JPH03186701A - ノギス用測定補助具 - Google Patents
ノギス用測定補助具Info
- Publication number
- JPH03186701A JPH03186701A JP32697889A JP32697889A JPH03186701A JP H03186701 A JPH03186701 A JP H03186701A JP 32697889 A JP32697889 A JP 32697889A JP 32697889 A JP32697889 A JP 32697889A JP H03186701 A JPH03186701 A JP H03186701A
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- JP
- Japan
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- dimension
- corner
- measured
- measuring
- magnet
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- Pending
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概 要〕
ノギス用測定補助具に関し、
面取りの有るかどからの寸法を容易かつ正確に測る測定
方法を提供することを目的とし、直角り形断面で所定厚
の金属ブロックで、垂直な端面の内かどを直交原点に寸
法目盛が設けられ、金属ブロックの内側の一面に若干の
隙間を設けて磁石が交換自在に埋設してあり、被測定物
の面取りされたかどに内側二面を密接吸着させ、かどか
らの寸法を金属ブロックの外面からの寸法として容易に
測定し、且つ、かどの面取り寸法を寸法目盛で直読する
ように構成する。
方法を提供することを目的とし、直角り形断面で所定厚
の金属ブロックで、垂直な端面の内かどを直交原点に寸
法目盛が設けられ、金属ブロックの内側の一面に若干の
隙間を設けて磁石が交換自在に埋設してあり、被測定物
の面取りされたかどに内側二面を密接吸着させ、かどか
らの寸法を金属ブロックの外面からの寸法として容易に
測定し、且つ、かどの面取り寸法を寸法目盛で直読する
ように構成する。
本発明は、ノギス用測定補助具に関する。
構造部材には寸法検査を欠くことが出来ない。
この検査のための寸法測定は、一般にノギスやマイクロ
メータで直接測定するが、困難な場合は汎用の補助具で
測る間接測定等が用いられるが、何れも容易かつ正確に
測定し、効率を上げることが望まれる。
メータで直接測定するが、困難な場合は汎用の補助具で
測る間接測定等が用いられるが、何れも容易かつ正確に
測定し、効率を上げることが望まれる。
[従来の技術]
第2図に従来の一例の寸法測定方法を示す。
従来の一例として、面取りを行ったかどを基準としての
寸法測定は、立体構造部材では必ず行われる極めて繁多
な測定である。
寸法測定は、立体構造部材では必ず行われる極めて繁多
な測定である。
しかし第2図(a)〜(b)に示す如く、何れもかど9
5゜96から寸法Hの位置に中心の有るH2φの孔の測
定であり、被測定物85.86のかど95.96にC面
取り或いはR面取りが有るために、ノギス7の測定先端
71をかど95,96の面に当てることが出来ない。
5゜96から寸法Hの位置に中心の有るH2φの孔の測
定であり、被測定物85.86のかど95.96にC面
取り或いはR面取りが有るために、ノギス7の測定先端
71をかど95,96の面に当てることが出来ない。
図(a)は、補助のストレートエツジ15をかど95に
密着させてかど面を延長作威し、ストレートエ・ンジ1
5の面に一端を当てて孔縁までの寸法H3を測定し、更
に、孔径H2を測り、寸法 H−Hi H2/2とし
て算出する。
密着させてかど面を延長作威し、ストレートエ・ンジ1
5の面に一端を当てて孔縁までの寸法H3を測定し、更
に、孔径H2を測り、寸法 H−Hi H2/2とし
て算出する。
図(b)は、ノギス7を傾けてかど96の縁部と孔縁と
の寸法H4を測定し、更に、H2を測り、寸法H= H
4+ Hz/2 で算出する。
の寸法H4を測定し、更に、H2を測り、寸法H= H
4+ Hz/2 で算出する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、
■ 図(a)の測定方法は、ストレートエツジ15の当
てかい方を強固に固定しないと、ノギス7の測定圧によ
っては測定値がばらつく恐れがある。
てかい方を強固に固定しないと、ノギス7の測定圧によ
っては測定値がばらつく恐れがある。
■ 又ストレートエツジ15の着脱に時間を要する。
■ 図(b)の場合は、ノギス7が傾斜しての測定であ
り、且つかど96の縁部が明確に判らないこともあり、
正確な寸法測定は出来ない。
り、且つかど96の縁部が明確に判らないこともあり、
正確な寸法測定は出来ない。
■ 更に、かど95,96の面取りのC寸法及びR寸法
の測定は別方法によらなければならない。
の測定は別方法によらなければならない。
等の問題点がある。
本発明は、かかる問題点に鑑みて、面取りの有るかどか
らの寸法を容易かつ正確に測る測定方法を提供すること
を目的とする。
らの寸法を容易かつ正確に測る測定方法を提供すること
を目的とする。
〔課題を解決するための手段]
