JPH03186716A - 電磁流量計 - Google Patents

電磁流量計

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JPH03186716A
JPH03186716A JP32803089A JP32803089A JPH03186716A JP H03186716 A JPH03186716 A JP H03186716A JP 32803089 A JP32803089 A JP 32803089A JP 32803089 A JP32803089 A JP 32803089A JP H03186716 A JPH03186716 A JP H03186716A
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深井 吉士
Nagaoki Kayama
長興 嘉山
Takashi Torimaru
尚 鳥丸
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、導管の中の測定流体が空になったときにこれ
を検知する電磁流量計に係り、特に各測定電極の接液抵
抗が共に大きくなっても全検知ができない領域が存在し
ないように改良された電磁流量計に関する。
〈従来の技術〉 第5図は全検知機能を持つ従来の電磁流量計の構成を示
すブロック図である。
10は内面が絶縁され測定流体Qを流すことの出来る導
管であり、この導管10には測定流体Qと接液する一対
の測定電極11a、llbが導管10とは絶縁されて固
定され、測定流体Qを接地する接液電極11cは接地点
Gに接続されている。
この測定流体Qに磁場を印加するためのwJ磁ココイル
12この導管10に近接して配置され、この励磁コイル
12には励磁回路13から励磁電流Ifが流されている
そして、これ等の導管10.励磁コイル12などにより
検出器14が構成されている。
また、測定電極11a、11bには前置増幅器15が接
続されているが、この前置増幅器15は入力端が測定電
極11a、llbに接続されたバッファ増幅器15a、
15bとこれ等の出力端が入力端に接続された差動増幅
器15cとで構成されている。さらに、これ等の測定電
極11a、11bにはダイオードD + 、D 2のカ
ソードが接続されている。これ等のダイオードDI、D
2のアノードは負電源−■にそれぞれ接続され、ダイオ
ードD+ 、D2と負電源−■により定電流回路16 
(16a、16b)が形成されている。
バッファ増幅器15bの出力端と共通電位点COMとの
間にはツェナダイオードI)ztとD22とが互いに逆
極性に直列に接続された直列回路が接続されている。
差動増幅器15cの出力端は、信号処理回路17の入力
端に接続され、信号処理回路17はこの出力端に現れる
測定電圧VM+を用いて流量信号V(lを演算して出力
端18に出力する。
また、全検知回路19は測定電圧v門1の内の測定th
極11a、llbに現れる直流電圧Ea、Ebの差に対
応する差電圧Ed+と基準電圧源20からの第1闇値電
圧VR+とを比較してその出力端21に全検知信号Ve
、を出力する。
次に、以上のように構成された電磁流量計の動作につい
て説明する。
励磁回路13からは、例えば矩形波状の励磁電流Ifが
励磁コイル12に流され、これにより測定流体Qに矩形
波状の磁場が印加される。これに伴ない測定電極11a
、llbに発生する測定電圧は前置増幅器15でインピ
ーダンス変換されてその出力端に測定電圧vr’++ 
として出力される。
次段の信号処理回路17はこの測定電圧VM1を用いて
流量演算をして出力端18に流量信号VQとして出力す
る。
一方、測定電極11a、llbにはアノードが負電源−
■に接続されたダイオードD+ 、D2によってダイオ
ードの逆方向のリーク電流による定電流回路16が形成
されているので、検出器14が空になり測定電極11a
とllbとの間の接液抵抗Ra、Rhが大きくなると測
定電極11aと11bの直流電圧Ea、Bbが大きくな
る。
差動増幅器15cはこれ等の直流電圧Ea、Ebの差を
演算してその出力端に差電圧Ed+を出力する。全検知
回路19はこの差電圧Ed+が閾値電圧VR+を越える
と、導管10の中は空と判断してその出力端21に、例
えば負に振切れる全検知信号Ve+を出力する。
〈発明か解決しようとする課題〉 しかしながら、以上のような電磁流量計は、測定t 極
11 a、llbのいずれかが非接液になったときには
上記のように正常に動作するが、接液抵抗Ra−Rbが
共に大きくなったときには、差電圧IEaBblがほぼ
セロになり空になったにも拘らず全検知回路1つは空と
判断することができない。この様な場合に備えて第5図
に示す従来の電磁流量計ではバッファ増幅器15bの出
力端と共通電位点COMとの間にツェナダイオードD2
