JPH03185943A - Elimination device for narrow band interference signal - Google Patents

Elimination device for narrow band interference signal

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JPH03185943A
JPH03185943A JP1325652A JP32565289A JPH03185943A JP H03185943 A JPH03185943 A JP H03185943A JP 1325652 A JP1325652 A JP 1325652A JP 32565289 A JP32565289 A JP 32565289A JP H03185943 A JPH03185943 A JP H03185943A
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diode array
input
saw
bias
diode
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Kazuyoshi Sukai
須貝 和義
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Abstract

PURPOSE:To obtain a small sized interference wave suppression system by detecting a signal intensity of a SAW propagating in the opposite direction with a pn diode, acquiring the information of the intensity of a spectrum of an input signal and using a feedback circuit so as to implement propagation control adaptively. CONSTITUTION:A part consisting of an input transducer group 17 and a 2nd pn diode array group 20 is a part monitoring the intensity distribution of an input spectrum. Input/output transducer groups 17, 18 act like a classification filter classifying the input signal in response to the frequency, propagating and synthesizing the signals again. A 1st pn diode array group 19 on a SAW propagation line provided for each channel controls the attenuation constant of a SAW of each channel. The operation of a narrow band interference suppression filter AISF shown in figure is as follows: An input signal is subject to SAW conversion by the input transducer group 17, monitors a bias shift quantity of the 2nd pn diode array group 20 and a bias control circuit 21 controls a bias voltage of the 1st pn diode for propagation control accordingly.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はスペクトラム拡散(S S)通信方式等に好適
な狭帯域干渉信号の除去装置の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an improvement in a narrowband interference signal removal device suitable for spread spectrum (SS) communication systems and the like.

[発明の概要] SAWの伝播路に2つのダイオードアレイ群を設け、1
つのダイオードアレイ群で逆方向に伝播するSAWの信
号強度を検波して入力信号のスペクトラム強度の情報を
得ると共にこれに応じて他のダイオードアレイ群のバイ
アスを制御するようにした狭帯域干渉信号の除去装置で
ある。
[Summary of the invention] Two diode array groups are provided in the SAW propagation path, and one
A narrowband interference signal that detects the SAW signal strength propagating in the opposite direction using one diode array group to obtain information on the spectral strength of the input signal and control the bias of other diode array groups accordingly. It is a removal device.

[従来の技術] 広帯域な周波数領域を使うスペクトラム拡散(S S)
通信方式での問題点の一つに高レベルの狭帯域干渉によ
って通信不能あるいは誤り率が高くなるという問題があ
る。この問題点を解決するために弾性表面波(SAW)
を用いたフィルタが発明されている。
[Conventional technology] Spread spectrum (SS) that uses a wide frequency range
One of the problems with communication systems is that high-level narrowband interference causes communication failure or high error rates. To solve this problem, surface acoustic waves (SAW)
A filter using a filter has been invented.

本発明者等は、上記問題を解消する手段として、先に特
願昭63−180822号、特願昭63−278769
号及び特願昭63−284884号を出願している。
As a means to solve the above problem, the present inventors previously proposed Japanese Patent Application No. 63-180822 and Japanese Patent Application No. 63-278769.
No. 63-284884 has been filed.

[発明が解決しようとする課題] 上記先願発明では、未だ次のような点で改良の余地があ
る。
[Problems to be Solved by the Invention] The invention of the earlier application still leaves room for improvement in the following points.

例えば特願昭63−278769号及び特願昭63−2
84884号では狭帯域干渉抑圧の適応動作はSAW素
子に設けられたpnダイオードアレイの自己バイアス効
果を利用して行っているがこの場合、入力信号は比較的
大きなパワーを必要とする。
For example, Japanese Patent Application No. 63-278769 and Japanese Patent Application No. 63-2
In No. 84884, the adaptive operation of narrowband interference suppression is performed by utilizing the self-bias effect of a pn diode array provided in the SAW element, but in this case, the input signal requires relatively large power.

また特願昭63−180822号では適応機能を有しな
いプログラマブル・ノツチ・フィルタを用いているため
、外部回路として入力信号モニター回路及びバイアス制
御回路が必要となる。
Furthermore, since Japanese Patent Application No. 180822/1982 uses a programmable notch filter without an adaptive function, an input signal monitor circuit and a bias control circuit are required as external circuits.

また上記先願特許では、素子の動作原理上、Si基板中
の不純物濃度は低い、つまり高抵抗である必要がある。
Further, in the above-mentioned prior patent, the impurity concentration in the Si substrate needs to be low, that is, it needs to have high resistance due to the operating principle of the device.

