JPH03255471A - 画像作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はプリンタ、複写機等の電子写真プロセスを有す
る画像作成装置に関し、特に感光体の表面電位を適正な
らしめるための電位測定に係るものである。

（従来の技術） 上記電子写真プロセスを有する画像作成装置において、
感光体の表面電位にバラツキがあるとこれに起因した顕
画像の濃度のバラツキが生ずる。

これを防止するための感光体表面電位を測定し、その測
定値に基づいて感光体の表面電位を所定値となるように
帯電量あるいは露光量を制御していた。この場合の感光
体の表面電位を制御するには、一般に電位計プローブ表
面に付着したトナー等によるオフセット量を補正電極を
用いて測定し、その値と測定した感光体表面電位から正
確な感光体表面電位を算出し、その算出値で上記電位制
御を行なっている。

（発明が解決しようとする課題） 上記感光体表面電位を測定する場合、一般に振動容量型
電位計プローブを用いることが多い。被測定電位をプロ
ーブ自身にフィードバックして被測定電位と、プローブ
自身を同電位にすることにより被検知面と電位計との距
離に対する依存性を打ち消す距離補正回路を備えたもの
である場合、トナーと感光体表面電位が同極性であるプ
ロセスのとき、トナーがプローブ表面に付着すると、距
離補正回路の補正電極のＯ点電位が、プローブ自身に比
へて感光体検知電位と逆極性となるため、検出される電
位計のオフセット量の電位が、感光体表面電位と逆の極
性になる。

この場合、電位測定手段が両極性測定可能なものであれ
ば問題ないが、片極性のものである場合、被測定表面電
位と逆極性の電位計のオフセット量は測定できず、正確
なオフセット量補正ができないという欠点があった。

また、上記不都合を解消する同極性の電位測定手段は高
価であり、安価な片極性の電位測定手段により両極性の
表面電位の測定が可能な装置が望まれていた。

（発明の目的） 本発明は上述した従来技術の欠点を解消し、安価な片極
性の電位測定手段を用いても両極性の表面電位を測定で
さる装置を提供することを目的とする。

（構成および作用） 本発明は上記目的を達成するため、感光体の表面電位を
測定する電位測定手段のアース端子には被測定表面電位
と逆極性の基準電位が印加され、かつ、電源入力端子に
は前記逆極性の基準電位骨だけ加算した基準電位が印加
される電位測定手段と、該電位測定手段に得られる正負
両極性に跨がる範囲の被検出電位の検出値から前記逆極
性の基準電位を減算し、かつアース板からのＯ電位にも
とづいて感光体の表面電位を算出する演算手段と、から
なることを特徴とする。

本発明は電位測定手段のアース端子に印加する基準電位
を被測定表面電位と逆極性側にシフトし、十−の両極性
範囲で被測定表面電位を測定することができる。そして
、電位測定手段からは片極性（＋）の検出電位を得、前
記シフト量を演算手段であるマイクロコンピュータ（Ｃ
ＰＵ）で演算の際に正確な電位に補正することにより、
安価な片極性の電位測定手段を用いて両極性の表面電位
を測定できる。

（実施例） 第２図は本発明が実施される画像作成装置の主要部構成
図を示し、同図において、１はドラム状の感光体、２は
現像ユニット、３は感光体上を帯電させる帯電チャージ
ャ、４は感光体上に画像データに応じたレーザ光を発射
する半導体レーザーダイオード（Ｌ　Ｄ）ユニット、５
は感光体１の表面電位を測定するための電位計プローブ
、６はオフセット補正のためのアース板である。

上記画像作成装置において通常のプロセス動作状態にお
いては帯電チャージャ３による帯電後、ＬＤユニット４
で露光された部分の感光体１の表面電位と、露光されな
かった部分の感光体１の表面電位の夫々を所定のタイミ
ングで電位計プローブ５により検知し、夫々の検知電位
に対し電位計のオフセット補正（オフセット量は別のタ
イミングで検知する）を行ない、その補正後の電位に基
づいて帯電チャージャ３の電圧及びＬＤ電流を制御して
感光体表面が夫々所定の電位に保たれるようプロセス制
御を行なっている。

上記電位計のオフセット量の検知機構を第３図及び第４
図で説明すると、第３図は第２図の電位計プローブ５を
中心とした部分拡大図であり、７は現像ユニット２の現
像ローラを示す。また、第４図は第３図の電位計プロー
ブ５とアース板６の関係を示す平面図であり、８はアー
ス板６のガイド部材である。

