JPH031835A - 角膜形状測定装置 - Google Patents
角膜形状測定装置Info
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- JPH031835A JPH031835A JP1137765A JP13776589A JPH031835A JP H031835 A JPH031835 A JP H031835A JP 1137765 A JP1137765 A JP 1137765A JP 13776589 A JP13776589 A JP 13776589A JP H031835 A JPH031835 A JP H031835A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、被検眼の角膜に指標を投影し、その角膜反射
像により角膜形状を測定する角膜形状測定装置に関する
ものである。
像により角膜形状を測定する角膜形状測定装置に関する
ものである。
［従来の技術］
従来、この種の角膜形状測定装置においては、被検眼の
角膜上にリング状スリット等の指標を投影して、その反
射像を二次元光検出器により受光し、受光像の大きさ、
受光像に含まれる歪量等を解析して角膜形状の測定を行
っている。
角膜上にリング状スリット等の指標を投影して、その反
射像を二次元光検出器により受光し、受光像の大きさ、
受光像に含まれる歪量等を解析して角膜形状の測定を行
っている。
しかし、光学系の前後方向のアテイメント誤差等により
角膜と指標との距離が変化すると、角膜反射像の大きさ
も変化してしまい正確な角膜形状測定をすることが困難
である。そこで、絞りにより角膜反射像の大きさを補正
し、角膜形状測定値の測定誤差を小さくする手段が、特
開昭６１２４９４３２号公報に開示されている。
角膜と指標との距離が変化すると、角膜反射像の大きさ
も変化してしまい正確な角膜形状測定をすることが困難
である。そこで、絞りにより角膜反射像の大きさを補正
し、角膜形状測定値の測定誤差を小さくする手段が、特
開昭６１２４９４３２号公報に開示されている。
［発明が解決しようとする課８］
しかしながら従来例においては、前述したように角膜と
指標との距離が変化すると正確な角膜形状測定ができず
、また上述の特開昭６１−２４９４３２号公報に開示さ
れる提案においても、角膜反射像として一定の光束を得
るためには、絞りの精密な位置精度が要求されるために
、製作が困難であるという欠点がある。
指標との距離が変化すると正確な角膜形状測定ができず
、また上述の特開昭６１−２４９４３２号公報に開示さ
れる提案においても、角膜反射像として一定の光束を得
るためには、絞りの精密な位置精度が要求されるために
、製作が困難であるという欠点がある。
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を解消し、角膜と
指標との距離が変化しても、測定誤差が少なくて済む角
膜形状測定装置を提供することにある。
指標との距離が変化しても、測定誤差が少なくて済む角
膜形状測定装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］
上記の目的を達成するために、本発明に係る角膜形状測
定装置においては、被検眼の角膜上に指標を投影する投
影手段と、前記指標の角膜反射像を受光する受光手段と
、該受光手段上の角膜反射像の形状を検出する第１の検
出手段と、前記受光手段上の角膜反射像のぼけ状態を検
出する第２の検出手段と、該第２の検出手段の結果によ
り前記第１の検出手段ので得られた角膜形状を補正する
補正手段とを備えたことを特徴とするものである。
定装置においては、被検眼の角膜上に指標を投影する投
影手段と、前記指標の角膜反射像を受光する受光手段と
、該受光手段上の角膜反射像の形状を検出する第１の検
出手段と、前記受光手段上の角膜反射像のぼけ状態を検
出する第２の検出手段と、該第２の検出手段の結果によ
り前記第１の検出手段ので得られた角膜形状を補正する
補正手段とを備えたことを特徴とするものである。
〔作用］
上記の構成を有する角膜形状測定装置は、ぼけ状態を検
出してその結果を角膜形状の補正に用いて、角膜形状の
正確な測定を行う。
出してその結果を角膜形状の補正に用いて、角膜形状の
正確な測定を行う。
［実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図の構成図において、被検眼Ｅの角膜Ｅｃに対向し
