JPH03200525A - Bottom material mark system - Google Patents
Bottom material mark systemInfo
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- JPH03200525A JPH03200525A JP33934089A JP33934089A JPH03200525A JP H03200525 A JPH03200525 A JP H03200525A JP 33934089 A JP33934089 A JP 33934089A JP 33934089 A JP33934089 A JP 33934089A JP H03200525 A JPH03200525 A JP H03200525A
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- bottom material
- embossed
- inspection device
- defective
- inspection
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は電子部品搬送体の底材の不良部分、または所定
個数毎のエンボス部をマークする底材マークシステム。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Objective of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention is a bottom material marking system for marking defective portions or embossed portions of a predetermined number of bottom materials of an electronic component carrier.
(従来の技術)
従来、IC等の電子部品を多数包装して搬送する合成樹
脂製の電子部品搬送体が知られている。(Prior Art) Conventionally, electronic component carriers made of synthetic resin are known that package and transport a large number of electronic components such as ICs.
この電子部品搬送体は、IC等の電子部品を収納する底
材と、底材を覆う平板状蓋材とを備えている。このうち
底材は電子部品搬送体のエンボス部と、エンボス部上端
開口のフランジ部とからなり、蓋材はこのフランジ部に
ヒートシールされるようになっている。またエンボス部
は111列で連続して多数設けられており、各エンボス
部はエンボス部上端開口のフランジ部によって連結され
ている。This electronic component carrier includes a bottom material that accommodates electronic components such as ICs, and a flat lid material that covers the bottom material. Among these, the bottom material consists of an embossed part of the electronic component carrier and a flange part opening at the upper end of the embossed part, and the lid material is heat-sealed to this flange part. Further, a large number of embossed portions are provided in 111 consecutive rows, and each embossed portion is connected by a flange portion at an opening at the upper end of the embossed portion.
このような構成からなる電子部品搬送体において、IC
等の電子部品が底材の各エンボス部内に収納され、その
後、底材のフランジ部に平板状蓋材がヒートシールされ
て電子部品が包装される。In the electronic component carrier having such a configuration, the IC
Electronic components such as the above are housed in each embossed portion of the bottom material, and then a flat lid material is heat-sealed to the flange portion of the bottom material to package the electronic components.
(発明が解決しようとする課題)
ところで、上述した底材は、合成樹脂製のシート板を素
材として用い、このシート板にエンボス部を成形装置に
より成形し、更にパンチ孔をパンチ装置により成形して
作成される。このう゛ち、パンチ孔は底材を移送するた
めのものであり、エンボス部に隣接するフランジ部に所
定ピッチで連続して成形される。(Problems to be Solved by the Invention) By the way, the above-mentioned bottom material is made by using a synthetic resin sheet plate as a material, forming an embossed part on this sheet plate using a forming device, and further forming punch holes using a punching device. Created by Among these, the punch holes are for transporting the bottom material, and are formed continuously at a predetermined pitch in the flange portion adjacent to the embossed portion.
しかしながら、シート板から底材を作成するにあたって
、成形されたエンボス部またはパンチ孔に関し、成形厚
または成形ピッチ等が不良となる場合がある。また、作
成された底材を所定個数のエンボス部毎にまとめておき
たい場合がある。However, when creating a bottom material from a sheet plate, the molded embossed portions or punched holes may have poor molding thickness, molding pitch, or the like. Further, there are cases where it is desired to group the created bottom material into a predetermined number of embossed portions.
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、
底材の不良部分または所定個数毎のエンボス部をマーク
することができる底′材マークシステムを提供すること
を目的とする。The present invention has been made in consideration of these points,
It is an object of the present invention to provide a bottom material marking system capable of marking defective portions or embossed portions of a predetermined number of bottom materials.
(課題を解決するための手段)
本発明は、移送される合成樹脂製底材のエンボス部の数
を所定個数に達するまで順次カウントするカウンタと、
前記底材の良・不良を検査する検査装置と、前記カウン
タによってエンボス部が所定個数カウントされた場合、
または前記検査装置によって前記底材の不良が発見され
た場合、これらカウンタまたは検査部からの信号にもと
ずき前記底材の該当部分をマークするマーキング装置と
を備えたことを特徴とする底材マークシステムである。(Means for Solving the Problems) The present invention includes a counter that sequentially counts the number of embossed portions of a synthetic resin bottom material to be transferred until a predetermined number is reached;
When a predetermined number of embossed portions are counted by the inspection device that inspects the quality or defectiveness of the bottom material and the counter,
or a marking device that marks a corresponding portion of the bottom material based on a signal from the counter or the inspection section when a defect in the bottom material is discovered by the inspection device. It is a material mark system.
