JPH031773B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH031773B2 JPH031773B2 JP26292589A JP26292589A JPH031773B2 JP H031773 B2 JPH031773 B2 JP H031773B2 JP 26292589 A JP26292589 A JP 26292589A JP 26292589 A JP26292589 A JP 26292589A JP H031773 B2 JPH031773 B2 JP H031773B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- scintillator
- measuring
- photoelectric conversion
- conversion element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 19
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 claims description 2
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 235000009518 sodium iodide Nutrition 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は、Ｘ線TV装置で使用されているＸ
線イメージインテンシフアイアの相対輝度測定装
置に関する。
線イメージインテンシフアイアの相対輝度測定装
置に関する。
［発明の技術的背景］
従来、Ｘ線イメージインテンシフアイア（以
下、I.I.と記す）の輝度の変化は、所定の線量と
線質のＸ線をI.I.に照射し、この時のI.I.出力面の
明るさを測定して、単位線量率Ｄ（mR／Ｓ）と
その出力面輝度Ｂ（cd／m2）との比［Gx＝Ｂ／Ｄ
（cd／m2／mR／Ｓ）］で求め、同様の測定法によ
る過去のある基準時点でのGx（相対変換係数）
（以下、Ｘ線イメージインテンシフアイアもしく
はI.I.の相対輝度という）の値との比較で行なつ
ている。
下、I.I.と記す）の輝度の変化は、所定の線量と
線質のＸ線をI.I.に照射し、この時のI.I.出力面の
明るさを測定して、単位線量率Ｄ（mR／Ｓ）と
その出力面輝度Ｂ（cd／m2）との比［Gx＝Ｂ／Ｄ
（cd／m2／mR／Ｓ）］で求め、同様の測定法によ
る過去のある基準時点でのGx（相対変換係数）
（以下、Ｘ線イメージインテンシフアイアもしく
はI.I.の相対輝度という）の値との比較で行なつ
ている。
第１図は、従来から行なわれているI.I.のGx測
定法を示したものであり、ａはＸ線線量率の測
定、ｂはI.I.出力面輝度の測定である。図中、１
はＸ線発生器、２はアルミ板、３はＸ線遮蔽板、
４は線量計のプローブ、５はI.I.、６は輝度計で
ある。この測定法では、図示のとおり線量計４と
輝度計６が必要であり、これらの測定器は使用し
ている期間中、測定器に狂いが生じないように常
に厳重な管理と定期的な較正を行ない、輝度管理
を行なつている。そして、線量計４においてはそ
のプローブは、環境温度、湿度等に敏感で、測定
値の精度を確保するために、使用周囲環境には、
常に細心の注意を払わなければならない。又、輝
度計６においては、構成部品である光電子増倍管
の劣化に応じ、メータ指示値の較正を定期的に行
なつている。
定法を示したものであり、ａはＸ線線量率の測
定、ｂはI.I.出力面輝度の測定である。図中、１
はＸ線発生器、２はアルミ板、３はＸ線遮蔽板、
４は線量計のプローブ、５はI.I.、６は輝度計で
ある。この測定法では、図示のとおり線量計４と
輝度計６が必要であり、これらの測定器は使用し
ている期間中、測定器に狂いが生じないように常
に厳重な管理と定期的な較正を行ない、輝度管理
を行なつている。そして、線量計４においてはそ
のプローブは、環境温度、湿度等に敏感で、測定
値の精度を確保するために、使用周囲環境には、
常に細心の注意を払わなければならない。又、輝
度計６においては、構成部品である光電子増倍管
の劣化に応じ、メータ指示値の較正を定期的に行
なつている。
［背景技術の問題点］
近時、I.I.の性能向上は著しく、Ｘ線映像診断
装置への使用が急速に普及してきた。しかしなが
ら、このI.I.は、使用中に輝度劣化を生じた場合
には診断に支障をきたすことになる。病院等でこ
のI.I.輝度の変化度を調べるには、取扱技師がＸ
線TV像の観察から視感的に判断しているが、こ
