JPH0320738B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0320738B2 JPH0320738B2 JP82683A JP82683A JPH0320738B2 JP H0320738 B2 JPH0320738 B2 JP H0320738B2 JP 82683 A JP82683 A JP 82683A JP 82683 A JP82683 A JP 82683A JP H0320738 B2 JPH0320738 B2 JP H0320738B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- mask
- receiving
- camera
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、自動露出機能を有しかつダイレクト
測光式カメラの自動露出機能を試験する試験器に
関する。
測光式カメラの自動露出機能を試験する試験器に
関する。
ダイレクト測光式カメラは、写真撮影の際にレ
ンズを通してフイルムに与えられる光の反射光を
受光素子で受光し、その受光量に応じて絞り又は
シヤツタ速度等を自動制御して、フイルムに適正
な露出を与える自動露出機能を有している。
ンズを通してフイルムに与えられる光の反射光を
受光素子で受光し、その受光量に応じて絞り又は
シヤツタ速度等を自動制御して、フイルムに適正
な露出を与える自動露出機能を有している。
この種カメラの試験器として従来特公昭56−
4896号公報に示されるものがある。この試験器は
第１図に示したように、一定光量の光源１と、受
光素子２を内蔵した被試験カメラ３のフイルム位
置に設けられた反射板４付きの受光マスク５と、
積分球６および受光素子７を備える測定部８とか
ら形成されている。なお、９は表示装置である。
そして、第２図に示したように反射板４は、カメ
ラ３のレンズ３ａを通つた光源１からの光を反射
して、カメラ３の測光を可能とするもので、光学
的にフイルムと等価に形成されているとともに、
中央部には反射板４に達する光の一部を通過させ
て測定部８に受光させるスリツト１０が形成され
ている。
4896号公報に示されるものがある。この試験器は
第１図に示したように、一定光量の光源１と、受
光素子２を内蔵した被試験カメラ３のフイルム位
置に設けられた反射板４付きの受光マスク５と、
積分球６および受光素子７を備える測定部８とか
ら形成されている。なお、９は表示装置である。
そして、第２図に示したように反射板４は、カメ
ラ３のレンズ３ａを通つた光源１からの光を反射
して、カメラ３の測光を可能とするもので、光学
的にフイルムと等価に形成されているとともに、
中央部には反射板４に達する光の一部を通過させ
て測定部８に受光させるスリツト１０が形成され
ている。
しかし、この試験器は以下の欠点がある。第１
に、反射板４の反射率をフイルムと等価とするた
めに反射面は塗装されているが、塗装により反射
率を一定に製作することは、極めて難しく生産性
が悪い。第２に、スリツト１０部分からの反射を
得られないため、カメラ３の測光方法によつては
相当の誤差を生じる可能性がある。第３に、スリ
ツト１０を大きくすると反射板４のフイルムとの
等価性が損われるので、細いスリツト１０を通つ
た僅かな光を測定しなければならない。ちなみに
例えば35mm１眼レフカメラの場合には第２図中
Ａ、Ｂに示すスリツト１０の寸法は、Ａ＝19mm、
Ｂ＝1.0mm以上には実用上大きくできない。この
ように受光素子７への入射光量が僅かであるか
ら、低輝度への測定範囲が限られ、これを補うた
めには受光素子７に高い性能のものを用いたり、
電気回路の増幅度も大きくする必要がある等、コ
スト高となる。第４に、受光素子７の受光はスリ
ツト１０で規定されるから、任意の位置および大
きさで受光することが困難である。
に、反射板４の反射率をフイルムと等価とするた
めに反射面は塗装されているが、塗装により反射
率を一定に製作することは、極めて難しく生産性
が悪い。第２に、スリツト１０部分からの反射を
得られないため、カメラ３の測光方法によつては
相当の誤差を生じる可能性がある。第３に、スリ
ツト１０を大きくすると反射板４のフイルムとの
