JPH03202810A - 光導波路デバイスおよびその製造方法 - Google Patents
光導波路デバイスおよびその製造方法Info
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- JPH03202810A JPH03202810A JP1340430A JP34043089A JPH03202810A JP H03202810 A JPH03202810 A JP H03202810A JP 1340430 A JP1340430 A JP 1340430A JP 34043089 A JP34043089 A JP 34043089A JP H03202810 A JPH03202810 A JP H03202810A
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- optical
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/21—Thermal instability, i.e. DC drift, of an optical modulator; Arrangements or methods for the reduction thereof
Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
光導波路デバイスとその製造方法に関し、高速・高安定
動作を求められる光導波路デノ\イス、たとえば、外部
光変調器において、周囲温度の変化による動作点の変動
などを防止することを目的とし、 電気光学効果と焦電効果を有する基板の一方の主面上に
、第1および第2の分岐光導波路を有する光導波路を設
け、前記分岐光導波路の上方に第1の制御電極および第
2の制御電極を配設してなる光導波路デバイスにおいて
、前記基板の2つの主面のうちの少なくとも前記制御電
極が配設された一方の主面と、前記基板の2つの側端面
のうちの少なくとも入力信号用の第1の制御電極に近接
した一方の側端面とに半導電性膜を形成して光導波路デ
バイスを構成する。そして、前記光導波路デバイスは電
気光学効果と焦電効果を有する基板用ウェーハに光導波
路を形成する工程と、前記ウェーハ上にバッファ層を形
成する工程と、第1の分岐光導波路に近接してウェーハ
に溝を形成する工程と、バッファ層の上と溝の内側面に
半導電性膜を形成する工程と、分岐光導波路の上方に前
記バッファ層と半導電性膜を介して第1および第2の制
御電極を形成する工程と、前記溝の部分でウェーハを切
断して光導波路デバイスチップを形成する工程とから製
造することができる。
動作を求められる光導波路デノ\イス、たとえば、外部
光変調器において、周囲温度の変化による動作点の変動
などを防止することを目的とし、 電気光学効果と焦電効果を有する基板の一方の主面上に
、第1および第2の分岐光導波路を有する光導波路を設
け、前記分岐光導波路の上方に第1の制御電極および第
2の制御電極を配設してなる光導波路デバイスにおいて
、前記基板の2つの主面のうちの少なくとも前記制御電
極が配設された一方の主面と、前記基板の2つの側端面
のうちの少なくとも入力信号用の第1の制御電極に近接
した一方の側端面とに半導電性膜を形成して光導波路デ
バイスを構成する。そして、前記光導波路デバイスは電
気光学効果と焦電効果を有する基板用ウェーハに光導波
路を形成する工程と、前記ウェーハ上にバッファ層を形
成する工程と、第1の分岐光導波路に近接してウェーハ
に溝を形成する工程と、バッファ層の上と溝の内側面に
半導電性膜を形成する工程と、分岐光導波路の上方に前
記バッファ層と半導電性膜を介して第1および第2の制
御電極を形成する工程と、前記溝の部分でウェーハを切
断して光導波路デバイスチップを形成する工程とから製
造することができる。
本発明は、高速・高安定な光導波路デバイス。
とくに、電気光学結晶を基板とした外部光変調器の温度
特性の改善に関する。
特性の改善に関する。
最近の光通信システムの光送信系において、たとえば、
1.6GHz程度までの光通信システムにおいては、レ
ーザダイオード(L D)を直接変調する方式を用いて
きたが、変調周波数がより高くなると変調光波長の時間
的微小変動、いわゆる、波長チャーピング現象が起こり
高速化と長距離通信への限界となる。
1.6GHz程度までの光通信システムにおいては、レ
ーザダイオード(L D)を直接変調する方式を用いて
きたが、変調周波数がより高くなると変調光波長の時間
的微小変動、いわゆる、波長チャーピング現象が起こり
高速化と長距離通信への限界となる。
一方、今後ますます大容量・長距離通信の要求が強まっ
てくるので、より高速、かつ、温度安定性の高い光導波
