JPH03205540A - 欠陥検出方法 - Google Patents
欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPH03205540A JPH03205540A JP133690A JP133690A JPH03205540A JP H03205540 A JPH03205540 A JP H03205540A JP 133690 A JP133690 A JP 133690A JP 133690 A JP133690 A JP 133690A JP H03205540 A JPH03205540 A JP H03205540A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- threshold value
- defect detection
- value
- specific range
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は画像処理により被検査対象物の欠陥を検出する
欠陥検出方法に関する。
欠陥検出方法に関する。
従来の技術
近年では、管体などの被検査対象物の欠陥検出を画像処
理により行うことが生産ラインの検査部門などで実用化
されつつある。管体内面の欠陥検出を行う方法の一例と
しては、管体の内面に照明を照射しながら、ＣｃＤカメ
ラで撮像した画像を画像処理装置に出カし、この画像処
理装置により各画素の輝度値を、所定の値に固定された
閾値と比較して２値化し、上記闘値より輝度値が小さい
部分、すなわち、欠陥部分により生じる影の部分を欠陥
部として検出することが行われている。そして、画像処
理装置の欠陥検出の領域（ウィンドウ）内における欠陥
部の面積を計測腰この面積値により管体の良否を判断す
る。
理により行うことが生産ラインの検査部門などで実用化
されつつある。管体内面の欠陥検出を行う方法の一例と
しては、管体の内面に照明を照射しながら、ＣｃＤカメ
ラで撮像した画像を画像処理装置に出カし、この画像処
理装置により各画素の輝度値を、所定の値に固定された
閾値と比較して２値化し、上記闘値より輝度値が小さい
部分、すなわち、欠陥部分により生じる影の部分を欠陥
部として検出することが行われている。そして、画像処
理装置の欠陥検出の領域（ウィンドウ）内における欠陥
部の面積を計測腰この面積値により管体の良否を判断す
る。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記従来の欠陥検出方法では周囲の明る
さの変化や照明の経年変化により、同じ欠陥であっても
２値化画像が異なるという問題があった。つまり、例え
ば照明状態が悪化する（暗くなる）と、同一欠陥であっ
ても影の部分が大きくなるため、２値化した際、欠陥部
の面積が広がり、管体の良否を判断する際に、誤まった
判断をするおそれがあった。
さの変化や照明の経年変化により、同じ欠陥であっても
２値化画像が異なるという問題があった。つまり、例え
ば照明状態が悪化する（暗くなる）と、同一欠陥であっ
ても影の部分が大きくなるため、２値化した際、欠陥部
の面積が広がり、管体の良否を判断する際に、誤まった
判断をするおそれがあった。
本発明は上記問題を解決するもので、周囲の明るさの変
化や照明の経年変化があっても、管体などの被検査対象
物の良否を誤って判断することのない欠陥検出方法を提
供することを目的とするものである。
化や照明の経年変化があっても、管体などの被検査対象
物の良否を誤って判断することのない欠陥検出方法を提
供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記問題を解決するために本発明は、欠陥検出を行う前
に、欠陥検出領域より広い領域で２値化部分の各面積割
合を求め、この各面積割合が所定範囲内になるように閾
値を変化させて閾値を設定し、この閾値で欠陥検出領域
を２値化して欠陥検出を行うものである。
に、欠陥検出領域より広い領域で２値化部分の各面積割
合を求め、この各面積割合が所定範囲内になるように閾
値を変化させて閾値を設定し、この閾値で欠陥検出領域
を２値化して欠陥検出を行うものである。
作用
上記構成において、欠陥検出領域より広い領域で２値化
部分の各面積割合を求め、この各面積割合が所定範囲内
になるように閾値を変化させることにより、周囲の明る
さや照明が明るいときには閾値が高めに設定され、暗い
ときには閾値が低めに設定され、２値化画像において欠
陥部の面積は、周囲の明るさや照明の経年変化などに影
響されることなく適正に検出される。これにより被検査
対象物の良否を誤って判断することは防止される。
部分の各面積割合を求め、この各面積割合が所定範囲内
になるように閾値を変化させることにより、周囲の明る
さや照明が明るいときには閾値が高めに設定され、暗い
ときには閾値が低めに設定され、２値化画像において欠
陥部の面積は、周囲の明るさや照明の経年変化などに影
響されることなく適正に検出される。これにより被検査
対象物の良否を誤って判断することは防止される。
実施例
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