(作 用)
本発明によれば、作成された底材について、所定個数の
エンボス部毎、および不良部分に容易かつ簡単にマーク
を入れることができる。(Function) According to the present invention, it is possible to easily and easily mark each predetermined number of embossed portions and defective portions of the created bottom material.
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
まず電子部品搬送体について第7図および第8図により
説明する。第7図および第8図において、電子部品搬送
体70は、IC等の電子部品77を収納する底材71と
、底材71を覆う蓋材75とを備えている。また底材7
1は電子部品収納□用のエンボス部72と、エンボス部
72上端開口のフランジ部73とからなり、蓋材75は
このフランジ部73にヒートシールされるようになって
いる。First, the electronic component carrier will be explained with reference to FIGS. 7 and 8. In FIGS. 7 and 8, the electronic component carrier 70 includes a bottom material 71 that accommodates an electronic component 77 such as an IC, and a lid material 75 that covers the bottom material 71. Also, bottom material 7
1 consists of an embossed part 72 for storing electronic parts and a flange part 73 opening at the upper end of the embossed part 72, and the lid member 75 is heat-sealed to this flange part 73.
エンボス部72は、711列で連続して設けられており
、各エンボス72は上端開口のフランジ部73によって
互いに連結されている。The embossed portions 72 are continuously provided in 711 rows, and each embossed portion 72 is connected to each other by a flange portion 73 having an opening at the upper end.
底材71は例えば塩化ビニル製またはポリスチレン製シ
ート板を真空または圧空成形して形成され、一方蓋材は
合成樹脂製の積層シートからなっている。またフランジ
部73には、エンボス部72に隣接して複数のパンチ孔
74が連続して設けられている。このパンチ孔74は、
底材71を移送するためのものである。The bottom material 71 is formed by vacuum or pressure forming, for example, a sheet plate made of vinyl chloride or polystyrene, while the lid material is made of a laminated sheet made of synthetic resin. Further, a plurality of punch holes 74 are continuously provided in the flange portion 73 adjacent to the embossed portion 72 . This punch hole 74 is
This is for transporting the bottom material 71.
次に電子部品搬送体の底材製造装置について、(図面の
簡単な説明)
第5図において、底材製造方法を行なう製造装置10は
、巻体11、ダンサロール12、予熱ロール13、加熱
装置14、成形装置15、冷却装置16、パンチ装置1
7、送り部18、ダンサロール19、検査ユニット20
.スリット装置21、パンチ孔検査装置30.マーキン
グ装置22、引張りロール24、および巻体23を順次
配設して構成されている。Next, regarding the bottom material manufacturing apparatus for an electronic component carrier (Brief explanation of the drawings) In FIG. 14, forming device 15, cooling device 16, punching device 1
7, feeding section 18, dancer roll 19, inspection unit 20
.. Slitting device 21, punch hole inspection device 30. It is constructed by sequentially arranging a marking device 22, a tension roll 24, and a roll 23.
このうち、加熱装置14は1段加熱装置14a。Among these, the heating device 14 is a one-stage heating device 14a.
2段加熱装置14b、および3段加熱装置14cからな
り、シート板51を3段に別けて加熱するようになって
いる。また、1段加熱装置14a。It consists of a two-stage heating device 14b and a three-stage heating device 14c, and is configured to heat the sheet plate 51 in three stages. Also, a first stage heating device 14a.
2段加熱装置14b、および3段加熱装置14cは、同
様の構成となっており、それぞれ加熱下金型28と加熱
上金型2つとからなっている。The two-stage heating device 14b and the three-stage heating device 14c have similar configurations, each consisting of a lower heating mold 28 and two upper heating molds.
また、成形装置15は成形下金型32と成形上金型34
とからなり、シート板51にエンボス部72を成形する
ようになっている。さらに、ノ<ンチ装置17はパンチ
下金型41とノくンチ上金型45とからなり、フランジ
部にパンチ孔74を成形するようになっている。The molding device 15 also includes a lower molding mold 32 and an upper molding mold 34.
An embossed portion 72 is formed on the sheet plate 51. Further, the punching device 17 includes a punch lower mold 41 and a punch upper mold 45, and is adapted to form a punch hole 74 in the flange portion.
次に本発明による底材マークシステムについて第1図乃
至第4図により詳述する。ここで第1図は底材マークシ
ステムを示す図であって、第5図のうちダンサロール1
9より下流側を示す拡大図である。Next, the bottom material marking system according to the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. 1 to 4. Here, FIG. 1 is a diagram showing the bottom material mark system, and in FIG. 5, the dancer roll 1
9 is an enlarged view showing the downstream side of FIG.