路デバイス、たとえば、外部光変調器の開発が求められ
ている。
てくるので、より高速、かつ、温度安定性の高い光導波
路デバイス、たとえば、外部光変調器の開発が求められ
ている。
高速光変調方式としては、半導体レーザ光を外部で変調
する外部変調方式、とくに、電気光学結晶基板上に分岐
光導波路を設け、進行波電極で駆動するマツハツエンダ
型光変調器が知られている。
する外部変調方式、とくに、電気光学結晶基板上に分岐
光導波路を設け、進行波電極で駆動するマツハツエンダ
型光変調器が知られている。
第8図は光変調器の基本構成例を示す図で、同図(イ)
は平面図、同図(ロ)はY−Y’断面図である。
は平面図、同図(ロ)はY−Y’断面図である。
図中、1は平面に加工した電気光学効果を有する基板、
たとえば、LiNbO3基板である。2は光導波路で中
間に分岐光導波路2a、 2bが形成されている。この
光導波路は通常基板の表面にTiなどの金属を、光導波
路部分だけに選択的に拡散させ、その部分の屈折率を回
りの部分よりも少し大きくなるようにしである)3は第
1の制御電極で、たとえば、進行波信号電極、4は第2
の制御電極、たとえば、接地電極である。5は光導波路
上の金属電極層への光の吸収を小さくするためのバッフ
ァ崩て、通常、SiO□などの薄膜が用いられている。
たとえば、LiNbO3基板である。2は光導波路で中
間に分岐光導波路2a、 2bが形成されている。この
光導波路は通常基板の表面にTiなどの金属を、光導波
路部分だけに選択的に拡散させ、その部分の屈折率を回
りの部分よりも少し大きくなるようにしである)3は第
1の制御電極で、たとえば、進行波信号電極、4は第2
の制御電極、たとえば、接地電極である。5は光導波路
上の金属電極層への光の吸収を小さくするためのバッフ
ァ崩て、通常、SiO□などの薄膜が用いられている。
第1の制御電極3と第2の制御電極4はバッファ層5を
介して光導波路上に、Auなどの金属を蒸着あるいはメ
ツキによって形成している。
介して光導波路上に、Auなどの金属を蒸着あるいはメ
ツキによって形成している。
いま、たとえば、こ\には図示してない半導体レーザか
ら発した直流光が左側の光導波路2から入り、分岐光導
波路2a、 2bで2つに分けられ、その間に、第1の
制御電極3に高周波変調信号源8から信号電圧を印加す
ると、基板上に設けられた前記分岐光導波路2a、 2
bにおける電気光学効果によって分岐された両光に位相
差が生じる。この両光を再び合流させて、右側の一本の
光導波路2から変調された光信号出力を取り出し、二\
に図示してない光検知器で電気信号に変換するように構
成されている。前記分岐光導波路2a、 2bにおける
両光の位相差が0.あるいは、πになるように駆動電圧
を印加すれば、たとえば、光信号出力はON−OFFの
パルス信号として得られる。なお、RTは終端抵抗であ
る。
ら発した直流光が左側の光導波路2から入り、分岐光導
波路2a、 2bで2つに分けられ、その間に、第1の
制御電極3に高周波変調信号源8から信号電圧を印加す
ると、基板上に設けられた前記分岐光導波路2a、 2
bにおける電気光学効果によって分岐された両光に位相
差が生じる。この両光を再び合流させて、右側の一本の
光導波路2から変調された光信号出力を取り出し、二\
に図示してない光検知器で電気信号に変換するように構
成されている。前記分岐光導波路2a、 2bにおける
両光の位相差が0.あるいは、πになるように駆動電圧
を印加すれば、たとえば、光信号出力はON−OFFの
パルス信号として得られる。なお、RTは終端抵抗であ
る。
第9図は温度変化による焦電効果を示す断面図である。
通常、基板lには電気光学効果の大きい酸化物単結晶L
iNb0.、あるいは、LiTaO5の2カツト板が用
いられている。これらの単結晶はいずれも菱面体晶系に
属し比較的大きな焦電効果を有することが知られている
。したがって、基板温度の上昇、あるいは、下降にとも
なって、たとえば、図示したごとき分極を生じ、基板の
両面には正負の電荷か発生するが、バッファ層5を介し
て金属膜からなる第1および第2の制御電極3,4があ
るために基板l中の電界分布が乱され、その結果第1お
よび第2の分岐光導波路(2a’、2b)の屈折率が異
なること\なる。このことは、光変調器で言えば温度変
化にともなって動作点がシフトするということであり、
光変調器の不安定動作を招くことになる。
iNb0.、あるいは、LiTaO5の2カツト板が用
いられている。これらの単結晶はいずれも菱面体晶系に
属し比較的大きな焦電効果を有することが知られている
。したがって、基板温度の上昇、あるいは、下降にとも
なって、たとえば、図示したごとき分極を生じ、基板の
両面には正負の電荷か発生するが、バッファ層5を介し
て金属膜からなる第1および第2の制御電極3,4があ
