JPH03202854A - 電子写真感光体用支持体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、電子写真感光体の支持体に関する。

（従来の技術） 従来、電子写真装置に用いられる感光体としては有機感
光体（ＯＰＣ）　　Ｓｅ、ＣｄＳ。

ＺｎＳ、ＺｎＯ，Ｓ　ｉ等が使用されており、有機感光
体としては支持体上に電荷発生材と電荷輸送材とをバイ
ンダー中に含有させた層を設けた単層型、支持体上に順
次電荷発生層、電荷輸送層を設置すた機能分離型、機能
分離型のうち支持体の直上に電荷の注入の防止及び支持
体と感光体との接着性向上のため樹脂層を介在させたも
の、最外層に機械的強度の向上またはオゾン等に対する
耐候性向上のため保護層を設けたものがある。

感光体用支持体にはシート状、ベルト状またはドラム状
のものがあり、その材質としてはアルミニウムやアルミ
ニウム合金を主流とした金属材料、プラスチック、ゴム
、ガラス、紙、木材またはセラミック等の非金属材料、
これらを複合した複合材料あるいは非導電性基体上に導
電層を形成したものが使用されている。

例えば一般的に知られているアルミニウム製支持体の成
形方法には、次のような方法が用いられる。まず第１の
方法としてはベレット状のアルミ素材を衝撃押し出しに
より、一端が閉塞された円筒状にし、さらにしごき加工
により所定の肉厚に仕上げ、それから不要な両端部を切
除し、端面の処理を施しながら所定の長さに切断し、表
面処理加工する方法かあげられる。第２の方法としては
、円柱状の素材（インゴット）を型で抜いて円筒状にし
た後、引き抜き加工により薄肉化し、切断及び端面処理
を行ない、素管の内側をインロー加工（研削）し、表面
処理を施す方法があげられる。

第３の方法としては、板状の素材から円盤状に型を抜き
、しぼり加工及びしごき加工を連続的に行なった後、第
１の方法と同様にして両端加工、切断、表面処理を行な
う方法があげられる。第４の方法としては、円柱状の素
材を押しだし加工により円筒状に成形し、そ７の一端を
口つけ加工（へら絞り）した後、第１の方法と同様にし
てしごき加工、両端加工、切断、端面処理及び表面処理
を行なう方法があげられる。

各々支持体の製造方法は、量産性、コスト及び精度等を
考慮して、種々の方法が考えられるが、いずれの方法を
用いても、製造された支持体の表面には凹凸状の欠陥が
発生する。この欠陥上に、感光層を形成すると、その欠
陥部分に感光性物質が集中したり、またはその部分だけ
欠落したりするため、得られた感光体表面にもとの欠陥
よりも数倍大きな欠陥として現れることが多い。そのた
め、感光体の電気特性が不均一化し、このような感光体
を用いたコピー画像には黒点、黒線、ベタ部分の白ヌケ
あるいはハーフトーン部分のムラなどの画像欠陥として
現れる。

このような欠陥を発生せしめる要因としては、例えば材
料がアルミニウム合金である場合、支持体成形工程後の
切削工程においで、晶出物や介在物の存在により凹状、
ひび割れ等の欠陥が発生したり、素管洗浄行程において
、洗浄溶剤により表面の変質すること等があげられる。

また、広く用いられる押出し方法であり、円筒型に押出
す一組の型のうち外周側の型が３ないし４片に分離され
ているポートホール押し出しにおいては、型の継ぎ目と
なる溶着部（ウェルドライン）に沿って欠陥を生ずるこ
とも少なくない。このような欠陥部のうち顕著なものは
目視でも容易に確認できるが、欠陥部の大半は幅にして
数十μｍの大きさであり、目視による確認は困難である
。

このような欠陥に対して、さらに数十μｍもの導電性層
を付与し、欠陥部を埋没せしめて平滑な表面を得る方法
が知られているが、導電層の形成による２次的な欠陥等
及び製造コストの上昇という欠点がある。

