JPH03200525A - 底材マークシステム - Google Patents
底材マークシステムInfo
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- JPH03200525A JPH03200525A JP33934089A JP33934089A JPH03200525A JP H03200525 A JPH03200525 A JP H03200525A JP 33934089 A JP33934089 A JP 33934089A JP 33934089 A JP33934089 A JP 33934089A JP H03200525 A JPH03200525 A JP H03200525A
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- JP
- Japan
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- embossed
- inspection device
- defective
- inspection
- Prior art date
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- Auxiliary Devices For And Details Of Packaging Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は電子部品搬送体の底材の不良部分、または所定
個数毎のエンボス部をマークする底材マークシステム。
個数毎のエンボス部をマークする底材マークシステム。
(従来の技術)
従来、IC等の電子部品を多数包装して搬送する合成樹
脂製の電子部品搬送体が知られている。
脂製の電子部品搬送体が知られている。
この電子部品搬送体は、IC等の電子部品を収納する底
材と、底材を覆う平板状蓋材とを備えている。このうち
底材は電子部品搬送体のエンボス部と、エンボス部上端
開口のフランジ部とからなり、蓋材はこのフランジ部に
ヒートシールされるようになっている。またエンボス部
は111列で連続して多数設けられており、各エンボス
部はエンボス部上端開口のフランジ部によって連結され
ている。
材と、底材を覆う平板状蓋材とを備えている。このうち
底材は電子部品搬送体のエンボス部と、エンボス部上端
開口のフランジ部とからなり、蓋材はこのフランジ部に
ヒートシールされるようになっている。またエンボス部
は111列で連続して多数設けられており、各エンボス
部はエンボス部上端開口のフランジ部によって連結され
ている。
このような構成からなる電子部品搬送体において、IC
等の電子部品が底材の各エンボス部内に収納され、その
後、底材のフランジ部に平板状蓋材がヒートシールされ
て電子部品が包装される。
等の電子部品が底材の各エンボス部内に収納され、その
後、底材のフランジ部に平板状蓋材がヒートシールされ
て電子部品が包装される。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、上述した底材は、合成樹脂製のシート板を素
材として用い、このシート板にエンボス部を成形装置に
より成形し、更にパンチ孔をパンチ装置により成形して
作成される。このう゛ち、パンチ孔は底材を移送するた
めのものであり、エンボス部に隣接するフランジ部に所
定ピッチで連続して成形される。
材として用い、このシート板にエンボス部を成形装置に
より成形し、更にパンチ孔をパンチ装置により成形して
作成される。このう゛ち、パンチ孔は底材を移送するた
めのものであり、エンボス部に隣接するフランジ部に所
定ピッチで連続して成形される。
しかしながら、シート板から底材を作成するにあたって
、成形されたエンボス部またはパンチ孔に関し、成形厚
または成形ピッチ等が不良となる場合がある。また、作
成された底材を所定個数のエンボス部毎にまとめておき
たい場合がある。
、成形されたエンボス部またはパンチ孔に関し、成形厚
または成形ピッチ等が不良となる場合がある。また、作
成された底材を所定個数のエンボス部毎にまとめておき
たい場合がある。
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、
底材の不良部分または所定個数毎のエンボス部をマーク
することができる底′材マークシステムを提供すること
を目的とする。
底材の不良部分または所定個数毎のエンボス部をマーク
することができる底′材マークシステムを提供すること
を目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、移送される合成樹脂製底材のエンボス部の数
