JPH03185435A - 光学走査系内汚染検知装置 - Google Patents
光学走査系内汚染検知装置Info
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- JPH03185435A JPH03185435A JP2298758A JP29875890A JPH03185435A JP H03185435 A JPH03185435 A JP H03185435A JP 2298758 A JP2298758 A JP 2298758A JP 29875890 A JP29875890 A JP 29875890A JP H03185435 A JPH03185435 A JP H03185435A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/04—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for exposing, i.e. imagewise exposure by optically projecting the original image on a photoconductive recording material
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Light Sources And Details Of Projection-Printing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔背景技術及び情報の説明〕
本発明は、文書プラテン上の原稿文書の露光用の電子写
真複写装置に使用される光学系に関し、更に詳述すれば
、上記光学系に存在する汚染量を検知するための装置に
関する。
真複写装置に使用される光学系に関し、更に詳述すれば
、上記光学系に存在する汚染量を検知するための装置に
関する。
従来技術の複写装置に関連した問題点の一つは帯電トナ
ー粒子1紙粒子、1!!埃粒子等による各種処理部の汚
染である。
ー粒子1紙粒子、1!!埃粒子等による各種処理部の汚
染である。
これらの粒子は各種処理部の重要な表面に吸着され、そ
の結果そのサブシステムに汚染並びに性能低下を引き起
こすことがある。コピー品質を維持するためには、自動
複写装置の要素は実質的に汚染粒子のない状態に保持さ
れることが肝要である。汚染に最も鋭敏な部分の一つは
光学系である。
の結果そのサブシステムに汚染並びに性能低下を引き起
こすことがある。コピー品質を維持するためには、自動
複写装置の要素は実質的に汚染粒子のない状態に保持さ
れることが肝要である。汚染に最も鋭敏な部分の一つは
光学系である。
例えば、トナーや塵埃がレンズ又はミラー上にたまった
ままになっていると、露光は光路から散乱した光がコピ
ーに背景の汚れ(background)を生じさせる
ために低下し、更に像変調は光が像の前景部(fore
ground)に散乱される同じ現象により低下する。
ままになっていると、露光は光路から散乱した光がコピ
ーに背景の汚れ(background)を生じさせる
ために低下し、更に像変調は光が像の前景部(fore
ground)に散乱される同じ現象により低下する。
どちらの要因も低コントラストコピー機能の損失を起こ
す。
す。
光学系汚染の増加の存在を検知するために、フォトセン
サを使用することは技術的に公知である。
サを使用することは技術的に公知である。
次のパラメータ、即ち、ミラーの反射率、光散乱表面上
の透明材料の透過率、あるいはレンズの透過率、の一つ
の変化を測定するために、センサが一般的に使用されて
いる。露光を補正するために光源の出力を増加させるよ
う、フィードバック制御システムが通常実施されている
。米国特許第4、555.621号明細書はこのような
従来技術の検知システムを説明している。
の透明材料の透過率、あるいはレンズの透過率、の一つ
の変化を測定するために、センサが一般的に使用されて
いる。露光を補正するために光源の出力を増加させるよ
う、フィードバック制御システムが通常実施されている
。米国特許第4、555.621号明細書はこのような
従来技術の検知システムを説明している。
これらの従来技術の検知及び制御システムはいくつかの
不都合を有している。フォトセンサにしてもまた照明光
源にしても、長期間の感光度/発光変化に左右される。
不都合を有している。フォトセンサにしてもまた照明光
