JPH03195976A - 表面電位測定装置 - Google Patents

表面電位測定装置

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JPH03195976A
JPH03195976A JP33593389A JP33593389A JPH03195976A JP H03195976 A JPH03195976 A JP H03195976A JP 33593389 A JP33593389 A JP 33593389A JP 33593389 A JP33593389 A JP 33593389A JP H03195976 A JPH03195976 A JP H03195976A
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electrode
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Akira Kumada
明 久万田
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、表面電位測定装置に関し、さらに詳しくは
、被測定表面までの距離の変動によって生じる出力変動
を低減した表面電位測定装置に関する。
[従来の技術] 従来の表面電位測定装置の一例を第6図に示す。
この表面電位測定装置51は、被測定表面Bに検知電極
2を対向させ、1 k)fzの発振器3により駆動され
る圧電音叉4で前記検知電極2を振動させ、検知電極2
に生じる電荷変動をアンプ57で検出し、出力信号VO
とするものである。5は、被測定表面Bの電位を等測的
に表わした電源である。
この表面電位測定装v151では、第7図に実線で示す
ように、表面電位が大きい程、出力信号VOも大きくな
るため、出力信号Voがら逆に表面電位を知ることが出
来る。
ところが、出力信号■0は、被測定表面Bの表面電位ば
かりでなく、第8図に示すように、被測定表面Bと検知
電極2の間の距1I31dによっても変化する。
このため、距離dを一定に保つが、距離dの変動による
出力信号■0の変動を補正する必要がある。
距離dを一定に保つのは困難であるため、距離dの変動
による出力信号■0の変動を補正するための手段が従来
から種々提案されている。
例えば、特開昭62〜163979号公報や特開昭60
−152959号公報には、複数の検知電極を設け、2
つの検知電極で各々得られる測定信号の差に基づいて距
離による出力変動の補正を行う技術が開示されている。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来の距離による出力変動を補正する機能を備えた
表面電位測定装置は、複数の検知電極や。
複雑な信号処理回路を必要とし、構成が複雑になると共
に、小型化できない問題点がある。
そこで、この発明の目的は、簡単かつ小型化しうる構成
で、距離による出力変動による出力変動の補正を行える
ようにした表面電位測定装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] この発明の表面電位測定装置は、被測定表面に対向して
配置された検知電極に生じる電荷変動に基づき前記被測
定表面の電位を検出する表面電位測定装置において、電
位検出信号の周波数より充分高い周波数の交流信号を被
flpJ定表面と検知電極の間に印加する交流信号印加
手段と、検知電極から得た測定信号から電位検出信号と
交流信号とを周波数帯域により分離する信号分離手段と
、分離された電位検出信号を増幅するとと共に分離され
た交流信号により増幅度を制御される増幅手段とを構成
上の特徴とするものである。
[作用] この発明の表面電位測定装置では、被測定表面の電位に
応じた電位検出信号を取り出すための検知電極に、距M
 1llll定用の交流信号を印加する。
交流信号の周波数は、電位検出信号の周波数よりも充分
高いため、両者は相互に影響を与えない。
検知電極で得られる交流信号の大きさは、被測定表面と
検知電極の間に形成される静電容量に応じて変化するが
、この静電容量は距離に応じて変化するため、結局、交
流信号の大きさが距離に応じて変化することなる。
検知電極で得られる測定信号は、電位検出信号と交流信
号とが重畳された信号であるが、両者は周波数帯域が異
なるため、信号分離手段により容易に分離できる。
電位検出信号は、増幅手段により増幅され、出力信号と
なる。
増幅手段の増幅度は、交流信号により制御されている。
すなわち、距離が大きくなって交流信号が小さくなると
増幅度が大きくなるように制御される。
すると、距離が大きくなって電位検出信号が小さくなっ
ても、増幅度が上がるため、結局、出力信号には距離に
よる影響を生じないことになる。
従って、距離の影響を受けずに表面電位を測定できるよ
うになるが、複数の検知電極を要さず、また、分離手段
も簡単なフィルタにより構成できるから、簡単かつ小型
の構成となる。
[実施例] 以下、図に示す実施例に基づいてこの発明をさらに詳し
く説明する。なお、これによりこの発明が限定されるも
のではない。
第1図は、この発明の一実施例の表面電位測定装置1を
示すブロック図である。
検知電極2は、被測定表面Bに対向して設置され、1 
