。
大型、超大型スーパーコンピュータは、CPU(Cen
tral P rocessing U n1t)と主
メモリ装置との間に、キャッシュメモリ(バッファメモ
リ)を介在させている。前記主メモリ装置は、記憶容量
が大量に必要とされるので、例えばDRAMで構成され
ている。
tral P rocessing U n1t)と主
メモリ装置との間に、キャッシュメモリ(バッファメモ
リ)を介在させている。前記主メモリ装置は、記憶容量
が大量に必要とされるので、例えばDRAMで構成され
ている。
前記キャッシュメモリは、前記主メモリ装置内の情報の
うち所定の情報を読み込み、この読み込んだ情報を前記
CPUとの間で入出力する。また、このキャッシュメモ
リは、前HHc P Uとの間で入− 出力の終った情報を、前記主メモリ装置に出力する。つ
まり、前記キャッシュメモリ、主メモリ装置の夫々は、
前記CPUから見て一つの記憶装置として働き、階層構
造の記憶装置を構成している。
うち所定の情報を読み込み、この読み込んだ情報を前記
CPUとの間で入出力する。また、このキャッシュメモ
リは、前HHc P Uとの間で入− 出力の終った情報を、前記主メモリ装置に出力する。つ
まり、前記キャッシュメモリ、主メモリ装置の夫々は、
前記CPUから見て一つの記憶装置として働き、階層構
造の記憶装置を構成している。
前記キャッシュメモリは、例えば、前記主メモリ装置を
構成するDRAMと比べて動作速度が高速なSRAMと
、論理回路(ゲートアレイ部)から構成されている。S
RAMは、DRAMと比べて、DRAMのリフレッシュ
サイクルに相当する分動作速度が速い。前記論理回路は
、前記CPUから入力される論理アドレス(例えば32
[bitl)を前記SRAM内で使用される物理アド
レス(例えば24 [bit])に変換する。
構成するDRAMと比べて動作速度が高速なSRAMと
、論理回路(ゲートアレイ部)から構成されている。S
RAMは、DRAMと比べて、DRAMのリフレッシュ
サイクルに相当する分動作速度が速い。前記論理回路は
、前記CPUから入力される論理アドレス(例えば32
[bitl)を前記SRAM内で使用される物理アド
レス(例えば24 [bit])に変換する。
このように、スーパーコンピュータは、前記CPUと主
メモリ装置との間にキャッシュメモリを設けたことによ
り、主メモリで大容量の記憶容量を確保することができ
ると共に、キャッシュメモリで動作速度を高速化するこ
とができるので、全体としては、大容量で高速な演算処
理が可能となる。
メモリ装置との間にキャッシュメモリを設けたことによ
り、主メモリで大容量の記憶容量を確保することができ
ると共に、キャッシュメモリで動作速度を高速化するこ
とができるので、全体としては、大容量で高速な演算処
理が可能となる。
次に、前記キャッシュメモリの構成を、具体的に説明す
る。
る。
前記キャッシュメモリは、単結晶珪素の方形状の半導体
基板で構成されている。この半導体基板の周辺部には、
入出力回路が配置されている。また、この入出力回路が
配置されている領域の近傍には、ポンディングパッドが
配置されている。
基板で構成されている。この半導体基板の周辺部には、
入出力回路が配置されている。また、この入出力回路が
配置されている領域の近傍には、ポンディングパッドが
配置されている。
前記論理回路は、前記入出力回路で周囲を規定された領
域内において、前記半導体基板の中央部に配置されてい
る。
域内において、前記半導体基板の中央部に配置されてい
る。
前記SRAMは、複数個のブロック(RAMマクロセル
)に分割されている。この複数個に分割されたブロック
は、前記方形状の半導体基板の一辺に沿って配置された
入出力回路と、対向する他の一辺に沿って配置された入
出力回路の夫々と、前記論理回路との間の領域内に配置
されている。
)に分割されている。この複数個に分割されたブロック
は、前記方形状の半導体基板の一辺に沿って配置された
入出力回路と、対向する他の一辺に沿って配置された入
出力回路の夫々と、前記論理回路との間の領域内に配置
されている。
前記SRAMの分割されたブロックの夫々は、主に、入
力ラッチ回路、デコーダ回路、メモリセルアレイ部、セ
ンスアンプから構成されている。
力ラッチ回路、デコーダ回路、メモリセルアレイ部、セ
ンスアンプから構成されている。
前記SRAMは、例えば4個のブロックに分割−
4
され、論理回路を中心に前記−辺側、それと対向する他
の一辺側の夫々に、前記論理回路に沿って配置されてい
る。この4個に分割されたブロックの夫々は、前記論理
回路側から入力ラッチ回路。
の一辺側の夫々に、前記論理回路に沿って配置されてい
る。この4個に分割されたブロックの夫々は、前記論理
回路側から入力ラッチ回路。
Yデコーダ回路、センスアンプ、メモリセルアレイ部の
夫々を配置して構成されている。
夫々を配置して構成されている。
前記4個に分割されたブロックのメモリセルアレイ部は
、このブロック内において2分割されている。つまり、
キャッシュメモリに搭載されたSRAMのメモリセルア
レイ部は、8個に分割されて配置されている。前記ブロ
ック内の2個に分割されたメモリセルアレイ部間には、