源にしても、長期間の感光度/発光変化に左右される。
補正が生じると、信号変化は汚染検知に帰する信号変化
を区別することができない。したがって、補正信号が検
知/制御システムによって発生すると、検知された補正
条件は実際にシステム内に汚染の増加によるものなのか
、あるいは検知/制御システム内の変動によるものなの
かが、必ずしも確かでない。これにより、不必要な清掃
処置に入ることがあり、その上その他の構成部品に思わ
ぬ損傷を与えることにもなる。
を区別することができない。したがって、補正信号が検
知/制御システムによって発生すると、検知された補正
条件は実際にシステム内に汚染の増加によるものなのか
、あるいは検知/制御システム内の変動によるものなの
かが、必ずしも確かでない。これにより、不必要な清掃
処置に入ることがあり、その上その他の構成部品に思わ
ぬ損傷を与えることにもなる。
もう一つの不都合は照明露光制御回路が正しい露光を回
復すると、汚染によって生じたコントラスト低下を改善
しないことである。実際、以下に述べる通り、コントラ
スト低下は光学要素を清掃することによってはじめて補
正され得るものであり、清掃の最適時期を決定するため
の改善が必要である。
復すると、汚染によって生じたコントラスト低下を改善
しないことである。実際、以下に述べる通り、コントラ
スト低下は光学要素を清掃することによってはじめて補
正され得るものであり、清掃の最適時期を決定するため
の改善が必要である。
したがって、本発明は、検知構成部品における変動(d
rift variation) や、システム内に存
在する実際の汚染に直接関連のないランプ変化あるいは
その他の状態には感応しない汚染検知システムに関する
。
rift variation) や、システム内に存
在する実際の汚染に直接関連のないランプ変化あるいは
その他の状態には感応しない汚染検知システムに関する
。
本検知システムは、汚染が予め設定された最小値を下ま
わるMTF値によって示された通り像変調を低下させた
ときだけ、補正信号を発するように設計されている。本
検知システムは光路に沿った個所に像変調を測定するた
めのCCDアレイ等の低解像度センサアレイを含んでい
る。これは文書プラテン上に置かれた周知の解像度のバ
ーターゲットを検知することによって行われる。更に詳
述すれば、本発明は、対物面に置かれた文書の潜像を感
光体表面に形成するための結像手段を有し、前記結像手
段は文書を照明する手段と前記感光体表面に文書像を投
影する手段とを含む電子写真複写装置であって、光路に
沿って設置されたリニアセンサアレイであって、対物面
に位置づけられたバーチャートを読み取り、且つ前記バ
ーチャートの最大値及び最小値を示す出力信号を発生す
るためのものである前記センサアレイと、前記センサア
レイから出力信号を受信し、且つ変調伝達関数MTFの
値を計算する比較/記憶回路とを含み、この回路はその
中に記憶された最小MTF値を表す予め定められた値を
持つ不揮発メモリであって、前に記憶されたMTF値を
計算値と比較するために用いられるメモリと、前記比較
/記憶回路に接続された出力手段であって、実測MTF
が所定最小MTF値よりも低下したときの指示を与える
べく作動される前記出力手段との結合を含む改良に関す
る。
わるMTF値によって示された通り像変調を低下させた
ときだけ、補正信号を発するように設計されている。本
検知システムは光路に沿った個所に像変調を測定するた
めのCCDアレイ等の低解像度センサアレイを含んでい
る。これは文書プラテン上に置かれた周知の解像度のバ
ーターゲットを検知することによって行われる。更に詳
述すれば、本発明は、対物面に置かれた文書の潜像を感
光体表面に形成するための結像手段を有し、前記結像手
段は文書を照明する手段と前記感光体表面に文書像を投
影する手段とを含む電子写真複写装置であって、光路に
沿って設置されたリニアセンサアレイであって、対物面
に位置づけられたバーチャートを読み取り、且つ前記バ
ーチャートの最大値及び最小値を示す出力信号を発生す
るためのものである前記センサアレイと、前記センサア
レイから出力信号を受信し、且つ変調伝達関数MTFの
値を計算する比較/記憶回路とを含み、この回路はその
中に記憶された最小MTF値を表す予め定められた値を
持つ不揮発メモリであって、前に記憶されたMTF値を
計算値と比較するために用いられるメモリと、前記比較
/記憶回路に接続された出力手段であって、実測MTF
が所定最小MTF値よりも低下したときの指示を与える
