JPH03189660A - 画像作成装置 - Google Patents
画像作成装置Info
- Publication number
- JPH03189660A JPH03189660A JP1328217A JP32821789A JPH03189660A JP H03189660 A JPH03189660 A JP H03189660A JP 1328217 A JP1328217 A JP 1328217A JP 32821789 A JP32821789 A JP 32821789A JP H03189660 A JPH03189660 A JP H03189660A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- photoreceptor
- correction electrode
- surface potential
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
- Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は複写機、レーザープリンタ等の電子写真プロセ
スを有する画像作成装置に関し、特に感光体の表面電位
の制御に係る。
スを有する画像作成装置に関し、特に感光体の表面電位
の制御に係る。
(従来の技術)
第3図に例示する画像作成装置において、感光体1の表
面電位のバラツキに起因する顕画像の濃度バラツキを防
止するために、感光体の表面電位を電位計プローブ2で
測定して、表面電位が所定値となるように帯電チャージ
ャ3による帯電量、あるいはレーザーダイオード(LD
)ユニット4による露光量(レーザ光り、、)を制御し
ていた。この場合、電位計プローブは通常、温度等の環
境変化によって、0点変動およびゲイン変動が生じ易く
、感光体表面電位を正確に測定できないことがある。
面電位のバラツキに起因する顕画像の濃度バラツキを防
止するために、感光体の表面電位を電位計プローブ2で
測定して、表面電位が所定値となるように帯電チャージ
ャ3による帯電量、あるいはレーザーダイオード(LD
)ユニット4による露光量(レーザ光り、、)を制御し
ていた。この場合、電位計プローブは通常、温度等の環
境変化によって、0点変動およびゲイン変動が生じ易く
、感光体表面電位を正確に測定できないことがある。
そこで、感光体の表面電位を測定する前に、電位計プロ
ーブを補正する手段をもつ画像作成装置が提案されてい
る(特開昭63−133164号)。
ーブを補正する手段をもつ画像作成装置が提案されてい
る(特開昭63−133164号)。
(発明が解決しようとする課題)
感光体1の表面電位を測定し、その値に基づいて感光体
の表面電位を制御する場合、従来技術に示されたように
一般に電位計プローブ2の表面に付着したトナー等によ
るオフセット量を補正電極5を用いて測定し、その値と
測定した感光体1の表面電位から正確な感光体1の表面
電位を算出し、その値で上記電位制御を行なう6 このときの電位測定手段が振動容量型電位計プローブを
用いたものであり、被測定電位を該プローブ自身にフィ
ードバックして被測定電位とプローブ自身を同電位にす
ることにより被検知面と電位計プローブとの距離に対す
る依存性を打ち消す距離補正回路を備えたものは、トナ
ーと感光体1の表面電位が同極性であるプロセスのとき
、トナーがプローブ表面に付着すると、上記補正電極が
0焦電位としたときに、その検出される0焦電位がプロ
ーブ自身に比べて感光体1の表面電位が逆極性側になる
ため検出されるオフセット量が感光体1の表面電位と逆
の極性になる。
の表面電位を制御する場合、従来技術に示されたように
一般に電位計プローブ2の表面に付着したトナー等によ
るオフセット量を補正電極5を用いて測定し、その値と
測定した感光体1の表面電位から正確な感光体1の表面
電位を算出し、その値で上記電位制御を行なう6 このときの電位測定手段が振動容量型電位計プローブを
用いたものであり、被測定電位を該プローブ自身にフィ
ードバックして被測定電位とプローブ自身を同電位にす
ることにより被検知面と電位計プローブとの距離に対す
る依存性を打ち消す距離補正回路を備えたものは、トナ
ーと感光体1の表面電位が同極性であるプロセスのとき
、トナーがプローブ表面に付着すると、上記補正電極が
0焦電位としたときに、その検出される0焦電位がプロ
ーブ自身に比べて感光体1の表面電位が逆極性側になる
ため検出されるオフセット量が感光体1の表面電位と逆
の極性になる。
この場合、電位測定手段が両極性測定可能なものであれ
ば問題はないが、片極性のものである場合、被測定表面
電位と逆極性のオフセット量は測定できず正確なオフセ
ット量補正ができないという欠点があった。また両極性
の電位測定手段は高価であるという欠点があった。
ば問題はないが、片極性のものである場合、被測定表面
電位と逆極性のオフセット量は測定できず正確なオフセ
ット量補正ができないという欠点があった。また両極性
の電位測定手段は高価であるという欠点があった。
(発明の目的)
そこで本発明は、補正電極に感光体1の表面測定電位と
同極性側にアースレベルに対してある値分シフトした電