Xデコーダ回路、ワー)り1(ライバ回路の夫々が配置
されている。
、このブロック内において2分割されている。つまり、
キャッシュメモリに搭載されたSRAMのメモリセルア
レイ部は、8個に分割されて配置されている。前記ブロ
ック内の2個に分割されたメモリセルアレイ部間には、
Xデコーダ回路、ワー)り1(ライバ回路の夫々が配置
されている。
前記8個に分割されたメモリセルアレイ部の夫々には、
1 [bit]の情報を記憶するメモリセルが行列状に
複数配置されている。このメモリセルは、メモリセルア
レイ部を延在する相補性データ線とワード線との交差部
に配置されている。
1 [bit]の情報を記憶するメモリセルが行列状に
複数配置されている。このメモリセルは、メモリセルア
レイ部を延在する相補性データ線とワード線との交差部
に配置されている。
この種の技術に関しては、例えば、アイ・イー・イー・
イー、インターナショナル・ソリッドステイト・サーキ
ッツ・コンファレンス(1,989年)第26頁乃至第
27頁及び第278頁(IEEE、Internati
onal 5olid−state C1rcuj、t
s Conference。
イー、インターナショナル・ソリッドステイト・サーキ
ッツ・コンファレンス(1,989年)第26頁乃至第
27頁及び第278頁(IEEE、Internati
onal 5olid−state C1rcuj、t
s Conference。
(1989)、pp26−27.ρρ278)に記載さ
れている。
れている。
C発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、本発明者は、前記従来技術を検討した結
果、以下のような問題点を見出した。
果、以下のような問題点を見出した。
前述のキャッシュメモリにおいては、前記入力ラッチ回
路に入力されたX系のアドレス信号は、前記入力ラッチ
回路から前記メモリセルアレイ部に沿って、前記−辺側
またはそれと対向する他の一辺側の方向に前記Xデコー
ダ回路まで伝送されるので、前記入力ラッチ回路から、
前記Xデコーダ回路までX系のアドレス信号を伝送する
のに相当する分、信号伝送遅延が発生し、動作速度が低
下するという問題があった。
路に入力されたX系のアドレス信号は、前記入力ラッチ
回路から前記メモリセルアレイ部に沿って、前記−辺側
またはそれと対向する他の一辺側の方向に前記Xデコー
ダ回路まで伝送されるので、前記入力ラッチ回路から、
前記Xデコーダ回路までX系のアドレス信号を伝送する
のに相当する分、信号伝送遅延が発生し、動作速度が低
下するという問題があった。
本発明の目的は、メモリと論理回路を備えた半導体集積
回路装置において、動作速度を高速化することが可能な
技術を提供することにある。
回路装置において、動作速度を高速化することが可能な
技術を提供することにある。
6−
本発明の他の目的は、前記メモリと論理回路を備えた半
導体集積回路装置において、高集積化を図ることが可能
な技術を提供することにある。
導体集積回路装置において、高集積化を図ることが可能
な技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明I書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明I書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
(1)論理回路からラッチ回路を介してデコーダ回路に
アドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいてメモ
リセルアレイ部の所定のメモリセルを選択する半導体集
積回路装置において、前記論理回路と前記メモリセルア
レイ部との間の領域に、前記論理回路側からラッチ回路
、X/Yデコーダ回路の夫々を配置する。
アドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいてメモ
リセルアレイ部の所定のメモリセルを選択する半導体集
積回路装置において、前記論理回路と前記メモリセルア
レイ部との間の領域に、前記論理回路側からラッチ回路
、X/Yデコーダ回路の夫々を配置する。
(2)論理回路からラッチ回路を介してデコーダ回路に
アドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいて複数
個のうちの所定のメモリセルアレイ部のメモリセルを選
択する半導体集積回路装置において、前記論理回路の外
周に沿って前記複数個のメモリセルアレイ部を配置し、
該各々のメモリセルアレイ部間の領域に、該メモリセル
アレイ部から読み出された情報を演算する専用論理回路
を配置し、前記メモリセルアレイ部と前記論理回路との
間の領域に、前記論理回路側からラッチ回路。
アドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいて複数
個のうちの所定のメモリセルアレイ部のメモリセルを選
択する半導体集積回路装置において、前記論理回路の外
周に沿って前記複数個のメモリセルアレイ部を配置し、
