JPH03186954A - Address error detection system - Google Patents
Address error detection systemInfo
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- JPH03186954A JPH03186954A JP1326676A JP32667689A JPH03186954A JP H03186954 A JPH03186954 A JP H03186954A JP 1326676 A JP1326676 A JP 1326676A JP 32667689 A JP32667689 A JP 32667689A JP H03186954 A JPH03186954 A JP H03186954A
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- data
- bit
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
メモリからリードするデータのアドレスエラーを検出す
る7トレス工ラー検出方式に関し、ライト時に時分割す
るアドレス毎に生成したアドレスパリティビットおよび
データからチェックビットを生成してデータと一緒にメ
モリに書き込み、アドレス切替回路以降の故障によるア
ドレスエラーの検出を可能にすることを目的とし、デー
タをメモリにライトするアドレスについて時分割するア
1゛レス毎にアドレスバリティビ7)を生成し、これら
生成したアドレスパリティビットおよびデータからチエ
ツクピッ]・を生成して当該データと一緒にメモリにラ
イトシ、リード時に時分割するアドレス毎のアドレスパ
リティビット、およびメモリからリードしたデータ、チ
エツクヒツトをもとにアドレスエラーを検出するように
構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding the 7-trace error detection method for detecting address errors in data read from memory, check bits are generated from address parity bits and data generated for each time-divided address during writing. The purpose of this is to enable the detection of address errors due to failures in the address switching circuit and subsequent circuits.Address validation 7 is applied to each time-sharing address for writing data to memory. ), generates a check pin from these generated address parity bits and data, and writes it to the memory together with the data, the address parity bit for each address that is time-divided during reading, the data read from memory, and the check hit. Configure to detect address errors based on .
本発明は、メモリからり一1゛するデータの71′レス
エラーを検出するアドレスエラー検出方式↓こ関するも
のである。The present invention relates to an address error detection method for detecting a 71' error in data being retrieved from a memory.
〔従来の技術と発明が解決しようとする課題〕従来、デ
ータをメモリにライ(・する場合、データnビットにア
ドレスパリティビットを1ビット足した(n+1)ビッ
トからヂエノクビソl〜(mビット)を生威し、データ
nビットおよびチェックビット(mビット)を−祐にし
た(n十m)ビットをライトする。リ−1゛する場合、
メモリからリードしたデータnビットおよびチェックビ
ット(mビット)、更にり一1゛シようとするアドレス
のアドレスパリティビットを1ヒツト足した(n+m+
1)ビットからシンドロームコード表を参照してシンド
ロームコードを生成する。この際、ライトしようとした
アドレスと違う71ルスにデータをライトしたり、リー
ドしようとしたアドレスと違うアドレスからり一1″シ
たりした場合、上記生成したシンドロームコードから求
めたメモリライト時のアドレスパリティと、メモリリー
ド時のアドレスパリティとが異なるので、容易にアドレ
スエラーを検出することができる。[Prior art and problems to be solved by the invention] Conventionally, when writing data to a memory, data is written from (n+1) bits (n data bits plus one address parity bit) to (m bits). Write the data (n bits) and check bits (m bits) to -1 (n m) bits.
Add 1 bit of data read from memory, check bit (m bit), and address parity bit of the address to be read (n+m+
1) Generate a syndrome code from the bits by referring to the syndrome code table. At this time, if data is written to a different address than the address you tried to write to, or if data is written to a different address than the address you tried to read from, the address at the time of memory write determined from the syndrome code generated above. Since the parity is different from the address parity at the time of memory read, address errors can be easily detected.
しかし、アドレスを上位アドレスと下位アドレスとに分
割して供給してデータをライト/ジー1゛するDRAM
の場合、上位アドレスおよび下位アドレスに切り替える
切替回路以降で故障が発生したときにアドレスパリティ
エラーを検出し得ないという問題がある。例えば行アド
レスX“00”がX“01”になり、列アドレスX“0
0”がX“01”になり、正しいアドレスX“0000
”番地の代わりに間違ったアドレスX“0101”番地
がリードされてしまっても、アドレスパリティは両者と
もに同しであるので、アドレスエラを検出し得ないとい
う問題がある。However, a DRAM that writes data by dividing the address into an upper address and a lower address and supplying it
In this case, there is a problem that an address parity error cannot be detected when a failure occurs after the switching circuit that switches between the upper address and the lower address. For example, row address X “00” becomes X “01”, column address X “0”
0” becomes X“01” and the correct address is X“0000”
Even if the wrong address X "0101" is read instead of address "0101", there is a problem in that the address error cannot be detected because both address parities are the same.