て対物レンズ１が配置され、この対物レンズ、１の後方
の焦点位置に絞り２．更に後方に撮像素子３が配置され
ている。第２図に示すように、対物レンズ１の周囲の直
交する２経線上に指標４ａ〜４ｄが配置され、ＬＥＤや
白熱電球から成る光源５ａ〜５ｄが指標４ａ〜４ｄの後
方にそれぞれ設けられている。
て対物レンズ１が配置され、この対物レンズ、１の後方
の焦点位置に絞り２．更に後方に撮像素子３が配置され
ている。第２図に示すように、対物レンズ１の周囲の直
交する２経線上に指標４ａ〜４ｄが配置され、ＬＥＤや
白熱電球から成る光源５ａ〜５ｄが指標４ａ〜４ｄの後
方にそれぞれ設けられている。
指標４ａ〜４ｄは光源５ａ〜５ｄにより照明されて、被
検眼Ｅの角膜Ｅｃ上に点状光スボッｈ４Ａ〜４Ｄを投影
し、対物レンズ１、絞り２を経て撮像素子３上に角膜Ｅ
ｃによる点状光スポット４Ａ〜４Ｄの反射像を結像する
。被検眼Ｅと指標４ａ〜４ｄの距離を変化させると、撮
像素子３上の反射像の大きさが変化し、反射像が大きく
なると反射像がぼけ、小さくなると明瞭になる。しかし
、絞り２は対物レンズ１の焦点位置に配置されているの
で、角膜Ｅｃと指標４ａ〜４ｄとの距離が太きく変化し
ても、撮像素子３上の反射像の大きさの変化が少なくて
済む、撮像素子３上の複数の角膜反射像から、角膜形状
測定が可能であることは、例えば既に特開昭６２−２１
６５２８号公報により開示されている。
検眼Ｅの角膜Ｅｃ上に点状光スボッｈ４Ａ〜４Ｄを投影
し、対物レンズ１、絞り２を経て撮像素子３上に角膜Ｅ
ｃによる点状光スポット４Ａ〜４Ｄの反射像を結像する
。被検眼Ｅと指標４ａ〜４ｄの距離を変化させると、撮
像素子３上の反射像の大きさが変化し、反射像が大きく
なると反射像がぼけ、小さくなると明瞭になる。しかし
、絞り２は対物レンズ１の焦点位置に配置されているの
で、角膜Ｅｃと指標４ａ〜４ｄとの距離が太きく変化し
ても、撮像素子３上の反射像の大きさの変化が少なくて
済む、撮像素子３上の複数の角膜反射像から、角膜形状
測定が可能であることは、例えば既に特開昭６２−２１
６５２８号公報により開示されている。
測定に先立ち、例えば複数の指標のうち特定の指標だけ
を使用し、その撮像素子３上の反射像から角膜形状測定
をする。先ず、撮像素子３上の反射像が最も明瞭で小さ
くなるように、被検眼Ｅと指標４との距離を調節し、こ
の状態を状態０とする。指標４を被検眼Ｅに対して状態
Ｏを挟む前後に等間隔で移動すると、反射像は状態０よ
りもぼけて大きくなる。状態０よりも被検眼Ｅと指標４
との距離が大きい状態を状態子とし、状態０に近い順に
状態１、状態２、・・・とし、距離が小さい状態を状態
−とし、状態Ｏに近い順に状態−１、状態−２、・・・
とする。
を使用し、その撮像素子３上の反射像から角膜形状測定
をする。先ず、撮像素子３上の反射像が最も明瞭で小さ
くなるように、被検眼Ｅと指標４との距離を調節し、こ
の状態を状態０とする。指標４を被検眼Ｅに対して状態
Ｏを挟む前後に等間隔で移動すると、反射像は状態０よ
りもぼけて大きくなる。状態０よりも被検眼Ｅと指標４
との距離が大きい状態を状態子とし、状態０に近い順に
状態１、状態２、・・・とし、距離が小さい状態を状態
−とし、状態Ｏに近い順に状態−１、状態−２、・・・
とする。
各状態の撮像素子３上の反射像に対して一定方向に水平
走査を行い、反射像の大きさとぼけの程度を調べる。第
３図は撮像素子３上の水平走査出力のＡ／Ｄ変換後の出
力波形図を示し、横軸は走査位置、縦軸はＡ／Ｄ変換値
つまり反射像の濃さを示している０反射像のぼけの様子
を表現するために、反射像が成る程度濃い、つまりＡ／
Ｄ変換値が一定値以上である場合の走査線間隔をｄとし
、状態−３、・・・、Ｏｌ・・・、３での走査線間隔を
ｄ−３、・・・、ｄＯｌ・・・、ｄ３とすれば１例えば
最も反射像が明瞭である状態０においては１．ぼけの状
態は小さいのでＡ／Ｄ変換後の波形は走査線間隔ｄが小
さく、反射像の濃さを示すＡ／Ｄ変換値出力波形の高さ
ｈが大きくなっており、他の状態では反射像が状態０よ
りぼけるので、走査線間隔ｄが大きく、反射像の濃さｈ
が小さくなっている。
走査を行い、反射像の大きさとぼけの程度を調べる。第
３図は撮像素子３上の水平走査出力のＡ／Ｄ変換後の出
力波形図を示し、横軸は走査位置、縦軸はＡ／Ｄ変換値
つまり反射像の濃さを示している０反射像のぼけの様子
を表現するために、反射像が成る程度濃い、つまりＡ／
Ｄ変換値が一定値以上である場合の走査線間隔をｄとし