べく作動される前記出力手段との結合を含む改良に関す
る。
第1図はこの中に本発明の汚染検知装置を組み入れた電
子写真複写装置の一例の各種構成部品を概要的に描いて
いる。この検知装置は広範囲の各種電子写真複写装置の
使用に等しく十分適合するものであり、ここに示された
特別な実施例への適用に必ずしも限定されたものでは決
してないものであることが、次の議論から明らかになる
であろう。
子写真複写装置の一例の各種構成部品を概要的に描いて
いる。この検知装置は広範囲の各種電子写真複写装置の
使用に等しく十分適合するものであり、ここに示された
特別な実施例への適用に必ずしも限定されたものでは決
してないものであることが、次の議論から明らかになる
であろう。
電子写真複写技術は十分周知のものであるから、第1図
の印刷装置に使用された各種の処理ステージ霞ンがこの
あと概要的に示され、それらの作動がそれらを引用しな
がら簡潔に説明される。
の印刷装置に使用された各種の処理ステージ霞ンがこの
あと概要的に示され、それらの作動がそれらを引用しな
がら簡潔に説明される。
第1図において、電子写真複写装置は導電基板上に形成
された光導電面12を有する感光体ベルト10を使用し
ている。ベル)10は指示方向に移動し、各種の電子複
写処理ステーションを通って順番に進む。ベルトは駆動
ローラ18及び張力ローラ16゜20の周りに装架され
ている。ローラ18は、図示されていないが従来のモー
タ手段を用いて駆動される。
された光導電面12を有する感光体ベルト10を使用し
ている。ベル)10は指示方向に移動し、各種の電子複
写処理ステーションを通って順番に進む。ベルトは駆動
ローラ18及び張力ローラ16゜20の周りに装架され
ている。ローラ18は、図示されていないが従来のモー
タ手段を用いて駆動される。
第1図を更に引用すると、ベルトlOの部分は帯電ステ
ーション八を通過し、ここで参照番号221;よって全
体的に示されたコロナ発生装置は光導電面1,2を相対
的に高い、実質的に−様な負電位に帯電する。装置22
は帯電電極24及び導電シールド26からなっている。
ーション八を通過し、ここで参照番号221;よって全
体的に示されたコロナ発生装置は光導電面1,2を相対
的に高い、実質的に−様な負電位に帯電する。装置22
は帯電電極24及び導電シールド26からなっている。
ベルNOが進み続けると、表面12の帯電部分は露光ス
テーションBに移動する。原稿文書30は透明プラテン
32の表面上に置かれる。光学アセンブリ36は光学構
成部品を含み、その文書を左から右へ漸進的に走査照射
し、反射像をベルト10の表面12に投影し、その上に
潜像を形成する。概要的に示された通り、これらの光学
構成部品は照明走査アセンブリ40からなり、これは照
明ランプ42.付属反射器43及び全反射走査ミラー4
4からなっていて、これらの3つの構成部品は走査キャ
リッジ45に搭載されている。キャリッジ端はプラテン
に平行に且つその下を通路に沿って進むように、ガイド
レール(図示されていない)に沿って乗せられる。ラン
プ42は文書30のインクリメントライン部分を照明す
る。反射像は走査ミラー44によって、第二走査キャリ
ッジ46A に搭載されたコーナーミラーアセンブリ4
6に反射される。走査キャリッジ46^はキャリッジ4
5に機械的に持続され、キャリッジ45の172の速さ
で移動する。文書像はレンズ47を通して投影され、第
二コーナーミラーアセンブリ48及びベルトミラー50
によって表面12上に反射され、その上に原稿文書30
内に含まれる情報部分に対応する静電潜像に形成する。
テーションBに移動する。原稿文書30は透明プラテン
32の表面上に置かれる。光学アセンブリ36は光学構
成部品を含み、その文書を左から右へ漸進的に走査照射
し、反射像をベルト10の表面12に投影し、その上に
潜像を形成する。概要的に示された通り、これらの光学
構成部品は照明走査アセンブリ40からなり、これは照
明ランプ42.付属反射器43及び全反射走査ミラー4
4からなっていて、これらの3つの構成部品は走査キャ
リッジ45に搭載されている。キャリッジ端はプラテン
に平行に且つその下を通路に沿って進むように、ガイド
レール(図示されていない)に沿って乗せられる。ラン
プ42は文書30のインクリメントライン部分を照明す
る。反射像は走査ミラー44によって、第二走査キャリ
ッジ46A に搭載されたコーナーミラーアセンブリ4
6に反射される。走査キャリッジ46^はキャリッジ4
5に機械的に持続され、キャリッジ45の172の速さ