を所定個数に達するまで順次カウントするカウンタと、
前記底材の良・不良を検査する検査装置と、前記カウン
タによってエンボス部が所定個数カウントされた場合、
または前記検査装置によって前記底材の不良が発見され
た場合、これらカウンタまたは検査部からの信号にもと
ずき前記底材の該当部分をマークするマーキング装置と
を備えたことを特徴とする底材マークシステムである。
を所定個数に達するまで順次カウントするカウンタと、
前記底材の良・不良を検査する検査装置と、前記カウン
タによってエンボス部が所定個数カウントされた場合、
または前記検査装置によって前記底材の不良が発見され
た場合、これらカウンタまたは検査部からの信号にもと
ずき前記底材の該当部分をマークするマーキング装置と
を備えたことを特徴とする底材マークシステムである。
(作 用)
本発明によれば、作成された底材について、所定個数の
エンボス部毎、および不良部分に容易かつ簡単にマーク
を入れることができる。
エンボス部毎、および不良部分に容易かつ簡単にマーク
を入れることができる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。
。
まず電子部品搬送体について第7図および第8図により
説明する。第7図および第8図において、電子部品搬送
体70は、IC等の電子部品77を収納する底材71と
、底材71を覆う蓋材75とを備えている。また底材7
1は電子部品収納□用のエンボス部72と、エンボス部
72上端開口のフランジ部73とからなり、蓋材75は
このフランジ部73にヒートシールされるようになって
いる。
説明する。第7図および第8図において、電子部品搬送
体70は、IC等の電子部品77を収納する底材71と
、底材71を覆う蓋材75とを備えている。また底材7
1は電子部品収納□用のエンボス部72と、エンボス部
72上端開口のフランジ部73とからなり、蓋材75は
このフランジ部73にヒートシールされるようになって
いる。
エンボス部72は、711列で連続して設けられており
、各エンボス72は上端開口のフランジ部73によって
互いに連結されている。
、各エンボス72は上端開口のフランジ部73によって
互いに連結されている。
底材71は例えば塩化ビニル製またはポリスチレン製シ
ート板を真空または圧空成形して形成され、一方蓋材は
合成樹脂製の積層シートからなっている。またフランジ
部73には、エンボス部72に隣接して複数のパンチ孔
74が連続して設けられている。このパンチ孔74は、
底材71を移送するためのものである。
ート板を真空または圧空成形して形成され、一方蓋材は
合成樹脂製の積層シートからなっている。またフランジ
部73には、エンボス部72に隣接して複数のパンチ孔
74が連続して設けられている。このパンチ孔74は、
底材71を移送するためのものである。
次に電子部品搬送体の底材製造装置について、(図面の
簡単な説明) 第5図において、底材製造方法を行なう製造装置10は
、巻体11、ダンサロール12、予熱ロール13、加熱
装置14、成形装置15、冷却装置16、パンチ装置1
7、送り部18、ダンサロール19、検査ユニット20
.スリット装置21、パンチ孔検査装置30.マーキン
グ装置22、引張りロール24、および巻体23を順次
配設して構成されている。
簡単な説明) 第5図において、底材製造方法を行なう製造装置10は
、巻体11、ダンサロール12、予熱ロール13、加熱
装置14、成形装置15、冷却装置16、パンチ装置1
7、送り部18、ダンサロール19、検査ユニット20
.スリット装置21、パンチ孔検査装置30.マーキン
グ装置22、引張りロール24、および巻体23を順次
配設して構成されている。
このうち、加熱装置14は1段加熱装置14a。
2段加熱装置14b、および3段加熱装置14cからな
り、シート板51を3段に別けて加熱するようになって
いる。また、1段加熱装置14a。
り、シート板51を3段に別けて加熱するようになって
いる。また、1段加熱装置14a。
2段加熱装置14b、および3段加熱装置14cは、同
様の構成となっており、それぞれ加熱下金型28と加熱
上金型2つとからなっている。
様の構成となっており、それぞれ加熱下金型28と加熱
上金型2つとからなっている。
また、成形装置15は成形下金型32と成形上金型34
とからなり、シート板51にエンボス部72を成形する
ようになっている。さらに、ノ<ンチ装置17はパンチ
下金型41とノくンチ上金型45とからなり、フランジ
部にパンチ孔74を成形するようになっている。
とからなり、シート板51にエンボス部72を成形する
ようになっている。さらに、ノ<ンチ装置17はパンチ
下金型41とノくンチ上金型45とからなり、フランジ