該各々のメモリセルアレイ部間の領域に、該メモリセル
アレイ部から読み出された情報を演算する専用論理回路
を配置し、前記メモリセルアレイ部と前記論理回路との
間の領域に、前記論理回路側からラッチ回路。
X/Yデコーダ回路の夫々を配置する。
C作 用〕
前述した手段(1)によれば、ラッチ回路とXデコーダ
回路との間の距離は小さくなるので、両者間の配線長は
短かくなり、X系のアドレス信号の配線における信号伝
送遅延は低減される。これにより、半導体集積回路装置
の動作速度を高速化することができる。
回路との間の距離は小さくなるので、両者間の配線長は
短かくなり、X系のアドレス信号の配線における信号伝
送遅延は低減される。これにより、半導体集積回路装置
の動作速度を高速化することができる。
前述した手段(2)によれば、メモリセルアレイ部から
の出力を演算する専用論理回路を前記論理回路と別の領
域に独立に配置し、専用論理回路を最適化することがで
きるので、専用論理回路の占有面積を小さくし、半導体
集積回路装置の高集− 8 積比を図ることができる。
の出力を演算する専用論理回路を前記論理回路と別の領
域に独立に配置し、専用論理回路を最適化することがで
きるので、専用論理回路の占有面積を小さくし、半導体
集積回路装置の高集− 8 積比を図ることができる。
また、同時に、メモリセルアレイ部と専用論理回路との
間の配線の長さは短かくなるので、配線の信号伝送遅延
は小さくなり、半導体集積回路装置の動作速度を高速化
することができる。
間の配線の長さは短かくなるので、配線の信号伝送遅延
は小さくなり、半導体集積回路装置の動作速度を高速化
することができる。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
る。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能
を有するものは、同一符号を付け、その繰り返しの説明
は省略する。
を有するものは、同一符号を付け、その繰り返しの説明
は省略する。
本発明の一実施例であるSRAMと論理回路とを備えた
半導体集積回路装置(キャッシュメモリ)を、第1図(
全体構成の概略を示す回路ブロック図)を用いて説明す
る。この半導体集積回路装置は、コンピュータのCPU
と主メモリ装置との間に介在し、キャッシュメモリとし
て使用される。
半導体集積回路装置(キャッシュメモリ)を、第1図(
全体構成の概略を示す回路ブロック図)を用いて説明す
る。この半導体集積回路装置は、コンピュータのCPU
と主メモリ装置との間に介在し、キャッシュメモリとし
て使用される。
第1図に示すように、前記半導体集積回路装置は、方形
状の半導体基板1で構成されている。この半導体基板1
は、例えば単結晶珪素で構成されている。
状の半導体基板1で構成されている。この半導体基板1
は、例えば単結晶珪素で構成されている。
前記半導体基板1の周辺部には、入出力回路2が配置さ
れている。また、この入出力回路2が配置されている領
域の近傍には、図示しないポンディングパッドが複数個
配置されている。この入出力回路2及びポンディングパ
ッドの夫々を介して、前記半導体集積回路装置は、前記
主メモリ装置またはCPUとの間で情報を入出力する。
れている。また、この入出力回路2が配置されている領
域の近傍には、図示しないポンディングパッドが複数個
配置されている。この入出力回路2及びポンディングパ
ッドの夫々を介して、前記半導体集積回路装置は、前記
主メモリ装置またはCPUとの間で情報を入出力する。
前記入出力回路2は、本実施例の場合には、半導体集積
回路装置の外部(CP U及び主メモリ装置)がECL
(旦mj tter旦oupled L ogic)構
成の場合を想定しているので、外部のECL回路と、内
部のSRAM及び論理回路(3)を構成するCMO8(
相補型MISFET)回路との間のレベル変換を行なう
。
回路装置の外部(CP U及び主メモリ装置)がECL
(旦mj tter旦oupled L ogic)構
成の場合を想定しているので、外部のECL回路と、内
部のSRAM及び論理回路(3)を構成するCMO8(
相補型MISFET)回路との間のレベル変換を行なう
。
前記入出力回路2で周囲を規定された領域内において、
前記半導体基板1の上下方向の中央部には、論理回路(
ゲートアレイ部)3が配置されている。この論理回路3
は、前記入出力回路2を介して前記CPUから入力され
る論理アドレス(例えば32 [bit])を、SRA
M内のアドレス信号であり一 1〇− る物理アIくレス(例えば24 [bitl)に変換す
る。
前記半導体基板1の上下方向の中央部には、論理回路(
ゲートアレイ部)3が配置されている。この論理回路3
は、前記入出力回路2を介して前記CPUから入力され
る論理アドレス(例えば32 [bit])を、SRA
M内のアドレス信号であり一 1〇− る物理アIくレス(例えば24 [bitl)に変換す
る。
前記論理回路3と前記入出力回路2とで周囲を規定され
た領域内には、SRAMを構成するRAMブロック(R
AMマクロセル)4が配置されている。このRAMブロ
ック4は、24 [bitl同時読み出し可能な2 [
