JPH0318371B2 - - Google Patents

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JPH0318371B2
JPH0318371B2 JP55140228A JP14022880A JPH0318371B2 JP H0318371 B2 JPH0318371 B2 JP H0318371B2 JP 55140228 A JP55140228 A JP 55140228A JP 14022880 A JP14022880 A JP 14022880A JP H0318371 B2 JPH0318371 B2 JP H0318371B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
circuit
diode
resistor
base
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP55140228A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5765019A (en
Inventor
Terumasa Fukuda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP14022880A priority Critical patent/JPS5765019A/ja
Publication of JPS5765019A publication Critical patent/JPS5765019A/ja
Publication of JPH0318371B2 publication Critical patent/JPH0318371B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体集積回路の遅延パルス発生回路
に関するものである。
一般に遅延パルスはその遅延時間が電源変動、
温度変動により変化しないことが性能として要求
されている。しかし、集積回路内部に作りこむ場
合、極力小さくしかも素子数等の制約から電源変
動、温度変動に対する補償までは考えられていな
かつた。
本発明の目的は電源変動、温度変動に対して遅
延時間の変動の少くない遅延パルス発生回路を提
供するものである。
以下図面を用いて説明する。
第1図は遅延パルス発生回路の論理図である。
二入力否定論理和ゲート(以下NORゲートとい
う)3と2個の同相ゲート(以下AMPゲートと
いう)1,2から構成されている。AMPゲート
は1ケでもよく必要に応じて任意複数個接続され
ていても良い。
第2図は、第1図の遅延パルス発生回路の動作
波形を示したものである。入力端子INに高レベ
ル(以下Hと称す)が加つているとNORゲート
3の出力は低レベル(以下Lと称す)である。入
力端子がHからLになるとAMPゲート1はゆつ
くりとHからLに移行するAMPゲート2の閾値
(以下VTHと称す)まで下がるとAMPゲート1と
同様AMPゲート2の出力はゆつくりとHからL
に移行する。
NORゲート3のVTHまで下がるとNORゲート
の出力はHとなる。
入力端子INがHからLとなつてAMPゲート1
の出力がAMPゲート2のVTHまで下がる遅れ時
間をT1とし、この時間からAMPゲート2の出力
がNORゲート3のVTHまで下がるAMPゲート2
の遅れ時間をT2とすると遅延パルス発生回路の
遅延時間T4はT1+T2とNORゲート3の遅れ時間
T3の和で得られる。
NORゲート3の遅れ時間T3はT1,T2に比べ非
常に小さいため無視して考えると遅延時間T4
T1+T2で代表出来る。
遅延時間T4が電源変動、温度変動で変化が少
くない程性能の良い遅延回路と言える。
遅延時間を作つているのはAMPゲート1及び
2である。本発明はAMPゲートに注目している。
以下AMPゲートに着目して説明する。
第3図は第1図の論理図を低電力シヨツトキ
TTL(トランジスタ・トランジスタ・論理回路)
で実現した従来の等価回路図である。
AMPゲート1,2及びNORゲート3の等価回
路図はそれぞれ点線でかこつてあるがAMPゲー
ト1に着目して説明する。
AMPゲート1の構成について説明する。
入力ゲートPNPトランジスタ21のベースは
入力端子INに接続され、コレクタは接地電位
(以下GNDと称す)に接続され、エミツタは抵抗
11を介して電源Vccに接続され、更にレベルシ
フトダイオード31のアノードに接続されてい
る。レベルシフトダイオード32のアノードはレ
ベルシフトダイオード31のカソードに接続され
このカソードはトランジスタ22のベースに接続
されると同時に抵抗12を介してGNDに接続さ
れている。トランジスタ22のエミツタはGND
に接続され、コレクタは抵抗13を介して電源
Vccに接続されると同時にトランジスタ23のベ
ースに接続されている。
トランジスタ23のエミツタはGNDに接続さ
れ、コレクタは抵抗14を介して電源Vccに接続
され、更にトランジスタ26のベースに接続され
ている。
トランジスタ26,27は、ダーリントン接続
されてコレクタは電流制限抵抗18を介して電源
Vccに接続され、トランジスタ27のベース、エ
ミツタは抵抗17で接続されている。電源Vcc
ら抵抗15を介してトランジスタ25のベースコ