部にパンチ孔74を成形するようになっている。
次に本発明による底材マークシステムについて第1図乃
至第4図により詳述する。ここで第1図は底材マークシ
ステムを示す図であって、第5図のうちダンサロール1
9より下流側を示す拡大図である。
至第4図により詳述する。ここで第1図は底材マークシ
ステムを示す図であって、第5図のうちダンサロール1
9より下流側を示す拡大図である。
第1図において、検査ユニット20内には、底材の移送
方向に向って、上流側から順にエンボス底部検査装置5
3、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置
55、位置検査装置60゜およびカウンタ63が配置さ
れている。
方向に向って、上流側から順にエンボス底部検査装置5
3、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置
55、位置検査装置60゜およびカウンタ63が配置さ
れている。
このうち、エンボス底部検査装置53およびフランジ部
検査装置54は、それぞれエンボス部72およびフラン
ジ部73の厚さを検査するものであり、いずれもトリメ
トロン等により構成されている。
検査装置54は、それぞれエンボス部72およびフラン
ジ部73の厚さを検査するものであり、いずれもトリメ
トロン等により構成されている。
またエンボスピッチ検査装置55はエンボス部72のピ
ッチを検査するものであり、底材71の上方に設けられ
エンボス部72に対応する形状の突部56aを有する上
部型56と、底材71の下方に設けられた下部管57と
からなっている。エンボス部72のピッチ検査にあたっ
ては、上部型56を降下させる。そして、エンボス部7
2のピッチがずれている場合には、上部型56が底材7
1を下部管57に対して押圧し、押圧力による下部管5
7の変位によってエンボスピッチの不良を検出するよう
になっている。
ッチを検査するものであり、底材71の上方に設けられ
エンボス部72に対応する形状の突部56aを有する上
部型56と、底材71の下方に設けられた下部管57と
からなっている。エンボス部72のピッチ検査にあたっ
ては、上部型56を降下させる。そして、エンボス部7
2のピッチがずれている場合には、上部型56が底材7
1を下部管57に対して押圧し、押圧力による下部管5
7の変位によってエンボスピッチの不良を検出するよう
になっている。
また、位置検査装置60は第2図に示すように、エンボ
ス部72とパンチ孔74の位置関係を検査するものであ
り、底材71の上方に設けられエンボス部72に対応す
る形状の突部61aおよびノくフチ孔74に対応する形
状の突部61bを有する上部型61と、底材61の下方
に設けられた下部管62とからなっている。エンボス部
72と/<フチ孔74の位置関係の検査にあたっては、
上部型61を降下させる。そして、エンボス部72とノ
くフチ孔74との位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部管62に対17て抑圧し、この押
圧力による下部管62の変位によってエンボス部72と
パンチ孔74の位置不良を検出するようになっている。
ス部72とパンチ孔74の位置関係を検査するものであ
り、底材71の上方に設けられエンボス部72に対応す
る形状の突部61aおよびノくフチ孔74に対応する形
状の突部61bを有する上部型61と、底材61の下方
に設けられた下部管62とからなっている。エンボス部
72と/<フチ孔74の位置関係の検査にあたっては、
上部型61を降下させる。そして、エンボス部72とノ
くフチ孔74との位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部管62に対17て抑圧し、この押
圧力による下部管62の変位によってエンボス部72と
パンチ孔74の位置不良を検出するようになっている。
また、カウンタ63は、移送されてくるエンボス部72
の数を送りショット方式によって順次カウントするもの
である。
の数を送りショット方式によって順次カウントするもの
である。
さらに検査ユニット20の下流側近傍には、底材71を
間歇的、例えば2シヨツトずつ移送する送りロール25
が設けられている。
間歇的、例えば2シヨツトずつ移送する送りロール25
が設けられている。
次にパンチ孔検査装置30およびマーキング装置22に
ついて詳述する。
ついて詳述する。
第3図および第4図に示すようにパンチ孔検査装置30
は、底材71のパンチ孔74のピッチを検査するもので
ある。すなわち、パチン孔検査装置30は、底材71の
フランジ部73の下側に設けられたピンロール31と、
フランジ部73の上側に設けられ、ピンロール31との
間でフランジ部73を抑圧する押えロール35とを備え