位を加え、その検出した値によりCPUにて正確なオフ
セット量を算出することにより、安価な片極性の電位測
定手段を用いても逆極性のオフセット電位を測定するこ
とを可能にすることを目的とする。
同極性側にアースレベルに対してある値分シフトした電
位を加え、その検出した値によりCPUにて正確なオフ
セット量を算出することにより、安価な片極性の電位測
定手段を用いても逆極性のオフセット電位を測定するこ
とを可能にすることを目的とする。
(構成および作用)
本発明は上記目的を達成するため、感光体の表面電位を
測定し、その結果に基づいて前記感光体の表面電位を制
御する画像作成装置において、前記感光体の表面電位を
測定する電位測定手段のオフセット量を、基準となる補
正電極を用いて検知する手段を備え、その補正電極には
感光体表面測定電位と同極性側にアースレベルに対して
ある値分シフトした補正電極電位を加えることを特徴と
する。
測定し、その結果に基づいて前記感光体の表面電位を制
御する画像作成装置において、前記感光体の表面電位を
測定する電位測定手段のオフセット量を、基準となる補
正電極を用いて検知する手段を備え、その補正電極には
感光体表面測定電位と同極性側にアースレベルに対して
ある値分シフトした補正電極電位を加えることを特徴と
する。
本発明は通常のプロセス状態においては、帯電チャージ
ャによる帯電後、露光された部分の感光体の表面電位と
、露光されなかった部分の感光体の表面電位の夫々を所
定のタイミングで電位測定手段により検知し、夫々の検
知電位に対しオフセット補正(オフセット量は別のタイ
ミングで検知する)を行ない、補正後の電位に基づいて
帯電チャージャ電圧及びLD電流を制御して、感光体表
面が夫々所定の電位に保たれるようプロセス制御が行な
われる。
ャによる帯電後、露光された部分の感光体の表面電位と
、露光されなかった部分の感光体の表面電位の夫々を所
定のタイミングで電位測定手段により検知し、夫々の検
知電位に対しオフセット補正(オフセット量は別のタイ
ミングで検知する)を行ない、補正後の電位に基づいて
帯電チャージャ電圧及びLD電流を制御して、感光体表
面が夫々所定の電位に保たれるようプロセス制御が行な
われる。
(実施例)
第1図及び第2図は本発明の一実施例を説明する機構図
を示し、第1図は前記第3図の要部側面拡大図、第2@
は第1図を上からみたオフセット量検出機構の平面図を
示す0両図において補正電極5はそのガイド部材6に沿
って矢印a方向ヘソレノイド(回路)の押引力により移
動可能に構成されている。なお、7は現像ローラであり
、その他第3図と同一数字記号は同一部材を示す。また
、補正電極5には通常、補正電極電位V、が加えられて
いない。
を示し、第1図は前記第3図の要部側面拡大図、第2@
は第1図を上からみたオフセット量検出機構の平面図を
示す0両図において補正電極5はそのガイド部材6に沿
って矢印a方向ヘソレノイド(回路)の押引力により移
動可能に構成されている。なお、7は現像ローラであり
、その他第3図と同一数字記号は同一部材を示す。また
、補正電極5には通常、補正電極電位V、が加えられて
いない。
次に本実施例の動作を説明すると1通常のプロセス状態
においては、第2図に示すように補正電極5の先端5a
は位置■にあり、電位計プローブ2の検知口2aは位置
■にあり感光体1(第1図参照)にそのまま対向し、通
常のプロセス制御を行なっている。そして、あるタイミ
ングで電位計プローブのオフセット量を検知するとき、
補正電極5はソレノイドの押引力によりガイド部材6に
沿って、その先端5aが位置◎に来るように制御される
と同時に、感光体被検知電位と同極性側にアースレベル
に対してある値分シフトした補正電極電位v0を加える
。
においては、第2図に示すように補正電極5の先端5a
は位置■にあり、電位計プローブ2の検知口2aは位置
■にあり感光体1(第1図参照)にそのまま対向し、通
常のプロセス制御を行なっている。そして、あるタイミ
ングで電位計プローブのオフセット量を検知するとき、
補正電極5はソレノイドの押引力によりガイド部材6に
沿って、その先端5aが位置◎に来るように制御される
と同時に、感光体被検知電位と同極性側にアースレベル
に対してある値分シフトした補正電極電位v0を加える
。
このとき電位計プローブ2の検知口2aは補正電極5に
位置◎で対向するので、その補正電極測定電位vlと補
正電極電位V、とから、正確なオフセット電位を図示せ
ざるマイクロコンピュータ(CPU)にて算出すること
ができる。
位置◎で対向するので、その補正電極測定電位vlと補
正電極電位V、とから、正確なオフセット電位を図示せ
ざるマイクロコンピュータ(CPU)にて算出すること
ができる。
即ち、電位計プローブオフセット量v、stは、y、、
、=V、−V、−−−−−・(t)となる。
、=V、−V、−−−−−・(t)となる。
この(1)式の算出が終了すれば、上記CPUにより補
正電極5のソレノイドの付勢を解除し1元の位置■に先
端5aは戻され、補正電極電位V、を解除する。
正電極5のソレノイドの付勢を解除し1元の位置■に先
端5aは戻され、補正電極電位V、を解除する。
次に上記オフセット量検知及び補正の数値例を下表に示