等価性が損われるので、細いスリツト１０を通つ
た僅かな光を測定しなければならない。ちなみに
例えば35mm１眼レフカメラの場合には第２図中
Ａ、Ｂに示すスリツト１０の寸法は、Ａ＝19mm、
Ｂ＝1.0mm以上には実用上大きくできない。この
ように受光素子７への入射光量が僅かであるか
ら、低輝度への測定範囲が限られ、これを補うた
めには受光素子７に高い性能のものを用いたり、
電気回路の増幅度も大きくする必要がある等、コ
スト高となる。第４に、受光素子７の受光はスリ
ツト１０で規定されるから、任意の位置および大
きさで受光することが困難である。
したがつて、本発明の目的とするところは、上
記従来の諸欠点を解消できるようにしたダイレク
ト測光式カメラ用試験器を提供することにある。
記従来の諸欠点を解消できるようにしたダイレク
ト測光式カメラ用試験器を提供することにある。
すなわち、本発明は、被試験カメラのフイルム
位置に設けられて、光源装置からの光を光学的に
フイルムと等価に反射してカメラのダイレクト測
光を可能とする受光マスクを、乳白色の光学拡散
板の光入射面にフイルタを重ねるとともに、光透
過面にマスクを重ねて形成したことを特徴とす
る。
位置に設けられて、光源装置からの光を光学的に
フイルムと等価に反射してカメラのダイレクト測
光を可能とする受光マスクを、乳白色の光学拡散
板の光入射面にフイルタを重ねるとともに、光透
過面にマスクを重ねて形成したことを特徴とす
る。
この特徴によれば、乳白色の光学拡散板に重ね
たフイルムによつて、光学拡散板に入射する光と
ともに同拡散板から反射される光を減衰させて、
受光マスクからの反射をフイルムと等価にでき
る。そして、受光マスクはそのフイルタおよび光
学拡散板の全面が光透過性を有するので、従来の
ようにスリツトを必要とすることなく測光素子に
光を入射させることができる。すなわち、受光マ
スクはその全面が反射面であるとともに、測光素
子に対する受光面として機能するものである。
たフイルムによつて、光学拡散板に入射する光と
ともに同拡散板から反射される光を減衰させて、
受光マスクからの反射をフイルムと等価にでき
る。そして、受光マスクはそのフイルタおよび光
学拡散板の全面が光透過性を有するので、従来の
ようにスリツトを必要とすることなく測光素子に
光を入射させることができる。すなわち、受光マ
スクはその全面が反射面であるとともに、測光素
子に対する受光面として機能するものである。
このように受光マスクの全面が反射面であるた
め、反射むらがなく、カメラの測光方法に拘らず
ダイレクト測光の安定性が高められて、測定に誤
差を生じることを防止できる。そして、受光マス
クが測光素子に対する受光面であるから、従来の
スリツトによる場合に比較して測光素子への入射
光量を多くできる。したがつて、低輝度への測定
範囲を広くできるとともに、測定範囲を広くしな
い場合には、電気回路の増幅度を小さくでき、か
つ測光素子に高性能のものが要求されないから、
安価に実現できる。さらに、受光マスクはマスク
を備えているから、このマスクの構造により、受
光マスクの全受光面範囲内で測光素子への入射位
置を任意に設定できるとともに、測光素子への入
射光量を任意に設定することができる。しかも、
フイルタの透過率を一定に製作することは頗る容
易であつて生産性がよい。このため塗装で反射面
を形成した従来に比較して容易かつ安価な受光マ
スクを使用できるとともに、試験器の信頼性も向
上できる。
め、反射むらがなく、カメラの測光方法に拘らず
ダイレクト測光の安定性が高められて、測定に誤
差を生じることを防止できる。そして、受光マス
クが測光素子に対する受光面であるから、従来の
スリツトによる場合に比較して測光素子への入射
光量を多くできる。したがつて、低輝度への測定
範囲を広くできるとともに、測定範囲を広くしな
い場合には、電気回路の増幅度を小さくでき、か
つ測光素子に高性能のものが要求されないから、
安価に実現できる。さらに、受光マスクはマスク
を備えているから、このマスクの構造により、受
光マスクの全受光面範囲内で測光素子への入射位
置を任意に設定できるとともに、測光素子への入
射光量を任意に設定することができる。しかも、
フイルタの透過率を一定に製作することは頗る容