第1図において、検査ユニット20内には、底材の移送
方向に向って、上流側から順にエンボス底部検査装置5
3、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置
55、位置検査装置60゜およびカウンタ63が配置さ
れている。In FIG. 1, inside the inspection unit 20, there are embossed bottom inspection devices 5 in order from the upstream side in the direction of conveying the bottom material.
3. A flange inspection device 54, an emboss pitch inspection device 55, a position inspection device 60°, and a counter 63 are arranged.
このうち、エンボス底部検査装置53およびフランジ部
検査装置54は、それぞれエンボス部72およびフラン
ジ部73の厚さを検査するものであり、いずれもトリメ
トロン等により構成されている。Of these, the embossed bottom inspection device 53 and the flange section inspection device 54 inspect the thickness of the embossed section 72 and the flange section 73, respectively, and both are constructed of trimetrons or the like.
またエンボスピッチ検査装置55はエンボス部72のピ
ッチを検査するものであり、底材71の上方に設けられ
エンボス部72に対応する形状の突部56aを有する上
部型56と、底材71の下方に設けられた下部管57と
からなっている。エンボス部72のピッチ検査にあたっ
ては、上部型56を降下させる。そして、エンボス部7
2のピッチがずれている場合には、上部型56が底材7
1を下部管57に対して押圧し、押圧力による下部管5
7の変位によってエンボスピッチの不良を検出するよう
になっている。The emboss pitch inspection device 55 is for inspecting the pitch of the embossed portions 72, and includes an upper mold 56 provided above the bottom material 71 and having a protrusion 56a having a shape corresponding to the embossed portions 72, and It consists of a lower pipe 57 provided in the lower pipe 57. To inspect the pitch of the embossed portion 72, the upper die 56 is lowered. And embossed part 7
2, if the pitch of the upper mold 56 is off, the bottom material 7
1 against the lower pipe 57, and the lower pipe 5 due to the pressing force
A defective emboss pitch is detected based on the displacement of 7.
また、位置検査装置60は第2図に示すように、エンボ
ス部72とパンチ孔74の位置関係を検査するものであ
り、底材71の上方に設けられエンボス部72に対応す
る形状の突部61aおよびノくフチ孔74に対応する形
状の突部61bを有する上部型61と、底材61の下方
に設けられた下部管62とからなっている。エンボス部
72と/<フチ孔74の位置関係の検査にあたっては、
上部型61を降下させる。そして、エンボス部72とノ
くフチ孔74との位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部管62に対17て抑圧し、この押
圧力による下部管62の変位によってエンボス部72と
パンチ孔74の位置不良を検出するようになっている。Further, as shown in FIG. 2, the position inspection device 60 inspects the positional relationship between the embossed part 72 and the punched hole 74, and is provided above the bottom material 71 and has a protrusion corresponding to the embossed part 72. 61a and a protrusion 61b having a shape corresponding to the notch hole 74, and a lower tube 62 provided below the bottom member 61. When inspecting the positional relationship between the embossed part 72 and the border hole 74,
The upper mold 61 is lowered. If the positional relationship between the embossed part 72 and the edge hole 74 is misaligned, the upper die 61 presses the bottom material 71 against the lower tube 62, and the displacement of the lower tube 62 due to this pressing force causes A positional defect between the embossed portion 72 and the punched hole 74 is detected.
また、カウンタ63は、移送されてくるエンボス部72
の数を送りショット方式によって順次カウントするもの
である。Further, the counter 63 is configured to hold the embossed portion 72 that is being transferred
The number of shots is counted sequentially using a feed shot method.
さらに検査ユニット20の下流側近傍には、底材71を
間歇的、例えば2シヨツトずつ移送する送りロール25
が設けられている。Furthermore, near the downstream side of the inspection unit 20, there is a feed roll 25 that transfers the bottom material 71 intermittently, for example, two shots at a time.
is provided.
次にパンチ孔検査装置30およびマーキング装置22に
ついて詳述する。Next, the punch hole inspection device 30 and the marking device 22 will be described in detail.
第3図および第4図に示すようにパンチ孔検査装置30
は、底材71のパンチ孔74のピッチを検査するもので
ある。すなわち、パチン孔検査装置30は、底材71の
フランジ部73の下側に設けられたピンロール31と、
フランジ部73の上側に設けられ、ピンロール31との
間でフランジ部73を抑圧する押えロール35とを備え
ている。As shown in FIGS. 3 and 4, a punch hole inspection device 30
is for inspecting the pitch of the punch holes 74 in the bottom material 71. That is, the snap hole inspection device 30 includes a pin roll 31 provided below the flange portion 73 of the bottom material 71,
A presser roll 35 is provided above the flange part 73 and presses the flange part 73 between it and the pin roll 31.