（発明が解決しようとする課題） 従来は、上記に説明したような支持体表面の凹凸状欠陥
が存在すると、その上に感光層を形成した際、電気特性
の不均一化、感光層外観上の欠陥あるいはこのような感
光体を用いてとられたコピー画像上の黒点、白ヌケ、カ
ブリ等の種々の欠陥となって現れ、実用に耐えないもの
となる問題があった。

そこで、本発明は、印字、コピー画像において欠陥がな
く、外観上も均一で欠陥のない感光層が得られる電子写
真感光体用支持体を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、上記課題を解決するために感光体支持体の表
面に存在する凹凸状の欠陥が及ぶ領域の最大長さが３０
μｍ以下であることを特徴とする電子写真感光体用支持
体を提供する。

本発明にかかる支持体を得るためには、感光体支持体の
表面に存在する凹凸状の欠陥が及ぶ領域の最大長さが３
０μｍを越える欠陥部を有する支持体を判別してはじき
出すと良い。欠陥部の判別は目視では困難なので、欠陥
検査装置を用いると良い。

さらに、支持体材料の組成を調整することにより、欠陥
部の発生を抑制することもできる。例えばＭ　ｇ添加量
を最低限に抑えることにより強度と押出し性が改良され
たアルミニウム合金、及びＦｅ、Ｓｉ及びＭｇ添加量を
控えめに添加することにより晶出物及び介在物が抑制さ
れたアルミニウム合金等がすでに提案されており、本発
明にも好ましく用いられる。

さらにまた、成形方性を見直すことにより、欠陥の発生
を抑制することも可能である。例えばアルミニウム合金
による支持体形成の場合には、切削工程において切削代
を多めにとると良い。

（作用） 本発明の電子写真感光体用支持体は、支持体表面に存在
する凹凸状の欠陥が及ぶ領域の最大長さが３０μｍ以下
であるため、この支持体上に感光層を形成しても、感光
体表面の電気特性を不均一化させたり、感光層表面に印
字やコピー画像に欠陥を生じせしめる程の欠陥を発生し
ない。

以下、実施例を示し、本発明を具体的に説明する。

（実施例） 円筒状のアルミニウム合金（ＪＩＳ　３００３、ＪＩＳ
Ａ６０８３）を、ボートホール押出し加工、しごき加工
及び鏡面加工の順に加工することにより、６０本の支持
体を成形した。次に、その各々に下記一般式（１）で表
されるフタロシアニン顔料１，５重量部と、 下記一般式（２）で表されるフェノキシ樹脂１．５重量
部とを、 トリクロロエタン９７重量部に溶融、分散し、塗布液を
調製した。

第１図は、本発明に係る支持体を用いて得た感光体の一
部を示す断面図である。この塗布液を第１図に示すよう
に支持体１に浸漬塗布し、乾燥して電荷発生層２を形成
した。その後、下記一般式（３）で表されるボリアリレ
ート１０．７重量部と下記一般式（４）で表されるヒド
ラゾン１０．７重量部とを ２Ｈ５ トリクロロエタン７８．６重量部に溶融、分散し、塗布
液を調製し、電荷発生層２が形成された支持体１に浸漬
塗布し、乾燥することにより、電荷発生層２上に電荷輸
送層３を形成した。このようにして、支持体１上に感光
層４を形成し、感光体を得た。

得られた感光体について電子走査型顕微鏡（ＳＥＭ）を
用いて撮影したところ、感光層に含まれる顔料の固まり
が生じて表面が不均一となり、欠陥を発生しているもの
があった。そこで、感光層を順次剥離し、露出した支持
体表面を同様にしてＳＥＭで観察したところ、これらの
欠陥が発生した部分と同じ位置に凹凸状の欠陥が発生し
ていることから、感光体表面の欠陥が支持体表面の欠陥
に起因していることがわかった。