ている。
は、底材71のパンチ孔74のピッチを検査するもので
ある。すなわち、パチン孔検査装置30は、底材71の
フランジ部73の下側に設けられたピンロール31と、
フランジ部73の上側に設けられ、ピンロール31との
間でフランジ部73を抑圧する押えロール35とを備え
ている。
ピンロール31の外周面には、底材71のノくフチ孔7
4内に順次仲人されるピン32が、所定間隔(ピッチ)
をおいて複数配設されている。またピンロール31はシ
ャフト33の回りを回転するようになっている。
4内に順次仲人されるピン32が、所定間隔(ピッチ)
をおいて複数配設されている。またピンロール31はシ
ャフト33の回りを回転するようになっている。
他方、押えロール35は第4図に示すように断面略H形
状をなし、外周面から半径方向内方に向ってピンロール
31のビン32が進入する空間38が形成されている。
状をなし、外周面から半径方向内方に向ってピンロール
31のビン32が進入する空間38が形成されている。
押えロール35はシャフト39の回りを回転するととも
に、シャフト39の両端の軸受部36は移動軸37に支
持されている。移動軸37は上下方向に移動自在となっ
ており、ストッパ41に取付けられたスプリング40に
よって常に下方に押付けられている。また移動軸37に
は、位置検出用の検知部43が取付けられており、更に
検知部43の外方には近接スイッチ42が設けられてい
る。
に、シャフト39の両端の軸受部36は移動軸37に支
持されている。移動軸37は上下方向に移動自在となっ
ており、ストッパ41に取付けられたスプリング40に
よって常に下方に押付けられている。また移動軸37に
は、位置検出用の検知部43が取付けられており、更に
検知部43の外方には近接スイッチ42が設けられてい
る。
また、第1図に示すようにマーキング装置22は、所定
のエンボス部72を押つぶすものであり、底材71の下
方に設けられた抑圧シリンダ22aと、底材71の上方
に設けられた受体22bとからなっている。さらに押圧
シリンダ22aはシリンダ制御装置65により駆動制御
されるようになっている。
のエンボス部72を押つぶすものであり、底材71の下
方に設けられた抑圧シリンダ22aと、底材71の上方
に設けられた受体22bとからなっている。さらに押圧
シリンダ22aはシリンダ制御装置65により駆動制御
されるようになっている。
また、第1図に示すように、エンボス底部検査装置53
、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置5
5、位置検査装置60.およびパンチ孔検査装置30は
、いずれもシリンダ制御装置65に電気的に接続されて
いる。またカウンタ63はシリンダ制御装置65に電気
的に接続されている。
、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装置5
5、位置検査装置60.およびパンチ孔検査装置30は
、いずれもシリンダ制御装置65に電気的に接続されて
いる。またカウンタ63はシリンダ制御装置65に電気
的に接続されている。
次に本実施例の作用について説明する。
まず電子部品搬送体の底材製造工程について説明する。
塩化ビニル製またはポリスチレン製シート板51が巻体
11から連続的に供給され、ダンサロール12および予
熱ロール13を通って加熱装置14に移送される。シー
ト板51は加熱装置14の1段加熱装置14a、2段加
熱装置It14b。
11から連続的に供給され、ダンサロール12および予
熱ロール13を通って加熱装置14に移送される。シー
ト板51は加熱装置14の1段加熱装置14a、2段加
熱装置It14b。
および3段加熱装置14cによって順次加熱されていく
。
。
巻体11から連続的に移送されるシート板51は、予熱
ロール13から送り部18まで間歇的に移送されて各種
の処理が行なわれる。さらに、その後送りロール25ま
で間歇的に移送されて各種の検査が行なわれた後、再び
連続的に巻体23まで移送されることになるが、これら
の移送mlは、2つのダンサロール12.19によって
行なわれる。
ロール13から送り部18まで間歇的に移送されて各種
の処理が行なわれる。さらに、その後送りロール25ま
で間歇的に移送されて各種の検査が行なわれた後、再び
連続的に巻体23まで移送されることになるが、これら
の移送mlは、2つのダンサロール12.19によって
行なわれる。
シート板51は成形装置15に移送され、この成形装置
15において、シート板51に底材71のエンボス部7
2およびガイド開ロア9(第6図)が成形される。この
ガイド開ロア9は、パンチ装置17においてシート板5
1の位置決めを行なう際用いられる。また、シート板5
