JPH03201486A - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents
光起電力装置の製造方法Info
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- JPH03201486A JPH03201486A JP1340819A JP34081989A JPH03201486A JP H03201486 A JPH03201486 A JP H03201486A JP 1340819 A JP1340819 A JP 1340819A JP 34081989 A JP34081989 A JP 34081989A JP H03201486 A JPH03201486 A JP H03201486A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、太陽光発電等に利用される光起電力装置の製
造方法に関する。
造方法に関する。
(ロ)従来の技術
透光性地縁基板上に、複数の単位発電素子を形成し、そ
れら複数の単位発電素子を互いに電気的に直列接続する
ことによって、直列接続段数に応じた出力電圧の光起電
力装置が得られる。斯る直列接続形態として、隣接する
一方の単位発電素子を構成する基板側の第1電極と、他
方の単位発電素Tの第2電極を、互いに発電有効領域が
ら延在せしめ直接結合する方法が知られている(特公昭
62−14954号公報参照)。
れら複数の単位発電素子を互いに電気的に直列接続する
ことによって、直列接続段数に応じた出力電圧の光起電
力装置が得られる。斯る直列接続形態として、隣接する
一方の単位発電素子を構成する基板側の第1電極と、他
方の単位発電素Tの第2電極を、互いに発電有効領域が
ら延在せしめ直接結合する方法が知られている(特公昭
62−14954号公報参照)。
しかし乍ら、この直列接続形態によれば、単位発電素子
の半導体膜を、直列接続が行なわれる隣接間隔部におい
て第1電極を露出させるべく、7オトリソグラフイによ
りパターニングする必要性があり、この7オトリソグラ
フイによるパターニングは光起電力装置の大面積化を阻
害するばがりか、多くの工程を経なければならないため
に低コス+化に対しても好ましくない。
の半導体膜を、直列接続が行なわれる隣接間隔部におい
て第1電極を露出させるべく、7オトリソグラフイによ
りパターニングする必要性があり、この7オトリソグラ
フイによるパターニングは光起電力装置の大面積化を阻
害するばがりか、多くの工程を経なければならないため
に低コス+化に対しても好ましくない。
そこで、本願出願人は大面積化及び低コスト化を実現す
べく、レーザビームを使用する手法を特願昭60−17
3684号(特開昭(32−33477号公報)を出願
した。即ち、第1電極の直列接続予定箇所に導電ペース
トを塗布し、この導電ペーストに平行に近接して絶縁ペ
ーストを塗布した後約500℃以上の温度で焼成し、半
導体膜をバターニングすることなくし記導電ペースト、
絶縁ペースト及び第1電極を含んで基板全面に形成し、
引き続き第2電極を半導体膜全面を被って形成する。最
後に、第2tIiiiIlllがら導電ペーストと絶縁
ペーストが下層に位置する部位にレーザビームが4電ペ
ーストの部位を低エネルギ密度の照射条件で照射され、
第2電極と導電ペーストとが溶着されると共に、絶縁ペ
ースト上で第2電極と半導体膜が各単位発電素子毎に物
理的に分割される。
べく、レーザビームを使用する手法を特願昭60−17
3684号(特開昭(32−33477号公報)を出願
した。即ち、第1電極の直列接続予定箇所に導電ペース
トを塗布し、この導電ペーストに平行に近接して絶縁ペ
ーストを塗布した後約500℃以上の温度で焼成し、半
導体膜をバターニングすることなくし記導電ペースト、
絶縁ペースト及び第1電極を含んで基板全面に形成し、
引き続き第2電極を半導体膜全面を被って形成する。最
後に、第2tIiiiIlllがら導電ペーストと絶縁
ペーストが下層に位置する部位にレーザビームが4電ペ
ーストの部位を低エネルギ密度の照射条件で照射され、
第2電極と導電ペーストとが溶着されると共に、絶縁ペ