まず、第１図により欠陥検出を行う設備について説明す
る。１は被検査対象物としての管体で、この管体１は複
数対の回転ローラ２により管軸心を中心として回転自在
に保持され、所定の回転ローラ２に取付けたモータ３に
より回転される。これらの回転ローラ２は管軸心に沿う
方向に移動自在の移動台３により支持され、図示しない
駆動装置により、管体１は移動台３とともに管軸心方向
に移動される。４および５は管体１の移動により管体１
内に挿出自在とされているＣＯＤカメラおよび照明装置
で、照明装置５の照射箇所がＣＯＤカメラ４のカメラ視
野となるように配置されている。ＣＣＤカメラ４には画
像処理装置６が接続され、ＣＣＤカメラ４の映像信号が
画像処理装置６に出力されるようになっている。画像処
理装置６は通信回線などを介してパーソナルコンピュー
タなどからなる制御演算装置７に接続され、データの受
け渡しが行われる。
る。１は被検査対象物としての管体で、この管体１は複
数対の回転ローラ２により管軸心を中心として回転自在
に保持され、所定の回転ローラ２に取付けたモータ３に
より回転される。これらの回転ローラ２は管軸心に沿う
方向に移動自在の移動台３により支持され、図示しない
駆動装置により、管体１は移動台３とともに管軸心方向
に移動される。４および５は管体１の移動により管体１
内に挿出自在とされているＣＯＤカメラおよび照明装置
で、照明装置５の照射箇所がＣＯＤカメラ４のカメラ視
野となるように配置されている。ＣＣＤカメラ４には画
像処理装置６が接続され、ＣＣＤカメラ４の映像信号が
画像処理装置６に出力されるようになっている。画像処
理装置６は通信回線などを介してパーソナルコンピュー
タなどからなる制御演算装置７に接続され、データの受
け渡しが行われる。
次に、欠陥検出方法について第２図に示すフローチャー
トに従って説明する。
トに従って説明する。
まず、ステップＳ１で、ＣＣＤカメラ４の視野が管体１
の入口部分内面に位置するように移動台３を移動・停止
させ、照明装置５により照射した管体１の入口部分内面
をＣＣＤカメラ４で撮像する。ＣＣＤカメラ４の撮像画
像は映像信号として画像処理装置６に入力される。次に
、ステ・ンプＳ２において画像処理装置６のウインドウ
（表示領域）をカメラ視野Ｘ全体に広げ、この状態で、
ステップＳ３に示すように、ある初期設定された閾値と
各画素の輝度値とを比較し、上記ウインドウ内の撮像画
像を２値化（輝度値が閾値より小さい画素を黒色表示す
るとともに輝度値が閾値より大きい画素を白色表示）す
る。この際、管体１の周囲が明るい場合には、第３図（
ａ）に示すように、欠陥部ａが小さ目に表示されるとと
もに照明されている箇所と照明外箇所との境界部分ｂは
カメラ視野Ｘの外周枠に接近した位置となるため、黒色
表示部分の割合が小さく表示される。また、同一箇所を
撮像した場合でも、周囲か暗かったり、照明が経年変化
により劣化していたりした際には、第３図（ｂ）に示す
ように、欠陥部ａが太き目に表示されるとともに境界部
分ｂはカメラ視野Ｘの外周枠から離れて中央側に寄った
位置となるため、黒色表示部分の割合が大きく表示され
る。ステップＳ４で制御演算装置７により黒色表示部分
の面積が計測される。ステップＳ５において、面積計測
値が予め設定された値の範囲内であるか否かを判断する
。この場合に、第３図（ａ）に示すように計測値が設定
範囲より小さい場合は、ステップＳ６からステップＳ７
に進んで、閾値を所定値分増加させて再度ステップＳ３
に戻り、また、第３図（ｂ）に示すように計測値が設定
値範囲より大きい場合は、ステップＳ６からステップＳ
８に進んで、閾値を所定値分減少させて再度ステップＳ
３に戻る。そして計測値が設定範囲内になるまで閾値の
増減を繰り返す。これにより計測値か設定範囲内となる
と、２値化画像における境界部分ｂは第３図（Ｃ）に示
すような位置となり、欠陥部ａは照明状態に影響される
ことなく、適正な大きさで表示される。その後は、ステ
ップＳ，でウインドを欠陥検出領域ｙまで小さくして非
照明部分がウインドウ内に無い状態とする。そして、ス
テップＳＩＯで、欠陥検出作業を行う。つまり、管体１
を回転させかつ管軸心方向にも適宜移動させながら、Ｃ
ＣＤカメラ４で管体１の内面を順次撮像し、画像処理装
置６により上記設定を行った閾値で２値化処理を行い、
欠陥部ａの面積計測を行い、管体１の良否を判断する。
の入口部分内面に位置するように移動台３を移動・停止
させ、照明装置５により照射した管体１の入口部分内面
をＣＣＤカメラ４で撮像する。ＣＣＤカメラ４の撮像画
像は映像信号として画像処理装置６に入力される。次に
、ステ・ンプＳ２において画像処理装置６のウインドウ
（表示領域）をカメラ視野Ｘ全体に広げ、この状態で、
ステップＳ３に示すように、ある初期設定された閾値と
各画素の輝度値とを比較し、上記ウインドウ内の撮像画
像を２値化（輝度値が閾値より小さい画素を黒色表示す
るとともに輝度値が閾値より大きい画素を白色表示）す
る。この際、管体１の周囲が明るい場合には、第３図（
ａ）に示すように、欠陥部ａが小さ目に表示されるとと
もに照明されている箇所と照明外箇所との境界部分ｂは
カメラ視野Ｘの外周枠に接近した位置となるため、黒色
表示部分の割合が小さく表示される。また、同一箇所を