、状態−３、・・・、Ｏｌ・・・、３での走査線間隔を
ｄ−３、・・・、ｄＯｌ・・・、ｄ３とすれば１例えば
最も反射像が明瞭である状態０においては１．ぼけの状
態は小さいのでＡ／Ｄ変換後の波形は走査線間隔ｄが小
さく、反射像の濃さを示すＡ／Ｄ変換値出力波形の高さ
ｈが大きくなっており、他の状態では反射像が状態０よ
りぼけるので、走査線間隔ｄが大きく、反射像の濃さｈ
が小さくなっている。
たとえ、被検眼Ｅと指標４との距離が変化しても、測定
値を補正することによって測定精度を向上させるため′
に、既に角膜の曲率半径がＲ１，Ｒ２゜・・・、Ｒｎで
あると判明しているｎ個の模型眼について、第１表に示
すようなテーブルが作成し、このテーブルを用いて実際
の被検眼測定値を補正する。
値を補正することによって測定精度を向上させるため′
に、既に角膜の曲率半径がＲ１，Ｒ２゜・・・、Ｒｎで
あると判明しているｎ個の模型眼について、第１表に示
すようなテーブルが作成し、このテーブルを用いて実際
の被検眼測定値を補正する。
先ず、全ての模型眼について、状態Ｏの状態で測定装置
を使用した場合の角膜曲率半径ＲＩＯ〜ＲｎＯと撮像素
子３上の反射像を認識したビット総数０１０〜ＤｎＯを
測定する０次に、状態−３から状態３までの各状態につ
いて、それぞれ角膜曲率半径Ｒ、ビット総数りを測定し
てテーブルを埋めるが、全ての状態についてＲ，Ｄ値を
測定しなくともよい、何故ならば、指標４を前後に移動
すると、撮像素子３上の反射像は明瞭になったりぼけた
りして走査線間隔ｄが変化するが、第４図（ｃ）に示す
ように反射像が最も明瞭である状態Ｏを挟み、走査線間
隔ｄが被検眼Ｅと指標４との距離に正比例すると近似し
ても支障がない、従って、第５図に示すように走査線間
隔ｄは被検眼Ｅと指標４との距離に正比例すると見做し
、この比例関係から角膜曲率半径Ｒを算出することがで
きるからである。また、ビット総数りの値についても同
様の比例関係が成立するのでこれを利用する。
を使用した場合の角膜曲率半径ＲＩＯ〜ＲｎＯと撮像素
子３上の反射像を認識したビット総数０１０〜ＤｎＯを
測定する０次に、状態−３から状態３までの各状態につ
いて、それぞれ角膜曲率半径Ｒ、ビット総数りを測定し
てテーブルを埋めるが、全ての状態についてＲ，Ｄ値を
測定しなくともよい、何故ならば、指標４を前後に移動
すると、撮像素子３上の反射像は明瞭になったりぼけた
りして走査線間隔ｄが変化するが、第４図（ｃ）に示す
ように反射像が最も明瞭である状態Ｏを挟み、走査線間
隔ｄが被検眼Ｅと指標４との距離に正比例すると近似し
ても支障がない、従って、第５図に示すように走査線間
隔ｄは被検眼Ｅと指標４との距離に正比例すると見做し
、この比例関係から角膜曲率半径Ｒを算出することがで
きるからである。また、ビット総数りの値についても同
様の比例関係が成立するのでこれを利用する。
測定に当っては、被検眼Ｅを指標５との距離である実際
の被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ，認識ビット総数りをも測
定し、第１表のテーブルを用いて補正する。第４図に示
すように、撮像素子３上の反射像の大きさはぼけていな
い状態Ｏで最小であり、ｄｏ＜ ｄｉ＜ ｄ２、ｄｏ＜
ｄ−１＜ｄ−２のように、状態０からの距離が大きくな
ると、状態＋、状態−共に反射像はぼけて大きくなるの
で走査線間隔ｄも大きくなり、角膜曲率半径Ｒの測定値
も大きくなってしまう、そこで、被検眼Ｅの測定状態が
反射像がぼけていない状態０に対して、状態＋、状態−
の何れかであるかを判断する必要がある。そのために、
少なくとも２回は被検眼Ｅと指標４との距離を変化させ
て、Ｒ，Ｄ値をそれぞれ測定して比較することが必要で
ある０例えば、２回測定した測定値をＲ１とＤｉ、 Ｒ
２とＤ２とすると、第２表に示すように測定値を比較す
ることによって、状態＋、状態−の判断をすることがで
きる。これは作動距離が小さいほど撮影倍率が太きくな
り、測定値Ｒが大きく検出されること、及び適正作動距
離から外れるほどぼけが大きくなり、測定値りが大きく
なることから導かれる。
の被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ，認識ビット総数りをも測
定し、第１表のテーブルを用いて補正する。第４図に示
すように、撮像素子３上の反射像の大きさはぼけていな
い状態Ｏで最小であり、ｄｏ＜ ｄｉ＜ ｄ２、ｄｏ＜
ｄ−１＜ｄ−２のように、状態０からの距離が大きくな
