JPH0318140B2 - - Google Patents

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JPH0318140B2
JPH0318140B2 JP57127217A JP12721782A JPH0318140B2 JP H0318140 B2 JPH0318140 B2 JP H0318140B2 JP 57127217 A JP57127217 A JP 57127217A JP 12721782 A JP12721782 A JP 12721782A JP H0318140 B2 JPH0318140 B2 JP H0318140B2
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JP
Japan
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test chamber
wind tunnel
temperature
humidity
section
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57127217A
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English (en)
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JPS5917135A (ja
Inventor
Shozo Ito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kusumoto Chemicals Ltd
Original Assignee
Kusumoto Chemicals Ltd
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Publication date
Application filed by Kusumoto Chemicals Ltd filed Critical Kusumoto Chemicals Ltd
Priority to JP12721782A priority Critical patent/JPS5917135A/ja
Publication of JPS5917135A publication Critical patent/JPS5917135A/ja
Publication of JPH0318140B2 publication Critical patent/JPH0318140B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
  • Ecology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Environmental Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は小型精密機器や機器部品、或いは電子
部品や製品、その他諸材料などの耐温度試験、耐
湿試験、或いは機器の作動試験などを、最も自然
な状態でできるようにした気流の影響を受けない
雰囲気を保つことができる温・湿度試験装置に関
する。
【従来の技術】
従来、この種の温・湿度試験装置では、例えば
特公昭32−6593号の対時予定温湿度試験装置のよ
うに試験室の下側に形成した空間部に加熱器、加
湿部等を内設し、フアンにより循環させる構成
や、特公昭57−33492号の恒湿装置における調温
装置のように調湿部等で湿温度を調整した空気を
フアンにより導入スリツト、導出スリツトを介し
て試験室内を循環させて構成が知られている。
【発明が解決しようとする問題点】
しかし、上記従来構成ではいずれも調温、調湿
された空気流が直接に試験室に流入されており、
例えば紙類の耐湿試験、電子部品の信頼性試験、
医薬品及び菌の培養試験、植物育成試験、赤外線
照射試験等のような風力が自然流の状態であるこ
とが望ましい試験を行なう場合に、その循環する
空気流の風速を抑え必要がある。 そこで試験室の内部を風速の抑えれられた空気
流だけによつて温湿度の調整を行なうのでは循環
に時間がかかり、また迅速に試験室内を均一の温
湿度条件に設定することができない。 この発明は上記事情に鑑みて創案されたもので
あつて、その主たる課題は、風洞部内を流動循環
する空気で試験室の周囲を取りまく隔壁を介して
試験室内の温度調整を行なうと共に、隔壁に形成
された多数の通風孔で上記風洞部内を流動循環す
る空気流の一部を整流して試験室内を通して自然
に近い状態にすることにある。
【問題点を解決するための手段】
上記課題を達成するために、この考案は、 (a) 断熱壁体にて囲まれた箱形で一側面に断熱扉
を備えた本体の内部に上下左右の断熱壁体の各
内面より内側に間隔を隔てて板状の隔壁を設
け、該隔壁で囲繞された試験室を形成する、 (b) 該試験室の隔壁と上記断熱壁体の内面との間
で試験室の周囲を一連に囲むように風洞部を形
成する、 (c) 該風洞部で上記試験室の一側に沿う空間部に
低温発生部、高温発生部または加湿部等を内設
すると共に、これら機器により調温または調湿
された空気を風洞内に循環させるフアンを設け
る、 (d) 前記試験室の対向する一対の隔壁に多数の通
風孔を設け風洞部を循環する気流の一部を整流
して試験室内を流動させる、 という技術的手段を講じている。
【作用】
上記構成からなつているので、低温発生部、高
温発生部または加湿部等で調温または調湿された
空気フアンで風洞部内を循環さける。 この風洞部は試験室の周囲を循環するので、試
験室を形成する板状の隔壁を介して試験室内の温
度を調整することができる。 更に、対向する隔壁に設けられた多数の通風孔
から上記風洞部を循環する空気流の一部が整流さ
れて試験室内を流通することができる。 これによつて、フアンから送り出された調温ま
たは調湿された空気流の全てを整流することな
く、その一部だけが整流されて試験室内を通り試
料と接触して自然に近い状態となる。
【実施例】
以下にこの発明に係る温湿度試験装置の好適実
施例について図面を参照しつつ説明する。 第1図及び第2図に示す温湿度試験装置は、主
要部を断熱壁体2により囲繞して前面のみを開放
した箱形躯体に形成した本体1の内部に、その内
璧面との間に適当な間隔をあけて間璧により囲つ