本発明は、ライト時に時分割するアドレス毎に生威した
アドレスパリティビットおよびデータからチェックビッ
トを生成してデータと一緒にメモリに書き込み、アドレ
ス切替回路以降の故障によるアドレスエラーの検出を可
能にすることを目的としている。The present invention generates a check bit from the address parity bit and data generated for each time-divided address during writing and writes it into memory together with the data, making it possible to detect address errors due to failures in the address switching circuit or later. The purpose is to
第1図を参照して課題を解決する手段を説明する。 Means for solving the problem will be explained with reference to FIG.
第1図において、アドレスパリティ生成回路11、】−
2は、時分割するアドレス毎にアドレスパリティビット
を生成するものである。In FIG. 1, address parity generation circuit 11, ]-
2 generates an address parity bit for each address to be time-divided.
チェックビットジェネレータ2は、データおよびアドレ
スパリティビットからチェックビットを生成するもので
ある。The check bit generator 2 generates check bits from data and address parity bits.
メモリ3ば、アj゛レスを時分割して供給してブタを書
き込むメモリ (例えばDRAM)である。The memory 3 is a memory (for example, DRAM) in which addresses are supplied in a time-division manner to write data.
シンドロームジェネレータ6は、メモリ3からリードし
たデータ、チェックビット、およびリードしようとする
時分割するアドレス毎のアドレスパリティビットからシ
ンドロームコード(アドレスエラー検出などを行うコー
ド)を生成するものである。The syndrome generator 6 generates a syndrome code (a code for detecting address errors, etc.) from the data read from the memory 3, check bits, and address parity bits for each time-divided address to be read.
本発明は、第1図に示すように、ライト時にアドレスパ
リティ生成回路1−1、■−2が時分割するアドレス毎
にアドレスパリティビットを生成し、チェックビットジ
ェネレータ2がデータおよびこれらアドレスパリティビ
ットからチェックビットを生威し、メモリ3にデータお
よびこのチェックビットを一緒にライトシ、
リード時にシンドロームジェネレータ6がメモリ3から
リードしたデータ、チエツクピント、およびソー1゛シ
ようとする時分割するアドレス毎のアドレスパリティビ
ットからシンドロームコードを生威し、アドレスエラー
を検出などするようにしている。In the present invention, as shown in FIG. 1, address parity generation circuits 1-1 and 1-2 generate address parity bits for each time-divided address during writing, and a check bit generator 2 generates data and these address parity bits. Generates a check bit from memory 3 and writes the data and this check bit together to memory 3. At the time of read, syndrome generator 6 checks the data read from memory 3, checks the focus, and writes the check bit to memory 3. A syndrome code is generated from the address parity bit of the address to detect address errors.
従って、ライト時に時分割するアドレス毎に生成したア
ドレスパリティビットおよびデータからチェックビット
を生成してデータと一緒にメモリ(例えばDRAM)3
に書き込むことにより、アドレス切替回路以降の故障に
よるアドレスエラーも検出することが可能となる。Therefore, a check bit is generated from the address parity bit and data generated for each time-divided address at the time of writing, and the check bit is stored in the memory (for example, DRAM) 3 along with the data.
By writing to , it is possible to detect address errors due to failures in the address switching circuit and subsequent circuits.
次に、第1図および第2図を用いて本発明の1実施例の
構成および動作を順次詳細に説明する。Next, the configuration and operation of one embodiment of the present invention will be explained in detail using FIGS. 1 and 2.
第1図において、アドレスパリティ生成回路11.1−
2は、時分割する上位アドレス、下位アドレス毎にアド
レスパリティビットを生成するものである。In FIG. 1, address parity generation circuit 11.1-
2 generates an address parity bit for each upper address and lower address to be time-divided.
チェックビットジェネレータ2は、データおよびアドレ
スパリティビットから第2図(イ)チエツクピノトコ−
1″表を参照してチェックビット(例えば第2図(イ)
に示すCIないしC7からなる7ビソトのチェックビッ
ト)を生威するものである。The check bit generator 2 converts the data and address parity bits into the check pinpoint code shown in FIG. 2(a).
1" Refer to the table and check the check bits (for example, Fig. 2 (a)
7-bit check bits consisting of CI to C7 shown in FIG.
メモリ3ば、ア1ルスを時分割して供給してデータおよ
びチェックビットを一緒に書き込むメモリ (例えばD
RAM)である。Memory 3 is a memory (for example, D
RAM).