そのため高抵抗のシリコン・エピタキシャル層の形成が
必須である。
Therefore, it is essential to form a silicon epitaxial layer with high resistance.

[発明の目的コ 本発明の目的はスペクトラム拡散通信方式等で有用な狭
帯域干渉抑圧の適応システムの高性能化を図ることであ
る。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to improve the performance of an adaptive narrowband interference suppression system useful in spread spectrum communication systems.

[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するため、第1導電型高抵抗シ
リコン基板と、絶縁膜と、圧電膜とを含む積層体と、上
記圧電体上に形成され、入力信号3− を周波数分類し複数の伝播路を発生せしめる入力トラン
スデューサと、上記圧電体上に形成され、各伝播路に伝
播された弾性表面波から出力信号を得る出力トランスデ
ューサと、上記各伝播路上に夫々対応する上記圧電体上
に形成されたゲート電極群と、上記第1導電型シリコン
基板表面側であって、各入出力トランスデューサに挟ま
れた区域に夫々形成された第1のPNダイオードアレイ
群と、上記第1導電型シリコン基板表面側であって、各
入力トランスデューサに対し、上記各第1のダイオード
アレイ群の反対側に形成された第2のPNダイオードア
レイ群と、該第2のPNダイオードアレイから夫々独立
に引き出された検出端子と、上記第1のPNダイオード
アレイから夫々独立に引き出されたバイアス印加用端子
と、を含むことを要旨とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention includes a laminate including a first conductivity type high resistance silicon substrate, an insulating film, and a piezoelectric film, and a laminate formed on the piezoelectric body, an input transducer that frequency-classifies an input signal and generates a plurality of propagation paths; an output transducer that is formed on the piezoelectric body and obtains an output signal from a surface acoustic wave propagated to each propagation path; a first PN diode array formed on the surface side of the first conductivity type silicon substrate in an area sandwiched between each input/output transducer; a second PN diode array group formed on the surface side of the first conductivity type silicon substrate and opposite to each of the first diode array groups with respect to each input transducer; The gist includes detection terminals each independently drawn out from the PN diode array, and bias application terminals each independently drawn out from the first PN diode array.

[作用] 本発明は先願特許の構成に入力信号のスペクトラム強度
をモニターする機能を付加したものである。従来の素子
では、入力トランスデューサで励4− 振される双方向に伝播するSAWのうち、一方の信号強
度を伝播路に設けたpnダイオードアレイで制御してい
た。すなわち逆方向に伝播するSAWは利用されていな
い。
[Operation] The present invention adds a function to monitor the spectrum intensity of the input signal to the configuration of the earlier patent. In conventional devices, the signal strength of one of the bidirectionally propagating SAWs excited by the input transducer is controlled by a pn diode array provided in the propagation path. That is, the SAW propagating in the opposite direction is not utilized.

本発明はこの逆方向に伝播するSAWの信号強度を、p
nダイオードで検波し、入力信号のスペクトラム強度の
情報を得て、フィードバック回路により伝播制御を実際
の使用状況にそくして、任意の電波環境に応じて適応的
に行えるよう改良したものである。
In the present invention, the signal strength of the SAW propagating in the opposite direction is
This has been improved so that the information on the spectrum intensity of the input signal is obtained by detection with an n-diode, and the propagation control can be performed adaptively according to the actual usage situation and in accordance with any radio wave environment using a feedback circuit.

また、Si基板の構成はプロセスを簡易化するために、
エピタキシャル層を形成せず、高抵抗Si基板のみの構
成である。
In addition, in order to simplify the process, the structure of the Si substrate is
This structure does not include an epitaxial layer and includes only a high-resistance Si substrate.

[実施例] 以下図面に示す一実施例を参照して本発明を説明する。[Example] The present invention will be described below with reference to an embodiment shown in the drawings.

第1図は本発明による狭帯域干渉信号の除去装置のある
一つの中心周波数をもつlチャンネル分のSAW素子の
構成を示している。
FIG. 1 shows the configuration of a SAW element for one channel having one center frequency in which there is a narrowband interference signal canceling apparatus according to the present invention.