ると、状態＋、状態−共に反射像はぼけて大きくなるの
で走査線間隔ｄも大きくなり、角膜曲率半径Ｒの測定値
も大きくなってしまう、そこで、被検眼Ｅの測定状態が
反射像がぼけていない状態０に対して、状態＋、状態−
の何れかであるかを判断する必要がある。そのために、
少なくとも２回は被検眼Ｅと指標４との距離を変化させ
て、Ｒ，Ｄ値をそれぞれ測定して比較することが必要で
ある０例えば、２回測定した測定値をＲ１とＤｉ、 Ｒ
２とＤ２とすると、第２表に示すように測定値を比較す
ることによって、状態＋、状態−の判断をすることがで
きる。これは作動距離が小さいほど撮影倍率が太きくな
り、測定値Ｒが大きく検出されること、及び適正作動距
離から外れるほどぼけが大きくなり、測定値りが大きく
なることから導かれる。
第２表
ＤＩ＞Ｄ２ Ｄ２＞ＤＩ Ｄ２
＝ＤＩＲ１＞Ｒ２Ｒ１が状態−Ｒ２が状態＋ Ｒ１が状
態−かＲ２が状態子 Ｒ１＝Ｒ２−一〜−再測定 状態＋、・状態−の判断後ができたら、選択された測定
値をＲ′、Ｄｏとし、この測定値Ｒ′を予め作成してお
いた第１表のテーブルを用いて補正する。
＝ＤＩＲ１＞Ｒ２Ｒ１が状態−Ｒ２が状態＋ Ｒ１が状
態−かＲ２が状態子 Ｒ１＝Ｒ２−一〜−再測定 状態＋、・状態−の判断後ができたら、選択された測定
値をＲ′、Ｄｏとし、この測定値Ｒ′を予め作成してお
いた第１表のテーブルを用いて補正する。
補正方法は先ずＤｏの値のみを比較し、第１表のテーブ
ルの判断された状態＋、−の一方の状態から、Ｄｏと同
値或いは近い値のＤを持つ（Ｒ，Ｄ、）の組を全て選出
する。この（Ｒ，Ｄ）の組の中から今度はＲを比較し、
測定値Ｒ゛に最も近いＲをＲ”とし、第１表のテーブル
でのＲ”のあった個所の模型眼の角膜曲率半径を、測定
値Ｒ′の最終的に補正された曲率半径とする。なお、こ
の補正は計算機の演算によって行われるが、そのプログ
ラムの一例を第６図のフローチャート図に示す。
ルの判断された状態＋、−の一方の状態から、Ｄｏと同
値或いは近い値のＤを持つ（Ｒ，Ｄ、）の組を全て選出
する。この（Ｒ，Ｄ）の組の中から今度はＲを比較し、
測定値Ｒ゛に最も近いＲをＲ”とし、第１表のテーブル
でのＲ”のあった個所の模型眼の角膜曲率半径を、測定
値Ｒ′の最終的に補正された曲率半径とする。なお、こ
の補正は計算機の演算によって行われるが、そのプログ
ラムの一例を第６図のフローチャート図に示す。
この実施例においては、第５図に示す正比例関係から作
成したテーブルにより補正をしているが、導光手段の光
学系の収差特性に応じて第５図の関係を曲線で近似し、
その関係からテーブルを作成してもよい。
成したテーブルにより補正をしているが、導光手段の光
学系の収差特性に応じて第５図の関係を曲線で近似し、
その関係からテーブルを作成してもよい。
また、上述の実施例における補正のためのぼけ検出では
、特定の指標像だけを用いて測定しているが、実際は導
光手段以前にまつ毛等が掛かって光束が妨げられ、撮像
素子３上での正確な反射像の大きさが測定できない場合
等もあるので、単数の反射像だけでは信頼できないこと
がある。そこで、複数の指標像について認識ビット総数
りの平均値で測定して補正を行えば、より精度の高い測
定が可能となる。
、特定の指標像だけを用いて測定しているが、実際は導
光手段以前にまつ毛等が掛かって光束が妨げられ、撮像
素子３上での正確な反射像の大きさが測定できない場合
等もあるので、単数の反射像だけでは信頼できないこと
がある。そこで、複数の指標像について認識ビット総数
りの平均値で測定して補正を行えば、より精度の高い測
定が可能となる。
他の実施例として、第１の実施例では点であった指標を
リング指標に変えても点指標と同様の測定を行うことが
できる。また、更に他の実施例として走査線間隔ｄの他
にぼけの濃さ、つまり第３図に示す角膜反射像の出力の
高さｈを測定できれば、この高さｈを比較することによ
ってぼけの原因が角膜曲率半径の違いによるものか、デ
フォーカスによるものかを判断することができるので。
リング指標に変えても点指標と同様の測定を行うことが
できる。また、更に他の実施例として走査線間隔ｄの他
にぼけの濃さ、つまり第３図に示す角膜反射像の出力の
高さｈを測定できれば、この高さｈを比較することによ
ってぼけの原因が角膜曲率半径の違いによるものか、デ
フォーカスによるものかを判断することができるので。
第１図の絞り２を省略しても精度の高い測定が可能であ
る。
る。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る角膜形状測定装置は、
