JPH032077B2 - - Google Patents
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- JPH032077B2 JPH032077B2 JP8033084A JP8033084A JPH032077B2 JP H032077 B2 JPH032077 B2 JP H032077B2 JP 8033084 A JP8033084 A JP 8033084A JP 8033084 A JP8033084 A JP 8033084A JP H032077 B2 JPH032077 B2 JP H032077B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/14—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D9/00—Recording measured values
- G01D9/40—Producing one or more recordings, each recording being produced by controlling either the recording element, e.g. stylus or the recording medium, e.g. paper roll, in accordance with two or more variables
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- General Physics & Mathematics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、複数の描画ペンを使用する自動製図
機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法に
関する。
機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法に
関する。
（従来技術）
従来、プロツタあるいは自動製図機と呼ばれて
いる作図装置は、描画ペンをヘツドに取付けＸ−
Ｙ方向に動かすことによつて、紙上に、設計図、
工業デザイン、測量図あるいは三次元の地形図等
を描くことができるようになつている。
いる作図装置は、描画ペンをヘツドに取付けＸ−
Ｙ方向に動かすことによつて、紙上に、設計図、
工業デザイン、測量図あるいは三次元の地形図等
を描くことができるようになつている。
この場合、多色の作図あるいは線の太さを選択
して数種に分けて描く場合には、第６図に示すよ
うに、予め用意された複数本の描画ペンａ，a′の
うち、所要の描画ペンａを、最初にアームｂをも
つて選択し、ヘツドｃをＸ−Ｙに動かして作図し
た後、次に描画ペンa′を選択して同様に作図する
こととなる。
して数種に分けて描く場合には、第６図に示すよ
うに、予め用意された複数本の描画ペンａ，a′の
うち、所要の描画ペンａを、最初にアームｂをも
つて選択し、ヘツドｃをＸ−Ｙに動かして作図し
た後、次に描画ペンa′を選択して同様に作図する
こととなる。
しかしながら、このように描画ペンａ，a′を交
換して使用する際、個々の描画ペンの先端の位
置、あるいはアームｂ対する取付位置が僅かに異
なるため、ヘツドｃを例えばＸ軸について同一座
標に設定しても、描画された画線の中心位置は、
一方の位置をヘツド中心ｏからの距離ｔとすれ
ば、他方の位置はｔ−ｓとなり、双方の描画ペン
のズレ量、すなわち、誤差量ｓだけ狂うこととな
る。
換して使用する際、個々の描画ペンの先端の位
置、あるいはアームｂ対する取付位置が僅かに異
なるため、ヘツドｃを例えばＸ軸について同一座
標に設定しても、描画された画線の中心位置は、
一方の位置をヘツド中心ｏからの距離ｔとすれ
ば、他方の位置はｔ−ｓとなり、双方の描画ペン
のズレ量、すなわち、誤差量ｓだけ狂うこととな
る。
このような誤差を補正するためには、補正用の
制御データを、ヘツドを動かすCADシステム等
に附加する必要があるが、この誤差量ｓは通常微
小であつて、例えば、描画する線副の数分の１程
度となり、その正確な測定は困難であつた。
制御データを、ヘツドを動かすCADシステム等
に附加する必要があるが、この誤差量ｓは通常微
小であつて、例えば、描画する線副の数分の１程
度となり、その正確な測定は困難であつた。
従来、この誤差量の測定方法としては、ヘツド
を同一位置において、描画ペンを交換しながら描
画し、それぞれの描画ペンによる線のズレを目視
するか、あるいは顕微鏡を使用するかして、例え
ば第７図に示すように、目盛ｅがついたルーペｆ
によつて計測していた。
を同一位置において、描画ペンを交換しながら描
画し、それぞれの描画ペンによる線のズレを目視
するか、あるいは顕微鏡を使用するかして、例え
ば第７図に示すように、目盛ｅがついたルーペｆ
によつて計測していた。
この場合、誤差量を計るためには、例えば２本
の線ｇ，ｈのそれぞれの線の中心から中心までの
距離を計る必要があるが、この距離は微小である