上記問題点は、第1図に示す如く、
直角り形断面で所定厚の金属ブロック2で、垂直な端面
3の内かど4を直交原点として寸法目盛5が設けられ、
金属ブロック2の内側の一面に若干の隙間を設けて磁石
6が交換自在に埋設してあり、被測定物8の面取りされ
たかど9に内側二面を密接吸着させ、かど9からの寸法
を金属ブロック2の外面からの寸法として容易に測定し
、且つ、かど9の面取り寸法を寸法目盛5で直読する、
本発明のノギス用測定補助具lにより解決される。
3の内かど4を直交原点として寸法目盛5が設けられ、
金属ブロック2の内側の一面に若干の隙間を設けて磁石
6が交換自在に埋設してあり、被測定物8の面取りされ
たかど9に内側二面を密接吸着させ、かど9からの寸法
を金属ブロック2の外面からの寸法として容易に測定し
、且つ、かど9の面取り寸法を寸法目盛5で直読する、
本発明のノギス用測定補助具lにより解決される。
即ち、埋設した磁石6により、被測定物8のかど9に金
属ブロック2が密接に吸着し、しかもその外面をノギス
7の測定先端71に当てて測るので、測定力により金属
ブロック2が微動することなく、正確に測れ、所定厚の
値を引けば真値が得られる。
属ブロック2が密接に吸着し、しかもその外面をノギス
7の測定先端71に当てて測るので、測定力により金属
ブロック2が微動することなく、正確に測れ、所定厚の
値を引けば真値が得られる。
更に、端面3の内かど4の寸法目盛5により、かど9の
C寸法やR寸法を直読することが出来る。
C寸法やR寸法を直読することが出来る。
又、本測定補助具1の着脱は、磁石6の吸着によるので
大抵の鉄構造部材に使用出来、任意の位置に簡単かつ速
やかに着脱することが可能であるが、特殊な鉄合金材料
で通常磁力では吸着が弱い場合には、磁石6を強力なも
のと取替えられるよう交換可能に埋設している。
大抵の鉄構造部材に使用出来、任意の位置に簡単かつ速
やかに着脱することが可能であるが、特殊な鉄合金材料
で通常磁力では吸着が弱い場合には、磁石6を強力なも
のと取替えられるよう交換可能に埋設している。
かくして、面取りの有るかどからの寸法を容易かつ正確
に測る測定方法を提供するが可能となる。
に測る測定方法を提供するが可能となる。
以下図面に示す実施例によって本発明を具体的に説明す
る。全図を通し同一符号は同一対象物を示す。第1図(
a)に本発明の一実施例の測定補助具の斜視図、同図(
b)に同使用例を示す。
る。全図を通し同一符号は同一対象物を示す。第1図(
a)に本発明の一実施例の測定補助具の斜視図、同図(
b)に同使用例を示す。
本実施例は電子装置の鉄構造部材の寸法検査に適用した
ものであり、被測定物は比較的に小さく、ノギスで直に
測れる大きさである。
ものであり、被測定物は比較的に小さく、ノギスで直に
測れる大きさである。
測定補助具lは、第1図(a)に示す如く、正確な厚さ
5 mmで10[[lInと30肺の直交し形断面を有
し40服長の鋼材の金属ブロック2から戒り、長さ方向
に垂直な端面3の内かど4を直交原点として寸法目盛5
が1mm単位に刻設しである。更に、長辺側の内面に1
0 X 25 X深3[1Tfflの角穴21が穿けら
れ、厚さ2.7ma+の磁石6を吸着させて埋設してあ
り、従って、内面から0.3mm沈んだ面に磁石6の面
が露出している。
5 mmで10[[lInと30肺の直交し形断面を有
し40服長の鋼材の金属ブロック2から戒り、長さ方向
に垂直な端面3の内かど4を直交原点として寸法目盛5
が1mm単位に刻設しである。更に、長辺側の内面に1
0 X 25 X深3[1Tfflの角穴21が穿けら
れ、厚さ2.7ma+の磁石6を吸着させて埋設してあ
り、従って、内面から0.3mm沈んだ面に磁石6の面
が露出している。
磁石6は、大きさにより磁力が増し、又材質種類によっ
ても磁力を増すことが可能であり、通常のものは172
以下の大きさで、これを1個使用し、必要により2個に
増やし、更に強力にするには強力な種類の磁石6に取替
えて使用する。
ても磁力を増すことが可能であり、通常のものは172
以下の大きさで、これを1個使用し、必要により2個に
増やし、更に強力にするには強力な種類の磁石6に取替
えて使用する。
この測定補助具lの使用例を説明すると、図(b)に示
す如く、被測定物8は、設計上はかど9から寸法Hの中
心位置にDφの孔が明けてあり、かど9はCXの面取り
が行われている。
す如く、被測定物8は、設計上はかど9から寸法Hの中
心位置にDφの孔が明けてあり、かど9はCXの面取り
が行われている。
この測定は、かど9に内側の二面を密着させて測定補助
具1を吸着して固定させ、ノギス7でこの外面から孔縁
までの寸法H1を測り、別に、孔径H8を測定すれば、
H=HI+ Hz/2 5 mm、D =Hz(5師は
測定補助具1の厚さ)となる。
具1を吸着して固定させ、ノギス7でこの外面から孔縁
までの寸法H1を測り、別に、孔径H8を測定すれば、
H=HI+ Hz/2 5 mm、D =Hz(5師は
測定補助具1の厚さ)となる。
尚、面取り寸法CXは、円かど4の寸法目盛5に接する
までの面取り寸法を読むことにより、面の傾き状態も含
めて検査出来る。
までの面取り寸法を読むことにより、面の傾き状態も含
めて検査出来る。
上記実施例は一例を示し、各部の形状、寸法は上記のも
のに限定するものではない。
のに限定するものではない。
かど9はC面取りであったが、R面取りの場合も全く同
しで、内かど4の寸法目盛5に接するまでの寸法がR寸