れには個人差があるばかりでなく、正確な経時変
化を知ることができない。
装置への使用が急速に普及してきた。しかしなが
ら、このI.I.は、使用中に輝度劣化を生じた場合
には診断に支障をきたすことになる。病院等でこ
のI.I.輝度の変化度を調べるには、取扱技師がＸ
線TV像の観察から視感的に判断しているが、こ
れには個人差があるばかりでなく、正確な経時変
化を知ることができない。
従つて、定量的に変化度を知るためには、従来
は既述のとおり、完全に管理、較正された測定器
により、且つ、扱いなれたI.I.メーカの取扱者が
病院に出向き、測定していることが多い。
は既述のとおり、完全に管理、較正された測定器
により、且つ、扱いなれたI.I.メーカの取扱者が
病院に出向き、測定していることが多い。
又、線量計４及び輝度計６等は、これらの測定
器が高価で且つ、取扱い上において比較的使いな
れていないと測定ミスをすること等があるため、
又、頻繁に使用するものでないにも拘らず高価で
あるため、一般の病院で常備していることはほと
んどなく、院内でのＸ線作業技師が直接測定する
ことも、まれである。しかし、最近、被検者のＸ
線被爆保護という立場から、I.I.の輝度変化の管
理が一層要求されるようになつた。
器が高価で且つ、取扱い上において比較的使いな
れていないと測定ミスをすること等があるため、
又、頻繁に使用するものでないにも拘らず高価で
あるため、一般の病院で常備していることはほと
んどなく、院内でのＸ線作業技師が直接測定する
ことも、まれである。しかし、最近、被検者のＸ
線被爆保護という立場から、I.I.の輝度変化の管
理が一層要求されるようになつた。
［発明の目的］
この発明の目的は、取扱い容易にして人体に有
害なＸ線を被爆することなく、安全に一般の病院
等で使用中のI.I.の輝度変化を容易に測定、追跡
することができるＸ線イメージインテンシフアイ
アの相対輝度測定装置を提供することである。
害なＸ線を被爆することなく、安全に一般の病院
等で使用中のI.I.の輝度変化を容易に測定、追跡
することができるＸ線イメージインテンシフアイ
アの相対輝度測定装置を提供することである。
［発明の概要］
この発明は、Ｘ線の照射により蛍光を発するシ
ンチレータと、このシンチレータからの蛍光を受
光して電気信号に変換する光電変換素子と、前記
光電変換素子でＸ線イメージインテンシフアイア
の出力光を測定するとき光量を減衰させるフイル
タと、前記光電変換素子の出力信号を増幅する増
幅器と、この増幅器の出力信号により入射Ｘ線強
度及びＸ線イメージインテンシフアイア出力光強
度を表示できるメータとを具備することを特徴と
するＸ線イメージインテンシフアイアの相対輝度
測定装置である。
ンチレータと、このシンチレータからの蛍光を受
光して電気信号に変換する光電変換素子と、前記
光電変換素子でＸ線イメージインテンシフアイア
の出力光を測定するとき光量を減衰させるフイル
タと、前記光電変換素子の出力信号を増幅する増
幅器と、この増幅器の出力信号により入射Ｘ線強
度及びＸ線イメージインテンシフアイア出力光強
度を表示できるメータとを具備することを特徴と
するＸ線イメージインテンシフアイアの相対輝度
測定装置である。
［発明の実施例］
以下、この発明のI.I.の相対輝度測定装置の一
実施例について第２図及び第３図を参照して説明
する。本測定装置はヘツド本体７とメータ本体８
とからなつており、ヘツド本体７だけを取出して
一部断面で示したものが第３図である。そしてヘ
ツド本体７は、黒色の合成樹脂ケース９のに窓部
に着脱自在に取付けられたシンチレータ１０およ
び前記ケース９内に配設されたNDフイルタ１
１、同様に前記ケース内に配設された透明な鉛ガ
ラス１２、光電変換素子１３、DC増幅器１４か
ら構成されている。しかして、I.I.の相対輝度測
定に当り、Ｘ線強度測定時は、NDフイルタの代
わりにシンチレータ１０のみをヘツド本体前端部
に着脱自在に取付け、一方、I.I.の出力光強度測
定時は、シンチレータ１０のみをヘツド本体前端
部に着脱自在に取り付け、使用される。尚、前記
シンチレータ１０は、入射Ｘ線の強度に比例して
蛍光を発するものである。前記NDフイルタ１１
は、I.I.の出力光強度を測定する時に透過光の強
さを減衰させるためのものである。又、鉛ガラス
１２は、入射Ｘ線の強度を測定する時、Ｘ線の通
過を遮蔽し、シンチレータ１０の発光のみを透過
させるためのものであるが、光電変換素子１３へ
のＸ線による劣化をより少なくするために設けた
ものであり、測定値自体には影響がないため必ず
しも必要としない。さらに前記光電変換素子１３