ースト上で第2電極と半導体膜が各単位発電素子毎に物
理的に分割される。
このような分離に使用される絶縁ペーストとヒては、半
導体膜が形成される前に設けられる関係」二、この半導
体膜の形成時に悪影響を及ぼしてはならず、半導体膜を
大面積化や薄膜化に有効なCVD(化学的気相堆積)法
であるプラズマCVD1去で戊摸したアモルファスシリ
コンや微結晶シリコンとした場合、殊にアウトガスによ
る不純物の混入を避けるために500℃以上で焼成され
るガラスペーストが一般的に用いられる。
導体膜が形成される前に設けられる関係」二、この半導
体膜の形成時に悪影響を及ぼしてはならず、半導体膜を
大面積化や薄膜化に有効なCVD(化学的気相堆積)法
であるプラズマCVD1去で戊摸したアモルファスシリ
コンや微結晶シリコンとした場合、殊にアウトガスによ
る不純物の混入を避けるために500℃以上で焼成され
るガラスペーストが一般的に用いられる。
一方、レーザビームを用いたバターニングの他の手法と
して、米国特許第4.668.830号明細書並びに図
面に示された如く、第2電極の分割部位にのみ絶縁体を
設け、この絶縁体で照射されるレーザビームの下層への
到達を遮断する方法が提案されている。斯る米国特許に
よる先行技術によtLば、J−記絶縁体の形成を半導体
膜の成膜前と、成膜後に行なう2つの方法が開示されて
いる。その内、半導体膜を成膜後当該半導体膜上に絶縁
体を配置した方法にあっては、上記絶縁体を成膜前に形
成するように高温焼成処理を施すと、下層の半導体膜に
対して熱的損傷を与えるために、焼成処理を必要とする
ペースト材を使用することができない。従って、専ら2
00℃程度或いはそれ以下の温度で熱硬化せしめられる
エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ポ
リアミド樹脂、シリコーン樹脂等の高分子樹脂材料が用
いられている。
して、米国特許第4.668.830号明細書並びに図
面に示された如く、第2電極の分割部位にのみ絶縁体を
設け、この絶縁体で照射されるレーザビームの下層への
到達を遮断する方法が提案されている。斯る米国特許に
よる先行技術によtLば、J−記絶縁体の形成を半導体
膜の成膜前と、成膜後に行なう2つの方法が開示されて
いる。その内、半導体膜を成膜後当該半導体膜上に絶縁
体を配置した方法にあっては、上記絶縁体を成膜前に形
成するように高温焼成処理を施すと、下層の半導体膜に
対して熱的損傷を与えるために、焼成処理を必要とする
ペースト材を使用することができない。従って、専ら2
00℃程度或いはそれ以下の温度で熱硬化せしめられる
エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ポ
リアミド樹脂、シリコーン樹脂等の高分子樹脂材料が用
いられている。
第21電極としては通常Al、Ni、Ti等の金属層の
単層、或いはこの金属層を含む多層構造が用いられ、ま
たこの第2に極を光入射側としたとき、ITOやSnO
,等に代表される透光性導電酸化物(T CO)が用い
られるが、このような金属層やTe3層はレーザビーム
に対し高反射性や高透過性を示すために、レーザパタニ
ングのためのレーザビーム照射条件は高エネルギ密度と
ならざるを得す、その結果高エネルギ密度のレーザビー
ムが絶縁体を直撃することとなる。ところが、高分子樹
脂材料からなる絶縁体は耐熱性の点で問題があるために
口暗に大出力のレーザビームでバターニングすることが
できず、第2電極電極めて制限された条件で加工しなけ
ればならない結果、加工不良が発生する危惧を有する。
単層、或いはこの金属層を含む多層構造が用いられ、ま
たこの第2に極を光入射側としたとき、ITOやSnO
,等に代表される透光性導電酸化物(T CO)が用い
られるが、このような金属層やTe3層はレーザビーム
に対し高反射性や高透過性を示すために、レーザパタニ
ングのためのレーザビーム照射条件は高エネルギ密度と
ならざるを得す、その結果高エネルギ密度のレーザビー
ムが絶縁体を直撃することとなる。ところが、高分子樹
脂材料からなる絶縁体は耐熱性の点で問題があるために
口暗に大出力のレーザビームでバターニングすることが