で移動する。文書像はレンズ47を通して投影され、第
二コーナーミラーアセンブリ48及びベルトミラー50
によって表面12上に反射され、その上に原稿文書30
内に含まれる情報部分に対応する静電潜像に形成する。
現像ステーションCでは、参照番号54で全体的に示さ
れた磁気ブラシ現像システムが絶縁現像材料を進めて静
電潜像に接触させる。好ましくは磁気ブラシ現像システ
ム54はハウジング58内に現像剤ローラ56を含むこ
とである。ローラ56は磁気キャリア粉粒体とトナー粒
子からなる現像剤材料のブラシを運んでベルトlOに接
触させる。ローラ56は現像剤材料のブラシがベルNo
を弧状に変形させ、ベルトが現像剤材料の構成に少なく
とも部分的に一致するように設置される。現像剤ローラ
56に付着した現像剤材料の層の厚さは調整が可能であ
る。静電潜像はトナー粒子をキャリア粉粒体から引き付
け、光導電面12上にトナー粉末像を形成する。
れた磁気ブラシ現像システムが絶縁現像材料を進めて静
電潜像に接触させる。好ましくは磁気ブラシ現像システ
ム54はハウジング58内に現像剤ローラ56を含むこ
とである。ローラ56は磁気キャリア粉粒体とトナー粒
子からなる現像剤材料のブラシを運んでベルトlOに接
触させる。ローラ56は現像剤材料のブラシがベルNo
を弧状に変形させ、ベルトが現像剤材料の構成に少なく
とも部分的に一致するように設置される。現像剤ローラ
56に付着した現像剤材料の層の厚さは調整が可能であ
る。静電潜像はトナー粒子をキャリア粉粒体から引き付
け、光導電面12上にトナー粉末像を形成する。
システムの説明を続けると、出力コピーシート60は供
給トレイ62から取り出された後、移動されて転写ステ
ージ田ンDでトナー粉末像と接触する。
給トレイ62から取り出された後、移動されて転写ステ
ージ田ンDでトナー粉末像と接触する。
支持材料は一対の送給ローラ68と70によってステー
ションDに運ばれる。転写ステーションDはシート60
の裏面にイオンを噴霧するコロナ発生装置71を含み、
それによってトナー粉末像を表面12からシート60に
吸着する。転写の後、シートは触着ステーションEに進
み、そこで融着ローラアセンブリ72が転写された粉末
像を定着させる。融着後、シート60は出力ドレイ (
図示せず)に進み、続いてオペレーターによって取り出
される。支持材料のシートがベルト10から分離された
後、残存トナー粒子及び現像されたテストパッチ領域の
トナー粒子は清掃ステーションFで除去される。
ションDに運ばれる。転写ステーションDはシート60
の裏面にイオンを噴霧するコロナ発生装置71を含み、
それによってトナー粉末像を表面12からシート60に
吸着する。転写の後、シートは触着ステーションEに進
み、そこで融着ローラアセンブリ72が転写された粉末
像を定着させる。融着後、シート60は出力ドレイ (
図示せず)に進み、続いてオペレーターによって取り出
される。支持材料のシートがベルト10から分離された
後、残存トナー粒子及び現像されたテストパッチ領域の
トナー粒子は清掃ステーションFで除去される。
清掃に続いて、図示されていないが、放電ランプが表面
12に光を当てて、その上に残存した電荷を分散除去し
た後、改めて次の結像サイクル用として、それに電荷を
与える。
12に光を当てて、その上に残存した電荷を分散除去し
た後、改めて次の結像サイクル用として、それに電荷を
与える。
上述した光学要素(ミラー、レンズ、プラテン)は光学
光ハウジング内に収容されていて、上で議給された種類
の汚染に鋭敏であることが理解される。例えば、トナー
粒子がハウジングに入り、ミラー44.46.48又は
50、あるいはレンズ47のどちらかの面にもたまるこ
とがある。この汚染は、もし定期的に除去あるいは清掃
されないと、重大な状態に達し、感光体の像のコントラ
ストは許容できない出力コピーが発生する程度まで低下
する。
光ハウジング内に収容されていて、上で議給された種類
の汚染に鋭敏であることが理解される。例えば、トナー
粒子がハウジングに入り、ミラー44.46.48又は
50、あるいはレンズ47のどちらかの面にもたまるこ
とがある。この汚染は、もし定期的に除去あるいは清掃
されないと、重大な状態に達し、感光体の像のコントラ
ストは許容できない出力コピーが発生する程度まで低下
する。
本発明の第一の局面によると、本実施例のリニアCCD
アレイ80用の低解像度センサアレイは光路に沿った選
ばれた個所に設置されたバーチャートを検知又は読み取
るためのものである。例えば、バーチャートは特別なテ