1 とD22を互いに逆極性で直列に接続して出力制限
をし、接液抵抗Ra、Rbが共に大きくなったときにも
バッファ増幅器15a、15bの出力に差が生じ−るよ
うにしている。
しかしながら、この様な出力制限回路を設けても第6図
に示すように全検知回路19が空と判断できない領域が
生じる。
すなわち、第6図の横軸は接液抵抗Rhを、縦軸はRa
を、RはツェナタイオードDartとDi2による出力
のリミット電圧をそれぞれ示しているか、図の斜線で示
す領域では空検知をすることができない、特に、■接液
抵抗Rhが大きくなりEbの直流電位がツェナダイオー
ドD21とD22で制限されると接液抵抗R,が一定の
幅β1の範囲にあるときは空検知をすることができず、
また、■接液抵抗Ra、Rhか同時に大きくなるときの
空検知をすることができない領域が大きい、という問題
がある。
く課題を解決するための手段〉 本発明は、以上のような課題を解決するために、測定流
体の中に発生した信号電圧を一対の測定電極で検出しこ
の信号電圧を信号処理手段で信号処理を実行して流量信
号として出力する電磁流量計において、測定電極に直流
の定電流を流す定電流手段と、測定電極間に発生した直
流電圧の差を求め第1閾値と比較して測定電極の非接液
状態を検知する差判定手段と、測定電極間に発生した直
流電圧の和を求め第2閾値と比較して測定電極の非接液
状態を検知する和判定手段と、差判定手段と和判定手段
の各出力の論理和を演算する演算手段とを具備し、この
演算手段の出力により測定電極の空状態を判定するよう
にしたものである。
く作 用〉 定電流手段により測定@極に直流の定電流を流し、差判
定手段によりこの測定電極間に発生した直流電圧の差と
第1閾値とを比較して測定電極の非接液状態を検知する
さらに、和判定手段により測定電極間に発生した直流電
圧の和と第2閾値とを比較して測定電極の非接液状態を
検知する。
この後、演算手段により差判定手段と和判定手段の各出
力の論理和を演算してこの演算結果より測定流体が空に
なったか否かを判断する。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例について図を用いて説明する。第
1図は本発明の1実施例の構成を示すブロック図である
。なお、第5図に示す従来の構成と同一の機能を有する
部分については同一の符号を付して適宜にその説明を省
略する。
差動増幅器15cの出力端に発生する測定電極11a、
llbで測定された測定電圧の差に対応する測定電圧V
M2は信号処理回路17で信号処理がなされてその出力
端18に流量信号vQを出力する。
一方、全検知回路19の一方の入力端にはこの測定電圧
v閂2が、他方の入力端には基1g、電圧源20からの
第1閾値電圧VR+がそれぞれ印加されているか、空検
知回F!!619は測定電圧VM2に含まれる直流の差
電圧Ed2と第1閾値電圧vRとを比較してその出力端
に全検知信号Ve2を出力する。
また、バッファ増幅器15aの出力に現れる測定電極1
1aで測定された測定電圧と、バッファ増幅器15bの
出力に現れる測定電極11bで測定された測定重圧とは
それぞれ抵抗R1とR2を介して加算増幅器22で加算
され、その出力端に測定電極11a、llbで測定され
た測定電圧の和に対めする測定電圧vM3が発生する。
全検知回路23の一方の入力端にはこの測定電圧V門3
が、他方の入力端には基準電圧源24からの第2閾Vi
”X圧VR2がそれぞれ印加されているが、全検知回路
23は測定電圧VM3に含まれる直流の和電圧Es2と
第2閾値電圧VR2とを比較してその出力端に全検知信
号Ve3を出力する。この場合、第2閾偵電圧VR2の
値は、第1閾値電圧VR+の3〜4倍程度に設定される
25はORゲートであり、このORゲート25は全検知
信号Ve2とVe3の論理和を演算してその出力端26
に全検知信号Ve4として出力する。
次に、以上のように構成された実施例の空検知の動作に
ついて第2図に示す特性図を用いて説明する。
第2図の横軸は測定電極11bの接液抵抗Rbを、縦軸
は測定を極11aの接液抵抗11aを示す。βは第1閾
値電圧VR+、δは第2閾値電圧VR2と関連して定ま
る値である。
空検知回#119の出力に得られる差電圧Bd2に関連
する全検知信号■e2によって空検知ができる領域は、
横線によって囲まれた領域であるが、この場合、接液抵
抗RaとRbとの値の差が第1閾値電圧士VR+の幅の
中に入る不感帯β2の中にあるときはこの全検知信号v
e2により空か否かの判断ができない。
しかし、全検知回路23の出力に得られる和電圧ES3
に関連する全検知信号ve3を用いるときは縦線によっ
て囲まれる領域も空検知をすることができる。
そこで、ORゲート25でこれ等の全検知信号Ve2と
Ve3の論理和を演算して全検知信号Ve4として出力