できず、第2電極電極めて制限された条件で加工しなけ
ればならない結果、加工不良が発生する危惧を有する。
(ハ)発明が解決しようとする課題
本発明は上述の如く、半導体膜を成膜後、第2電極の分
割部位に絶縁体を設けた構造によるエネルギビームの照
射によるバターニングにおいて、加工不良が発生する点
を解決せんとするものである。
割部位に絶縁体を設けた構造によるエネルギビームの照
射によるバターニングにおいて、加工不良が発生する点
を解決せんとするものである。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は、第1電極、半導体膜及び第2電極の積層体か
らなる単位発電素子を、基板の絶縁表面上で、電気的に
結合した光起電力装置の製造方法であって、上記課題を
解決するために、上記第2電極は、複数の単位発電素子
に跨って上記半導体膜上に予め被着された後、第21t
L極の各単位発電素子への分割予定部位の半導体膜と、
当該第2電極との間に設けられた無機系絶縁フィシを含
む絶縁樹脂上で、エネルギビームの照射により分割され
ることを特徴とする。
らなる単位発電素子を、基板の絶縁表面上で、電気的に
結合した光起電力装置の製造方法であって、上記課題を
解決するために、上記第2電極は、複数の単位発電素子
に跨って上記半導体膜上に予め被着された後、第21t
L極の各単位発電素子への分割予定部位の半導体膜と、
当該第2電極との間に設けられた無機系絶縁フィシを含
む絶縁樹脂上で、エネルギビームの照射により分割され
ることを特徴とする。
(ホ)作 用
上述の如く第2電極の分割予定部位の半導体膜と第2電
極との間に設けられた絶縁樹脂は、無機系絶縁フィシを
含むことによって、エネルギビームの照射による加工条
件が緩和される。
極との間に設けられた絶縁樹脂は、無機系絶縁フィシを
含むことによって、エネルギビームの照射による加工条
件が緩和される。
(へ)実施例
第1図乃至第3図は本発明製造方法を工程別に示し、第
1図の工程では、ガラス等からなる透光性の絶縁基板(
1)の一方の主面にITO,Sn0□等のTCOからな
る第11tL極(2a)、(2b)−・・が各個別の眼
位発電素子を構成すべく例えば短冊状に分割形成され、
然る後、この第1電極(2a)、(2b)・・・の一方
の隣接間隔部に近接した表面を部分的に露出せしめた状
態で少なくとも一つの半導体接合を含むアモルファスシ
リコン系の半導体膜(3a)、(3b)が形成される。
1図の工程では、ガラス等からなる透光性の絶縁基板(
1)の一方の主面にITO,Sn0□等のTCOからな
る第11tL極(2a)、(2b)−・・が各個別の眼
位発電素子を構成すべく例えば短冊状に分割形成され、
然る後、この第1電極(2a)、(2b)・・・の一方
の隣接間隔部に近接した表面を部分的に露出せしめた状
態で少なくとも一つの半導体接合を含むアモルファスシ
リコン系の半導体膜(3a)、(3b)が形成される。
上記半導体膜(3a)、(31))のバターニングは全
面に半導体膜をプラズマじ\′D法等により成膜後、例
えば米国特許第4゜(i:SO,524号明細書及び図
面に示された如く、基板(1)側を通して波長1.06
μmの)ζd:YAGレーザによるレーザビームが照射
されることにより施される。
面に半導体膜をプラズマじ\′D法等により成膜後、例
えば米国特許第4゜(i:SO,524号明細書及び図
面に示された如く、基板(1)側を通して波長1.06
μmの)ζd:YAGレーザによるレーザビームが照射
されることにより施される。
第2図の工程では、本発明の特徴である絶縁樹脂のスト
リップ(4b)・・・が、半導体膜(3b)・・・表面
の一方の隣1&間隔部に偏って形成される。斯る絶縁樹
脂のストリング(4b)・・・は、例えば直径数十μm
のガラスピーズ、マイカ、タルク等の無機系絶縁フィシ
を含有する、エポキシ、ポリエステル、ボjイミド、ポ
リアミド、シリコーン樹脂をスフ」−ン印刷により膜げ
数十μm程度にパターニング塗布し、塗布後所定の温度
約200℃程度で熱硬化せしめられる。この熱硬化温度
は、既に半導体膜(3a)、(3b)・・・の成膜が終
了しているので、この半導体膜(3a)、(3b)・・