これらの欠陥が存在する領域の大きさを各々ＳＥＭの結
果から測定し、その最大長さが１００μｍであるものを
試料１．５０μｍであるものを試料２．３０μｍである
ものを試料３とした。これらの試料を各々東洋インキ製
造株式会社製の表面欠点検出装置を用いて測定した。こ
の装置は、隣接する投光用及び受光用ファイバーで構成
されたホトニックセンサにより欠陥を検出するもので、
その原理は、投光用ファイバーからでた光が測定面に当
たり、反射されて受光ファイバーに入光するときの光量
を光電変換し、この光量の変化により欠陥を検出するも
のである。光量は、測定面の表面に凹凸があれば変化す
る。又、検出レベルすなわち欠陥検出の際のホトニック
センサでの光量変化を示すレベル（ｍ　Ｖ）を高くする
ほど、欠陥の程度が大きく深いものを検出することがで
きる。

試料１の欠陥か存在する領域は最大長さが１００μｍと
広いために、レベルをあげながら測定していったところ
、１５０ｍＶのような高いレベルで６Ｊ］定しても検出
することができる。この検出結果を表わすグラフを第２
図に示す。このグラフは、縦軸が支持体の円周方向の位
置を示す角度、横軸が長手方向の位置を示す。図に示す
ように、欠陥の位置がはっきりと検出された。

試料２の欠陥が存在する領域は最大長さが５０μｍであ
り、レベルをあげながら測定していったところ、レベル
１５０ｍＶでは検出されないが、レベル１００ｍＶおよ
びレベル８０ｍＶでは欠陥の位置がはっきり検出された
。この１００ｍＶでの検出結果を表すグラフを第３図に
示す。

試料３の欠陥が存在する領域は最大長さが３０μｍであ
り、レベル１００　ｍ　Ｖでは欠陥は検出さレス、レベ
ル８０　ｍ　Ｖで若干検出された。この８０　ｍ　Ｖに
おける検出結果を表すグラフを第４図に示す。

また、ＳＥＭを用いて、これら試料１〜３と、欠陥が存
在する領域の最大長さが７０μｍであるものとについて
、外観上の欠陥、黒点、ベタ部の白ヌケ、カブリ等の画
像上の欠陥、及び表面欠陥検出装置によるレベル１００
　ｍ　Ｖにおいて検出された欠陥を評価した。その結果
を第１表に示す。

第１表 第１表に示すように、表面欠点検出装置によりレベル１
００ｍＶで欠陥が検出されない支持体即ち表面に存在す
る欠陥領域の最大長さが３０μｍ以下の支持体は、感光
層成形後の感光体表面の外観上の欠陥およびこの感光体
を使用したコピー画像上の黒点、ベタ部の白ヌケ、カブ
リ等の欠陥が発生しないことがわかる。

上達のように有機感光体では、支持体上の凹凸状の欠陥
部の存在により、感光層として塗布される顔料層が不均
一となり欠陥か発生しやすい。本発明の支持体は、この
ような有機感光体にかぎらず、Ｓ　ｅ　１Ｃｄ　Ｓ　ｓ
　Ｚ　ｎ　Ｏｓ　αＳ　を等の種々の感光体に対しても
同様に適用可能である。また、支持体材料も、その他の
金属材料、プラスチ・ツク、ゴム、ガラス、紙、木材、
セラミック等の非導電性支持体上に導電層を形成させた
ものなどにも適用することができる。

［発明の効果コ 以上説明したように本発明の電子感光体用支持体によれ
ば、電気特性の不均一化、感光層外観上の欠陥あるいは
このような感光体を用いてとられたコピー画像上の黒点
、白ヌケ、カブリ等の種々の欠陥を防ぎ、優れた画像を
提供する感光体が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例に係る支持体を用いて得た
感光体の一部を示す断面図、第２図は、−比較例の表面
欠陥検査の検出結果を表す図、第３図は、他の比較例の
表面欠陥検査の検出結果を表す図、第４図は、本発明の
一実施例の支持体表面欠陥検査の検出結果を示す図であ
る。 １・・・支持体、４・・・感光層。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 表面に存在する凹凸状欠陥が占める領域の最大長さが３
   ０μｍ以下であることを特徴とする電子写真感光体用支
   持体。