1のエンボス部72以外の部分は、そのままフランジ部
73となる。
15において、シート板51に底材71のエンボス部7
2およびガイド開ロア9(第6図)が成形される。この
ガイド開ロア9は、パンチ装置17においてシート板5
1の位置決めを行なう際用いられる。また、シート板5
1のエンボス部72以外の部分は、そのままフランジ部
73となる。
次にシート板51は、冷却装置16に移送されて冷却さ
れ、その後パンチ装置17に移送されて、エンボス部7
2に隣接するフランジ部73にパンチ孔74が連続して
成形される。
れ、その後パンチ装置17に移送されて、エンボス部7
2に隣接するフランジ部73にパンチ孔74が連続して
成形される。
このようにして、第6図に示すような多列、例えば4列
のエンボス部72およびこれに対応するパンチ孔74を
有する底材71が成形される。続いてこの多列の底材7
1は、送り部18からダンサロール19を経て検査ユニ
ット20に移送される。
のエンボス部72およびこれに対応するパンチ孔74を
有する底材71が成形される。続いてこの多列の底材7
1は、送り部18からダンサロール19を経て検査ユニ
ット20に移送される。
検査ユニット20において、はじめに底材71は、エン
ボス底部検査装置53によってエンボス72底部が所定
厚を有するか否かが検査され、続いてフランジ部検査装
置54によってフランジ部54が所定厚を有するか否か
が検査される。そして、これらの検査結果はシリンダ制
御装置65に送信される。
ボス底部検査装置53によってエンボス72底部が所定
厚を有するか否かが検査され、続いてフランジ部検査装
置54によってフランジ部54が所定厚を有するか否か
が検査される。そして、これらの検査結果はシリンダ制
御装置65に送信される。
続いて底材71は、エンボスピッチ検査装置55によっ
てエンボス部72のピッチが検査される。すなわち、エ
ンボスピッチ検査装置55において、上部型56が降下
し突部56aをエンボス部72内に押入させる。エンボ
ス部72のピッチがずれている場合は、上部型56が底
材71を下部受57に対して押圧し、押圧力による下部
受57の変位によってエンボスピッチの不良が検出され
る。そしてこの検査結果はシリンダ制御装置65に送信
される。
てエンボス部72のピッチが検査される。すなわち、エ
ンボスピッチ検査装置55において、上部型56が降下
し突部56aをエンボス部72内に押入させる。エンボ
ス部72のピッチがずれている場合は、上部型56が底
材71を下部受57に対して押圧し、押圧力による下部
受57の変位によってエンボスピッチの不良が検出され
る。そしてこの検査結果はシリンダ制御装置65に送信
される。
続いて底材は、位置検査装置f60によってエンボス部
72とパンチ孔74との位置関係が検査される。すなわ
ち、位置検査装置60において、上部型61が降下し突
部61aおよび61bを、それぞれエンボス部72およ
びパンチ孔74山に押入させる。エンボス部72とパン
チ孔74との間の位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部受62に対して押圧し、この押圧
力による下部受62の変位によってエンボス部72とパ
ンチ孔74との間の位置不良が検出される。そしてこの
検査結果もシリンダ制御装置65に送信される。
72とパンチ孔74との位置関係が検査される。すなわ
ち、位置検査装置60において、上部型61が降下し突
部61aおよび61bを、それぞれエンボス部72およ
びパンチ孔74山に押入させる。エンボス部72とパン
チ孔74との間の位置関係がずれている場合は、上部型
61が底材71を下部受62に対して押圧し、この押圧
力による下部受62の変位によってエンボス部72とパ
ンチ孔74との間の位置不良が検出される。そしてこの
検査結果もシリンダ制御装置65に送信される。
続いて底材71は、カウンタ63によってエンボス部7
2の個数がカウントされ、所定個数、例えば200個に
達した場合、カウントの粘果がシリンダ制御装置65に
送信される。同時に、カウンタ63はリセットされてカ
ウント零となり、再びカウントが開始される。
2の個数がカウントされ、所定個数、例えば200個に
達した場合、カウントの粘果がシリンダ制御装置65に
送信される。同時に、カウンタ63はリセットされてカ
ウント零となり、再びカウントが開始される。
なお、エンボス底部検査装置53、フランジ部検査装置
54、エンボスピッチ検査装v!t55、および位置検
査装置60からの不良信号がシリンダ制御装置65に送
信された場合、および後述するパンチ孔検査装置30か
らの不良信号かシリンダ制御装置65に送信された場合
、このシリンダ制御装置65からの信号により、後述の
ように押圧シリンダ22aが駆動され、同時にカウンタ