た試験室3が設けられている。 この試験室3を形成する下部隔壁板4と箱体下
部壁面2′との間を他の部分よりも広い容積の下
部空間部7にしている。 この下部空間部7内には冷却機の蒸発器11
と、ヒーター13、及び加湿気の加湿管14′を
適宜配列して設置し、残る両方及び上部の各空間
部が風洞部9となるようにしている。 そして本実施例では、上記試験室3を形成する
隔壁板のうち正面からみて左右両隔板にはそれぞ
れ多数の通風小孔5′を穿設して、これらを整流
板5,5としている。 この整流板5の一方の下方に仕切板6を一連に
延長して前記下部空間部7を仕切り、この仕切板
6には空気吸込み口6′を設けてその隣設部にフ
アン8の吸入部をつなぎ、該フアン8の吐出側を
風洞部9の図上右側に開放し、フアン8のランナ
ーは断熱壁体2を貫通して断熱壁体の外側に配し
たモーター8′と軸連結してある。 なお、前記両整流板5、5の内側、即ち試験室
3側には棚受け15を取り付けて、この棚受け1
5,15間に着脱自在な棚板15′が取り付けら
れるようにしてある。 かかる本体1の断熱箱体前面の開放部分には、
断熱構造の扉10が開閉容易なように取り付けて
ある。 この扉10には必要に応じてのぞき窓を付設し
てもよい。 なお、冷却機の圧縮機や凝縮器など駆動部12
や、加湿器14の本体部分などの熱の発生する機
器類は本体1の断熱箱体外部となる下部位置に設
置されている。 このように構成された温湿度試験装置の作用を
説明する。 まず被試験物、即ち試料は前面の扉10を開い
て試験室3内部に収め、その試料のテスト条件に
従つてそのまま整置する。 また機器においては外部から電動部に通電して
おく(予め扉もしくは試験室の適所に通電用のコ
ンセント(耐熱、耐寒性を有するもの)を設けて
おくか、シールできる構造を付して外部にリード
線を引き出せるようにしてある)。 熱雰囲気(低恒温度または恒温恒湿度等)試験
を行なう際、本体1の内部は周囲を断熱壁体2及
び断熱扉10によつて外気と遮断されているから
外気の影響は全く受けることなく、低恒温度試験
の場合は冷却機を駆動して蒸発器11を作動さ
せ、かつフアン8を駆動すれば、冷風はフアン8
によつて風洞部9を通つて循環し、この間に整流
板5に設けられている多数の通風小孔5′を通じ
て試験室3内に一部の空気が流入する。 この際、試験室3はその周囲を取りまく隔璧を
介して風洞部9を流動循環する空気によつて壁体
が一定温度に保たれ、室内温度が安定し、加えて
整流板5,5の通風孔5′を通過して試験室3内
に流入する空気流は各通風孔5′における流動抵
抗で風速が著しく減ずると共に整流されて微風と
なり、試料に対しての障害を与えることなく熱電
動することができるのである。 なお、低温試験の場合は上記の通りであり、高
温の場合、あるいは温度を高め加湿状態での試験
を行なう場合には冷却機の駆動に代えてヒーター
13を作動させ、また加湿器14を作動させて加
湿管14′から適量の水蒸気を放出し、フアン8
の作動によつて加温・加湿の気流を循環させ、整
流板5、5を通して整流した気流を試験室3内に
送るようにする。 また、この試験室に対する空気の送り込み方法
は前記の状態のほか、上下方向の流動にすること
もでき、この場合は上下両隔壁が整流板となるよ
うに設定すればよい。 そして、試験室3内での空気の流速は極く微速
から一般空内で空気の流動程度の範囲になるよう
に設定するのであり、その流速の平均値は0.18
m/secであつて、このような状態で温湿度の設
定精度を高めることができる。 また風量はフアンの叶出側にダンパー(図示せ
ず)を設けておくことにより、適宜調節すること
ができ、温度設定や条件設定についてはすべて本
体外部に設けた制御部により行なう。
【発明の効果】
以上のようにこの発明によれば、試験室内を流
通する空気流をほとんど自然の流れに近い状態に
保ちながら迅速に且つ均一に試験室内を恒温・恒
湿度に設定することができる。 従つて、特に紙類の耐湿試験、電子部品の信頼
性試験、医薬品及び菌の培養試験、植物育成試
験、赤外線照射試験等の風力が自然流の状態であ
ることが望ましい試験を効果的に行なうことがで
き、且つ精度の高い試験が実施できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の温・湿度試験装置の好適実
施例に係る一部を切断した正面図、第2図は第1
図の側断面図である。 1……本体、2……断熱壁体、3……試験室、
4……下部隔壁板、5……整流板、5′……通風
小孔、7……下部空間部、8……フアン、9……
風洞部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 断熱壁体にて囲まれた箱形で一側面に断熱扉
    を備えた本体の内部に上下左右の断熱壁体の各内
    面より内側に間隔を隔てて板状の隔壁を設け、該
    隔壁で囲繞された試験室を形成すると共に、 該試験室の隔壁と上記断熱壁体の内面との間で
    試験室の周囲を一連に囲むように風洞部を形成
    し、 該風洞部で上記試験室の一側に沿う空間部に低
    温発生部、高温発生部または加湿部等を内設する
    と共に、これら機器により調温または調湿された
    空気を風洞部内に循環させるフアンを設け、 且つ前記試験室の対向する一対の隔壁に多数の
    通風孔を設け風洞部を循環する気流の一部を整流
    して試験室内を流動させることを特徴とする温・
    湿度試験装置。
JP12721782A 1982-07-20 1982-07-20 温・湿度試験装置 Granted JPS5917135A (ja)

Priority Applications (1)

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JP12721782A JPS5917135A (ja) 1982-07-20 1982-07-20 温・湿度試験装置

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JP12721782A JPS5917135A (ja) 1982-07-20 1982-07-20 温・湿度試験装置

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JPS5917135A JPS5917135A (ja) 1984-01-28
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