同図において、1は高抵抗p(n)Si単結晶基板、2
はその基板上に形成された熱酸化膜層、3はその熱酸化
膜層上に形成されたZnO圧電薄膜、4,5.6はその
上に形成された金属電極で各々入力用表面波櫛形トラン
スデユーサ、出力用表面波櫛形トランスデユーサ及びゲ
ート電極である。
In the figure, 1 is a high resistance p(n) Si single crystal substrate, 2
is a thermal oxide film layer formed on the substrate, 3 is a ZnO piezoelectric thin film formed on the thermal oxide film layer, and 4, 5.6 are metal electrodes formed thereon, each having a surface wave comb shape for input. A transducer, an output surface wave comb transducer, and a gate electrode.

7はトランスデユーサの金属電極下のp (n)型Si
内に形成された高濃度不純物拡散領域であり、トランス
デユーサの励振効率を向上させる役目を果たすものであ
る。 8はゲート電極6の下のp (n)型Si基板1
内に形成されたn” (p”)不純物拡散領域であり、
9はゲート電極6の下のp(n)型Si基板l内に形成
されたp” (n”)不純物拡散領域であり、SAW伝
播路にそって第1のpnダイオードアレイが形成されて
いる。このpnダイオードアレイの動作は先願特許で示
したように、ダイオードバイアスの制御でシリコン基板
内のキャリア密度が制御され、SAWとキャリアとの相
互作用によりSAWの減衰定数を100d B / c
m以上も大きく変化させる役目を果たしている。つまり
チャンネルのオン・オフを高速に行う機能がある。10
は入力トランスデューサの外側のp(n)型Si基板1
内に形成されたn(p)不純物拡散領域であり、第2の
pnダイオードアレイが形成される。11はpnダイオ
ードアレイに接続された抵抗、12はDC電源である。
7 is p (n) type Si under the metal electrode of the transducer.
This is a high-concentration impurity diffusion region formed within the transducer, and serves to improve the excitation efficiency of the transducer. 8 is a p (n) type Si substrate 1 under the gate electrode 6
an n” (p”) impurity diffusion region formed within the
9 is a p''(n'') impurity diffusion region formed in the p(n) type Si substrate l below the gate electrode 6, and a first pn diode array is formed along the SAW propagation path. . As shown in the prior patent, the operation of this pn diode array is such that the carrier density in the silicon substrate is controlled by controlling the diode bias, and the interaction between the SAW and the carriers increases the attenuation constant of the SAW to 100 dB/c.
It also plays a role in significantly changing the amount by more than m. In other words, it has the ability to turn channels on and off quickly. 10
is the p(n) type Si substrate 1 outside the input transducer.
an n(p) impurity diffusion region formed within the second pn diode array; 11 is a resistor connected to the pn diode array, and 12 is a DC power supply.

13は入力信号がSAWに変換され、第2のpnダイオ
ードアレイで検波された電圧信号モニタ一端子であり、
そのチャンネル(周波数範囲)内の入力信号の強度(電
力)が電圧変化として観測される端子である。14は第
1のpnダイオードアレイのバイアス制御端子である。
13 is a voltage signal monitor terminal where the input signal is converted to SAW and detected by the second pn diode array;
This is the terminal at which the strength (power) of the input signal within that channel (frequency range) is observed as a voltage change. 14 is a bias control terminal of the first pn diode array.

また、図には示していないが、先願の改良型も考えられ
る。この構造は第1図の伝播制御用の第1のpnダイオ
ードアレイの(8及び9)を入力トランスデューサ4下
にまで延長した構成で、これによりさらにフィルタ特性
が向上する。次に、本発明の第2のpnダイオードアレ
イによるSAW信号の検出機能について説明する。入力
トランスデューサ4の外側に設けられた第2のpnダイ
オードアレイ10は抵抗11を介してDC電源12でバ
イアスされている。SAWの検出感度の7− 最良バイアス点は少し順バイアスした点にある。
Although not shown in the figure, an improved version of the earlier application may also be considered. This structure has the first pn diode array (8 and 9) for propagation control shown in FIG. 1 extended to below the input transducer 4, which further improves the filter characteristics. Next, the SAW signal detection function by the second pn diode array of the present invention will be explained. A second pn diode array 10 located outside the input transducer 4 is biased via a resistor 11 with a DC power supply 12 . 7- The best bias point of SAW detection sensitivity is at a slightly forward biased point.

入力トランスデューサで変換されたSAWは第2のpn
ダイオードアレイ上を伝播しダイオード電位を空間的、
時間的に変調する。第2のpnダイオードのもつ非線形
抵抗によりSAWの信号強度に依存した直流成分が発生
し、モニタ一端子13の電位が初期のバイアス電圧から
逆バイアスへと電圧がシフトする。このシフト量が入力
信号強度に対応する。
The SAW converted by the input transducer is the second pn
Spatially propagates the diode potential on the diode array,
Modulated in time. The nonlinear resistance of the second pn diode generates a DC component that depends on the SAW signal strength, and the potential of the monitor terminal 13 shifts from the initial bias voltage to the reverse bias voltage. This shift amount corresponds to the input signal strength.