63がリセットされてカウント零に戻るようになってい
る。
54、エンボスピッチ検査装v!t55、および位置検
査装置60からの不良信号がシリンダ制御装置65に送
信された場合、および後述するパンチ孔検査装置30か
らの不良信号かシリンダ制御装置65に送信された場合
、このシリンダ制御装置65からの信号により、後述の
ように押圧シリンダ22aが駆動され、同時にカウンタ
63がリセットされてカウント零に戻るようになってい
る。
続いて、多列の底材71は送りロール25からスリット
装置21に移送され、このスリット装置21でフランジ
部73が移送方向に切断されて各列毎に分割され、その
後底材71はパンチ孔検査装置30まで移動される。
装置21に移送され、このスリット装置21でフランジ
部73が移送方向に切断されて各列毎に分割され、その
後底材71はパンチ孔検査装置30まで移動される。
底材71がパンチ孔検査装置30まで移送されると、ビ
ンロール31のビン32が順次パンチ孔74内に仲人さ
れビンロール31がシャフト33回りを回転する。この
場合、底材71のフランジ部73は、ビンロール31の
ビン32以外の外周面部分と押えロール35の外周面に
よって押圧され、これによって押えロール35もシャフ
ト39回りを回転する。また、バンチ孔74内に抑大さ
れたビンロール31のビン32は、空間38西に進入す
るため、ビン32は押えロール35の外周面に当接しな
いようになっている。
ンロール31のビン32が順次パンチ孔74内に仲人さ
れビンロール31がシャフト33回りを回転する。この
場合、底材71のフランジ部73は、ビンロール31の
ビン32以外の外周面部分と押えロール35の外周面に
よって押圧され、これによって押えロール35もシャフ
ト39回りを回転する。また、バンチ孔74内に抑大さ
れたビンロール31のビン32は、空間38西に進入す
るため、ビン32は押えロール35の外周面に当接しな
いようになっている。
フランジ部73に所定ピッチから外れてパンチ孔74が
成形された場合、ビンロール31のビン32はこの不良
パンチ孔74内に進入できなくなる。このため底材71
のフランジ部73はビン32によって上方へ持上げられ
、これによって押えロール35もフランジ部73によっ
てスプリング40の抑圧力に抗して上方へ持上げられる
。この場合、シャフト3つ、軸受部36、および移動軸
37が一体となって上方へ移動し、移動軸37の移動は
、近接スイッチ42と検知部43とによって構成された
検知装置によって検出される。そしてこの検査結果はシ
リンダ制御装置65に送信される。
成形された場合、ビンロール31のビン32はこの不良
パンチ孔74内に進入できなくなる。このため底材71
のフランジ部73はビン32によって上方へ持上げられ
、これによって押えロール35もフランジ部73によっ
てスプリング40の抑圧力に抗して上方へ持上げられる
。この場合、シャフト3つ、軸受部36、および移動軸
37が一体となって上方へ移動し、移動軸37の移動は
、近接スイッチ42と検知部43とによって構成された
検知装置によって検出される。そしてこの検査結果はシ
リンダ制御装置65に送信される。
続いて、底材71はマーキング装置22まで移送され、
底材71のうち所定のエンボス部72が押しつぶされる
ようになっている。
底材71のうち所定のエンボス部72が押しつぶされる
ようになっている。
マーキング装置22の作用について、以下詳述する。
まず通常運転特は、前述のように底材71のエンボス部
71の数がカウンタ63によってカウントされ、例えば
200個に達した場合、カウントの結果がシリンダ制御
装置65に送信される。そして、シリンダ制御装置65
によって、押圧シリンダ22aが駆動され、この抑圧シ
リンダ22aを受体22bとの間で該当するエンボス部
72が複数、例えば2〜3個押つぶされる。このように
所定個数のエンボス部72枚にマークを入れることによ
り、その後底材71をこのマーク部分で切断して所定長
さの底材71を得ることができる。
71の数がカウンタ63によってカウントされ、例えば
200個に達した場合、カウントの結果がシリンダ制御
装置65に送信される。そして、シリンダ制御装置65
によって、押圧シリンダ22aが駆動され、この抑圧シ
リンダ22aを受体22bとの間で該当するエンボス部
72が複数、例えば2〜3個押つぶされる。このように
所定個数のエンボス部72枚にマークを入れることによ
り、その後底材71をこのマーク部分で切断して所定長
さの底材71を得ることができる。
次に作成された底材71に関し、エンボス底部検査装置
53、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装
置55、位置検査装置60、またはパンチ孔検査装置3