るために基板l中の電界分布が乱され、その結果第1お
よび第2の分岐光導波路(2a’、2b)の屈折率が異
なること\なる。このことは、光変調器で言えば温度変
化にともなって動作点がシフトするということであり、
光変調器の不安定動作を招くことになる。
このような焦電効果による不安定性を改善する方法がす
でに提案されており、たとえば、第5図は従来の焦電効
果の影響を防止する例を示す断面図である。すなわち、
バッファ層5の上に動作電圧特性に影響を及ぼさない程
度の比較的高抵抗の半導電性膜6c、たとえば、Si膜
を形成しである。
でに提案されており、たとえば、第5図は従来の焦電効
果の影響を防止する例を示す断面図である。すなわち、
バッファ層5の上に動作電圧特性に影響を及ぼさない程
度の比較的高抵抗の半導電性膜6c、たとえば、Si膜
を形成しである。
これによって、図示したごとく基板1の中の電界分布は
一様となり、したがって、第1および第2の分岐光導波
路(2a、 2b)に屈折率の差が生じることはなく、
温度変化があっても光変調器の動作点がシフトせず、極
めて安定な光変調器が得られる。
一様となり、したがって、第1および第2の分岐光導波
路(2a、 2b)に屈折率の差が生じることはなく、
温度変化があっても光変調器の動作点がシフトせず、極
めて安定な光変調器が得られる。
第7図は焦電効果にもとづく動作点シフトを示す図で、
縦軸に動作点シフトを、横軸に温度をとっである。図中
、■の点線は前記第8図、第9図で説明した基本構成例
の場合で、温度変化に対して極めて不安定な動作を示す
ことがわかる。一方、■の破線は前記第5図で説明した
半導電性膜6cを設けた従来例のデータで広い範囲にわ
たって極めて安定な動作をすることがわかる。
縦軸に動作点シフトを、横軸に温度をとっである。図中
、■の点線は前記第8図、第9図で説明した基本構成例
の場合で、温度変化に対して極めて不安定な動作を示す
ことがわかる。一方、■の破線は前記第5図で説明した
半導電性膜6cを設けた従来例のデータで広い範囲にわ
たって極めて安定な動作をすることがわかる。
しかし、最近は光変調器素子の小形化の要求が強く、ま
た、その巾方向の寸法をできるだけ小さくすることによ
って、同一基板からとれる光変調器チップの数量を増や
して光変調器の価格低減を図るために、進行波信号電極
である第1の制御電極3に近接したぎりぎりのところま
でカントするようになってきた。
た、その巾方向の寸法をできるだけ小さくすることによ
って、同一基板からとれる光変調器チップの数量を増や
して光変調器の価格低減を図るために、進行波信号電極
である第1の制御電極3に近接したぎりぎりのところま
でカントするようになってきた。
第6図は基板中を狭くした光変調器素子と電界分布を示
す断面図である。すなわち、第1の制御電極3のエツジ
と基板1の側端部との間隔d1は。
す断面図である。すなわち、第1の制御電極3のエツジ
と基板1の側端部との間隔d1は。
たとえば、0.1mm以下であり、第5図の場合のdo
が、たとえば2mm以上であるのに比較してl/20以
下と極めて小さな値になっている。
が、たとえば2mm以上であるのに比較してl/20以
下と極めて小さな値になっている。
しかし、上記第6図に示したように第1の制御電極3の
エツジと基板1の側端部との間隔d1が極めて小さくな
ってくると、図示したようにそのエツジ部分で電界分布
が乱れ、その結果、第1および第2の分岐光導波路2a
、 2bの屈折率が異なることになり、その屈折率差は
温度変化にともなって変動し、光変調器の不安定動作を
招くことになる。
エツジと基板1の側端部との間隔d1が極めて小さくな
ってくると、図示したようにそのエツジ部分で電界分布
が乱れ、その結果、第1および第2の分岐光導波路2a
、 2bの屈折率が異なることになり、その屈折率差は
温度変化にともなって変動し、光変調器の不安定動作を
招くことになる。
第7図の■の一点鎖線はその動作点シフトの例を示した
もので、lOoCから50°Cの範囲で約1.5vのシ
フトがあり、このま\では実用的に使用することができ
ないという問題があり、その解決が必要であった。
もので、lOoCから50°Cの範囲で約1.5vのシ
フトがあり、このま\では実用的に使用することができ
ないという問題があり、その解決が必要であった。
上記の課題は、電気光学効果と焦電効果を有する基板1
の一方の主面上に、第1および第2の分岐光導波路2a
、 2bを有する光導波路2を設け、前記分岐光導波路
2a、 2bの上方に第1の制御電極3および第2の制
御電極4を配設してなる光導波路デバイスにおいて、前
記基板1の2つの主面のうちの少なくとも前記制御電極
3および4が配設された一方の主面と、前記基板1の2
つの側端面のうちの少なくとも入力信号用の第1の制御