アドレス切り換え回路4は、ライト時/リード時にCP
Uなどから通知されたアドレスを上位アドレス(RAS
)および下位アドレス(CAS)に分割し、71ルスバ
ソファ5を介してメモリ3に順次供給するものである。The address switching circuit 4 uses CP during writing/reading.
The address notified from U etc. is the upper address (RAS).
) and lower addresses (CAS), and sequentially supply them to the memory 3 via the 71 bus sofa 5.
シンドロームジェネレータ(SG)6は、リード時に、
メモリ3からリードしたデータ、チェックビット、およ
びリードしようとするアドレスの上位アドレスのアドレ
スパリテイビット、下位71゛レスのアドレスパリティ
ビットをもとに、第2図(ロ)シンドロームコード表を
参照してシンドロームコード(例えば第2図(ロ)シン
ドロームコードS1ないしS7)を生成するものである
。The syndrome generator (SG) 6, when reading,
Based on the data read from memory 3, the check bit, the address parity bit of the upper address of the address to be read, and the address parity bit of the lower 71 address, refer to the syndrome code table in Figure 2 (b). Syndrome codes (for example, syndrome codes S1 to S7 in FIG. 2(b)) are generated using the synchronization process.
このシン1′ロームコ−1゛からアドレスエラーの検出
などを行う。Detection of address errors, etc. is performed from this system 1' roam code 1'.
データコレクタ7は、ジンドロームコ−1゛をもとにデ
ータ、アドレスパリティビットにエラーがないことを検
出したり、1ビットエラーを検出して修復したり、マル
チビットエラーを検出したりなどするものである。The data collector 7 detects whether there are any errors in data or address parity bits, detects and repairs 1-bit errors, or detects multi-bit errors based on the syndrome code 1. be.
次に、第2図を参照して具体例を説明する。Next, a specific example will be explained with reference to FIG.
(1) メモリライト時ニ
アドレスX“0101” (アドレス幅を32ビツトと
する)にライトする場合、上位アドレスX”01”のア
ドレスパリティビット“0″(奇数パリティとする、以
下同様)、および下位アドレスX“01″のアドレスパ
リティビット“0”を生成する。これら生威したアドレ
スパリティビット“OO″と、データX“ooooo。(1) When writing to the nearest address X “0101” (address width is 32 bits) during memory write, the address parity bit “0” of the upper address X “01” (assumes odd parity, the same applies hereafter), and Generate address parity bit "0" for lower address X "01". These raw address parity bits “OO” and data X “ooooo.”
00”とから第2図(イ)チェックビットコ−1表を参
照してチェックビットX“00”を生威し、データX“
oooooooo”およびこのチエツクヒツトX“00
″を一緒にメモリ3のX”0101”番地にライトする
。尚、第2図(イ)において、チェックビットCIない
しC7は、各チェックビットの行の“1゛の立っている
データビットあるいはアドレスパリティビットの部分の
値(■あるいは0)を全て取り出し、これら取り出した
全ての値ムこついて排他的論理和演算を順次行って生成
する。00", generate check bit
ooooooooo” and this check hit X “00
'' are written to address X"0101" in memory 3. In FIG. All the values (■ or 0) of the parity bit part are extracted, and an exclusive OR operation is sequentially performed on all the extracted values.
(2) リード時ニ
アドレスX“0000” (ア“ドレス幅を32ビツ
トとする)をリードする場合、上位アドレスX“00″
のアドレスパリティビット″1″(奇数パリティ)、お
よび下位アドレスX“00”のアドレスパリティビット
“1“を生成する。(2) When reading near address X “0000” (address width is 32 bits), upper address X “00”
The address parity bit "1" (odd parity) of the lower address X "00" and the address parity bit "1" of the lower address X "00" are generated.
この際、例えば第1図アドレス八ソファ5の故障により
、上位アドレスX“Ol”、下位アドレスX“01″が
メモリ3番二人力され、アドレスX“0101”番地か
ら411でライトしたデータX”oooooooo”お
よびチエツクヒツトX“00”をリードされる。このリ
ードされたチェックビットX“00″は、上位/下位の
アドレスパリテイビットがともlこ“O”のときのチエ
ツクピントであるので、これらデータX“oooo。At this time, for example, due to a failure of the address 8 sofa 5 in FIG. ooooooooo” and check hit X “00”. This read check bit X "00" is the check focus when both upper/lower address parity bits are "O", so these data X "oooo".