第４図において、通常のプロセス動作状態においては、
アース板６の先端６ａは■位置にあり、電位計プローブ
５の検知口５ａは［有］ノ位置にあって。

感光体１にそのまま対向した状態となっている。

そして、あるタイミングで電位計のオフセット量を検知
するときは、アース板６が図に示されていない駆動機構
（例えば、ソレノイドの押引力）によりガイド部材８に
沿って、アース板６の先端６ａがＣ位置に来るように制
御される。このとき電位計プローブの検知口５ａはアー
ス板６の先端６ａに対向するので、電位計プローブ５自
身に付着したトナー等によるオフセット電圧を検知する
ことができる。そして、このオフセット電圧の検知が終
れば、アース板６の先端６ａは駆動機構によりガイド部
材８に沿って元の区）位置に戻される。

上記オフセット量検知機構をもつ本発明の感光体表面電
位検知回路の一実施例を第１図に示す。

同図において、９は電位計ＰＣＢ（プリント回路基板）
であって、電位計プローブ５からの被検出電位ｖｉｎが
入力され、定数（例えば−１／２００）で分域された検
出電位ｖ０を出力する。この電位計ＰＣＢ９のアース端
子（Ｇ　Ｎ　Ｄ）には従来、Ｏ電位に設定されているが
１本発明においては感光体表面電位と逆極性の基準電位
（例えば、＋５Ｖ）が印加され、また、電源入力端子（
ＶＣ）には、前記逆極性の基準電位置だけ加算した基準
電位が印加される。

下表は本発明と従来例との上記Ｖ。、ＧＮＤ。

■、及びＶｏの対応関係の一例を示す。

また、１０はＡ／Ｄコンバータで検出電位■。をデジタ
ル値に変換する。１１はマイクロコンピータ（ＣＰＵ）
であって、プロセス制御用に用いられる。

本実施例においては、前記第４図でのへた所定のタイミ
ングでもって電位計プローブ５で検出した被検出電位Ｖ
、。を電位計ＰＣＢ９に入力する。

この電位計ＰＣＢ９は上述したように前表のとおりの電
位が電源入力端子（ＶＣ）及びアース端子（ＧＮＤ）に
夫々＋３０Ｖ、＋５Ｖで印加されているので、十−の両
極性の範囲で被検出電位Ｖ、、、（＋５〜−９９５　Ｖ
　）が得られ、従来例のように片極性の検出電位Ｖ、ｌ
１（０〜−１，０００Ｖ）ではない。

そして、上記被検出電位ｖ１゜は電位計ＰＣＢ９におい
定数（−１／２００）だけ分域され検出電位Ｖ０（＋５
〜＋１０ｖ）を得る（従来例では、０〜＋５Ｖ）。

この検出電位■。をＡ／Ｄコンバータ１０に入力し、Ｃ
ＰＵＩＩで処理するためのデジタル値に変換してＣＰＵ
へ入力する。ＣＰＵＩＩでは検出電位■。を下式 ％式％（） で変換すれば、正確な電位計のオフセット量及び感光体
ｌの表面単位Ｖを測定することができる。

（発明の効果） 以上説明したように本発明は、片棒性の電位計を用いて
両極性の感光体表面電位Ｖ３．．を測定できるので、電
位計のプローブの正確なオフセット量を簡単かつ安価な
機構で検出することができる。

また、それにより測定した感光体の表面電位をオフセッ
ト補正し随時正確な感光体表面電位■を用いて、画像作
成装置のプロセス制御を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の感光体表面電位検知回路の一実施例図
、第２図の本発明が実施される画像作成装置の主要部構
成図、第３図及び第４図は第２図の電位計プローブを中
心とした部分拡大図及び電位計プローブとアース板の関
係を示す平面図である。 １　・・・感光体、　２　・・・現像ユニット、３　・
・・帯電チャージャ、　４　・・・　ＬＤユニット、　
５・・・電位計プローブ、　６　・・アース板、　７　
・・・現像ローラ、　８　・・ガイド部材、　９　・電
位計ＰＣＢ、１０・・・Ａ／Ｄコンバータ、　１１　・
・　マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 感光体の表面電位を測定する電位測定手段のアース端子
   には被測定表面電位と逆極性の基準電位が印加され、か
   つ、電源入力端子には前記逆極性の基準電位分だけ加算
   した基準電位が印加される電位測定手段と、該電位測定
   手段に得られる正負両極性に跨がる範囲の被検出電位の
   検出値から前記逆極性の基準電位を減算し、かつアース
   板からの０電位にもとづいて感光体の表面電位を算出す
   る演算手段と、からなることを特徴とする画像作成装置
   。