す。
す。
上記表において、補正電極5には一50Vの電位を印加
しており、第2図に示すオフセット量検知機構により、
その補正電極測定電位v1が一45Vであるとする。こ
のとき(1)式により電位計プローブ2のオフセット量
■。1は+5vであることが算出される。そして、その
後、感光体1の表面測定電位V 、 (−950V )
を検知する度に、CPUでその表面測定電位v4から、
V、、、=+5Vを常に減算することにより、正常な感
光体表面電位、つまりオフセット補正後の感光体表面電
位V4’(−955V)を算出することができる。
しており、第2図に示すオフセット量検知機構により、
その補正電極測定電位v1が一45Vであるとする。こ
のとき(1)式により電位計プローブ2のオフセット量
■。1は+5vであることが算出される。そして、その
後、感光体1の表面測定電位V 、 (−950V )
を検知する度に、CPUでその表面測定電位v4から、
V、、、=+5Vを常に減算することにより、正常な感
光体表面電位、つまりオフセット補正後の感光体表面電
位V4’(−955V)を算出することができる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明は片極性の電位測定手段を用
いても逆極性の一オフセット電位を測定することができ
るので、電位計のプローブの正確なオフセット量を簡単
でかつ安価な機構で検知することができ、それにより測
定した感光体の表面電位をオフセット補正し随時正確な
感光体表面電位を用いて前記プロセス制御を行なうこと
ができる。
いても逆極性の一オフセット電位を測定することができ
るので、電位計のプローブの正確なオフセット量を簡単
でかつ安価な機構で検知することができ、それにより測
定した感光体の表面電位をオフセット補正し随時正確な
感光体表面電位を用いて前記プロセス制御を行なうこと
ができる。
第1図及び第2図は本発明が実施される機構図を示し、
第1図は感光体、電位計プローブ、補正電極等の要部側
面図、第2図は第1図を上からみたオフセット量検出機
構の平面図、第3図は本発明が適用される一例としての
画像形成装置の要部側面図を示す。 1 ・・・感光体、 2・・・電位計プローブ、2a・
・・検知口、 3 ・・・帯電チャージャ、4 ・・・
レーザーダイオード(L D)ユニット、 5 ・・
・補正電極、 5a・・・先端部、6 ・・・ガイド部
材、 7 ・・・現像ローラ。 第1図
第1図は感光体、電位計プローブ、補正電極等の要部側
面図、第2図は第1図を上からみたオフセット量検出機
構の平面図、第3図は本発明が適用される一例としての
画像形成装置の要部側面図を示す。 1 ・・・感光体、 2・・・電位計プローブ、2a・
・・検知口、 3 ・・・帯電チャージャ、4 ・・・
レーザーダイオード(L D)ユニット、 5 ・・
・補正電極、 5a・・・先端部、6 ・・・ガイド部
材、 7 ・・・現像ローラ。 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 感光体の表面電位を測定し、その結果に基づいて前記感
光体の表面電位を制御する画像作成装置において、 前記感光体の表面電位を測定する電位測定手段のオフセ
ット量を、基準となる補正電極を用いて検知する手段を
備え、その補正電極には感光体表面測定電位と同極性側
にアースレベルに対してある値分シフトした補正電極電
位を加えることを特徴とする画像作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328217A JPH03189660A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 画像作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328217A JPH03189660A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 画像作成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189660A true JPH03189660A (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=18207758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1328217A Pending JPH03189660A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 画像作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03189660A (ja) |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1328217A patent/JPH03189660A/ja active Pending
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