第2図に入力信号の電力とモニタ一端子のバイアスシフ
ト量の関係を示す。バイアスシフト量はSAWの電力(
入力信号電力)の2乗に比例する。
FIG. 2 shows the relationship between the input signal power and the bias shift amount of one monitor terminal. The bias shift amount is the SAW power (
It is proportional to the square of the input signal power).

このように入力トランスデューサ外側に設けたpnダイ
オードアレイによってSAWのポテンシャルが2乗検波
され、ベースバンド信号として入力信号強度が得られる
In this way, the SAW potential is square-law detected by the pn diode array provided outside the input transducer, and the input signal strength is obtained as a baseband signal.

従って各々中心周波数の異なった上述のSAW素子を複
数チャンネル並列に接続して構成することで入力信号の
周波数スペクトル強度分布の情報が容易に得られる。
Therefore, information on the frequency spectrum intensity distribution of the input signal can be easily obtained by configuring a plurality of channels of the above-mentioned SAW elements each having a different center frequency connected in parallel.

8− 第3図に上述した構造のSAW素子をnチャンネルを並
列接続して成る狭帯域干渉抑圧フィルタシステムの構成
例を示す。以後この狭帯域干渉抑圧フィルタをA I 
S F (Adaptive Interferenc
eSuppression Filter)と呼ぶこと
にする。
8- FIG. 3 shows a configuration example of a narrowband interference suppression filter system formed by connecting n channels of SAW elements having the above-described structure in parallel. From now on, this narrowband interference suppression filter will be used as A I
SF (Adaptive Interference)
This will be called eSuppression Filter).

第3図中の入力トランスデューサ群17と第2のpnダ
イオードアレイ群20で構成されている部分が、入力ス
ペクトラムの強度分布をモニター−する部分である。入
出力トランスデューサ群17.18が入力信号を周波数
に応じて分類し、伝播させて、再び合成する分類フィル
タ(sortingfilter)の機能を果たしてい
る″。
The part in FIG. 3 consisting of the input transducer group 17 and the second pn diode array group 20 is a part that monitors the intensity distribution of the input spectrum. The input/output transducers 17 and 18 function as a sorting filter that classifies input signals according to their frequencies, propagates them, and synthesizes them again.''

各チャンネル毎に設けられたSAW伝播路上の第1のp
nダイオードアレイ群19が各チャンネルのSAWの減
衰定数を制御する。
The first p on the SAW propagation path provided for each channel
An n-diode array group 19 controls the attenuation constant of the SAW of each channel.

第3図のAl5Fシステムの動作は次の通りである。入
力信号が入力トランスデューサ群17でSAWに変換さ
れ、第2のpnダイオードアレイ群20のバイアスシフ
ト量をモニターしてそれに応じて、伝播制御用の第1の
pnダイオードのバイアスミ圧をバイアス制御回路2工
が制御する。
The operation of the Al5F system of FIG. 3 is as follows. The input signal is converted into SAW by the input transducer group 17, and the bias shift amount of the second pn diode array group 20 is monitored and the bias voltage of the first pn diode for propagation control is adjusted by the bias control circuit 2. controlled by the engineer.

このバイアス制御回路21の機能は、各チャンネルの信
号強度に応じた第2のpnダイオード20のバイアスシ
フト量を増幅し、シフト量が大きいチャンネルのpnダ
イオード19のバイアスを逆方向にバイアスすることで
ある。または、単に増幅するだけでなく、あるしきい値
を設定して、比較器により第Iのpnダイオード19の
バイアスをON(順方向バイアス)、0FF(逆方向バ
イアス)する機能を有する。
The function of this bias control circuit 21 is to amplify the bias shift amount of the second pn diode 20 according to the signal strength of each channel, and bias the pn diode 19 of the channel with a large shift amount in the opposite direction. be. Alternatively, in addition to simply amplifying, it has a function of setting a certain threshold value and turning on (forward bias) or OFF (reverse bias) the bias of the I-th pn diode 19 using a comparator.