・に熱的損傷を与えないことが肝要である。
リップ(4b)・・・が、半導体膜(3b)・・・表面
の一方の隣1&間隔部に偏って形成される。斯る絶縁樹
脂のストリング(4b)・・・は、例えば直径数十μm
のガラスピーズ、マイカ、タルク等の無機系絶縁フィシ
を含有する、エポキシ、ポリエステル、ボjイミド、ポ
リアミド、シリコーン樹脂をスフ」−ン印刷により膜げ
数十μm程度にパターニング塗布し、塗布後所定の温度
約200℃程度で熱硬化せしめられる。この熱硬化温度
は、既に半導体膜(3a)、(3b)・・・の成膜が終
了しているので、この半導体膜(3a)、(3b)・・
・に熱的損傷を与えないことが肝要である。
第3図の工程では、第2電極(5a)、(5b)・・・
が上記絶縁ストリップ(4b)・・・を含んで蒸着、ス
パッタ法等により半導体膜(3a)、(3b)及びこの
半導体膜(3a)、(3b)・・・から露出した第1電
極露出部分(2be)上に全面に形成後、絶縁ストリッ
プ(4b)・・・上でレーザビームや電子ビーム等のエ
ネルギビームの!!G射により第1電極(2a)、(2
b)・・・、半導体膜(3a)、(3b)・・・、第2
電極(5a)、(5b)・・・の積層体からなる単位発
電素子(SC,)、(SC,)・・・毎に分離される。
が上記絶縁ストリップ(4b)・・・を含んで蒸着、ス
パッタ法等により半導体膜(3a)、(3b)及びこの
半導体膜(3a)、(3b)・・・から露出した第1電
極露出部分(2be)上に全面に形成後、絶縁ストリッ
プ(4b)・・・上でレーザビームや電子ビーム等のエ
ネルギビームの!!G射により第1電極(2a)、(2
b)・・・、半導体膜(3a)、(3b)・・・、第2
電極(5a)、(5b)・・・の積層体からなる単位発
電素子(SC,)、(SC,)・・・毎に分離される。
例えば、上記第2電極材はA、e、T i、 N i等
の金属の単層や多層構造からなる。例えば、波長1.Q
6μmのNd:YAGレーザを用いたときのレーザビー
ム照射条件が、加工(走査)速度を10000 nun
/minと一定したとき、Qスイッチ周波数:(KHz
でレーザパワーは、0.3−5W、Qスイッチ闇波数9
KHzでレーザパワーは、1〜12Wの範囲において
、絶縁ストリップ(4b)・・・を貫通したり、また逆
に第2電極(5a)、(5b)・・・の分割不足による
加工不良を招くことなく、斯る第2電極(5a)、(5
b)・・の分割パターンが得られた。このレーザビーム
の加工条件は、絶縁フィシを添加しない以外は同−溝底
の従来の加工において、Qスイッチ周波数が3 KHz
のときレーザパワー〇、・IW、Qスインチ周波数が9
Ktlzのときレーザパワー】、3W以−ヒて゛、絶縁
ストリップ(4b)・・・の貫通が発生していた条件に
比して極めて加工性に冨むものである。
の金属の単層や多層構造からなる。例えば、波長1.Q
6μmのNd:YAGレーザを用いたときのレーザビー
ム照射条件が、加工(走査)速度を10000 nun
/minと一定したとき、Qスイッチ周波数:(KHz
でレーザパワーは、0.3−5W、Qスイッチ闇波数9
KHzでレーザパワーは、1〜12Wの範囲において
、絶縁ストリップ(4b)・・・を貫通したり、また逆
に第2電極(5a)、(5b)・・・の分割不足による
加工不良を招くことなく、斯る第2電極(5a)、(5
b)・・の分割パターンが得られた。このレーザビーム
の加工条件は、絶縁フィシを添加しない以外は同−溝底
の従来の加工において、Qスイッチ周波数が3 KHz
のときレーザパワー〇、・IW、Qスインチ周波数が9
Ktlzのときレーザパワー】、3W以−ヒて゛、絶縁
ストリップ(4b)・・・の貫通が発生していた条件に
比して極めて加工性に冨むものである。
尚、このとき使用された無機系絶縁フィシはガラスピー
ズが使用され、ベースの高分子樹脂に対して30111
Z含有されていた。この絶縁フィシの添加量は、多くな
るとより広い加工条件が得られ、樹脂に対して同量のガ
ラスピーズを添加しても、樹脂性能の劣化もなかった。
ズが使用され、ベースの高分子樹脂に対して30111
Z含有されていた。この絶縁フィシの添加量は、多くな