電極3に近接した一方の側端面とに半導電性膜6を形成
した光導波路デバイスにより解決することができる。
の一方の主面上に、第1および第2の分岐光導波路2a
、 2bを有する光導波路2を設け、前記分岐光導波路
2a、 2bの上方に第1の制御電極3および第2の制
御電極4を配設してなる光導波路デバイスにおいて、前
記基板1の2つの主面のうちの少なくとも前記制御電極
3および4が配設された一方の主面と、前記基板1の2
つの側端面のうちの少なくとも入力信号用の第1の制御
電極3に近接した一方の側端面とに半導電性膜6を形成
した光導波路デバイスにより解決することができる。
そして、前記光導波路デバイスは電気光学効果と焦電効
果を有する基板用ウェーハ10に第1および第2の分岐
光導波路2a、 2bを有する光導波路2を形成する工
程と、前記ウェーハIO上にバッファ層5を形成する工
程と、前記第1の分岐光導波路2aに近接して前記ウェ
ーハ10に溝7を形成する工程と、前記ウェーハlOに
形成されたバッファ層5の上と前記溝7の内側面に半導
電性膜6を形成する工程と、前記分岐光導波路2a、
2bの上方に前記バッファ層5と半導電性膜6を介して
第1および第2の制御電極3.4を形成する工程と、前
記溝7の部分で前記ウェーハ10を切断して光導波路デ
バイスチップを形成する工程とを少なくとも含む方法に
より製造することができる。
果を有する基板用ウェーハ10に第1および第2の分岐
光導波路2a、 2bを有する光導波路2を形成する工
程と、前記ウェーハIO上にバッファ層5を形成する工
程と、前記第1の分岐光導波路2aに近接して前記ウェ
ーハ10に溝7を形成する工程と、前記ウェーハlOに
形成されたバッファ層5の上と前記溝7の内側面に半導
電性膜6を形成する工程と、前記分岐光導波路2a、
2bの上方に前記バッファ層5と半導電性膜6を介して
第1および第2の制御電極3.4を形成する工程と、前
記溝7の部分で前記ウェーハ10を切断して光導波路デ
バイスチップを形成する工程とを少なくとも含む方法に
より製造することができる。
本発明の構成によれば、光導波路デバイスの巾が細い場
合でも、基板1の主面だけでなくその側端部まで連続し
て高抵抗の半導電性膜6で覆っであるので、基板lの側
端部で電気力線が外部空間に洩れるのを極めて小さく抑
えることができる。
合でも、基板1の主面だけでなくその側端部まで連続し
て高抵抗の半導電性膜6で覆っであるので、基板lの側
端部で電気力線が外部空間に洩れるのを極めて小さく抑
えることができる。
したがって、2つの分岐光導波路2a、 2b近傍での
電界分布の乱れがほとんどなく、温度変化に起因する屈
折率変化が生ぜず光変調器の動作点シフトや消光比の変
動は起こらない。
電界分布の乱れがほとんどなく、温度変化に起因する屈
折率変化が生ぜず光変調器の動作点シフトや消光比の変
動は起こらない。
第1図は本発明の実施例を示す断面図である。
図中、6(6a、 6c)は半導電性膜である。
なお、前記従来例の諸図面で説明したものと同等の部分
については同一符号を付し、かつ、同等部分についての
説明は省略する。
については同一符号を付し、かつ、同等部分についての
説明は省略する。
基板1には大きさ60mmX2 mm、厚さ1mmのL
tNbOsの2板の表面を鏡面研磨して使用した。
tNbOsの2板の表面を鏡面研磨して使用した。
この基板の上にTiを約90nmの厚さに真空蒸着し、
分岐光導波路2aおよび2bを含む光導波路2に相当す
る部分にTiが残るように通常のホトエツチング法で処
理したのち、約800°CでTiをLiNb0a中に熱
拡散して全光導波路2を形成した。
分岐光導波路2aおよび2bを含む光導波路2に相当す
る部分にTiが残るように通常のホトエツチング法で処
理したのち、約800°CでTiをLiNb0a中に熱
拡散して全光導波路2を形成した。
分岐光導波路部分の長さは50m m 、光導波路の幅
は全て7μmになるように調整した。バッファ層5は厚
さ300nmのSiO□膜を用いた。
は全て7μmになるように調整した。バッファ層5は厚
さ300nmのSiO□膜を用いた。
半導電性膜6(6a、 6c)は厚さ1100nのSi
膜を用い、基板1の一方の主面と一方の側端面とに。
膜を用い、基板1の一方の主面と一方の側端面とに。
たとえば、蒸着により形成し、その膜抵抗は第1および
第2の制御電極間で0.1〜5MΩの範囲になるように
調整した。第1の制御電極3はAu/Tiの2層膜を蒸
着したのち、分岐光導波路2aの上に巾9μmの電極形
状にパターンエツチングし、さらに、その上に厚さ3μ
mのAuをメツキにより付着形成した。第1の制御電極
3のエツジと基板lの側端部との間隔d1は0.1mm
になるようにした。
第2の制御電極間で0.1〜5MΩの範囲になるように