易であつて生産性がよい。このため塗装で反射面
を形成した従来に比較して容易かつ安価な受光マ
スクを使用できるとともに、試験器の信頼性も向
上できる。
以下本発明を第３図から第５図に示す一実施例
を参照して説明する。
を参照して説明する。
第３図中１１は光源装置で、一定光量を発生す
るとともに、乳白色の拡散板１２を有している。
１３は自動露出機能を有しかつダイレクト測光方
式の被試験カメラで、拡散板１２に対向して光源
装置１１からの一定光量が入射する位置にセツト
される。このカメラ１３にはダイレクト測光用の
受光素子１４が設けられている。そしてカメラ１
３のフイルム位置には受光マスク１５が設けられ
る。
るとともに、乳白色の拡散板１２を有している。
１３は自動露出機能を有しかつダイレクト測光方
式の被試験カメラで、拡散板１２に対向して光源
装置１１からの一定光量が入射する位置にセツト
される。このカメラ１３にはダイレクト測光用の
受光素子１４が設けられている。そしてカメラ１
３のフイルム位置には受光マスク１５が設けられ
る。
受光マスク１５は、レンズ１６を通つた光源装
置１１からの光を通過させるとともに、光学的に
フイルムと等価に反射させるもので、反射光は受
光素子１４に与えられるようになつている。この
受光マスク１５は第４図、第５図に示したよう
に、乳白色の光学拡散板１７の光入射面にフイル
タ１８を重ねるとともに、光透過面にマスク１９
を重ねて形成されている。光学拡散板１７に対し
てフイルタ１８は、透明接着剤により全面接着、
又は両面接着テープや接着剤で周縁部のみ接着し
て重ねられ、かつ光学拡散板１７に対してマスク
１９は、接着剤や両面接着テープで接着して重ね
られている。そして、光学拡散板１７は、オパー
ルガラス、又はアクリル板等からなり、後述の測
光素子２０の視感度特性を損わないものであつて
拡散性が高く、この拡散性により受光面の光量む
らを平均化するようになつている。フイルタ１８
は、後述する測光素子２０の視感度特性を損わな
い適当な濃度を有するもので、例えばゼラチンフ
イルタ、光学ガラスフイルタ、NDフイルタ、ア
クリル樹脂フイルタ等で形成されている。このフ
イルタの濃度により受光マスク１５の反射率が定
められる。また、マスク１９は、実際の受光面積
の大きさおよび受光位置を設定するためのもの
で、これらの設定用の開口１９ａを有している。
置１１からの光を通過させるとともに、光学的に
フイルムと等価に反射させるもので、反射光は受
光素子１４に与えられるようになつている。この
受光マスク１５は第４図、第５図に示したよう
に、乳白色の光学拡散板１７の光入射面にフイル
タ１８を重ねるとともに、光透過面にマスク１９
を重ねて形成されている。光学拡散板１７に対し
てフイルタ１８は、透明接着剤により全面接着、
又は両面接着テープや接着剤で周縁部のみ接着し
て重ねられ、かつ光学拡散板１７に対してマスク
１９は、接着剤や両面接着テープで接着して重ね
られている。そして、光学拡散板１７は、オパー
ルガラス、又はアクリル板等からなり、後述の測
光素子２０の視感度特性を損わないものであつて
拡散性が高く、この拡散性により受光面の光量む
らを平均化するようになつている。フイルタ１８
は、後述する測光素子２０の視感度特性を損わな
い適当な濃度を有するもので、例えばゼラチンフ
イルタ、光学ガラスフイルタ、NDフイルタ、ア
クリル樹脂フイルタ等で形成されている。このフ
イルタの濃度により受光マスク１５の反射率が定
められる。また、マスク１９は、実際の受光面積
の大きさおよび受光位置を設定するためのもの
で、これらの設定用の開口１９ａを有している。
この受光マスク１５の後方には半導体センサ等
からなる測光素子２０を備える測定部２１が配設
され、測光素子２０は受光マスク１５を透過した
光量を測定するようになつている。そして、測定
部２１の出力端には表示装置２２が接続されてい
る。この装置２２は測光素子２０の受光量を例え
ばデジタル表示するものである。
からなる測光素子２０を備える測定部２１が配設
され、測光素子２０は受光マスク１５を透過した
光量を測定するようになつている。そして、測定
部２１の出力端には表示装置２２が接続されてい
る。この装置２２は測光素子２０の受光量を例え
ばデジタル表示するものである。
以上の構成において、被試験カメラ１３のレン