ピンロール31の外周面には、底材71のノくフチ孔7
4内に順次仲人されるピン32が、所定間隔(ピッチ)
をおいて複数配設されている。またピンロール31はシ
ャフト33の回りを回転するようになっている。The outer circumferential surface of the pin roll 31 has a notch edge hole 7 of the bottom material 71.
The pins 32 that are successively arranged within 4 are arranged at a predetermined interval (pitch).
There are multiple locations. Further, the pin roll 31 is configured to rotate around a shaft 33.
他方、押えロール35は第4図に示すように断面略H形
状をなし、外周面から半径方向内方に向ってピンロール
31のビン32が進入する空間38が形成されている。On the other hand, the presser roll 35 has a generally H-shaped cross section as shown in FIG. 4, and a space 38 is formed from the outer peripheral surface toward the radial inward direction into which the pin 32 of the pin roll 31 enters.
押えロール35はシャフト39の回りを回転するととも
に、シャフト39の両端の軸受部36は移動軸37に支
持されている。移動軸37は上下方向に移動自在となっ
ており、ストッパ41に取付けられたスプリング40に
よって常に下方に押付けられている。また移動軸37に
は、位置検出用の検知部43が取付けられており、更に
検知部43の外方には近接スイッチ42が設けられてい
る。The presser roll 35 rotates around a shaft 39, and bearings 36 at both ends of the shaft 39 are supported by a moving shaft 37. The moving shaft 37 is vertically movable and is always pressed downward by a spring 40 attached to a stopper 41. Further, a detection section 43 for position detection is attached to the moving shaft 37, and a proximity switch 42 is further provided outside the detection section 43.
また、第1図に示すようにマーキング装置22は、所定
のエンボス部72を押つぶすものであり、底材71の下
方に設けられた抑圧シリンダ22aと、底材71の上方
に設けられた受体22bとからなっている。さらに押圧
シリンダ22aはシリンダ制御装置65により駆動制御
されるようになっている。In addition, as shown in FIG. 1, the marking device 22 is for crushing a predetermined embossed portion 72, and includes a suppression cylinder 22a provided below the bottom material 71 and a receiver provided above the bottom material 71. It consists of a body 22b. Further, the pressing cylinder 22a is driven and controlled by a cylinder control device 65.
また、第1図に示すように、エンボス底部検査装置53
、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置5
5、位置検査装置60.およびパンチ孔検査装置30は
、いずれもシリンダ制御装置65に電気的に接続されて
いる。またカウンタ63はシリンダ制御装置65に電気
的に接続されている。In addition, as shown in FIG. 1, an embossed bottom inspection device 53
, flange inspection device 54, embossed pitch inspection device 5
5. Position inspection device 60. Both of the punch hole inspection device 30 and the punch hole inspection device 30 are electrically connected to the cylinder control device 65. Further, the counter 63 is electrically connected to a cylinder control device 65.
次に本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.
まず電子部品搬送体の底材製造工程について説明する。First, the manufacturing process of the bottom material of the electronic component carrier will be explained.
塩化ビニル製またはポリスチレン製シート板51が巻体
11から連続的に供給され、ダンサロール12および予
熱ロール13を通って加熱装置14に移送される。シー
ト板51は加熱装置14の1段加熱装置14a、2段加
熱装置It14b。A sheet plate 51 made of vinyl chloride or polystyrene is continuously supplied from the roll 11 and transferred to the heating device 14 through the dancer roll 12 and the preheating roll 13 . The sheet plate 51 is a first-stage heating device 14a and a second-stage heating device It14b of the heating device 14.
および3段加熱装置14cによって順次加熱されていく
。Then, they are heated one after another by the three-stage heating device 14c.
巻体11から連続的に移送されるシート板51は、予熱
ロール13から送り部18まで間歇的に移送されて各種
の処理が行なわれる。さらに、その後送りロール25ま
で間歇的に移送されて各種の検査が行なわれた後、再び
連続的に巻体23まで移送されることになるが、これら
の移送mlは、2つのダンサロール12.19によって
行なわれる。The sheet plate 51 that is continuously transferred from the roll 11 is intermittently transferred from the preheating roll 13 to the feeding section 18 and undergoes various treatments. Furthermore, after that, it is intermittently transferred to the feed roll 25 for various inspections, and then continuously transferred to the roll 23 again. It is carried out by 19.