は前記シンチレータ１０及びI.I.の蛍光を電気信
号に変換するためのもので、この実施例では例え
ばサイドオンタイプの光電子増倍管が使用され
る。又、前記DC増幅器１４は、光電変換素子１
３の出力信号を調整する手段であつて本実施例で
は前記光電変換素子１３の出力信号をリニアに増
幅するためのものである。尚、前記シンチレータ
１０とNDフイルタ１１は、ヘツド本体７にワン
タツチで着脱自在になつている。
実施例について第２図及び第３図を参照して説明
する。本測定装置はヘツド本体７とメータ本体８
とからなつており、ヘツド本体７だけを取出して
一部断面で示したものが第３図である。そしてヘ
ツド本体７は、黒色の合成樹脂ケース９のに窓部
に着脱自在に取付けられたシンチレータ１０およ
び前記ケース９内に配設されたNDフイルタ１
１、同様に前記ケース内に配設された透明な鉛ガ
ラス１２、光電変換素子１３、DC増幅器１４か
ら構成されている。しかして、I.I.の相対輝度測
定に当り、Ｘ線強度測定時は、NDフイルタの代
わりにシンチレータ１０のみをヘツド本体前端部
に着脱自在に取付け、一方、I.I.の出力光強度測
定時は、シンチレータ１０のみをヘツド本体前端
部に着脱自在に取り付け、使用される。尚、前記
シンチレータ１０は、入射Ｘ線の強度に比例して
蛍光を発するものである。前記NDフイルタ１１
は、I.I.の出力光強度を測定する時に透過光の強
さを減衰させるためのものである。又、鉛ガラス
１２は、入射Ｘ線の強度を測定する時、Ｘ線の通
過を遮蔽し、シンチレータ１０の発光のみを透過
させるためのものであるが、光電変換素子１３へ
のＸ線による劣化をより少なくするために設けた
ものであり、測定値自体には影響がないため必ず
しも必要としない。さらに前記光電変換素子１３
は前記シンチレータ１０及びI.I.の蛍光を電気信
号に変換するためのもので、この実施例では例え
ばサイドオンタイプの光電子増倍管が使用され
る。又、前記DC増幅器１４は、光電変換素子１
３の出力信号を調整する手段であつて本実施例で
は前記光電変換素子１３の出力信号をリニアに増
幅するためのものである。尚、前記シンチレータ
１０とNDフイルタ１１は、ヘツド本体７にワン
タツチで着脱自在になつている。
このようなヘツド本体７はメータ本体８に接続
されている。そして、動作時にはメータ本体８か
らヘツド本体７内のDC増幅器１４へ入力電圧が
供給され、光電変換素子１３へは負の高電圧が供
給される。
されている。そして、動作時にはメータ本体８か
らヘツド本体７内のDC増幅器１４へ入力電圧が
供給され、光電変換素子１３へは負の高電圧が供
給される。
次に前記測定装置を用いて測定を行なう場合に
ついて説明する。
ついて説明する。
先ず、第４図は入射Ｘ線の強度を測定する時の
例を示したもので、Ｘ線源としてのＸ線管１６、
アルミフイルタ１７、ヘツド本体７、天板１８、
I.I.１９、光学系２０、TVカメラ２１を同一線上
に配置している。前記TVカメラ２１はTVモニ
タ２２に接続され、ヘツド本体７はメータ本体８
に接続されている。尚、図中２３はＸ線グリツド
である。そして、前記ヘツド本体７にシンチレー
タ１０を取り付け、所定の位置（この例ではI.I.
１９もしくは天板１８上の照射野中心位置）に固
定し、所定のＸ線照射条件（Ｘ線管の管電圧、管
電流、アルミフイルタ１７、Ｘ線管１６焦点から
シンチレータ１０までの距離D2、Ｘ線絞り等）
で、この発明の装置のメータ本体８の指示値を読
取る。次に、I.I.出力光の強度を測定する時は、
第５図に示す例のように、Ｘ線管１６、アルミフ
イルタ１７、天板１８、I.I.１９及び光学系２４
を同一線上に配置している。尚、図中２３はＸ線
グリツドである。そして、ヘツド本体７に取り付
けられてあるシンチレータ１０を取り外し、代わ
りにNDフイルタ１１を取り付け、所定の位置
（この例では、光学系２４のTVカメラ取り付け
面に、光線軸の中心とヘツド本体７入射面の中心
が一致するように、専用のヘツド取付用器具２５
を作り、この器具２５とともに取付けてある）に
固定し、入射Ｘ線強度を測定した時と同じ所定の
Ｘ線照射条件でヘツド本体７に接続されＸ線遮蔽
室内に配置されたメータ本体８の指示値を読取
る。
例を示したもので、Ｘ線源としてのＸ線管１６、
アルミフイルタ１７、ヘツド本体７、天板１８、
I.I.１９、光学系２０、TVカメラ２１を同一線上
に配置している。前記TVカメラ２１はTVモニ
タ２２に接続され、ヘツド本体７はメータ本体８
に接続されている。尚、図中２３はＸ線グリツド
である。そして、前記ヘツド本体７にシンチレー
タ１０を取り付け、所定の位置（この例ではI.I.