ズ１６を通して入射された光源装置１１の一定光
量の光は、受光マスク１５の全面で反射されて受
光素子１４に与えられる。そうすると、受光素子
１４の受光量に応じて速度でシヤツタが駆動され
るので、このシヤツタ速度に応じた光量が受光マ
スク１５に与えられ、結果としてマスク１９の開
口１９ａを通して測光素子２０に入射される。そ
して、測光素子２０の受光量は表示装置２２に表
示される。したがつて、カメラの絞りを予め一定
に設定してフイルムに達する光量を理論的に定め
ておけば、この理論値との比較により表示装置２
２の表示から自動露出機能が正常に動作している
か否かを判断できるとともに、上記表示からシヤ
ツタ速度も知ることができる。さらに以上の構成
において受光マスク１５全体は、測光素子２０へ
の受光面として使用されることが明らかであるた
め、マスク１９の開口１９ａの設計によつて異な
るが、いずれにしても測光素子２０への入射光量
を従来より多くできる。ちなみに、第２図に示し
た従来のスリツト付き反射板と同じ大きさの受光
面において、上記開口１９ａを直径18mmの大きさ
に設定した場合（第４図参照）には、測光素子２
０への入射光量を従来の約４倍（2EV）とするこ
とができ、また同受光面の略全体（縦幅20mm、横
幅31mm）の開口１９ａを設定した場合には、測光
素子２０への入射光量を従来の約10倍（3.3EV）
とすることができた。
ズ１６を通して入射された光源装置１１の一定光
量の光は、受光マスク１５の全面で反射されて受
光素子１４に与えられる。そうすると、受光素子
１４の受光量に応じて速度でシヤツタが駆動され
るので、このシヤツタ速度に応じた光量が受光マ
スク１５に与えられ、結果としてマスク１９の開
口１９ａを通して測光素子２０に入射される。そ
して、測光素子２０の受光量は表示装置２２に表
示される。したがつて、カメラの絞りを予め一定
に設定してフイルムに達する光量を理論的に定め
ておけば、この理論値との比較により表示装置２
２の表示から自動露出機能が正常に動作している
か否かを判断できるとともに、上記表示からシヤ
ツタ速度も知ることができる。さらに以上の構成
において受光マスク１５全体は、測光素子２０へ
の受光面として使用されることが明らかであるた
め、マスク１９の開口１９ａの設計によつて異な
るが、いずれにしても測光素子２０への入射光量
を従来より多くできる。ちなみに、第２図に示し
た従来のスリツト付き反射板と同じ大きさの受光
面において、上記開口１９ａを直径18mmの大きさ
に設定した場合（第４図参照）には、測光素子２
０への入射光量を従来の約４倍（2EV）とするこ
とができ、また同受光面の略全体（縦幅20mm、横
幅31mm）の開口１９ａを設定した場合には、測光
素子２０への入射光量を従来の約10倍（3.3EV）
とすることができた。
なお、本発明は上記EE方式のカメラに限らず、
ES方式、或はPS方式のカメラの自動露出機能試
験にも実施できる。さらに、必要により視感度特
性の補正用フイルタを、受光マスクと測光素子と
の間に設けて実施してもよい。その他、本発明の
実施に当つては、発明の要旨に反しない限り、光
源装置、受光マスク、測光素子、光学拡散板、フ
イルタ、マスク等の具体的な構造、形状、位置お
よび材質等は、上記実施例に制約されずに種々の
態様に構成して実施できることは勿論である。
ES方式、或はPS方式のカメラの自動露出機能試
験にも実施できる。さらに、必要により視感度特
性の補正用フイルタを、受光マスクと測光素子と
の間に設けて実施してもよい。その他、本発明の
実施に当つては、発明の要旨に反しない限り、光
源装置、受光マスク、測光素子、光学拡散板、フ
イルタ、マスク等の具体的な構造、形状、位置お
よび材質等は、上記実施例に制約されずに種々の
態様に構成して実施できることは勿論である。
以上説明した本発明は上記特許請求の範囲に記
載の構成を要旨とする。したがつて、生産性が良
いフイルタを用いて受光マスクがフイルムと等価
の反射をなすようにしたから、安価に得られると
ともに、受光マスクに従来必要であつたスリツト
を省略でき、受光マスク全面での反射を得られる
ので、カメラの測光方法が制約を受けることがな
く、測定誤差を防止して高精度の測定ができる。