調整した。第1の制御電極3はAu/Tiの2層膜を蒸
着したのち、分岐光導波路2aの上に巾9μmの電極形
状にパターンエツチングし、さらに、その上に厚さ3μ
mのAuをメツキにより付着形成した。第1の制御電極
3のエツジと基板lの側端部との間隔d1は0.1mm
になるようにした。
第2の制御電極4は第1の制御電極3と同様のプロセス
で巾広く、すなわち、接地電極として有効に働くように
第1の制御電極形成と同時形成した。
で巾広く、すなわち、接地電極として有効に働くように
第1の制御電極形成と同時形成した。
第2図は本発明の効果を示す断面図で、縦軸に動作点シ
フトを、横軸に温度をとっである。
フトを、横軸に温度をとっである。
図中、■の実線は前記本発明実施例の温度変化にともな
う動作点シフトを示すデータである。−方、2の一点鎖
線は第7図の■の一点鎖線と同じもので、すなわち、分
岐光導波路2a、 2bや第1および第2の制御電極3
,4の配置は前記第1図で説明した実施例と同一であり
、たマ異なるのは基板1の側端部に半導電性膜6aが形
成されていない従栽例のデータである0本発明実施例か
従来の光変調器に比較して、広い温度変化領域にわたっ
て極めて安定に動作可能であることがわかる。
う動作点シフトを示すデータである。−方、2の一点鎖
線は第7図の■の一点鎖線と同じもので、すなわち、分
岐光導波路2a、 2bや第1および第2の制御電極3
,4の配置は前記第1図で説明した実施例と同一であり
、たマ異なるのは基板1の側端部に半導電性膜6aが形
成されていない従栽例のデータである0本発明実施例か
従来の光変調器に比較して、広い温度変化領域にわたっ
て極めて安定に動作可能であることがわかる。
第3図は本発明の他の実施例を示す断面図である。本実
施例の場合は基板lの側面だけでなく、基板lのもう一
方の主面、すなわち、裏面にも半導電性膜6(6b)を
形成して、さらに、安定化効果を高めるようにしたもの
である。
施例の場合は基板lの側面だけでなく、基板lのもう一
方の主面、すなわち、裏面にも半導電性膜6(6b)を
形成して、さらに、安定化効果を高めるようにしたもの
である。
次に、本発明による素子を具体的に形成するための製造
方法の実施例を以下に示す。
方法の実施例を以下に示す。
第4図は本発明の製造方法の主な工程を示す断面図であ
る。図中、7は溝、IOはウェーハである。
る。図中、7は溝、IOはウェーハである。
なお、前記の諸図面で説明したものと同等の部分につい
ては同一符号を付し、かつ、同等部分についての説明は
省略する。
ては同一符号を付し、かつ、同等部分についての説明は
省略する。
工程(1):ウエーハ10.たとえば、直径100 m
mφ、厚さ1mmのZカットLiNbO5単結晶板の一
方の主面に、第1および第2の分岐光導波路2a、 2
bを有する光導波路2をTiを熱拡散することによって
多数形成する。
mφ、厚さ1mmのZカットLiNbO5単結晶板の一
方の主面に、第1および第2の分岐光導波路2a、 2
bを有する光導波路2をTiを熱拡散することによって
多数形成する。
工程(2):上記処理ウェーへの上に厚さ300nmの
S i02膜からなるバッファ層5をCVD法で形成す
る。
S i02膜からなるバッファ層5をCVD法で形成す
る。
工程(3)二上記処理ウェーハの第1の分岐光導波路2
aに近接して、たとえば、間隔d、=0.15mmとな
るように前記ウェーハlOに溝7.たとえば、巾0.3
mm、深さ0.4mmの溝を、たとえば、ダイヤモンド
ブレードを用いたカッティングマシンで形成する。
aに近接して、たとえば、間隔d、=0.15mmとな
るように前記ウェーハlOに溝7.たとえば、巾0.3
mm、深さ0.4mmの溝を、たとえば、ダイヤモンド
ブレードを用いたカッティングマシンで形成する。
工程(4)二上記処理ウェーハのバッファ層5の上と溝
7の周内側面に、半導電性膜6(6a、 6c)を、た
とえば、厚さ1100nのSi膜を、たとえば、蒸着に
より形成する。その膜抵抗は第1および第2の制御電極
間で0.1〜5MΩの範囲になるように調整すればよい
。
7の周内側面に、半導電性膜6(6a、 6c)を、た
とえば、厚さ1100nのSi膜を、たとえば、蒸着に
より形成する。その膜抵抗は第1および第2の制御電極
間で0.1〜5MΩの範囲になるように調整すればよい
。
工程(5):上記処理ウェーハの分岐光導波路2a、2
bの上方に第1および第2の制御電極3.4を、たとえ
ば、厚さ0.3μmのAu/Tiの膜を蒸着したあと所
定の形状にパターンエツチングし、その上に厚さ3μm
のAuのメツキを行う。
bの上方に第1および第2の制御電極3.4を、たとえ
ば、厚さ0.3μmのAu/Tiの膜を蒸着したあと所
定の形状にパターンエツチングし、その上に厚さ3μm