ックレプ(tech rep) 文書のこともある。セ
ンサアレイはバーチャート像を“読み取り”、その像を
表す信号を比較/記憶回路82へ送る。回路82は次の
方程式によって表される像変調を計算する。
アレイ80用の低解像度センサアレイは光路に沿った選
ばれた個所に設置されたバーチャートを検知又は読み取
るためのものである。例えば、バーチャートは特別なテ
ックレプ(tech rep) 文書のこともある。セ
ンサアレイはバーチャート像を“読み取り”、その像を
表す信号を比較/記憶回路82へ送る。回路82は次の
方程式によって表される像変調を計算する。
MTF=(”” ”i”) (1)
Max+M+n
計算値は、不揮発メモリにおいて、光学構成部品が清掃
されたとき工場で測定されたコントラストレベルと比較
される(初期設定手順には現場技術者によって使用され
た同種のテスト目標の測定値が必要である〉。閾値は実
測最大MTFに、ある許容品質低下係数、例えば0.9
を乗することによって計算される。したがって、原稿コ
ントラストの90%を超える実測MTFならば許容でき
るが、このレベル未満の実測MTFは出力信号をデイス
プレィ84に送り、光学構成部品の清掃が必要であるこ
とを表示する。
されたとき工場で測定されたコントラストレベルと比較
される(初期設定手順には現場技術者によって使用され
た同種のテスト目標の測定値が必要である〉。閾値は実
測最大MTFに、ある許容品質低下係数、例えば0.9
を乗することによって計算される。したがって、原稿コ
ントラストの90%を超える実測MTFならば許容でき
るが、このレベル未満の実測MTFは出力信号をデイス
プレィ84に送り、光学構成部品の清掃が必要であるこ
とを表示する。
本発明の第一の実施例において、アレイ80は、全幅低
解像度(1005PI) CCDアレイの場合もある
が、レンズ47に隣接した光路に設置される。この位置
で、アレイ80は、バーチャートから反射され、レンズ
79によってアレイに焦点を合わせられた光を測定する
。バーチャートは一例として、ミリメートル当たり1〜
4線対の頻度で、一連の交番ブラックパーを有している
。アレイはバーチャートを読み取り、像変調を表す信号
を発生する。
解像度(1005PI) CCDアレイの場合もある
が、レンズ47に隣接した光路に設置される。この位置
で、アレイ80は、バーチャートから反射され、レンズ
79によってアレイに焦点を合わせられた光を測定する
。バーチャートは一例として、ミリメートル当たり1〜
4線対の頻度で、一連の交番ブラックパーを有している
。アレイはバーチャートを読み取り、像変調を表す信号
を発生する。
第2図はバーチャートの部分に沿って見られる相対信号
のプロットを示す。実画素測定値90が2つのバーチャ
ートの部分に沿って見られる相対信号のプロットを示す
。実画素測定値90が2つのパーライン92と94及び
これらの間の空間上に置かれているのが示されている。
のプロットを示す。実画素測定値90が2つのバーチャ
ートの部分に沿って見られる相対信号のプロットを示す
。実画素測定値90が2つのパーライン92と94及び
これらの間の空間上に置かれているのが示されている。
示された例に関して、MTFは、同値の(1)を用いて
、次のように表される。
、次のように表される。
MTF= ’ =60%
0.8+O12
この値を表す信号は記憶ユニット82で最小MTFを表
す予め定められた信号と比較されて、それ未満に出力像
が低下した場合には許容されない。
す予め定められた信号と比較されて、それ未満に出力像
が低下した場合には許容されない。
そこで、この例の場合、記憶装置82はRISのMTF
測定値が許容される閾値未満であることを決定し、信号
が送られてデイスプレィ84を作動させて光学系を清掃
するように視覚による警告を提供する。
測定値が許容される閾値未満であることを決定し、信号
が送られてデイスプレィ84を作動させて光学系を清掃
するように視覚による警告を提供する。
清掃ステップを測定及び比較システムMTFに基づかせ
ることによって、従来技術の不都合が回避されることは
明らかである。
ることによって、従来技術の不都合が回避されることは
明らかである。
したがって、検知あるいは照明システムの変動はもはや
因子ではなく、システム汚染による変調低下が補正作業
を決定する。
因子ではなく、システム汚染による変調低下が補正作業
を決定する。
第1図に示された通り、アレイ80の位置的な起こり得
る一つの不都合は、アレイが像側の構成部品、例えば、