kw] X 24 [bitlの2面構成になっている
。このRAMブロック4は、主に、入力ラッチ回路7、
デコーダ回路8、メモリセルアレイ部5、センスアンプ
(13)、レベル変換回路(!4)の夫々から構成され
ている。また、このRAMブロック4には、前記メモリ
セルアレイ部5から読み出された情報を演算する専用論
理回路(15,16)が設けられている。このRAMブ
ロック4の夫々は、前記論理回5lt3を対称軸とする
鏡面対称で構成されている。
た領域内には、SRAMを構成するRAMブロック(R
AMマクロセル)4が配置されている。このRAMブロ
ック4は、24 [bitl同時読み出し可能な2 [
kw] X 24 [bitlの2面構成になっている
。このRAMブロック4は、主に、入力ラッチ回路7、
デコーダ回路8、メモリセルアレイ部5、センスアンプ
(13)、レベル変換回路(!4)の夫々から構成され
ている。また、このRAMブロック4には、前記メモリ
セルアレイ部5から読み出された情報を演算する専用論
理回路(15,16)が設けられている。このRAMブ
ロック4の夫々は、前記論理回5lt3を対称軸とする
鏡面対称で構成されている。
また、前記RAMブロック4は、前記論理回路3の上下
に分割され、更に」二下夫々の領域において左右方向に
分割されている。つまり、前記RAMブロック4は、4
分割されている。この4分割されたRAMブロック4の
うちの一つを、第1図では、二点鎖線で囲って示す。
に分割され、更に」二下夫々の領域において左右方向に
分割されている。つまり、前記RAMブロック4は、4
分割されている。この4分割されたRAMブロック4の
うちの一つを、第1図では、二点鎖線で囲って示す。
4個に分割された夫々のRAMブロック4は、前記論理
回路3側から入力ラッチ回路7、デコーダ回路8、メモ
リセルアレイ部5の夫々を配置して構成されている。こ
の入力ラッチ回路7、デコーダ回路8の夫々は、前記4
個に分割された夫々のR,A Mブロック4内において
、左右方向の中央部から2個に分割されている。この人
力ラッチ回路7には、RAMブロック4が2 [kw]
X 24 [bitコの2面構成になっているために
、前記論理回路3で物理アドレスに変換された1 ]、
[bit]のアドレス信号が人力される。前記入力ラ
ッチ回路7は、この入力されたアドレス信号を一時保持
し、]1−[bj tlすべてを保持した後、クロック
信号に基づきこの11 [bitlすべでのアドレス信
号を前記デコーダ回路8に出力する。
回路3側から入力ラッチ回路7、デコーダ回路8、メモ
リセルアレイ部5の夫々を配置して構成されている。こ
の入力ラッチ回路7、デコーダ回路8の夫々は、前記4
個に分割された夫々のR,A Mブロック4内において
、左右方向の中央部から2個に分割されている。この人
力ラッチ回路7には、RAMブロック4が2 [kw]
X 24 [bitコの2面構成になっているために
、前記論理回路3で物理アドレスに変換された1 ]、
[bit]のアドレス信号が人力される。前記入力ラ
ッチ回路7は、この入力されたアドレス信号を一時保持
し、]1−[bj tlすべてを保持した後、クロック
信号に基づきこの11 [bitlすべでのアドレス信
号を前記デコーダ回路8に出力する。
前記RAMブロック4において、前記入力ラッチ回路7
、デコーダ回路8が設けられている領域及びこのRAM
ブロック4の左右方向の中央部を除く領域には、前記論
理回路3に沿って前記メモ1− 2− リセルアレイ部5が配置されている。つまり、このメモ
リセルアレイ部5は、各RAMブロック4内において2
個に分割され、SRAM全体として、メモリセルアレイ
部5は8個に分割して配置されている。
、デコーダ回路8が設けられている領域及びこのRAM
ブロック4の左右方向の中央部を除く領域には、前記論
理回路3に沿って前記メモ1− 2− リセルアレイ部5が配置されている。つまり、このメモ
リセルアレイ部5は、各RAMブロック4内において2
個に分割され、SRAM全体として、メモリセルアレイ
部5は8個に分割して配置されている。
前記RAMブロック4の中央部、すなわち、前記メモリ
セルアレイ部5間の領域には、前記センスアンプ(13
)、レベル変換回路(14)、専用論理回路(15,1
6)の夫々を配置する領域6が設けられている。この領
域6を挾んで隣り合うメモリセルアレイ部5の夫々は、
前記領域6を対称軸とする鏡面対称で構成されている。
セルアレイ部5間の領域には、前記センスアンプ(13
)、レベル変換回路(14)、専用論理回路(15,1
6)の夫々を配置する領域6が設けられている。この領
域6を挾んで隣り合うメモリセルアレイ部5の夫々は、
前記領域6を対称軸とする鏡面対称で構成されている。
次に、前記RAMブロック4の細部の構成を、第2図(
第1図中−焦鎖線で囲った領域内を拡大して示す図)を
用いて説明する。第2図において、鎖線A−Aは、RA
Mブロック4の左右方向の中央を示している。
第1図中−焦鎖線で囲った領域内を拡大して示す図)を
用いて説明する。第2図において、鎖線A−Aは、RA
Mブロック4の左右方向の中央を示している。