のAuのメツキを行う。
工程(6)二上記処理ウェーハを前記溝7の部分とそれ
に直交する各デバイスの境界部分で、たとえば、0.2
mmφのワイヤソーを用いて切断し個別光導波路デバイ
スチップを形成する。
に直交する各デバイスの境界部分で、たとえば、0.2
mmφのワイヤソーを用いて切断し個別光導波路デバイ
スチップを形成する。
かくして、基板lの一方の主面と両方の側端面の一部分
までに、連続したSi膜からなる半導電性膜6(6a、
6c)が形成された本発明の光導波路デバイス、たと
えば、光変調器が得られる。
までに、連続したSi膜からなる半導電性膜6(6a、
6c)が形成された本発明の光導波路デバイス、たと
えば、光変調器が得られる。
なお、半導電性膜6(6a、 6c)は側端面全体でな
く、本実施例のごとくその一部分であっても光導波路2
a、 2bの深さに対して十分に深いところまで被覆し
てあれば大きな効果が得られることを確認した。
く、本実施例のごとくその一部分であっても光導波路2
a、 2bの深さに対して十分に深いところまで被覆し
てあれば大きな効果が得られることを確認した。
また、半導電性膜6は、たとえば、上記の範囲のごとき
抵抗値のものであれば、それによる光導波路デバイス、
たとえば、光変調器の高周波特性の劣化などは認められ
なかった。
抵抗値のものであれば、それによる光導波路デバイス、
たとえば、光変調器の高周波特性の劣化などは認められ
なかった。
以上述べた実施例は数例を示したもので、光変調器だけ
でなく、方向性結合器型スイッチ、全反射型スイッチな
ど焦電効果を有する基板を用いたその他の光導波路デバ
イスにも有効であり、また、本発明の趣旨に添うもので
ある限り、使用する素材や構成9寸法、製作プロセスな
ど適宜好ましいもの、あるいはその組み合わせを用いる
ことができることは言うまでもない。
でなく、方向性結合器型スイッチ、全反射型スイッチな
ど焦電効果を有する基板を用いたその他の光導波路デバ
イスにも有効であり、また、本発明の趣旨に添うもので
ある限り、使用する素材や構成9寸法、製作プロセスな
ど適宜好ましいもの、あるいはその組み合わせを用いる
ことができることは言うまでもない。
以上説明したように、本発明によれば光導波路デバイス
の巾が細い場合でも、基板lの主面だけでなくその側端
部まで連続して高抵抗の半導電性膜6で覆っであるので
、基板lの側端部で電気力線が外部空間に洩れるのを極
めて小さく抑えることができる。したがって、2つの分
岐光導波路2a。
の巾が細い場合でも、基板lの主面だけでなくその側端
部まで連続して高抵抗の半導電性膜6で覆っであるので
、基板lの側端部で電気力線が外部空間に洩れるのを極
めて小さく抑えることができる。したがって、2つの分
岐光導波路2a。
2b近傍での電界分布の乱れがほとんどなく、温度変化
に起因する屈折率変化が生ぜず光変調器の動作点シフト
が起こらないので、光導波路デバイス、たとえば、光変
調器の性能および品質の向上に寄与するところが極めて
大きい。
に起因する屈折率変化が生ぜず光変調器の動作点シフト
が起こらないので、光導波路デバイス、たとえば、光変
調器の性能および品質の向上に寄与するところが極めて
大きい。
第1図は本発明の実施例を示す断面図、第2図は本発明
の効果を示す図、 第3図は本発明の他の実施例を示す断面図、第4図は本
発明の製造方法の主な工程を示す断面図、 第5図は従来の焦電効果の影響を防止する例をを示す断
面図、 第7図は焦電効果にもとづく動作点シフトを示す図、 第8図は光変調器の基本構成例を示す図、第9図は温度
変化による焦電効果を示す断面図である。 図において、 1は基板、2は光導波路、 2aおよび2bは第1および第2の分岐光導波路、3は
第1の制御電極、4は第2の制御電極、5はバッファ層
、6(6a、 6b、 6c)は半導電性膜、7は溝、
lOはウェーハである。 :’re日F!/l 実施例乞#VrtfmD番 1
図 第 図 不発e目n・他n実矩例Σ示4竹面口 笛 3 回 ′促宋の賞、電りカ果の動響乞アi止するり11Σ示す
t丁面(2)第 5 図 萼しに轡吊乞)天へし丁二岸!3カ割官召素子ヒ、電界
分牟E勺z−4「今市図番 b 図 9、fii#tti::’、t=”ニーすr=F、4、
シ□ 7FK7FYrヨ1 7 も す発明f)製造力強の主1工竹E示ず前面旧$ 4
図 (ロ)Y−Y’前面(2) 走変詞話/)某事横べ例乞示す圓 冨 8 図 )久度変′イビ71;よう汚、嘔re−tt果乞示1r
−テdわB]箒 q 閏
の効果を示す図、 第3図は本発明の他の実施例を示す断面図、第4図は本
発明の製造方法の主な工程を示す断面図、 第5図は従来の焦電効果の影響を防止する例をを示す断
面図、 第7図は焦電効果にもとづく動作点シフトを示す図、 第8図は光変調器の基本構成例を示す図、第9図は温度