レンズ47.ミラー48、そしてミラー50の汚染を検
知しないということである。システムによっては、汚染
は例えばトナー現像システムに物理的に比較的近く位置
したこれらの構成部品の方が大きいことがある。したが
って、第3図に示された本発明の第2実施例において、
アレイ80はベルトミラー50の上方及び下方の位置に
、そしてベルト12の表面で像点と同一焦点に設置され
ている。
る一つの不都合は、アレイが像側の構成部品、例えば、
レンズ47.ミラー48、そしてミラー50の汚染を検
知しないということである。システムによっては、汚染
は例えばトナー現像システムに物理的に比較的近く位置
したこれらの構成部品の方が大きいことがある。したが
って、第3図に示された本発明の第2実施例において、
アレイ80はベルトミラー50の上方及び下方の位置に
、そしてベルト12の表面で像点と同一焦点に設置され
ている。
本発明は光学系の走査タイプに関連して開示されたが、
同時にフラッシュタイプのシステムで実施されることも
できる。この場合、CCDアレイは像面に設置され、バ
ーチャート像はアレイにフラッシュ結像される。
同時にフラッシュタイプのシステムで実施されることも
できる。この場合、CCDアレイは像面に設置され、バ
ーチャート像はアレイにフラッシュ結像される。
本発明は開示された構造で記述されてきたが、説明され
た特定詳細に限定されることなく、上記の特許請求の範
囲内に入ることのできる修正又は変更も含むことを意図
している。
た特定詳細に限定されることなく、上記の特許請求の範
囲内に入ることのできる修正又は変更も含むことを意図
している。
第1図は本発明の汚染検知システムを組み入れた電子写
真複写装置を示した概要側面図である。 第2図は目標バーチャートの部分に沿ったセンサアレイ
測定値のプロットである。 第3図は本発明の検知システム用の第二位置の説明図で
ある。 10:ベルト 12:光導電面16.20
:張力ローラ 18:駆動ローラ22:コロナ発
生装置 24:帯電電極26:導電シールド
30:原稿文書32:透明プラテン 36:光
学アセンブリ40:照明走査アセンブリ 42:照明ラ
ンプ43:付属反射器 44:全反射ミラー4
5:走査キャリッジ 46A:第二走査キャリッジ 47:レンズ48:第二
コーナーミラーアセンブリ 50:ベルトミラー 54:磁気ブラシ現像システム 56:現像剤ローラ 58:ハウジング60:出
力コピーシート 62:供給トレイ68.70:送給
ローラ 71:コロナ発生装置72:融着ローラ
アセンブリ 79:レンズ 80:リニアCCDアレイ 82:比較/記t!回路8
4:ディスプレイ 90:実画素測定値92.9
4:バーライン
真複写装置を示した概要側面図である。 第2図は目標バーチャートの部分に沿ったセンサアレイ
測定値のプロットである。 第3図は本発明の検知システム用の第二位置の説明図で
ある。 10:ベルト 12:光導電面16.20
:張力ローラ 18:駆動ローラ22:コロナ発
生装置 24:帯電電極26:導電シールド
30:原稿文書32:透明プラテン 36:光
学アセンブリ40:照明走査アセンブリ 42:照明ラ
ンプ43:付属反射器 44:全反射ミラー4
5:走査キャリッジ 46A:第二走査キャリッジ 47:レンズ48:第二
コーナーミラーアセンブリ 50:ベルトミラー 54:磁気ブラシ現像システム 56:現像剤ローラ 58:ハウジング60:出
力コピーシート 62:供給トレイ68.70:送給
ローラ 71:コロナ発生装置72:融着ローラ
アセンブリ 79:レンズ 80:リニアCCDアレイ 82:比較/記t!回路8
4:ディスプレイ 90:実画素測定値92.9
4:バーライン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対物面に置かれた文書の潜像を感光体表面に形成す
るための結像手段を有し、前記結像手段は文書を照明す
る手段と前記感光体表面に文書像を投影する手段とを含
む電子写真複写装置において、次のものの結合を含むそ
の改良。 光路に沿って設置されたリニアセンサアレイであって、
対物面に位置づけられたバーチャートを読み取り、且つ
前記バーチャートの最大及び最小値を示す出力信号を発
生するためのものである前記センサアレイ、 前記センサアレイから出力信号を受信し、且つ変調伝達
関数MTFの値を計算する比較/記憶回路、この回路は その中に記憶された最小MTF値を表す予め定められた
値を持つ不揮発メモリであって、前に記憶されたMTF