第2図に示すように、前記各RAMブロック4内におい
て、2個に分割されたメモリセルアレイ部5の夫々には
、上下方向にワード線WLが延在し、左右方向に相補性
データ線DL及びD Lが延在している。このメモリセ
ルアレイ部5には、行列状にメモリセル9が配置されて
いる。このメモリセル9の構成を、第3図(等価回路図
)に示す。
て、2個に分割されたメモリセルアレイ部5の夫々には
、上下方向にワード線WLが延在し、左右方向に相補性
データ線DL及びD Lが延在している。このメモリセ
ルアレイ部5には、行列状にメモリセル9が配置されて
いる。このメモリセル9の構成を、第3図(等価回路図
)に示す。
第3図に示すように、前記メモリセル9は、相補性デー
タ線DL、DLとワード線WLとの交差部分に配置され
ている。前記メモリセル9は、情報蓄積部(電荷ノード
を有する)として使用されるフリップフロップ回路及び
2個の転送用MISFETQsよ及びQS2で構成され
ている。フリップフロップ回路は、 2個の駆動用M、
l5FETQd□とQd2、及び2個の抵抗素子R工と
R2から構成されている。つまり、メモリセル9は、M
、TSFETを主体に構成されているので、結果的にメ
モリセルアレイ部5は、MISFETを主体に構成され
ている。
タ線DL、DLとワード線WLとの交差部分に配置され
ている。前記メモリセル9は、情報蓄積部(電荷ノード
を有する)として使用されるフリップフロップ回路及び
2個の転送用MISFETQsよ及びQS2で構成され
ている。フリップフロップ回路は、 2個の駆動用M、
l5FETQd□とQd2、及び2個の抵抗素子R工と
R2から構成されている。つまり、メモリセル9は、M
、TSFETを主体に構成されているので、結果的にメ
モリセルアレイ部5は、MISFETを主体に構成され
ている。
前記駆動用MISFETQd1とQd2の夫々のトレイ
ン領域には、抵抗素子R工とR2の夫々を介在させて電
源電圧VCCが接続されている。駆動用MISFETQ
d1とQd2の夫々のソース領域には、14− 基準電圧Vssが接続されている。
ン領域には、抵抗素子R工とR2の夫々を介在させて電
源電圧VCCが接続されている。駆動用MISFETQ
d1とQd2の夫々のソース領域には、14− 基準電圧Vssが接続されている。
前記領域6の左右方向の中央部には、第2図に示すよう
に、上下方向に向って延びる順序制御(アライナ)回路
16が配置されている。この順序jlt制御回路16と
前記メモリセルアレイ部5との間の領域において、前記
メモリセルアレイ部5側からYスイッチ回路12、セン
スアンプ回路13、レベル変換回路14、パリチオチエ
ツク回路15の夫々が配置されている。
に、上下方向に向って延びる順序制御(アライナ)回路
16が配置されている。この順序jlt制御回路16と
前記メモリセルアレイ部5との間の領域において、前記
メモリセルアレイ部5側からYスイッチ回路12、セン
スアンプ回路13、レベル変換回路14、パリチオチエ
ツク回路15の夫々が配置されている。
前記デコーダ回路8は、Xデコーダ回路10.Yデコー
ダ回路11の夫々から構成されている。これらXデコー
ダ回路1O1Yデコーダ回路11の夫々は、ワード線W
L、Y方向選択信号線ysの夫々の立ち上げ速度を高速
化するために、バイポーラトランジスタを主体として構
成されている。前記Xデコーダ回路10は、前記メモリ
セルアレイ部6と前記入力ラッチ回路7との間の領域に
おいて、前記メモリセルアレイ部5に沿って配置されて
いる。
ダ回路11の夫々から構成されている。これらXデコー
ダ回路1O1Yデコーダ回路11の夫々は、ワード線W
L、Y方向選択信号線ysの夫々の立ち上げ速度を高速
化するために、バイポーラトランジスタを主体として構
成されている。前記Xデコーダ回路10は、前記メモリ
セルアレイ部6と前記入力ラッチ回路7との間の領域に
おいて、前記メモリセルアレイ部5に沿って配置されて
いる。
前記Yデコーダ回路11は、前記Yスイッチ回路12と
前記論理回路3との間の領域において、前記Yスイッチ
回路12に沿って配置されている。このXデコーダ回8
10及びYデコーダ回路工!の夫々は、前記入力ラッチ
回路7から入力された1 1 [bitlのアドレス
信号を、211すなわち2048の信号にデコードする
。このデコードされた2048のアドレス信号に基づき
、前記Xデコーダ回路10はワード線WLを、前Byデ
コーダ回路11は前記Yスイッチ回$12を立ち上げ、
前記メモリセルアレイ部5内の所定のメモリセル9を選
択する。ここで、前記論理回路3と前記メモリセルアレ
イ部5との間の領域に、前記論理回路3側から前記入力
ラッチ回路7、X/Yデコーダ回路10.11の夫々を
配置したことにより、前記入力ラッチ回路7とX/Yデ
コーダ回路10.11との間の距離は、従来のキャッシ
ュメモリと比べて短かくなるので、前記入力ラッチ回路
7とX/Yデコーダ回路10.11との間の配線長は短
かくなり、アドレス信号の配線における信号伝送遅延は
低減される。これにより、半導体集積回路装置の動作速
度を高速化することができる。
前記論理回路3との間の領域において、前記Yスイッチ
回路12に沿って配置されている。このXデコーダ回8