シート板51は成形装置15に移送され、この成形装置
15において、シート板51に底材71のエンボス部7
2およびガイド開ロア9(第6図)が成形される。この
ガイド開ロア9は、パンチ装置17においてシート板5
1の位置決めを行なう際用いられる。また、シート板5
1のエンボス部72以外の部分は、そのままフランジ部
73となる。The sheet plate 51 is transferred to a forming device 15, and in this forming device 15, the embossed portion 7 of the bottom material 71 is formed on the sheet plate 51.
2 and guide opening lower 9 (FIG. 6) are molded. This guide opening lower 9 is connected to the sheet plate 5 in the punching device 17.
It is used when positioning 1. In addition, sheet plate 5
The portion other than the embossed portion 72 of No. 1 becomes the flange portion 73 as it is.
次にシート板51は、冷却装置16に移送されて冷却さ
れ、その後パンチ装置17に移送されて、エンボス部7
2に隣接するフランジ部73にパンチ孔74が連続して
成形される。Next, the sheet plate 51 is transferred to the cooling device 16 to be cooled, and then transferred to the punch device 17, where the embossed portion 7
A punch hole 74 is continuously formed in the flange portion 73 adjacent to the flange portion 2 .
このようにして、第6図に示すような多列、例えば4列
のエンボス部72およびこれに対応するパンチ孔74を
有する底材71が成形される。続いてこの多列の底材7
1は、送り部18からダンサロール19を経て検査ユニ
ット20に移送される。In this way, the bottom material 71 having multiple rows, for example, four rows of embossed portions 72 and corresponding punch holes 74, as shown in FIG. 6, is formed. Next, this multi-row bottom material 7
1 is transferred from the feeding section 18 to the inspection unit 20 via the dancer roll 19.
検査ユニット20において、はじめに底材71は、エン
ボス底部検査装置53によってエンボス72底部が所定
厚を有するか否かが検査され、続いてフランジ部検査装
置54によってフランジ部54が所定厚を有するか否か
が検査される。そして、これらの検査結果はシリンダ制
御装置65に送信される。In the inspection unit 20, the bottom material 71 is first inspected by the emboss bottom inspection device 53 to see if the bottom of the emboss 72 has a predetermined thickness, and then by the flange inspection device 54 to see if the flange portion 54 has a predetermined thickness. will be examined. These test results are then sent to the cylinder control device 65.
続いて底材71は、エンボスピッチ検査装置55によっ
てエンボス部72のピッチが検査される。すなわち、エ
ンボスピッチ検査装置55において、上部型56が降下
し突部56aをエンボス部72内に押入させる。エンボ
ス部72のピッチがずれている場合は、上部型56が底
材71を下部受57に対して押圧し、押圧力による下部
受57の変位によってエンボスピッチの不良が検出され
る。そしてこの検査結果はシリンダ制御装置65に送信
される。Next, the pitch of the embossed portions 72 of the bottom material 71 is inspected by the embossed pitch inspection device 55. That is, in the emboss pitch inspection device 55, the upper die 56 is lowered and the protrusion 56a is pushed into the emboss portion 72. If the pitch of the embossed portions 72 is off, the upper mold 56 presses the bottom material 71 against the lower receiver 57, and a defect in the emboss pitch is detected by the displacement of the lower receiver 57 due to the pressing force. This test result is then transmitted to the cylinder control device 65.
続いて底材は、位置検査装置f60によってエンボス部
72とパンチ孔74との位置関係が検査される。すなわ
ち、位置検査装置60において、上部型61が降下し突
部61aおよび61bを、それぞれエンボス部72およ
びパンチ孔74山に押入させる。エンボス部72とパン
チ孔74との間の位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部受62に対して押圧し、この押圧
力による下部受62の変位によってエンボス部72とパ
ンチ孔74との間の位置不良が検出される。そしてこの
検査結果もシリンダ制御装置65に送信される。Subsequently, the bottom material is inspected for the positional relationship between the embossed portion 72 and the punched hole 74 by the position inspection device f60. That is, in the position inspection device 60, the upper mold 61 is lowered to push the protrusions 61a and 61b into the embossed portion 72 and the punch hole 74 peaks, respectively. If the positional relationship between the embossed part 72 and the punched hole 74 is misaligned, the upper mold 61 presses the bottom material 71 against the lower receiver 62, and the embossed part 72 is displaced by the displacement of the lower receiver 62 due to this pressing force. A positional defect between the punch hole 74 and the punch hole 74 is detected. This test result is also sent to the cylinder control device 65.
続いて底材71は、カウンタ63によってエンボス部7
2の個数がカウントされ、所定個数、例えば200個に
達した場合、カウントの粘果がシリンダ制御装置65に
送信される。同時に、カウンタ63はリセットされてカ
ウント零となり、再びカウントが開始される。Subsequently, the bottom material 71 is embossed in the embossed portion 7 by the counter 63.