値を計算値と比較するために用いられるメモリと、 前記比較/記憶回路に接続された出力手段であって、実
測MTFが所定最小MTF値よりも低下したときの指示
を与えるべく作動される前記出力手段とを含む。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/433,249 US4982233A (en) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | Method and apparatus for sensing contamination within an optical scanning system |
| US433249 | 1989-11-08 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03185435A true JPH03185435A (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=23719429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2298758A Pending JPH03185435A (ja) | 1989-11-08 | 1990-11-02 | 光学走査系内汚染検知装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4982233A (ja) |
| JP (1) | JPH03185435A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3140329B2 (ja) * | 1995-06-02 | 2001-03-05 | シャープ株式会社 | 画像形成装置 |
| CN101778203B (zh) * | 2002-12-27 | 2012-06-06 | 株式会社尼康 | 图像处理装置 |
| US20080075513A1 (en) * | 2006-09-26 | 2008-03-27 | Douglas Laurence Robertson | Methods for a Maintenance Algorithm in Hand Held Printers |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55124117A (en) * | 1979-03-19 | 1980-09-25 | Toshiba Corp | Pattern inspecting apparatus |
| US4555621A (en) * | 1983-06-24 | 1985-11-26 | Xerox Corporation | Illumination control system utilizing an integrating feedback detector |
| JPS6316761A (ja) * | 1986-02-24 | 1988-01-23 | Konica Corp | 画像読取装置 |
| JPS62200342A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-04 | Canon Inc | 情報記録装置 |
| US4815842A (en) * | 1986-05-29 | 1989-03-28 | Acton Research Corporation | Spectrograph for evaluating contamination of optical components in space |
| JPS63263877A (ja) * | 1987-04-21 | 1988-10-31 | Konica Corp | カラ−画像形成装置 |
-
1989
- 1989-11-08 US US07/433,249 patent/US4982233A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-11-02 JP JP2298758A patent/JPH03185435A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4982233A (en) | 1991-01-01 |
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