撮像した場合でも、周囲か暗かったり、照明が経年変化
により劣化していたりした際には、第３図（ｂ）に示す
ように、欠陥部ａが太き目に表示されるとともに境界部
分ｂはカメラ視野Ｘの外周枠から離れて中央側に寄った
位置となるため、黒色表示部分の割合が大きく表示され
る。ステップＳ４で制御演算装置７により黒色表示部分
の面積が計測される。ステップＳ５において、面積計測
値が予め設定された値の範囲内であるか否かを判断する
。この場合に、第３図（ａ）に示すように計測値が設定
範囲より小さい場合は、ステップＳ６からステップＳ７
に進んで、閾値を所定値分増加させて再度ステップＳ３
に戻り、また、第３図（ｂ）に示すように計測値が設定
値範囲より大きい場合は、ステップＳ６からステップＳ
８に進んで、閾値を所定値分減少させて再度ステップＳ
３に戻る。そして計測値が設定範囲内になるまで閾値の
増減を繰り返す。これにより計測値か設定範囲内となる
と、２値化画像における境界部分ｂは第３図（Ｃ）に示
すような位置となり、欠陥部ａは照明状態に影響される
ことなく、適正な大きさで表示される。その後は、ステ
ップＳ，でウインドを欠陥検出領域ｙまで小さくして非
照明部分がウインドウ内に無い状態とする。そして、ス
テップＳＩＯで、欠陥検出作業を行う。つまり、管体１
を回転させかつ管軸心方向にも適宜移動させながら、Ｃ
ＣＤカメラ４で管体１の内面を順次撮像し、画像処理装
置６により上記設定を行った閾値で２値化処理を行い、
欠陥部ａの面積計測を行い、管体１の良否を判断する。
これにより、照明状態の影響を受けることなく欠陥検出
作業を正確に行える。
作業を正確に行える。
なお、上述の閾値設定のためのＣＣＤカメラ撮像位置は
人口部に限るものではなく、入口部から所定距離管体１
内に挿入した位置でもよい。また、被検査対象物として
管体１の場合を示したが、板材などにも適用できる。
人口部に限るものではなく、入口部から所定距離管体１
内に挿入した位置でもよい。また、被検査対象物として
管体１の場合を示したが、板材などにも適用できる。
発明の効果
以上のよう本発明によれば、欠陥検出を行う前に、欠陥
検出領域より広い領域で２値化部分の各面積割合を求め
、この各面積割合が所定範囲内になるように閾値を変化
させることにより、照明状態の変化に影響されることな
く欠陥の検出を正確に行うことができ、欠陥検査の信頼
性は向上する。
検出領域より広い領域で２値化部分の各面積割合を求め
、この各面積割合が所定範囲内になるように閾値を変化
させることにより、照明状態の変化に影響されることな
く欠陥の検出を正確に行うことができ、欠陥検査の信頼
性は向上する。
図面は本発明の一実施例に係るもので、第１図は欠陥検
出設備の概略斜視図、第２図は欠陥検出方法のフローチ
ャート、第３図（ａ）〜（Ｃ）はそれぞれ撮像画像を示
す図である。 １・・・管体（被検査対象物）、４・・・ＣＣＤカメラ
（撮像装置）、５・・・照明装置、６・・・画像処理装
置、７・・・制御演算装置、Ｘ・・カメラ視野、ｙ・・
・欠陥検出領域。
出設備の概略斜視図、第２図は欠陥検出方法のフローチ
ャート、第３図（ａ）〜（Ｃ）はそれぞれ撮像画像を示
す図である。 １・・・管体（被検査対象物）、４・・・ＣＣＤカメラ
（撮像装置）、５・・・照明装置、６・・・画像処理装
置、７・・・制御演算装置、Ｘ・・カメラ視野、ｙ・・
・欠陥検出領域。
Claims (1)
- １、被検査対象物の表面に照明を照射し、撮像装置によ
り撮像した画像を画像処理装置に出力し、この画像処理
装置により各画素の輝度値を閾値と比較して２値化し、
上記閾値より輝度値が小さい箇所を欠陥部として検出す
る欠陥検出方法であって、欠陥検出を行う前に、欠陥検
出領域より広い領域で２値化部分の各面積割合を求め、
この各面積割合が所定範囲内になるように閾値を変化さ
せて閾値を設定し、この閾値で欠陥検出領域を２値化し
て欠陥検出を行う欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP133690A JPH03205540A (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP133690A JPH03205540A (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03205540A true JPH03205540A (ja) | 1991-09-09 |
Family
ID=11498659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP133690A Pending JPH03205540A (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03205540A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0660265A3 (en) * | 1993-11-16 | 1995-12-27 | Fuji Electric Co Ltd | Device for checking a test object image. |