2 is counted, and when a predetermined number, for example 200, is reached, the result of the count is transmitted to the cylinder control device 65. At the same time, the counter 63 is reset to zero and starts counting again.
なお、エンボス底部検査装置53、フランジ部検査装置
54、エンボスピッチ検査装v!t55、および位置検
査装置60からの不良信号がシリンダ制御装置65に送
信された場合、および後述するパンチ孔検査装置30か
らの不良信号かシリンダ制御装置65に送信された場合
、このシリンダ制御装置65からの信号により、後述の
ように押圧シリンダ22aが駆動され、同時にカウンタ
63がリセットされてカウント零に戻るようになってい
る。In addition, the emboss bottom inspection device 53, the flange portion inspection device 54, and the emboss pitch inspection device v! t55, and if a defect signal from the position inspection device 60 is sent to the cylinder control device 65, and if a defect signal from the punch hole inspection device 30, which will be described later, is sent to the cylinder control device 65, this cylinder control device 65 The pressure cylinder 22a is driven by a signal from the counter 63 as described later, and at the same time the counter 63 is reset to return to zero.
続いて、多列の底材71は送りロール25からスリット
装置21に移送され、このスリット装置21でフランジ
部73が移送方向に切断されて各列毎に分割され、その
後底材71はパンチ孔検査装置30まで移動される。Subsequently, the multi-row bottom material 71 is transferred from the feed roll 25 to the slitting device 21, and the slitting device 21 cuts the flange portion 73 in the transfer direction to divide each row, and then the bottom material 71 is punched with holes. It is moved to the inspection device 30.
底材71がパンチ孔検査装置30まで移送されると、ビ
ンロール31のビン32が順次パンチ孔74内に仲人さ
れビンロール31がシャフト33回りを回転する。この
場合、底材71のフランジ部73は、ビンロール31の
ビン32以外の外周面部分と押えロール35の外周面に
よって押圧され、これによって押えロール35もシャフ
ト39回りを回転する。また、バンチ孔74内に抑大さ
れたビンロール31のビン32は、空間38西に進入す
るため、ビン32は押えロール35の外周面に当接しな
いようになっている。When the bottom material 71 is transferred to the punch hole inspection device 30, the bottles 32 of the bottle roll 31 are sequentially inserted into the punch holes 74, and the bottle roll 31 rotates around the shaft 33. In this case, the flange portion 73 of the bottom material 71 is pressed by the outer circumferential surface portion of the bottle roll 31 other than the bins 32 and the outer circumferential surface of the presser roll 35, so that the presser roll 35 also rotates around the shaft 39. Further, since the bins 32 of the bin roll 31 compressed in the bunch holes 74 enter the space 38 west, the bins 32 do not come into contact with the outer peripheral surface of the presser roll 35.
フランジ部73に所定ピッチから外れてパンチ孔74が
成形された場合、ビンロール31のビン32はこの不良
パンチ孔74内に進入できなくなる。このため底材71
のフランジ部73はビン32によって上方へ持上げられ
、これによって押えロール35もフランジ部73によっ
てスプリング40の抑圧力に抗して上方へ持上げられる
。この場合、シャフト3つ、軸受部36、および移動軸
37が一体となって上方へ移動し、移動軸37の移動は
、近接スイッチ42と検知部43とによって構成された
検知装置によって検出される。そしてこの検査結果はシ
リンダ制御装置65に送信される。If punch holes 74 are formed in the flange portion 73 at a pitch different from the predetermined pitch, the bins 32 of the bottle roll 31 cannot enter the defective punch holes 74 . Therefore, the bottom material 71
The flange portion 73 of is lifted upward by the bottle 32, and thereby the presser roll 35 is also lifted upward by the flange portion 73 against the suppressing force of the spring 40. In this case, the three shafts, the bearing part 36, and the moving shaft 37 move upward together, and the movement of the moving shaft 37 is detected by a detection device constituted by a proximity switch 42 and a detection part 43. . This test result is then transmitted to the cylinder control device 65.
続いて、底材71はマーキング装置22まで移送され、
底材71のうち所定のエンボス部72が押しつぶされる
ようになっている。Subsequently, the bottom material 71 is transferred to the marking device 22,
A predetermined embossed portion 72 of the bottom material 71 is crushed.
マーキング装置22の作用について、以下詳述する。The operation of the marking device 22 will be described in detail below.