000″、チェックビットx”oo++、およびリード
時の7ドレスバリテイビソト“11”を第1図シンドロ
ームジェネレータ6に入力すると、シンドロームコード
は第2図(ロ)を参照してX″7E’となり、シンドロ
ームコードが0″でなく、かついずれの1ビツトエラー
(ここでは3つのビットが“1゛のとき)にも対応しな
いので、マルチビットエラーとして検出される(ここで
はアドレスの上位アドレスのパリティビットおよび下位
アドレスのパリティビットの両者のエラーとなる)。000", check bit x"oo++, and 7 address validity bit "11" when reading are input to the syndrome generator 6 in Figure 1, the syndrome code is X"7E' with reference to Figure 2 (B). Since the syndrome code is not 0'' and does not correspond to any one-bit error (in this case, when three bits are 1), it is detected as a multi-bit error (in this case, the parity of the upper address of the address is This results in an error in both the bit and the parity bit of the lower address).
以上のように、ライト時にアドレスを時分割する上位ア
ドレスおよび下位アドレス毎にアドレスパリティビット
を生成してこれらアドレスパリティビットおよびデータ
からチェックビットを生成してデータと一緒にメモリ3
に書き込み、ソー1゛時に読み出したデータ、チェック
ビット、およびリードしようとするアドレスの時分割す
るアドレス毎のアドレスパリティビットをもとにジンド
ロームコ−]゛を生威し、時分割するアドレス毎のアド
レスエラーおよびデータのエラーを検出、更に1ビツト
エラーを自動修復することにより、アドレスを時分割し
てメモリ3に書き込む場合のアドレス切り換え回路4以
降の故障によるアドレスエラーも検出することが可能と
なる。As described above, address parity bits are generated for each upper address and lower address that time-divide addresses during writing, check bits are generated from these address parity bits and data, and the check bits are sent to the memory 3 along with the data.
Generates a syndrome code based on the data read at the time of reading, the check bit, and the address parity bit for each time-divided address of the address to be read, and generates an address for each time-divided address. By detecting errors and data errors and automatically repairing 1-bit errors, it is also possible to detect address errors due to failures in the address switching circuit 4 and subsequent parts when writing addresses to the memory 3 in a time-divided manner.
第2図(イ)は、チェックビットコード表例を示す。こ
こで、データ欄のOないし31はライトしようとするデ
ータのOビットないし31ビツトを表し、データ欄のP
l、P2はライトしようと1■
するアドレスの上位アトルスのアドレスパリテイビット
、下位アドレスのアドレスパリティビットを表す。C1
ないしC7は、7ビントのチエツクコードを表す。これ
ら各チエツクコードCIないしC7の値は、各行の“1
″が立っているデータあるいばテ1゛レスパリティビッ
トの部分の値(Oあるいは])を全て取り出し、これら
取り出した値の排他的論理和演算を順次行った結果であ
る。FIG. 2(A) shows an example of a check bit code table. Here, O to 31 in the data column represent O bits to 31 bits of the data to be written, and P in the data column
1 and P2 represent the address parity bit of the upper atlas and the address parity bit of the lower address of the address to be written. C1
to C7 represent a 7-bint check code. The value of each of these check codes CI to C7 is “1” in each row.
This is the result of extracting all the data in which `` is set, or in other words, the values (O or ]) of the cell parity bit part, and sequentially performing an exclusive OR operation on these extracted values.
例えばチエツクコードC1を求める場合、(1)行の“
′1゛が立っているデータの4.6.7・・・Plまで
の13ビツトの値を全て取り出す。(2)これら取り出
した全ての値について排他的論理和演算を順次行い、そ
の結果をチエツクコードC1として求める。For example, when finding the check code C1, “
All 13-bit values from 4.6.7...Pl of the data where '1' is set are extracted. (2) Sequentially perform exclusive OR operations on all these retrieved values, and obtain the result as check code C1.
第2図(r3)は、シンドロームコード表例を示す。こ
こで、データ欄の0ないし31はメモリ3からリードし
たデータのOビ・y l□ないし31ビットを表し、デ
ータ欄のPl、P2はリードしようとするアドレスの上
位アドレスのアドレスパリティビット、下位アドレスの
アドレスパリティピッ2
トを表し、C1ないしC7はメモリ3からリードした7
ビツトのチエツクコードを表す。縦方向の31ないしS
7は、シンドロームコードを表す。FIG. 2 (r3) shows an example of a syndrome code table. Here, 0 to 31 in the data column represent bits 0 to 31 of the data read from memory 3, and Pl and P2 in the data column are the address parity bit of the upper address of the address to be read, and the lower It represents the address parity pit 2 of the address, and C1 to C7 are the 7 bits read from memory 3.
Represents the bit check code. Vertical 31 to S
7 represents a syndrome code.