１９もしくは天板１８上の照射野中心位置）に固
定し、所定のＸ線照射条件（Ｘ線管の管電圧、管
電流、アルミフイルタ１７、Ｘ線管１６焦点から
シンチレータ１０までの距離D2、Ｘ線絞り等）
で、この発明の装置のメータ本体８の指示値を読
取る。次に、I.I.出力光の強度を測定する時は、
第５図に示す例のように、Ｘ線管１６、アルミフ
イルタ１７、天板１８、I.I.１９及び光学系２４
を同一線上に配置している。尚、図中２３はＸ線
グリツドである。そして、ヘツド本体７に取り付
けられてあるシンチレータ１０を取り外し、代わ
りにNDフイルタ１１を取り付け、所定の位置
（この例では、光学系２４のTVカメラ取り付け
面に、光線軸の中心とヘツド本体７入射面の中心
が一致するように、専用のヘツド取付用器具２５
を作り、この器具２５とともに取付けてある）に
固定し、入射Ｘ線強度を測定した時と同じ所定の
Ｘ線照射条件でヘツド本体７に接続されＸ線遮蔽
室内に配置されたメータ本体８の指示値を読取
る。
次に、測定したＸ線強度Ｄは、Ｘ線の線量率に
比例、又、I.I.出力光強度ＢはI.I.の輝度に比例
（実験により確認済み）するのでこの測定値を使
い、相対変換係数を求める。
比例、又、I.I.出力光強度ＢはI.I.の輝度に比例
（実験により確認済み）するのでこの測定値を使
い、相対変換係数を求める。
その計算は次のとおりである。
RGx＝Ｂ／Ｄ
このようにして求めた相対変換係数Gxは、Ｘ
線強度Ｄ及びI.I.出力光強度Ｂを測定する時のヘ
ツド本体７の取付位置が、測定開始の基準点よ
り、その後追跡する時々にわたつて不変であれ
ば、被測定I.I.の輝度変化度に比例するので、基
準時点の輝度値に対して、変化度を定量的に求め
ることができる。
線強度Ｄ及びI.I.出力光強度Ｂを測定する時のヘ
ツド本体７の取付位置が、測定開始の基準点よ
り、その後追跡する時々にわたつて不変であれ
ば、被測定I.I.の輝度変化度に比例するので、基
準時点の輝度値に対して、変化度を定量的に求め
ることができる。
尚、シンチレータ１０としてはＸ線のエネルギ
ーによつて発光される光の変換効率が高く、且
つ、そのスペクトルが光電変換素子１３の分光感
度に合つていれば良い。
ーによつて発光される光の変換効率が高く、且
つ、そのスペクトルが光電変換素子１３の分光感
度に合つていれば良い。
シンチレータ１０の種類としては沃化ナトリウ
ム、沃化セシウムに代表されるアルカリハライド
系のほか、硫化物系、タングステン酸塩系及び希
土類系蛍光体などで良い結果が得られた。
ム、沃化セシウムに代表されるアルカリハライド
系のほか、硫化物系、タングステン酸塩系及び希
土類系蛍光体などで良い結果が得られた。
［発明の効果］
この発明によれば、取扱いが容易にして人体に
有害なＸ線を被爆することなく、安全に一般の病
院等で使用中のI.I.の輝度変化を容易に測定、追
跡することができる。
有害なＸ線を被爆することなく、安全に一般の病
院等で使用中のI.I.の輝度変化を容易に測定、追
跡することができる。
第１図ａ，ｂは従来のＸ線線量率とI.I.の輝度
測定法を示した説明図、第２図はこの発明の一実
施例に係るＸ線イメージインテンシフアイアの相
対輝度測定装置を示す構成図、第３図は第２図の
要部（ヘツド本体）を示す断面図、第４図はこの
発明の測定装置を用いて入射Ｘ線の強度を測定す
る例を示す構成図、第５図は同じくI.I.出力光の
強度を測定する例を示す構成図である。 ７…ヘツド本体、８…メータ本体、９…ケー
ス、１０…シンチレータ、１１…NDフイルタ、
１２…鉛ガラス、１３…光電変換素子、１４…
DC増幅器、１５…デジタルパネルメータ。
測定法を示した説明図、第２図はこの発明の一実
施例に係るＸ線イメージインテンシフアイアの相
対輝度測定装置を示す構成図、第３図は第２図の
要部（ヘツド本体）を示す断面図、第４図はこの
発明の測定装置を用いて入射Ｘ線の強度を測定す
る例を示す構成図、第５図は同じくI.I.出力光の
強度を測定する例を示す構成図である。 ７…ヘツド本体、８…メータ本体、９…ケー
ス、１０…シンチレータ、１１…NDフイルタ、
１２…鉛ガラス、１３…光電変換素子、１４…
DC増幅器、１５…デジタルパネルメータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ Ｘ線の照射により蛍光を発するシンチレータ
と、このシンチレータからの蛍光を受光して電気
信号に変換する光電変換素子と、前記光電変換素
子でＸ線イメージインテンシフアイアの出力光を
測定するとき光量を減衰させるフイルタと、前記
光電変換素子の出力信号を増幅する増幅器と、こ
の増幅器の出力信号により入射Ｘ線強度及びＸ線
イメージインテンシフアイア出力光強度を表示で
きるメータとを具備することを特徴とするＸ線イ
メージインテンシフアイアの相対輝度測定装置。 ２ シンチレータはアルカリハライド系、硫化物
系、タングステン酸塩系、希土類系のいずれかま
たはこれらの複合された蛍光物質からなることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線イメ
ージインテンシフアイアの相対輝度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26292589A JPH02139839A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Ｘ線イメージインテンシファイアの相対輝度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26292589A JPH02139839A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Ｘ線イメージインテンシファイアの相対輝度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02139839A JPH02139839A (ja) | 1990-05-29 |