法となる。
しで、内かど4の寸法目盛5に接するまでの寸法がR寸
法となる。
[発明の効果]
以上の如く、本発明の測定補助具を用いることにより、
面取りの有るかどからの寸法を容易かつ正確に測ること
が可能となり、検査効率の向上に寄与すること極めて大
である。
面取りの有るかどからの寸法を容易かつ正確に測ること
が可能となり、検査効率の向上に寄与すること極めて大
である。
第1図は本発明の一実施例の測定補助具、第2図は従来
の一例の寸法測定方法である。 図において、 ■は測定補助具、 2金属ブロツク、3は端面、
4は内がと、5は寸法目盛、 6
は磁石、 7はノギス、 s、8s、s6は被測定物、1
5はストレートエツジ、9,95.96はかど、21は
角穴、 71は測定先端である。 (幻/C+イ屯図 本発明の一実旭イ列の50・1定神ヌカ具第 図
の一例の寸法測定方法である。 図において、 ■は測定補助具、 2金属ブロツク、3は端面、
4は内がと、5は寸法目盛、 6
は磁石、 7はノギス、 s、8s、s6は被測定物、1
5はストレートエツジ、9,95.96はかど、21は
角穴、 71は測定先端である。 (幻/C+イ屯図 本発明の一実旭イ列の50・1定神ヌカ具第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 直角■形断面で所定厚の金属ブロック(2)で、垂直な
端面(3)の内かど(4)を直交原点として寸法目盛(
5)が設けられ、該金属ブロック(2)の内側の一面に
若干の隙間を設けて磁石(6)が交換自在に埋設してあ
り、 被測定物(8)の面取りされたかど(9)に内側二面を
密接吸着させ、該かど(9)からの寸法を該金属ブロッ
ク(2)の外面からの寸法として容易に測定し、且つ、
該かど(9)の面取り寸法を該寸法目盛(5)で直読す
ることを特徴とするノギス用測定補助具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32697889A JPH03186701A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | ノギス用測定補助具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32697889A JPH03186701A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | ノギス用測定補助具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03186701A true JPH03186701A (ja) | 1991-08-14 |
Family
ID=18193931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32697889A Pending JPH03186701A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | ノギス用測定補助具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03186701A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2757940A1 (fr) * | 1996-12-31 | 1998-07-03 | Seigneurie Didier | Chercheur d'arete a angle variable |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5720603B2 (ja) * | 1974-12-11 | 1982-04-30 | ||
| JPS59131101A (ja) * | 1983-01-18 | 1984-07-27 | Sanshin Kiko:Kk | 端面ゲ−ジ |
| JPS6249704B2 (ja) * | 1981-10-30 | 1987-10-21 | Intaanashonaru Bijinesu Mashiinzu Corp |
-
1989
- 1989-12-15 JP JP32697889A patent/JPH03186701A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5720603B2 (ja) * | 1974-12-11 | 1982-04-30 | ||
| JPS6249704B2 (ja) * | 1981-10-30 | 1987-10-21 | Intaanashonaru Bijinesu Mashiinzu Corp | |
| JPS59131101A (ja) * | 1983-01-18 | 1984-07-27 | Sanshin Kiko:Kk | 端面ゲ−ジ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2757940A1 (fr) * | 1996-12-31 | 1998-07-03 | Seigneurie Didier | Chercheur d'arete a angle variable |
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