これら各シンドロームコードS1ないしS7の値は、各
行の“1”が立っているデータ、アドレスパリティビッ
ト、チエツクコードの部分の値(0あるいは1)を全て
取り出し、これら取り出した値の排他的論理和演算を順
次行った結果である。The value of each of these syndrome codes S1 to S7 is obtained by extracting all the values (0 or 1) of the data, address parity bit, and check code part of each row in which "1" is set, and then using the exclusive OR of these extracted values. This is the result of sequential calculations.
尚、シンドロームコードS1ないしS7が全て0のとき
は、エラーなし。また、シンドロームコードS1ないし
S7のうちの任意の3ビツトが“l”の場合、これら3
ビツトの“■゛が立っているデータ0ないし31、Pl
、P2のうちの該当するものが1ビツトエラーと判明し
、自動修復する。これら以外の場合には、2ビツト以上
のエラー(マルチビットエラー)として検出する。In addition, when syndrome codes S1 to S7 are all 0, there is no error. Furthermore, if any three bits of syndrome codes S1 to S7 are “l”, these three bits are “l”.
Bit “■” stands for data 0 to 31, Pl
, P2 is found to be a 1-bit error, and is automatically repaired. In cases other than these, it is detected as an error of 2 or more bits (multi-bit error).
以上説明したように、本発明によれば、ライト時に時分
割するアドレス毎に生成したアドレスパリティビットお
よびデータからチェックビットを生成してデータと一緒
にメモリ (例えばDRAM)3に書き込む構成を採用
しているため、アドレス切替回路以降の故障によるアド
レスエラーもリード時に検出することができる。As described above, according to the present invention, a configuration is adopted in which a check bit is generated from the address parity bit and data generated for each time-divided address during writing, and is written to the memory (for example, DRAM) 3 together with the data. Therefore, address errors due to failures in the address switching circuit and subsequent circuits can also be detected during reading.
第1図は本発明の1実施例構成図、第2図は本発明に係
るコード表例を示す。
図中、1−1.1−2はアドレスパリティ生成回路、2
はチェックビットジェネレータ、3はメモリ、4はアド
レス切り換え回路、5はアドレスバッファ、GばシンI
’ロームジェネレータ、7ばデータコレクタを表す。FIG. 1 shows a configuration diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows an example of a code table according to the present invention. In the figure, 1-1.1-2 is an address parity generation circuit;
is a check bit generator, 3 is a memory, 4 is an address switching circuit, 5 is an address buffer, and G is a sink I.
'Roam generator, 7 represents data collector.
Claims (1)
るアドレスエラー検出方式において、データをメモリに
ライトするアドレスについて時分割するアドレス毎にア
ドレスパリテイビットを生成し、これら生成したアドレ
スパリテイビットおよびデータからチェックビットを生
成して当該データと一緒にメモリにライトし、 リード時に時分割するアドレス毎のアドレスパリテイビ
ット、およびメモリからリードしたデータ、チェックビ
ットをもとにアドレスエラーを検出するように構成した
ことを特徴とするアドレスエラー検出方式。[Claims] In an address error detection method for detecting address errors in data read from memory, address parity bits are generated for each time-sharing address for writing data to memory, and the generated address parity bits are Generates a check bit from the data and data and writes it to memory together with the data, and detects address errors based on the address parity bit for each address that is time-divided during reading, the data read from memory, and the check bit. An address error detection method characterized by being configured to detect an address error.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1326676A JPH03186954A (en) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | Address error detection system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1326676A JPH03186954A (en) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | Address error detection system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03186954A true JPH03186954A (en) | 1991-08-14 |
Family
ID=18190414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1326676A Pending JPH03186954A (en) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | Address error detection system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03186954A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6742159B2 (en) | 2000-06-22 | 2004-05-25 | Fujitsu Limited | Address parity error processing method, and apparatus and storage for the method |
| US7203890B1 (en) * | 2004-06-16 | 2007-04-10 | Azul Systems, Inc. | Address error detection by merging a polynomial-based CRC code of address bits with two nibbles of data or data ECC bits |
| JP2024029084A (en) * | 2018-04-10 | 2024-03-05 | インフィニオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト | Error detection using group errors |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5771599A (en) * | 1980-10-22 | 1982-05-04 | Fujitsu Ltd | Address error detection system |
-
1989
- 1989-12-15 JP JP1326676A patent/JPH03186954A/en active Pending
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| JP2024029084A (en) * | 2018-04-10 | 2024-03-05 | インフィニオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト | Error detection using group errors |
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