そして、受光マスクはその全面が測光素子への受
光面として使用可能であるから、測光素子への入
射光量を多くできるとともに、受光マスクに使用
するマスクの設計により、測定を任意の位置およ
び大きさで実施することができる等の種々の効果
がある。
載の構成を要旨とする。したがつて、生産性が良
いフイルタを用いて受光マスクがフイルムと等価
の反射をなすようにしたから、安価に得られると
ともに、受光マスクに従来必要であつたスリツト
を省略でき、受光マスク全面での反射を得られる
ので、カメラの測光方法が制約を受けることがな
く、測定誤差を防止して高精度の測定ができる。
そして、受光マスクはその全面が測光素子への受
光面として使用可能であるから、測光素子への入
射光量を多くできるとともに、受光マスクに使用
するマスクの設計により、測定を任意の位置およ
び大きさで実施することができる等の種々の効果
がある。
第１図は従来の試験器を示す概略構成図、第２
図は同従来の受光マスクを示す正面図である。第
３図から第５図は本発明の一実施例に係る試験器
を示し、第３図は概略構成図、第４図は受光マス
クの正面図、第５図は受光マスクの分解断面図で
ある。 １１…光源装置、１３…被試験カメラ、１４…
受光素子、１５…受光マスク、１７…光学拡散
板、１８…フイルタ、１９…マスク、１９ａ…開
口、２０…測光素子。
図は同従来の受光マスクを示す正面図である。第
３図から第５図は本発明の一実施例に係る試験器
を示し、第３図は概略構成図、第４図は受光マス
クの正面図、第５図は受光マスクの分解断面図で
ある。 １１…光源装置、１３…被試験カメラ、１４…
受光素子、１５…受光マスク、１７…光学拡散
板、１８…フイルタ、１９…マスク、１９ａ…開
口、２０…測光素子。
Claims (1)
- １ 一定光量を発生する光源装置と、自動露出機
能を有しかつダイレクト測光式の被試験カメラの
フイルム位置に設けられるとともに、上記光源装
置からの光を光学的にフイルムと等価に反射して
上記カメラのダイレクト測光を可能とする受光マ
スクと、この受光マスクを通つた光量を測定する
測光素子とを具備し、上記受光マスクを、乳白色
の光学拡散板の光入射面にフイルタを重ねるとと
もに、光透過面にマスクを重ねて形成したことを
特徴とするダイレクト測光式カメラ用試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP82683A JPS59125724A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | ダイレクト測光式カメラ用試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP82683A JPS59125724A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | ダイレクト測光式カメラ用試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59125724A JPS59125724A (ja) | 1984-07-20 |
| JPH0320738B2 true JPH0320738B2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=11484448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP82683A Granted JPS59125724A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | ダイレクト測光式カメラ用試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59125724A (ja) |
-
1983
- 1983-01-07 JP JP82683A patent/JPS59125724A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59125724A (ja) | 1984-07-20 |
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