変化による焦電効果を示す断面図である。 図において、 1は基板、2は光導波路、 2aおよび2bは第1および第2の分岐光導波路、3は
第1の制御電極、4は第2の制御電極、5はバッファ層
、6(6a、 6b、 6c)は半導電性膜、7は溝、
lOはウェーハである。 :’re日F!/l 実施例乞#VrtfmD番 1
図 第 図 不発e目n・他n実矩例Σ示4竹面口 笛 3 回 ′促宋の賞、電りカ果の動響乞アi止するり11Σ示す
t丁面(2)第 5 図 萼しに轡吊乞)天へし丁二岸!3カ割官召素子ヒ、電界
分牟E勺z−4「今市図番 b 図 9、fii#tti::’、t=”ニーすr=F、4、
シ□ 7FK7FYrヨ1 7 も す発明f)製造力強の主1工竹E示ず前面旧$ 4
図 (ロ)Y−Y’前面(2) 走変詞話/)某事横べ例乞示す圓 冨 8 図 )久度変′イビ71;よう汚、嘔re−tt果乞示1r
−テdわB]箒 q 閏
Claims (2)
- (1)電気光学効果と焦電効果を有する基板(1)の一
方の主面上に、第1および第2の分岐光導波路(2a、
2b)を有する光導波路(2)を設け、前記分岐光導波
路(2a、2b)の上方に第1の制御電極(3)および
第2の制御電極(4)を配設してなる光導波路デバイス
において、 前記基板(1)の2つの主面のうちの少なくとも前記制
御電極(3、4)が配設された一方の主面と、前記基板
(1)の2つの側端面のうちの少なくとも入力信号用の
第1の制御電極(3)に近接した一方の側端面とに半導
電性膜(6)を形成することを特徴とした光導波路デバ
イス。 - (2)電気光学効果と焦電効果を有する基板用ウェーハ
(10)に第1および第2の分岐光導波路(2a、2b
)を有する光導波路(2)を形成する工程と、前記ウェ
ーハ(10)上にバッファ層(5)を形成する工程と、 前記第1の分岐光導波路(2a)に近接して前記ウェー
ハ(10)に溝(7)を形成する工程と、前記ウェーハ
(10)に形成されたバッファ層(5)の上と前記溝(
7)の内側面に半導電性膜(6)を形成する工程と、 前記分岐光導波路(2a、2b)の上方に前記バッファ
層(5)と半導電性膜(6)を介して第1および第2の
制御電極(3、4)を形成する工程と、前記溝(7)の
部分で前記ウェーハ(10)を切断して光導波路デバイ
スチップを形成する工程とを少なくとも含むことを特徴
とした請求項(1)記載の光導波路デバイスの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340430A JP2550730B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 光導波路デバイスおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340430A JP2550730B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 光導波路デバイスおよびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03202810A true JPH03202810A (ja) | 1991-09-04 |
| JP2550730B2 JP2550730B2 (ja) | 1996-11-06 |
Family
ID=18336885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1340430A Expired - Lifetime JP2550730B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 光導波路デバイスおよびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2550730B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07199134A (ja) * | 1993-11-22 | 1995-08-04 | At & T Corp | 光導波路変調器中の温度効果を減すための光電子デバイス構造及び方法 |
| EP1321796A4 (en) * | 2000-09-18 | 2004-04-14 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | OPTICAL MODULATOR OF THE LIGHTWAVE GUIDE TYPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