0等によって底材71の不良部分か検出された場合、こ
れらの検査装置53゜54.55.60.および30か
ら底材の不良信号がシリンダ制御装置65に送信される
。この場合、各検査装置53,54,55.60および
30からの不良信号は、マーキング装置22からの距離
に対応した所定の遅れ時間をもって送信される。そして
、シリンダ制御装置65によって押圧シリンダ22aが
駆動され、押圧シリンダ22aと受体22bの間で不良
箇所近傍のエンボス部72が複数押つぶされる。同時に
シリンダ制御装置65からの信号により、カウンタ63
が直ちにリセットされてカウント零となり、その後のエ
ンボス部72から再度カウントが開始される。そして前
述の場合と同様、例えば200個のエンボス部72毎に
マークが入れられる。
53、フランジ部検査装置54、エンボスピッチ検査装
置55、位置検査装置60、またはパンチ孔検査装置3
0等によって底材71の不良部分か検出された場合、こ
れらの検査装置53゜54.55.60.および30か
ら底材の不良信号がシリンダ制御装置65に送信される
。この場合、各検査装置53,54,55.60および
30からの不良信号は、マーキング装置22からの距離
に対応した所定の遅れ時間をもって送信される。そして
、シリンダ制御装置65によって押圧シリンダ22aが
駆動され、押圧シリンダ22aと受体22bの間で不良
箇所近傍のエンボス部72が複数押つぶされる。同時に
シリンダ制御装置65からの信号により、カウンタ63
が直ちにリセットされてカウント零となり、その後のエ
ンボス部72から再度カウントが開始される。そして前
述の場合と同様、例えば200個のエンボス部72毎に
マークが入れられる。
このように底材71の不良部分をマークし、この不良部
分を除いて所定個数のエンボス部毎にマークを入れてい
くことにより、製品精度の向上を図ることができる。
分を除いて所定個数のエンボス部毎にマークを入れてい
くことにより、製品精度の向上を図ることができる。
次にこのように所定個数のエンボス部毎および不良部分
についてマークされた4列の底材71は、その後巻体2
3に巻取られる。このようにして、連続する単列のエン
ボス部72と、エンボス部72を互いに連結するフラン
ジ部73と、フランジ部73にエンボス部72に対応し
て設けられた単列のパンチ孔74とを備えた底材71が
製造される(第7図)。
についてマークされた4列の底材71は、その後巻体2
3に巻取られる。このようにして、連続する単列のエン
ボス部72と、エンボス部72を互いに連結するフラン
ジ部73と、フランジ部73にエンボス部72に対応し
て設けられた単列のパンチ孔74とを備えた底材71が
製造される(第7図)。
本実施例によれば、底材71について不良部分が生じた
場合、この不良部分近傍のエンボス部を押しつぶしてマ
ークするとともに、この不良部分を除いて所定個数のエ
ンボス部毎にマークを入れることにより、製品精度の高
い所定長さの底材を得ることができる。
場合、この不良部分近傍のエンボス部を押しつぶしてマ
ークするとともに、この不良部分を除いて所定個数のエ
ンボス部毎にマークを入れることにより、製品精度の高
い所定長さの底材を得ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、作成された底材
について所定個数のエンボス部毎および不良部分にマー
クを入れることができる。このためその後このマーク部
を切断することにより、製品精度の高い所定長さの底材
を迅速かつ確実に得ることができる。
について所定個数のエンボス部毎および不良部分にマー
クを入れることができる。このためその後このマーク部
を切断することにより、製品精度の高い所定長さの底材
を迅速かつ確実に得ることができる。
第1図は本発明によりマークシステムの一実施例を示す
概略系統図であり、第2図は位置検査装置を底材移送方
向の下流側からみた図、第3図はパンチ孔検査装置を示
す側面図であり、第4図はその断面図であり、第5図は
電子部品搬送体の底材製造装置を示す概略図であり、第
6図は多列の底材を示す平面図であり、第7図は電子部
品搬送体の部分斜視図であり、第8図は第7図■−■線
断面図である。 10・・・底材製造装置、11・・・巻体、12・・・
ダンサロール、14・・・加熱装置、15・・・成形装
置、17・・・パンチ装置、20・・・検査ユニット、
21・・・スリット装置、22・・・マーキング装置、
23・・・巻体、30・・・パンチ孔検査装置、51・
・・シート板、53・・・エンボス底部検査装置、54
・・・フランジ部検査装置、55・・・エンボスピッチ
検査装置、60・・・位置検査装置、63・・・カウン
タ、65・・・シリンダ制御装置、71・・・底材、7