レクタに接続され、更にトランジスタ24のベー
スに接続され、トランジスタ24,25のエミツ
タはGNDに接続され、トランジスタ24のコレ
クタはトランジスタ27のエミツタに接続され、
更に実際は容量として使用するところのダイオー
ド33のカソードが接続されている。ダイオード
33のアノードはトランジスタ23のエミツタに
接続されている。
抵抗15、トランジスタ24,25は定電流回
路を構成し抵抗15を流れる電流はトランジスタ
24のコレクタ電流とほぼ等しい電流となる。
(ただしトランジスタ24,25が同じ条件いい
かえると同じ大きさ性能のトランジスタの場合で
エミツタ面積が同じものとする。) 次にこのAMPゲート1の動作について説明す
る。
入力端子INにLが印加された定常状態では抵
抗11を流れる電流はPNPトランジスタ21に
流れ、レベルシフトダイオード31,32を通し
てトランジスタ22のベースに電流が流れずトラ
ンジスタ22はしや断(以下オフと称す)してい
る。抵抗13を流れる電流はトランジスタ23の
ベースに流れ、トランジスタ23は導通状態(以
下オンと称す)にありコレクタ電位は約0.3V相
当である。従つてトランジスタ26,27はオフ
してAMPゲート1の出力電位は約0.3Vにまで下
がつている。入力端子INにHが加つた定常状態
では抵抗11を流れる電流はPNPトランジスタ
21に流れず、レベルシフトダイオード31,3
2を通してトランジスタ22のベースに流れトラ
ンジスタ22はオンし抵抗13を流れる電流はト
ランジスタ22のコレクタに流れ、トランジスタ
23のベースには流れず、トランジスタ23はオ
フしている。
トランジスタ23のコレクタは抵抗14により
電源電圧Vccまで上昇してダーリントン接続され
たトランジスタ27のエミツタはVccより2VBE -
2VF(VBEはベースエミツタ間順方向電圧)下が
つた電位、電源電圧Vccを5Vとして約3.5Vになつ
ている。この時、ダイオード33を逆バイアスし
電荷を充電した状態となつている。
入力端子INがHかLになると、トランジスタ
22は高速でオフしトランジスタ23は同様にオ
ンし、オフバツフアトランジスタ26,27はオ
フする。ダイオード33にたくわえられた電荷を
トランジスタ24のコレクタ電流、いいかえると
抵抗15を流がれる電流とほぼ等しい定電流で放
電を開始する。次段のAMPゲート2の閾値を
VTH≒VFと考えるとAMPゲート1の放電時
間、いいかえると遅延時間T1は下記式で表現出
来る。
T1≒C・R15・Vcc−2VBE−VTH/Vcc−VBE≒C・ R15・ (Vcc−3VF/Vcc−VF) C:ダイオード33の等価容量、 R15:抵抗15の抵抗値、 故に電源変動に対して遅延時間T1は変動する
ことになる。
又、温度に対しては抵抗15、VBE,VTHが
変動するため遅延時間は大きく変動することにな
る。
第4図は本発明の回路を低電力シヨツトキ
TTLで実現した一実施例の回路接続図である。
クランプ回路4が追加され、その他一部の点が
変つている。
トランジスタ23のエミツタはGNDに接続さ
れ、コレクタは抵抗14を介して電源Vccに接続
され、更に充電用トランジスタ28のベースに接
続され、充電用トランジスタ28のコレクタは電
源Vccに接続され、エミツタはトランジスタ24
のコレクタに接続されている。トランジスタ24
のエミツタは抵抗16を介してGNDに接続され、
ベースはエミツタがGNDに接続されたトランジ
スタ25のベースとコレクタに接続されると同時
に抵抗15を介してクランプ回路4を構成するト
ランジスタ29のエミツタに接続されている。コ
レクタが電源Vccに接続されたトランジスタ29
のベースは抵抗19を介して電源Vccに接続され
ると同時にダイオード35のアノードに接続さ
れ、ダイオード35,36,37,38,39は
順々に直列接続され、ダイオード39のカソード
はGNDに接続されてクランプ回路4を構成して
いる。トランジスタ28のベースはダイオード3
4のアノードに接続され、ダイオード34のカソ
ードはダイオード36のアノードに接続され、高
レベルをクランプする形となつている。
容量成分のダイオード33のカソードはトラン
ジスタ24のコレクタにアノードはトランジスタ
23のベースに接続されている。(ダイオード3
3のアノードはGNDに接続されていても良いが
ここでは説明の便宜上従来例と同じにした。)入
力端子INがHのときAMPゲート1の出力(A
点)Hはクランプダイオード34,36,37,
38,39でクランプされて5VF−VBE4VF
(約2.9V)となつている。又、定電流回路の抵抗
15にはクランプされたトランジスタ29のエミ
ツタが接続され、5VF−VBE4VF(約2.9V)が
与えられている。この回路の遅延時間T1は T1=C・VOH−VTH/IC≒C3VF/IC こゝでCはダイオード33の容量、ICはトラ
ンジスタ24のコレクタ電流、VOHは高レベル
出力電圧である。放電電流は、トランジスタ24
のコレクタ電流で IC≒3VF/R15 たゞし、R15は抵抗15の抵抗値である。
従つてT1≒C・R15 故に電源変動に対して遅延時間は変動しなくな
ることがわかる。
集積回路内に作る抵抗は温度に対して変化する
ためR15は温度依存性を持つているがトランジス
タ24,25、抵抗16を適当に選ぶと見かけ上
R15が温度に対して変化しないのと同じ効果を得