まず通常運転特は、前述のように底材71のエンボス部
71の数がカウンタ63によってカウントされ、例えば
200個に達した場合、カウントの結果がシリンダ制御
装置65に送信される。そして、シリンダ制御装置65
によって、押圧シリンダ22aが駆動され、この抑圧シ
リンダ22aを受体22bとの間で該当するエンボス部
72が複数、例えば2〜3個押つぶされる。このように
所定個数のエンボス部72枚にマークを入れることによ
り、その後底材71をこのマーク部分で切断して所定長
さの底材71を得ることができる。First, during normal operation, the number of embossed portions 71 on the bottom material 71 is counted by the counter 63 as described above, and when the number reaches, for example, 200, the count result is transmitted to the cylinder control device 65. And the cylinder control device 65
As a result, the pressing cylinder 22a is driven, and a plurality of, for example, 2 to 3, corresponding embossed portions 72 are crushed between the pressing cylinder 22a and the receiver 22b. By marking a predetermined number of 72 embossed portions in this manner, the bottom material 71 can be cut at the marked portions to obtain the bottom material 71 of a predetermined length.
次に作成された底材71に関し、エンボス底部検査装置
53、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装
置55、位置検査装置60、またはパンチ孔検査装置3
0等によって底材71の不良部分か検出された場合、こ
れらの検査装置53゜54.55.60.および30か
ら底材の不良信号がシリンダ制御装置65に送信される
。この場合、各検査装置53,54,55.60および
30からの不良信号は、マーキング装置22からの距離
に対応した所定の遅れ時間をもって送信される。そして
、シリンダ制御装置65によって押圧シリンダ22aが
駆動され、押圧シリンダ22aと受体22bの間で不良
箇所近傍のエンボス部72が複数押つぶされる。同時に
シリンダ制御装置65からの信号により、カウンタ63
が直ちにリセットされてカウント零となり、その後のエ
ンボス部72から再度カウントが開始される。そして前
述の場合と同様、例えば200個のエンボス部72毎に
マークが入れられる。Next, regarding the created bottom material 71, the embossed bottom inspection device 53, the flange inspection device 54, the embossed pitch inspection device 55, the position inspection device 60, or the punch hole inspection device 3
0 etc., if a defective part of the bottom material 71 is detected, these inspection devices 53, 54, 55, 60. and 30, a bottom material failure signal is sent to the cylinder control device 65. In this case, the defect signals from each inspection device 53, 54, 55, 60, and 30 are transmitted with a predetermined delay time corresponding to the distance from the marking device 22. Then, the cylinder control device 65 drives the pressing cylinder 22a, and a plurality of embossed portions 72 near the defective portion are crushed between the pressing cylinder 22a and the receiver 22b. At the same time, a signal from the cylinder control device 65 causes the counter 63 to
is immediately reset to zero, and counting starts again from the subsequent embossed portion 72. Then, as in the case described above, a mark is placed every 200 embossed portions 72, for example.
このように底材71の不良部分をマークし、この不良部
分を除いて所定個数のエンボス部毎にマークを入れてい
くことにより、製品精度の向上を図ることができる。By marking defective portions of the bottom material 71 in this manner and marking every predetermined number of embossed portions except for the defective portions, it is possible to improve product accuracy.
次にこのように所定個数のエンボス部毎および不良部分
についてマークされた4列の底材71は、その後巻体2
3に巻取られる。このようにして、連続する単列のエン
ボス部72と、エンボス部72を互いに連結するフラン
ジ部73と、フランジ部73にエンボス部72に対応し
て設けられた単列のパンチ孔74とを備えた底材71が
製造される(第7図)。Next, the four rows of bottom material 71 marked for each predetermined number of embossed portions and defective portions are then rolled onto the roll 2.
It is wound up in 3. In this way, a continuous single row of embossed portions 72, a flange portion 73 that connects the embossed portions 72 to each other, and a single row of punched holes 74 provided in the flange portion 73 in correspondence with the embossed portions 72 are provided. A bottom material 71 is manufactured (FIG. 7).
本実施例によれば、底材71について不良部分が生じた
場合、この不良部分近傍のエンボス部を押しつぶしてマ
ークするとともに、この不良部分を除いて所定個数のエ
ンボス部毎にマークを入れることにより、製品精度の高
い所定長さの底材を得ることができる。According to this embodiment, when a defective part occurs in the bottom material 71, the embossed part near the defective part is crushed and marked, and a mark is placed every predetermined number of embossed parts excluding the defective part. , it is possible to obtain a bottom material of a predetermined length with high product precision.