| US7133580B2 (en) | 2002-11-19 | 2006-11-07 | Fujitsu Limited | Optical waveguide device and manufacturing method therefor |
| JP2012068679A (ja) * | 2011-12-19 | 2012-04-05 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光導波路素子 |
| JP2013130833A (ja) * | 2011-12-22 | 2013-07-04 | Anritsu Corp | 光変調器 |
| JP2016142755A (ja) * | 2015-01-29 | 2016-08-08 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 光変調器 |
| WO2017171096A1 (ja) * | 2016-04-01 | 2017-10-05 | 住友大阪セメント株式会社 | 光変調器モジュール |
Citations (3)
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| JPS57196166A (en) * | 1981-05-28 | 1982-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Voltage measurement device |
| JPS62173428A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Fujitsu Ltd | 導波路光デバイス |
| JPH01232323A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Fujitsu Ltd | 光導波路型変調器 |
-
1989
- 1989-12-29 JP JP1340430A patent/JP2550730B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
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Cited By (11)
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| JPH07199134A (ja) * | 1993-11-22 | 1995-08-04 | At & T Corp | 光導波路変調器中の温度効果を減すための光電子デバイス構造及び方法 |
| EP1321796A4 (en) * | 2000-09-18 | 2004-04-14 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | OPTICAL MODULATOR OF THE LIGHTWAVE GUIDE TYPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
| US7133580B2 (en) | 2002-11-19 | 2006-11-07 | Fujitsu Limited | Optical waveguide device and manufacturing method therefor |
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| WO2017171096A1 (ja) * | 2016-04-01 | 2017-10-05 | 住友大阪セメント株式会社 | 光変調器モジュール |
| JP2017187522A (ja) * | 2016-04-01 | 2017-10-12 | 住友大阪セメント株式会社 | 光変調器モジュール |
| CN108885361A (zh) * | 2016-04-01 | 2018-11-23 | 住友大阪水泥股份有限公司 | 光调制器模块 |
| US10502988B2 (en) | 2016-04-01 | 2019-12-10 | Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. | Optical modulator module |
| CN108885361B (zh) * | 2016-04-01 | 2021-11-19 | 住友大阪水泥股份有限公司 | 光调制器模块 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2550730B2 (ja) | 1996-11-06 |
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