2・・・エンボス部、73・・・フランジ部、74・・
・パンチ孔。 出願人代理人 佐 藤 −雄 佃
概略系統図であり、第2図は位置検査装置を底材移送方
向の下流側からみた図、第3図はパンチ孔検査装置を示
す側面図であり、第4図はその断面図であり、第5図は
電子部品搬送体の底材製造装置を示す概略図であり、第
6図は多列の底材を示す平面図であり、第7図は電子部
品搬送体の部分斜視図であり、第8図は第7図■−■線
断面図である。 10・・・底材製造装置、11・・・巻体、12・・・
ダンサロール、14・・・加熱装置、15・・・成形装
置、17・・・パンチ装置、20・・・検査ユニット、
21・・・スリット装置、22・・・マーキング装置、
23・・・巻体、30・・・パンチ孔検査装置、51・
・・シート板、53・・・エンボス底部検査装置、54
・・・フランジ部検査装置、55・・・エンボスピッチ
検査装置、60・・・位置検査装置、63・・・カウン
タ、65・・・シリンダ制御装置、71・・・底材、7
2・・・エンボス部、73・・・フランジ部、74・・
・パンチ孔。 出願人代理人 佐 藤 −雄 佃
Claims (3)
- 1.移送される合成樹脂製底材のエンボス部の数を所定
個数に達するまで順次カウントするカウンタと、前記底
材の良・不良を検査する検査装置と、前記カウンタによ
ってエンボス部が所定個数カウントされた場合、または
前記検査装置によって前記底材の不良が発見された場合
、これらカウンタまたは検査部からの信号にもとずき 前記底材の該当部分をマークするマーキング装置とを備
えたことを特徴とする底材マークシステム。 - 2.マーキング装置は、底材の該当部分のエンボス部を
押しつぶす押圧シリンダからなることを特徴とする請求
項1記載の底材マークシステム。 - 3.カウンタは、検査部によって底材の不良が発見され
た場合、カウント零に戻ることを特徴とする請求項1記
載の底材マークシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33934089A JPH03200525A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 底材マークシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33934089A JPH03200525A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 底材マークシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03200525A true JPH03200525A (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=18326525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33934089A Pending JPH03200525A (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 | 底材マークシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03200525A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008230633A (ja) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Panasonic Ev Energy Co Ltd | 不良品選別器および不良品選別方法 |
| JP2015040073A (ja) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社旭金属 | 小袋連続体処理装置 |
-
1989
- 1989-12-27 JP JP33934089A patent/JPH03200525A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008230633A (ja) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Panasonic Ev Energy Co Ltd | 不良品選別器および不良品選別方法 |
| JP2015040073A (ja) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社旭金属 | 小袋連続体処理装置 |
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