| JPH031773B2 true JPH031773B2 (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=17382497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26292589A Granted JPH02139839A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Ｘ線イメージインテンシファイアの相対輝度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02139839A (ja) |
-
1989
- 1989-10-11 JP JP26292589A patent/JPH02139839A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02139839A (ja) | 1990-05-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3381223B2 (ja) | 電子的に強化されたｘ線検出装置 | |
| EP0313716A1 (en) | Radiation dose measuring method and apparatus with nuclide discrimination function | |
| US4109150A (en) | Scintillation camera with the scintillators in different planes | |
| US6353656B1 (en) | Radioisotope based x-ray residual stress analysis apparatus | |
| JPH10262961A (ja) | 放射線撮影装置および放射線撮影方法 | |
| US5338937A (en) | Radiation imaging device having an enlarged uniform field of view | |
| Hudson et al. | A curved crystal spectrometer for energy calibration and spectral characterization of mammographic x‐ray sources | |
| JPH10186045A (ja) | 放射線検出装置および放射線検出方法 | |
| CN101968545B (zh) | 基于具有辐射记忆功能的光致发光图像板的辐射成像系统 | |
| JP4241942B2 (ja) | 撮像線量の測定方法および放射線像の撮像装置 | |
| Kengyelics et al. | Physical imaging performance of a compact computed radiography acquisition device | |
| CN102023308A (zh) | 基于具有辐射记忆功能的辐射光致发光图像板的辐射成像系统 | |
| US5446780A (en) | X-ray apparatus with mechanical distance-measuring device | |
| Deslattes et al. | Noninvasive high‐voltage measurement in mammography by crystal diffraction spectrometry | |
| CN201812042U (zh) | 基于具有辐射记忆功能的光致发光图像板的辐射成像系统 | |
| Tipnis et al. | High-speed x-ray imaging camera for time-resolved diffraction studies | |
| JPH02139839A (ja) | Ｘ線イメージインテンシファイアの相対輝度測定装置 | |
| US8822910B2 (en) | Method for collaborative tuning of gamma camera | |
| JPS62110141A (ja) | 透過率の小さい物体の密度等を測定する装置 | |
| Morgan | The measurement of radiant energy levels in diagnostic roentgenology | |
| RU2861602C1 (ru) | Обучающий стенд для тестирования сцинтилляционных детекторов на основе кремниевых фотоумножителей | |
| CN106510633B (zh) | 一种高分辨率的辐光显像系统及其成像方法和应用 | |
| Henshaw et al. | The use of a scintillation counter to measure diagnostic X-ray tube kilovoltage, radiation exposure rates and contamination by low energy gamma emitters | |
| JP2971782B2 (ja) | 蛍光ガラス線量計測定装置 | |
| JPH06324151A (ja) | 放射能分布検出方法及び装置 |