10及びYデコーダ回路工!の夫々は、前記入力ラッチ
回路7から入力された1 1 [bitlのアドレス
信号を、211すなわち2048の信号にデコードする
。このデコードされた2048のアドレス信号に基づき
、前記Xデコーダ回路10はワード線WLを、前Byデ
コーダ回路11は前記Yスイッチ回$12を立ち上げ、
前記メモリセルアレイ部5内の所定のメモリセル9を選
択する。ここで、前記論理回路3と前記メモリセルアレ
イ部5との間の領域に、前記論理回路3側から前記入力
ラッチ回路7、X/Yデコーダ回路10.11の夫々を
配置したことにより、前記入力ラッチ回路7とX/Yデ
コーダ回路10.11との間の距離は、従来のキャッシ
ュメモリと比べて短かくなるので、前記入力ラッチ回路
7とX/Yデコーダ回路10.11との間の配線長は短
かくなり、アドレス信号の配線における信号伝送遅延は
低減される。これにより、半導体集積回路装置の動作速
度を高速化することができる。
5
6−
次に、前記メモリセルアレイ部5からの情報の読み出し
動作を簡単に説明する。
動作を簡単に説明する。
前記メモリセルアレイ部5のメモリセル9に記憶されて
いる情報は、まず、前記データ線DL、D Lの夫々か
らYスイッチ回路12を介してセンスアンプ回路13で
増幅される。このセンスアンプ回路13で増幅された情
報は、前記レベル変換回路14に入力され、読み出され
た情報が1の場合には、電源電圧Vcc(例えば5[V
l)まで昇圧される。
いる情報は、まず、前記データ線DL、D Lの夫々か
らYスイッチ回路12を介してセンスアンプ回路13で
増幅される。このセンスアンプ回路13で増幅された情
報は、前記レベル変換回路14に入力され、読み出され
た情報が1の場合には、電源電圧Vcc(例えば5[V
l)まで昇圧される。
次に、前記レベル変換回路14から出力された情報は、
RAMブロック4外に出力されると共に、前記パリティ
チエツク回路15に入力される。また、前記レベル変換
回路14から出力された情報は、前記順序制御回路16
に出力される。前記パリティチエツク回路15は、入力
された情報の誤りチエツクを行なう。
RAMブロック4外に出力されると共に、前記パリティ
チエツク回路15に入力される。また、前記レベル変換
回路14から出力された情報は、前記順序制御回路16
に出力される。前記パリティチエツク回路15は、入力
された情報の誤りチエツクを行なう。
前記順序制御回路16は、この順序制御回路16を挾ん
で隣り合う2個のメモリセルアレイ部5の夫々からの2
4 [bjtlずつの情報を取り込み、この取り込んだ
48 [bit]の情報の順序制御を行ない、24 [
bit]の情報を出力する。この順序制御の行なわれた
情報は、前記論理回路3に出力されるか、同第2図中2
0a或いは20bで示す経路のいずれかを介して前記入
出力回路2に出力される。
で隣り合う2個のメモリセルアレイ部5の夫々からの2
4 [bjtlずつの情報を取り込み、この取り込んだ
48 [bit]の情報の順序制御を行ない、24 [
bit]の情報を出力する。この順序制御の行なわれた
情報は、前記論理回路3に出力されるか、同第2図中2
0a或いは20bで示す経路のいずれかを介して前記入
出力回路2に出力される。
前記半導体集積回路装置は、ゲートアレイ手法が採用さ
れ、論理器g3、RAMブロック4、入出力回路2等の
回路は、基本的にマクロセル(機能ブロック)として配
置されている。
れ、論理器g3、RAMブロック4、入出力回路2等の
回路は、基本的にマクロセル(機能ブロック)として配
置されている。
このように、半導体集積回路装置(キャッシュメモリ)
の高速化を図るために、前記メモリセルアレイ部5と論
理回路3との間の領域において、前記論理回路3側から
入力ラッチ回路7、Xデコーダ回路10の夫々を配置し
、X系のアドレス信号の伝送経路を規定すると、前記メ
モリセルアレイ部5からの情報の読み出し経路は、前記
X系のアドレス信号の伝送経路と直交する方向に規定さ
れる。このため、この読み出し経路に前記レベル変換回
路14、パリティチエツク回路15、順序制御回路16
の夫々を配置している。この配置によれば、X系のアド
レス信号の伝送経路、情報の読み出し8 経路の夫々を最適化(最短化)することができるので、
半導体集積回路装置の動作速度を高速化することができ
る。
の高速化を図るために、前記メモリセルアレイ部5と論
理回路3との間の領域において、前記論理回路3側から
入力ラッチ回路7、Xデコーダ回路10の夫々を配置し
、X系のアドレス信号の伝送経路を規定すると、前記メ
モリセルアレイ部5からの情報の読み出し経路は、前記
X系のアドレス信号の伝送経路と直交する方向に規定さ
れる。このため、この読み出し経路に前記レベル変換回
路14、パリティチエツク回路15、順序制御回路16
の夫々を配置している。この配置によれば、X系のアド
レス信号の伝送経路、情報の読み出し8 経路の夫々を最適化(最短化)することができるので、
半導体集積回路装置の動作速度を高速化することができ
る。
以上説明したように、本実施例によれば、論理回路3か
ら入力ラッチ回路7を介してデコーダ回路8にアドレス