撮像素子上の反射像の状態から角膜形状測定値を補正す
るので、角膜と指標との距離が変化して角膜反射像の大
きさが変化しても、測定誤差を小さくすることができ、
そのため指標と角膜とのアライメント誤差の影響が少な
くなるので、能率的でかつ容易に測定を実施できる。
撮像素子上の反射像の状態から角膜形状測定値を補正す
るので、角膜と指標との距離が変化して角膜反射像の大
きさが変化しても、測定誤差を小さくすることができ、
そのため指標と角膜とのアライメント誤差の影響が少な
くなるので、能率的でかつ容易に測定を実施できる。
図面は本発明に係る角膜形状測定装置の実施例を示し、
第１図は構成図、第２図は光源の配置図、第３図は出力
信号の波形図、第４図はぼけの符号１は対物レンズ、２
は絞り、３は撮像素子、４ａ〜４ｄは指標、５ａ〜５ｄ
は光源である。 ｍ１図 １１４図 は＋ｆｎｆＳ状 収逓 １ＩＩＬ＠ 第２図
第１図は構成図、第２図は光源の配置図、第３図は出力
信号の波形図、第４図はぼけの符号１は対物レンズ、２
は絞り、３は撮像素子、４ａ〜４ｄは指標、５ａ〜５ｄ
は光源である。 ｍ１図 １１４図 は＋ｆｎｆＳ状 収逓 １ＩＩＬ＠ 第２図
Claims (1)
- １、被検眼の角膜上に指標を投影する投影手段と、前記
指標の角膜反射像を受光する受光手段と、該受光手段上
の角膜反射像の形状を検出する第１の検出手段と、前記
受光手段上の角膜反射像のぼけ状態を検出する第２の検
出手段と、該第２の検出手段の結果により前記第１の検
出手段ので得られた角膜形状を補正する補正手段とを備
えたことを特徴とする角膜形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1137765A JPH031835A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 角膜形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1137765A JPH031835A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 角膜形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH031835A true JPH031835A (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=15206307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1137765A Pending JPH031835A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 角膜形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH031835A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011036273A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Canon Inc | 眼底カメラ |
| CN109222887A (zh) * | 2018-08-30 | 2019-01-18 | 上海理工大学 | 一种基于物方远心光路的便携式手持角膜曲率仪 |
-
1989
- 1989-05-30 JP JP1137765A patent/JPH031835A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011036273A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Canon Inc | 眼底カメラ |
| US8721079B2 (en) | 2009-08-06 | 2014-05-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Fundus camera |
| CN109222887A (zh) * | 2018-08-30 | 2019-01-18 | 上海理工大学 | 一种基于物方远心光路的便携式手持角膜曲率仪 |
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