第1図、第3図をみるとわかるように、第3図のAl5
Fシステムは同−Si基板上にモノリシックに集積でき
る利点を有しており、システムの高性能化と共に小型化
も図れる。
As you can see from Figures 1 and 3, Al5 in Figure 3
The F system has the advantage of being able to be monolithically integrated on the -Si substrate, making it possible to achieve higher performance and smaller size of the system.

第4図はAl5Fシステムの信号処理の流れを説明して
いる。(a)は広帯域の5S−DS信号(A)に狭帯域
干渉波(B、C)が加わった入力信号スペクトルを示し
ている。
FIG. 4 explains the flow of signal processing in the Al5F system. (a) shows an input signal spectrum in which narrowband interference waves (B, C) are added to a wideband 5S-DS signal (A).

干渉波B、Cの周波数に相当するチャンネル番号に、m
が検出されその環境に適応してAl5Fのフィルタ特性
が(b)に示すようにに、mチャンネル部にノツチが形
成された特性となる。この特性をもつAl5Fの出力信
号のスペクトラムは干渉波B、Cが抑圧されたスペクト
ラム(c)となる。
m to the channel number corresponding to the frequency of interference waves B and C.
is detected, and adapting to the environment, the filter characteristics of Al5F become characteristics in which a notch is formed in the m channel portion, as shown in (b). The spectrum of the output signal of Al5F having this characteristic becomes spectrum (c) in which the interference waves B and C are suppressed.

第5図は第3図のAl5FシステムをDS−8Sシステ
ムの受信部の入力段に組み込んだシステム構成例を示す
。Al5Fシステム30は相関器の前段に設けられ、そ
の前段にA G C(auto gaincontro
l)回路31が設けられている。 このシステムの構成
例では、Al5Fシステム30の出力をフィードバック
してAGC31により増幅器のゲイン制御が行われる。
FIG. 5 shows an example of a system configuration in which the Al5F system shown in FIG. 3 is incorporated into the input stage of a receiving section of a DS-8S system. The Al5F system 30 is provided before the correlator, and the AGC (auto gain control) is installed before the correlator.
l) A circuit 31 is provided. In this system configuration example, the output of the Al5F system 30 is fed back and the gain control of the amplifier is performed by the AGC 31.

BPF32はバインドパスフィルタである。Al5Fシ
ステムを設けないで、AGC回路を設けると大電力の狭
帯域干渉波があると、その干渉信号自体でゲイン制御を
するためDS−8S通信システムでは通信不能あるいは
誤り率の増大などの問題がおこる。しかしAl5Fシス
テム30を設けると、干渉波を抑圧した信号すなわちス
ペクトラム拡散信号自体の信号強11− 度に応じてゲイン制御が可能となりDS−8Sシステム
の機能が飛躍的に向上する。
BPF32 is a bind pass filter. If an AGC circuit is installed without installing an Al5F system, if there is a high-power narrowband interference wave, the DS-8S communication system will have problems such as inability to communicate or increased error rate because the gain will be controlled by the interference signal itself. It happens. However, when the Al5F system 30 is provided, it becomes possible to control the gain according to the signal strength of the interference wave suppressed signal, that is, the spread spectrum signal itself, and the functionality of the DS-8S system is dramatically improved.

なお、第6園長は第1図の実施例の変形例で、第2のダ
イオードアレイ10に対応してZn○圧電圧電上膜上−
ト電極6′を設けている。
The sixth diode is a modification of the embodiment shown in FIG. 1, and corresponds to the second diode array 10.
A top electrode 6' is provided.

[発明の効果コ 以上説明した通り、本発明によればAl5Fシステムと
して次のような効果が得られる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the following effects can be obtained as an Al5F system.

(1)ダイオードのバイアス制御でフィルタのノツチ特
性を制御するため応答時間が極めて速い。
(1) The response time is extremely fast because the notch characteristics of the filter are controlled by diode bias control.

(2)入力信号のスペクトルを検出してダイオードのバ
イアス制御を行うため高感度検出により、入力信号の必
要電力を小さくできる。
(2) Since the spectrum of the input signal is detected and the bias control of the diode is performed, the power required for the input signal can be reduced by high sensitivity detection.

(3)狭帯域の高レベル干渉信号の数に制限なく適応的
な抑圧が可能。
(3) Adaptive suppression is possible without any limit to the number of narrowband high-level interference signals.