| JP2002063575A (ja) * | 2000-08-17 | 2002-02-28 | Japan Computer Science Corp | 画像処理を利用した海難捜索方法及び海難捜索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2002195960A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Shibuya Kogyo Co Ltd | ボール検査装置及びボール検査方法 |
| JP2009025155A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Kubota Matsushitadenko Exterior Works Ltd | 塗装不良検査方法 |
-
1990
- 1990-01-08 JP JP133690A patent/JPH03205540A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0660265A3 (en) * | 1993-11-16 | 1995-12-27 | Fuji Electric Co Ltd | Device for checking a test object image. |
| US5608815A (en) * | 1993-11-16 | 1997-03-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Device for testing an image of a test object |
| JP2002063575A (ja) * | 2000-08-17 | 2002-02-28 | Japan Computer Science Corp | 画像処理を利用した海難捜索方法及び海難捜索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2002195960A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Shibuya Kogyo Co Ltd | ボール検査装置及びボール検査方法 |
| JP2009025155A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Kubota Matsushitadenko Exterior Works Ltd | 塗装不良検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110570411A (zh) | 一种基于变异系数的Mura检测方法及装置 | |
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| JP5509465B2 (ja) | ガラスびん検査装置 | |
| JP4581424B2 (ja) | 外観検査方法及び画像処理装置 | |
| JP3695120B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP2004361085A (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2002008029A (ja) | 画像検査装置 | |
| JPH01307645A (ja) | 試料の検査方法 | |
| JP3433333B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP3270336B2 (ja) | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 | |
| JP7362324B2 (ja) | 画像表示装置の検査方法、製造方法及び検査装置 | |
| JPH0735699A (ja) | 表面欠陥検出方法およびその装置 | |
| JP2004286708A (ja) | 欠陥検出装置、方法及びプログラム | |
| JP2001083474A (ja) | 液晶表示パネルの検査方法 | |
| JP3841882B2 (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
| JPS62249005A (ja) | 物体の形状異常検査装置 | |
| JPH01307875A (ja) | 長尺シートの欠陥検査装置 | |
| JP3755319B2 (ja) | 主被写体検出装置およびそれを用いた機器 | |
| JP3203607B2 (ja) | 画面欠点検出装置 | |
| JP3604974B2 (ja) | 画面検査方法 | |
| JPH10206344A (ja) | 光学的むら検査装置および光学的むら検査方法 | |
| JP2803388B2 (ja) | 部品検査装置 | |
| JPH04364446A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| KR20240020463A (ko) | 전자 부품의 리드 팁을 검사하는 검사 장치 | |
| CN101178422A (zh) | 字符型发光器件检测方法 |