kHzの発振器3に駆動される圧電音叉4で振動させら
れている。
また、検知電極2は、コンデンサC1を介して、100
 kHzの発振器6に接続されており、被測定表面との
間に、100 kHzの交流信号が印加されている。
そこで、検知電極2で得られる信号は、被測定表面Bの
表面電位(図中の電源5はこの表面電位を表わしている
)により生じる1 kHzの電位検出信号と、被測定表
面Bと検知電極2の間に形成される静電容fit Cx
および抵抗R1の並列回路と前記コンデンサC1とで分
圧された交流信号の重畳された信号となる。
この電位検出信号と交流信号の重畳された信号は、電界
効果トランジスタTRでインピダンス変換および増幅さ
れ、コンデンサC2により交流分が取り出され、ACア
ンプ7でさらに増幅されて、第2図示す如き測定信号V
iとなる。なお、図の実線は100 kHz、破線は1
 kHzである。
測定信号Viは、1 kHz近傍の通過領域をもつバン
ドパスフィルタ8および100kHz近傍に通過領域を
もつバンドパスフィルタ10とに人力される。
そこで、1kHzのバンドパスフィルタ8からは、電位
検出信号だけが取り出され、ピークホールダDCアンプ
9で直流化され、へGCアンプ12で増幅され、出力信
号vOとして出力される。
一方、100kHzのバンドパスフィルタ10からは交
流信号だけが取り出され、ピークホールダDCアンプ1
1で直流化され、AGCアンプ12のゲインコントロー
ル信号となる。
ピークホールダDCアンプ9から出力される直流化した
電位検出信号Vaは、第3図に示すように、被測定表面
Bと検知電極2の間の距離dによって変化する。
一方、ピークホールダDCアンプ11から出力される直
流化された交流信号vbも、第4図に示すように、距離
dによって変化する。
そして、AGCアンプ12は、前記直流化された交流信
号vbが小さくなるほどゲインを大きくする。
すると、距離dが大きくなることにより直流化された電
位検出信号Vaが小さくなる分を補償するようにAGC
アンプ12のゲインが上がるため、結局、第5図に示す
ように、出力信号VOは、距離dに依存せずほぼ一定と
なる。第5図では、2mmから4關の間において、出力
電圧■0は距fidの影響を受けていない。
従って、被測定表面Bと検知電極2の間の距離が変動し
ても、これに影響されずに表面電位を測定できるように
なる。
なお、AGCアンプ12としては、DCアンプのフィー
ドバックループ中に設置したFETのコンダクタンスを
前記直流化した交流信号vbで制御するものや、掛は算
回路を用いることが出来る。
また、ADコンバータとデジタル演算器を用いることも
できる。
[発明の効果] この発明の表面電位測定装置によれば、簡単かつ小型の
構成により、距離に依存せずに表面電位を測定できるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の表面電位測定装置の一実施例のブロ
ック図、第2図は第1図の実施例において検知電極で得
られる信号の説明図、第3図は直流化した電位検出信号
と距離の関係を示す特性図、第4図は直流化した交流信
号と距離の関係を示す特性図、第5図は出力信号と距離
の関係を示す特性図、第6図は従来の表面電位測定装置
の一例のブロック図、第7図は第6図の従来装置におけ
る表面電位と出力信号の大きさの関係を示す特性図、第
8図は第6図示す従来装置における距離と出力信号の大
きさの関係を示す特性図である。 (符号の説明) 1・・・表面電位測定装置 2・・・検知電極 3・・・1 kHzの発振器 4・・・圧電音叉 6・・・100 kHzの発振器 8・・・1 kHzのバンドパスフィルタ10・・・1
00 kHzのバンドパスフィルタ12・・・AGCア
ンプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定表面に対向して配置された検知電極に生じる
    電荷変動に基づき前記被測定表面の電位を検出する表面
    電位測定装置において、電位検出信号の周波数より充分
    高い周波数 の交流信号を被測定表面と検知電極の間に印加する交流
    信号印加手段と、検知電極から得た測定信号から電位検
    出信号と交流信号とを周波数帯域により分離する信号分
    離手段と、分離された電位検出信号を増幅するとと共に
    分離された交流信号により増幅度を制御される増幅手段
    とを具備したことを特徴とする表面電位測定装置。
JP33593389A 1989-12-25 1989-12-25 表面電位測定装置 Expired - Fee Related JPH077034B2 (ja)

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JPH077034B2 JPH077034B2 (ja) 1995-01-30

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002318255A (ja) * 2001-04-24 2002-10-31 Tdk Corp 表面電位検出装置

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