以上説明したように、本発明によれば、作成された底材
について所定個数のエンボス部毎および不良部分にマー
クを入れることができる。このためその後このマーク部
を切断することにより、製品精度の高い所定長さの底材
を迅速かつ確実に得ることができる。As explained above, according to the present invention, it is possible to mark each predetermined number of embossed portions and defective portions of the produced bottom material. Therefore, by subsequently cutting this mark portion, a bottom material of a predetermined length with high product precision can be obtained quickly and reliably.
第1図は本発明によりマークシステムの一実施例を示す
概略系統図であり、第2図は位置検査装置を底材移送方
向の下流側からみた図、第3図はパンチ孔検査装置を示
す側面図であり、第4図はその断面図であり、第5図は
電子部品搬送体の底材製造装置を示す概略図であり、第
6図は多列の底材を示す平面図であり、第7図は電子部
品搬送体の部分斜視図であり、第8図は第7図■−■線
断面図である。
10・・・底材製造装置、11・・・巻体、12・・・
ダンサロール、14・・・加熱装置、15・・・成形装
置、17・・・パンチ装置、20・・・検査ユニット、
21・・・スリット装置、22・・・マーキング装置、
23・・・巻体、30・・・パンチ孔検査装置、51・
・・シート板、53・・・エンボス底部検査装置、54
・・・フランジ部検査装置、55・・・エンボスピッチ
検査装置、60・・・位置検査装置、63・・・カウン
タ、65・・・シリンダ制御装置、71・・・底材、7
2・・・エンボス部、73・・・フランジ部、74・・
・パンチ孔。
出願人代理人 佐 藤 −雄
佃Fig. 1 is a schematic system diagram showing one embodiment of the mark system according to the present invention, Fig. 2 is a view of the position inspection device viewed from the downstream side in the direction of transporting the bottom material, and Fig. 3 shows the punch hole inspection device. 4 is a sectional view thereof, FIG. 5 is a schematic diagram showing a bottom material manufacturing apparatus for an electronic component carrier, and FIG. 6 is a plan view showing a multi-row bottom material. , FIG. 7 is a partial perspective view of the electronic component carrier, and FIG. 8 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. 10... Bottom material manufacturing device, 11... Roll, 12...
Dancer roll, 14... heating device, 15... forming device, 17... punching device, 20... inspection unit,
21... Slit device, 22... Marking device,
23... Roll, 30... Punch hole inspection device, 51.
... Sheet plate, 53 ... Embossed bottom inspection device, 54
...Flange part inspection device, 55... Emboss pitch inspection device, 60... Position inspection device, 63... Counter, 65... Cylinder control device, 71... Bottom material, 7
2... Embossed part, 73... Flange part, 74...
・Punch holes. Applicant's agent Yutsukuda Sato
Claims (3)
個数に達するまで順次カウントするカウンタと、前記底
材の良・不良を検査する検査装置と、前記カウンタによ
ってエンボス部が所定個数カウントされた場合、または
前記検査装置によって前記底材の不良が発見された場合
、これらカウンタまたは検査部からの信号にもとずき 前記底材の該当部分をマークするマーキング装置とを備
えたことを特徴とする底材マークシステム。1. a counter that sequentially counts the number of embossed portions of the synthetic resin bottom material to be transferred until a predetermined number is reached; an inspection device that inspects whether the bottom material is good or defective; and a predetermined number of embossed portions that are counted by the counter. or when a defect in the bottom material is found by the inspection device, a marking device that marks the corresponding part of the bottom material based on the signal from the counter or the inspection section. Bottom material mark system.
押しつぶす押圧シリンダからなることを特徴とする請求
項1記載の底材マークシステム。2. 2. The bottom material marking system according to claim 1, wherein the marking device comprises a pressing cylinder that crushes the embossed portion of the corresponding portion of the bottom material.
た場合、カウント零に戻ることを特徴とする請求項1記
載の底材マークシステム。3. 2. The bottom material marking system according to claim 1, wherein the counter returns to zero when a defect in the bottom material is discovered by the inspection section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33934089A JPH03200525A (en) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | Bottom material mark system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33934089A JPH03200525A (en) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | Bottom material mark system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03200525A true JPH03200525A (en) | 1991-09-02 |
Family
ID=18326525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33934089A Pending JPH03200525A (en) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | Bottom material mark system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03200525A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008230633A (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Panasonic Ev Energy Co Ltd | Defective article selecting device and defective article selecting method |
| JP2015040073A (en) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社旭金属 | Small bag continuum processing equipment |
-
1989
- 1989-12-27 JP JP33934089A patent/JPH03200525A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008230633A (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Panasonic Ev Energy Co Ltd | Defective article selecting device and defective article selecting method |
| JP2015040073A (en) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社旭金属 | Small bag continuum processing equipment |
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