するようにしてこの全検知信号Ve4により、δ1とδ
2を結ぶ直線で示す境界より大きな接液抵抗の部分の空
検出をしてこの領域の不感帯β2の部分を除去する。
つまり、導管10の中が空になり接液抵抗Ra、Rbの
いずれもが大きくなった全ての場合について空検知をす
ることができる。
第3図は本発明の他の実施例の構成の要部を示すブロッ
ク図である。この実施例はマイクロプロセッサを用いた
ときの構成である。
差動増幅器15cの出力端に現れている差の測定電圧V
M2と加算増幅器22の出力端に現れている和の測定電
圧VM3とはそれぞれ切換スイッチSW、の切換端に印
加され、その共通切換端からアナログ/デジタル変換器
27に切換信号が出力される。
アナログ/デジタル変換器27で測定電圧vM2とVM
2とはデジタル信号に変換され、マイクロプロセッサ2
8に出力される。マイクロプロセッサ28のメモリには
、第1閾値電圧VR+と第1r&値電圧VR2に対応す
るデータがそれぞれ格納されており、また、これ等のデ
ータを用いて空検知をする全検知回路19.23に対応
する演算およびORゲート25に対応する演算を実行す
る空検知プログラムも格納されている。そして、マイク
ロプロセッサ28はこの空検知プログラムにしたがって
これ等のデータを用いて全検知演算を実行して出力@2
6に空検知信号を出力する。流量信号についても同様に
演算して出力@18に流量信号Vcを出力する。
さらに、マイクロプロセッサ28は切換信号S、をスイ
ッチSW、に送出し、このスイッチSW1の切換を制御
する。
第4図は本発明の他の実施例の要部の構成を示すプロ・
yり図である。
この場合は、バッファ増幅器15a、15bの出力をス
イッチSW1で切り換えてアナログ/デジタル変換器2
7に出力し、これをデジタル信号に変換し、マイクロプ
ロセッサ19に出力するようにしたものである。従って
、バッファ増幅器15a、15bの出力の差をとる演算
、和をとる演算、つまり差動増幅器15c、加算増幅器
22の機能をもマイクロプロセッサで実現するようにし
たものである。この場合も、スイッチSW、を切り換え
る切換信号S2はマイクロプロセッサ29により送出さ
れる。
〈発明の効果〉 以上、実線例と共に具体的に説明したように本発明は、
各測定@極に発生した直流電圧の和と差とをそれぞれ演
算し、それぞれ閾値と比較して検出した空検知信号の論
理和を用いて空検知をするようにしたので、各測定電極
の接液抵抗が共に大きくなりかつこれ等の値が接近して
いるときでも容易に空検知をすることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の構成を示すブロック図、第
2図は第1図に示す実施例の動作を説明する特性図、第
3図は本発明の他の実施例の要部を示すブロック図、第
4図は本発明のさらに他の実施例の要部を示すブロック
図、第5図は従来の電磁流量計の構成を示すブロック図
、第6図は第5図に示す電磁流量計の動作を説明する特
性図である。 10−・・導管、lla、1 l b ・・・測定電極
、11C・・・接液電極、14・・・検出器、116a
、16 b−・・定電流回路、1路、19.23・・・
全検知回路、2 電圧源、22・・・加算増幅器、vR 圧、VR2・・・第2閾値電圧。 5・・・前置増幅器、 7・・・信号処理図 0.21・・・基準 、・・・第1閾値電

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測定流体の中に発生した信号電圧を一対の測定電極で検
    出しこの信号電圧を信号処理手段で信号処理を実行して
    流量信号として出力する電磁流量計において、前記測定
    電極に直流の定電流を流す定電流手段と、前記測定電極
    間に発生した直流電圧の差を求め第1閾値と比較して前
    記測定電極の非接液状態を検知する差判定手段と、前記
    測定電極間に発生した直流電圧の和を求め第2閾値と比
    較して前記測定電極の非接液状態を検知する和判定手段
    と、前記差判定手段と前記和判定手段の各出力の論理和
    を演算する演算手段とを具備し、この演算手段の出力に
    より前記測定電極の空状態を判定することを特徴とする
    電磁流量計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP2259028A2 (en) 2009-05-28 2010-12-08 Yokogawa Electric Corporation Electromagnetic Flow Meter
CN114341753A (zh) * 2019-08-29 2022-04-12 安赛乐米塔尔公司 边缘堆积测量

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