(4)干渉波の適応抑圧システムがモノリシックで構成
できシステムの簡易化ならびに小型化が図れる。また素
子の生産性も良い。
(4) The adaptive suppression system for interference waves can be configured monolithically, and the system can be simplified and downsized. Furthermore, the device productivity is also good.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の実施例を示す概略図、第2図12− は上記実施例における入力信号モニタ一端子の電圧と入
力電力の関係を示す図、第3図は本発明の狭帯域干渉抑
圧をフィルタのシステム構成例を示すブロック図、第4
図は該システムの信号処理の流れを示す図、第5図は第
3図のシステムを用いたDS−8Sシステムの受信部の
一部を示すブロック図、第6図は第1図の実施例の変形
例を示す概略図である。 1・・・・・・・・・P(n)型窩抵抗SL単結晶基板
、2・・・・・・・・・シリコン酸化膜、3・・・・・
・・・・ZnO圧電薄膜、4・・・・・・・・・入力ト
ランスデューサ、5・・・・・・・・・出力トランスデ
ューサ、6,6′・・・・・・・・・ゲート電極、7・
・・・・・・・・高濃度不純物領域、8・・・・・・・
・・n+ (p + )不純物拡散領域(第1のPNダ
イオードアレイ)、9・・・・・・・・・p”(n”)
不純物拡散領域、10・・・・・・・・・n(p)不純
物拡散領域(第2のPNダイオードアレイ)、11・・
・・・・・・・抵抗、12・・・・・・・・・DC電源
、13・・・・・・・・・入力信号モニタ一端子、14
・・・・・・・・・バイアス制御端子。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 12- is a diagram showing the relationship between the voltage at one terminal of the input signal monitor and input power in the above embodiment, and FIG. 3 is a diagram showing the narrowband interference of the present invention. Block diagram showing an example of a system configuration of a filter for suppression, No. 4
5 is a block diagram showing a part of the receiving section of the DS-8S system using the system shown in FIG. 3, and FIG. 6 is an example of the embodiment shown in FIG. 1. It is a schematic diagram showing a modification of . 1...P(n) type cavity resistor SL single crystal substrate, 2...Silicon oxide film, 3...
...ZnO piezoelectric thin film, 4...Input transducer, 5...Output transducer, 6,6'...Gate electrode, 7.
......High concentration impurity region, 8...
...n+ (p+) impurity diffusion region (first PN diode array), 9...p"(n")
Impurity diffusion region, 10......n(p) impurity diffusion region (second PN diode array), 11...
......Resistor, 12...DC power supply, 13...Input signal monitor terminal, 14
......Bias control terminal.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)第1導電型高抵抗シリコン基板と、絶縁膜と、圧
電膜とを含む積層体と、 上記圧電体上に形成され、入力信号を周波数分類し複数
の伝播路を発生せしめる入力トランスデューサと、 上記圧電体上に形成され、各伝播路に伝播された弾性表
面波から出力信号を得る出力トランスデューサと、 上記各伝播路上に夫々対応する上記圧電体上に形成され
たゲート電極群と、 上記第1導電型シリコン高抵抗基板表面側であって、各
入出力トランスデューサに挟まれた区域に夫々形成され
た第1のPNダイオードアレイ群と、 上記第1導電型シリコン高抵抗基板表面側であって、各
入力トランスデューサに対し、上記各第1のダイオード
アレイ群の反対側に形成された第2のPNダイオードア
レイ群と、 該第2のPNダイオードアレイから夫々独立に引き出さ
れた検出端子と、 上記第1のPNダイオードアレイから夫々独立に引き出
されたバイアス印加用端子と、を含むことを特徴とする
狭帯域干渉信号の除去装置。
(1) A laminate including a first conductivity type high-resistance silicon substrate, an insulating film, and a piezoelectric film, and an input transducer formed on the piezoelectric material to classify input signals into frequencies and generate a plurality of propagation paths. , an output transducer formed on the piezoelectric body and obtaining an output signal from a surface acoustic wave propagated on each propagation path; a group of gate electrodes formed on the piezoelectric body corresponding to each of the propagation paths; a first PN diode array group formed on the surface side of the first conductivity type silicon high resistance substrate in an area sandwiched between each input/output transducer; and for each input transducer, a second PN diode array group formed on the opposite side of each of the first diode array groups, and detection terminals each independently drawn out from the second PN diode array, A narrowband interference signal removal device comprising: bias application terminals each independently drawn out from the first PN diode array.
(2)上記バイアス印加用端子に印加されるバイアス電
圧を制御するバイアス制御回路を備えたことを特徴とす
る請求項(1)に記載の狭帯域干渉信号の除去装置。
(2) The narrowband interference signal removal device according to claim (1), further comprising a bias control circuit that controls a bias voltage applied to the bias application terminal.
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