ることが出来る。説明を加えるとトランジスタ2
4,25のエミツタ面積を変えると同じ電流でも
エミツタ面積の大きいトランジスタの方がVBE
の温度依存性が大きいことを利用して、トランジ
スタ24のコレクタ電流を温度変動に対して補正
することが出来る。いい変えると抵抗15を流れ
る電流は温度上昇により(たとえば抵抗が大きく
なると考えると)減少するがトランジスタ24の
エミツタ面積をトランジスタ25の面積より大き
くしておくことで温度上昇によりトランジスタ2
4のVBEがトランジスタ25のVBEより、より
小なくなる方向に動こうとする。VBEが小さく
なる差分だけトランジスタ25のコレクタ電流が
増加する方向に動くため補正出来る。
従つて遅延時間T1ひいては遅延時間T4が電源
及び温度変動に対して変動しない非常に効果の大
きい遅延パルス発生回路が出来る。なお、AMP
ゲートについてのみ説明したきたがインバータゲ
ートとして用いる場合、たとえば位相反転トラン
ジスタ22と抵抗13を除きトランジスタ23の
ベースをレベルシフトダイオード32のカソード
に接続することでインバータゲートとすることが
出来る。(容量用ダイオード33のアノードは
GNDに接続する。)この場合でもインバータゲー
トの出力がHからLに移行する時間を利用して、
入力信号とインバータを通した信号をNANDゲ
ートを通すことによりLの時間の一定なパルス発
生回路を作ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は遅延パルス発生回路の論理図、第2図
は遅延パルス発生回路の動作波形を示す図、第3
図は低電力シヨツキTTLで実現した従来の遅延
パルス発生回路の例を示す回路接続図、第4図は
低電力シヨツトキTTLで実現した本発明の一実
施例を示す回路接続図である。 1,2…AMPゲート、3…NORゲート、クラ
ンプ回路、4,11,12,13,14,15,
16,17,18,19…抵抗、21…PNPト
ランジスタ、22,23,24,25,26,2
7,28,29…NPNトランジスタ、31,3
2…レベルシフトダイオード、33…接合容量を
作るためのダイオード、34,35,36,3
7,38,39…クランプダイオード。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力信号をうける同相ゲート回路と、前記入
    力信号と前記同相ゲート回路の出力信号とに基い
    て遅延パルスを発生するゲート回路とを有する遅
    延パルス発生回路において、前記同相ゲート回路
    はその出力点に接続された充電用トランジスタ
    と、前記出力点に接続された放電用トランジスタ
    と、前記出力点の電位をクランプするクランプ回
    路とを有し、前記クランプ回路はコレクタが電源
    の一端に接続されるとともにベースが第1の抵抗
    を介して電源の一端に接続されたクランプ用トラ
    ンジスタと、該クランプ用トランジスタのベース
    に接続された少なくとも1個のダイオードを有す
    る第1のダイオード回路と、該第1のダイオード
    回路と電源の他端との間に接続された複数のダイ
    オードの直列接続を有する第2のダイオード回路
    とを有し、前記第1のダイオード回路と前記第2
    のダイオード回路との接続点は他のダイオードを
    介して前記充電用トランジスタのベースに接続さ
    れ、前記クランプ用トランジスタのエミツタは抵
    抗を介して前記放電用トランジスタのベースに接
    続され、前記放電トランジスタは前記抵抗に対す
    る温度補償手段を有することを特徴とする遅延パ
    ルス発生回路。
JP14022880A 1980-10-07 1980-10-07 Delay pulse generating circuit Granted JPS5765019A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14022880A JPS5765019A (en) 1980-10-07 1980-10-07 Delay pulse generating circuit

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JP14022880A JPS5765019A (en) 1980-10-07 1980-10-07 Delay pulse generating circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5765019A JPS5765019A (en) 1982-04-20
JPH0318371B2 true JPH0318371B2 (ja) 1991-03-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS532315B2 (ja) * 1972-10-18 1978-01-26

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JPS5765019A (en) 1982-04-20

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