信号を入力し、このアドレス信号に基づいてメモリセル
アレイ部5の所定のメモリセル9を選択する半導体集積
回路装置において、前記論理回路3とメモリセルアレイ
部5との間の領域に、前記論理回路3側から人力ラッチ
回路7、X、/Yデコーダ回路8の夫々を配置する。こ
の構成によれば、入力ラッチ回路7とXデコーダ回路8
との間の距離は小さくなるので、両者間の配線長は短か
くなり、X系のアドレス信号の配線における信号伝送遅
延は低減される。これにより、半導体集積回路装置の動
作速度を高速化することができる。
ら入力ラッチ回路7を介してデコーダ回路8にアドレス
信号を入力し、このアドレス信号に基づいてメモリセル
アレイ部5の所定のメモリセル9を選択する半導体集積
回路装置において、前記論理回路3とメモリセルアレイ
部5との間の領域に、前記論理回路3側から人力ラッチ
回路7、X、/Yデコーダ回路8の夫々を配置する。こ
の構成によれば、入力ラッチ回路7とXデコーダ回路8
との間の距離は小さくなるので、両者間の配線長は短か
くなり、X系のアドレス信号の配線における信号伝送遅
延は低減される。これにより、半導体集積回路装置の動
作速度を高速化することができる。
また、前記論理回路3の外周に沿って複数個のメモリセ
ルアレイ部5を配置し、この各々のメモリセルアレイ部
5間(RAMブロック4の2個のメモリセルアレイ部5
間)の領域6に、夫々のメモリセルアレイ部5から読み
出された情報を演算する専用論理回路、すなわちパリテ
ィチエツク回路15、順序制御回路16の夫々を配置す
る。この構成によれば、論理回路3と別の領域にこの論
理回路3に対して独立に専用論理回路を配置し、この専
用論理回路を最適化し、この専用論理回路の占有面積を
小さくできるので、半導体集積回路装置の高集積化を図
ることができる。
ルアレイ部5を配置し、この各々のメモリセルアレイ部
5間(RAMブロック4の2個のメモリセルアレイ部5
間)の領域6に、夫々のメモリセルアレイ部5から読み
出された情報を演算する専用論理回路、すなわちパリテ
ィチエツク回路15、順序制御回路16の夫々を配置す
る。この構成によれば、論理回路3と別の領域にこの論
理回路3に対して独立に専用論理回路を配置し、この専
用論理回路を最適化し、この専用論理回路の占有面積を
小さくできるので、半導体集積回路装置の高集積化を図
ることができる。
また、同時に、メモリセルアレイ部5と専用論理回路と
を接続するのに必要な配線の長さは短かくなるので、配
線の信号伝送遅延は低減され、半導体集積回路装置の動
作速度の高速化を図ることができる。
を接続するのに必要な配線の長さは短かくなるので、配
線の信号伝送遅延は低減され、半導体集積回路装置の動
作速度の高速化を図ることができる。
また、前記論理回路3の上下夫々の領域に配置されてい
るRAMブロック4は、この論理回路3を対称軸として
鏡面対称で構成されている。また、4分割された夫々の
RAMブロック4内の2個のメモリセルアレイ部5は、
前記専用論理回路を配置する領域6を対称軸として、鏡
面対称で構成さ9− 20 れている。このように、単導体集積回路装置内に、対称
性を持たせたことにより、信号経路の配線長は平均化さ
れるので、信号伝送遅延は低減される。
るRAMブロック4は、この論理回路3を対称軸として
鏡面対称で構成されている。また、4分割された夫々の
RAMブロック4内の2個のメモリセルアレイ部5は、
前記専用論理回路を配置する領域6を対称軸として、鏡
面対称で構成さ9− 20 れている。このように、単導体集積回路装置内に、対称
性を持たせたことにより、信号経路の配線長は平均化さ
れるので、信号伝送遅延は低減される。
これにより、半導体集積回路装置の動作速度を高速化す
ることができる。
ることができる。
また、本実施例の半導体集積回路装置を実装する電子装
置すなわちCPU、キャッシュメモリ及び主メモリ装置
の夫々を備えたコンピュータにおいて、動作速度の高速
化及び実装配線基板上の実装密度を向上することができ
る。
置すなわちCPU、キャッシュメモリ及び主メモリ装置
の夫々を備えたコンピュータにおいて、動作速度の高速
化及び実装配線基板上の実装密度を向上することができ
る。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが、
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
例えば、本実施例においては、前記領域6の中央部に順
序制御回路16を配置した例を示したが、本発明は、こ
の順序制御回路16に換えて、コンパレータ回路を配置
することもできる。
序制御回路16を配置した例を示したが、本発明は、こ
の順序制御回路16に換えて、コンパレータ回路を配置
することもできる。
また、本発明は、前記RAMブロック4と論理回路3の
両方またはいずれかをバイポーラトランジスタで構成す
ることもできる。
両方またはいずれかをバイポーラトランジスタで構成す
ることもできる。
また、本発明は、コンピュータに使用されるアドレス変
換用メモリに適用することもできる。