るとより広い加工条件が得られ、樹脂に対して同量のガ
ラスピーズを添加しても、樹脂性能の劣化もなかった。
以上の実施例にあっては、単位発電素子(SC,)(S
C,)・・・への光入射を絶縁基板(1)側からとした
ため、第1電極(2a)、(2b)・・・をTCOから
構成し、第2電極(5a)、(5b)・・・を不透明な
金属層を含む低抵抗な構成としたが、第2電極(5a)
、(5b)・・・をTCOで隔成して、この第2電極(
5a)、(5b)・・・側から光を入射させても良い。
C,)・・・への光入射を絶縁基板(1)側からとした
ため、第1電極(2a)、(2b)・・・をTCOから
構成し、第2電極(5a)、(5b)・・・を不透明な
金属層を含む低抵抗な構成としたが、第2電極(5a)
、(5b)・・・をTCOで隔成して、この第2電極(
5a)、(5b)・・・側から光を入射させても良い。
このとき、絶縁基+Fi(1)に対して透光性が要求さ
れないので、高分子樹脂フィルムや金属板に高分子樹脂
をコーティングしたものを使用することができ、斯る高
分子樹脂フィルムやコーティングの熱的損傷をも回避す
ることができる。
れないので、高分子樹脂フィルムや金属板に高分子樹脂
をコーティングしたものを使用することができ、斯る高
分子樹脂フィルムやコーティングの熱的損傷をも回避す
ることができる。
(ト)発明の効果
本発明光起電力装置の製造方法は以上の説明から明らか
な如く、第2電極を各単位発1素子毎に分割すべきエネ
ルギービームの照射による加工条件が緩和されるので、
下層の第1電極を除去したり、また第2電極の分割が不
完全であるという加工不良の発生を回避し得て生産性の
向上が図れる。
な如く、第2電極を各単位発1素子毎に分割すべきエネ
ルギービームの照射による加工条件が緩和されるので、
下層の第1電極を除去したり、また第2電極の分割が不
完全であるという加工不良の発生を回避し得て生産性の
向上が図れる。
第1図乃至第3図は本発明の製造方法の一実施例を工程
別に示す部分断面斜視図である。
別に示す部分断面斜視図である。
Claims (1)
- (1)第1電極、半導体膜及び第2電極の積層体からな
る単位発電素子を、基板の絶縁表面上で、電気的に結合
した光起電力装置の製造方法であって、上記第2電極は
、複数の単位発電素子に跨って上記半導体膜上に予め被
着された後、第2電極の各単位発電素子への分割予定部
位の半導体膜と、当該第2電極との間に設けられた無機
系絶縁フィラを含む絶縁樹脂上で、エネルギビームの照
射により分割されることを特徴とする光起電力装置の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340819A JPH03201486A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | 光起電力装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340819A JPH03201486A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | 光起電力装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03201486A true JPH03201486A (ja) | 1991-09-03 |
Family
ID=18340588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1340819A Pending JPH03201486A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | 光起電力装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03201486A (ja) |
-
1989
- 1989-12-28 JP JP1340819A patent/JPH03201486A/ja active Pending
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