換用メモリに適用することもできる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る メモリと論理回路を備えた半導体集積回路装置において
、動作速度の高速化を図ることができる。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る メモリと論理回路を備えた半導体集積回路装置において
、動作速度の高速化を図ることができる。
前記メモリと論理回路を備えた半導体集積回路装置にお
いて、高集積化を図ることができる。
いて、高集積化を図ることができる。
第1図は、本発明の一実施例である半導体集積回路装置
の全体構成の概略を示す回路ブロック図、第2図は、第
1図中−点鎖線で囲った領域内を拡大して示す図、 第3図は、メモリセルの等価回路図である。 図中、1・・・半導体基板、2・・入出力回路、3・・
・論理回路、4・・・RAMブロック、5・・・メモリ
セルアレイ部、6・・・専用論理回路配置領域、7・・
入力?1− 2 ラッチ回路、 8・・デコーダ回路である。
の全体構成の概略を示す回路ブロック図、第2図は、第
1図中−点鎖線で囲った領域内を拡大して示す図、 第3図は、メモリセルの等価回路図である。 図中、1・・・半導体基板、2・・入出力回路、3・・
・論理回路、4・・・RAMブロック、5・・・メモリ
セルアレイ部、6・・・専用論理回路配置領域、7・・
入力?1− 2 ラッチ回路、 8・・デコーダ回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、論理回路からラッチ回路を介してデコーダ回路にア
ドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいてメモリ
セルアレイ部の所定のメモリセルを選択する半導体集積
回路装置において、前記論理回路と前記メモリセルアレ
イ部との間の領域に、前記論理回路側からラッチ回路、
X/Yデコーダ回路の夫々を配置したことを特徴とする
半導体集積回路装置。 2、論理回路からラッチ回路を介してデコーダ回路にア
ドレス信号を入力し、該アドレス信号に基づいて複数個
のうちの所定のメモリセルアレイ部のメモリセルを選択
する半導体集積回路装置において、前記論理回路の外周
に沿って複数個のメモリセルアレイ部を配置し、該夫々
のメモリセルアレイ部間の領域に、該メモリセルアレイ
部から読み出された情報を演算する専用論理回路を配置
し、前記メモリセルアレイ部と前記論理回路との間の領
域に、前記論理回路側からラッチ回路、X/Yデコーダ
回路の夫々を配置したことを特徴とする半導体集積回路
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1314665A JPH03176892A (ja) | 1989-12-04 | 1989-12-04 | 半導体集積回路装置 |
| KR1019900015245A KR910006849A (ko) | 1989-09-29 | 1990-09-26 | 반도체 집적회로 장치 |
| US07/589,515 US5291445A (en) | 1989-09-29 | 1990-09-28 | Semiconductor integrated circuit device |
| US08/189,636 US5384738A (en) | 1989-09-29 | 1994-02-01 | Semiconductor integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1314665A JPH03176892A (ja) | 1989-12-04 | 1989-12-04 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03176892A true JPH03176892A (ja) | 1991-07-31 |
Family
ID=18056069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1314665A Pending JPH03176892A (ja) | 1989-09-29 | 1989-12-04 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03176892A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100314109B1 (ko) * | 1998-04-23 | 2001-11-17 | 가네꼬 히사시 | 반도체 메모리 장치 |
-
1989
- 1989-12-04 JP JP1314665A patent/JPH03176892A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100314109B1 (ko) * | 1998-04-23 | 2001-11-17 | 가네꼬 히사시 | 반도체 메모리 장치 |
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