ため、正確な測定が困難であつた。
の線ｇ，ｈのそれぞれの線の中心から中心までの
距離を計る必要があるが、この距離は微小である
ため、正確な測定が困難であつた。
また、測定には長年の経験が必要であり、調整
のための時間を要する欠点があつた。
のための時間を要する欠点があつた。
（本発明の目的及び構成）
本発明の目的は、計測法における主尺と副尺の
関係、バーニヤ目盛の原理を、自動製図機におけ
る描画ペンの取付位置誤差量測定方法に適用する
ことによつて、誤差量測定を容易にしかも正確に
行なうことを可能にしようとするものであり、そ
の特徴は、基準として選んだ描画ペンで、基準線
から所定の間隔をｎ目盛で等分した主尺線を引
き、次いで、その他の描画ペンで、上記基準線の
位置から上記主尺線に重ねて前記所定の間隔をｎ
±１目盛で等分した副尺線を引き、前記主尺線と
副尺線の一致する位置を前記基準線からの主尺線
あるいは副尺線の目盛で数えることによつて、基
準として選んだ描画ペンと、その他の描画ペンと
の相対誤差を検出する手順とからなつている。
関係、バーニヤ目盛の原理を、自動製図機におけ
る描画ペンの取付位置誤差量測定方法に適用する
ことによつて、誤差量測定を容易にしかも正確に
行なうことを可能にしようとするものであり、そ
の特徴は、基準として選んだ描画ペンで、基準線
から所定の間隔をｎ目盛で等分した主尺線を引
き、次いで、その他の描画ペンで、上記基準線の
位置から上記主尺線に重ねて前記所定の間隔をｎ
±１目盛で等分した副尺線を引き、前記主尺線と
副尺線の一致する位置を前記基準線からの主尺線
あるいは副尺線の目盛で数えることによつて、基
準として選んだ描画ペンと、その他の描画ペンと
の相対誤差を検出する手順とからなつている。
（実施例）
以下、本発明を、第１図乃至第５図において、
詳細に説明するが、実施例に使用する自動製図機
は、公知の構成であるので、説明は簡単に行う。
詳細に説明するが、実施例に使用する自動製図機
は、公知の構成であるので、説明は簡単に行う。
第１図の１は、自動製図機の描画ペンを保持す
るためのヘツドで、フレーム（図示略）に支持さ
れたＸ方向の軸２及びＹ方向の軸３に対して、水
平に移動自在に支承され、かつ図示しない駆動装
置によつて、Ｘ−Ｙ方向に、図示しないコンピユ
ータによる制御のもとで、自動的に移動させられ
るようになつている。
るためのヘツドで、フレーム（図示略）に支持さ
れたＸ方向の軸２及びＹ方向の軸３に対して、水
平に移動自在に支承され、かつ図示しない駆動装
置によつて、Ｘ−Ｙ方向に、図示しないコンピユ
ータによる制御のもとで、自動的に移動させられ
るようになつている。
ヘツド１は、水平なアーム４を有し、このアー
ム４の先端の二又状の描画ペン受け４ａは、描画
ペンM0の軸部を垂直に保持し、またこれを離し
て、別の描画ペンと交換しうるように作動する。
ム４の先端の二又状の描画ペン受け４ａは、描画
ペンM0の軸部を垂直に保持し、またこれを離し
て、別の描画ペンと交換しうるように作動する。
描画ペンM0の他に、同形で、かつ色あるいは
描画される線幅の異なる描画ペンM1，M2，M3
…が用意されており、これら描画ペンM0，M1，
M2…を交換して使用することにより、用紙Ｕ上
に、各色のあるいは太さの異なる線を引くことが
できる。
描画される線幅の異なる描画ペンM1，M2，M3
…が用意されており、これら描画ペンM0，M1，
M2…を交換して使用することにより、用紙Ｕ上
に、各色のあるいは太さの異なる線を引くことが
できる。
第２図及び第３図は、描画ペンの取付位置誤差
量測定方法を示すものであり、最初に、基準とな
る１の描画ペンM0をもつて、Ｘ座標の原点、
ORGX0に基準線R0を引き、この基準線R0から、
所定の間隔Ｌをｎ等分（この場合10等分）したピ
ツチで、主尺線R1，R2…を引く。
量測定方法を示すものであり、最初に、基準とな
る１の描画ペンM0をもつて、Ｘ座標の原点、
ORGX0に基準線R0を引き、この基準線R0から、
所定の間隔Ｌをｎ等分（この場合10等分）したピ
ツチで、主尺線R1，R2…を引く。
次いで、測定すべき他の描画ペンMXをもつて、
Ｘ座標原点、ORGX0の位置から、前記所定の間
隔Ｌをｎ±１等分（この場合11等分）したピツチ
で、副尺線Q0，Q1，Q2…を引き、前記主尺線
R1，R2…とＹ方向に互いに部分的に重なり合う
か、もしくは重なり合わないまでも、Ｙ方向のギ
ヤツプが殆ど生じないようにする。この場合、主
尺線と副尺線のピツチ差をＰとする。
Ｘ座標原点、ORGX0の位置から、前記所定の間
隔Ｌをｎ±１等分（この場合11等分）したピツチ
で、副尺線Q0，Q1，Q2…を引き、前記主尺線
R1，R2…とＹ方向に互いに部分的に重なり合う
か、もしくは重なり合わないまでも、Ｙ方向のギ
ヤツプが殆ど生じないようにする。この場合、主
尺線と副尺線のピツチ差をＰとする。
そして、前記主尺線R0，R1，R2…と副尺線
Q0，Q1，Q2…とが一致する位置を検出する。
Q0，Q1，Q2…とが一致する位置を検出する。
第３図においては、主尺線R4と副尺線Q4とが
基準線R0からｍ番目（この場合４目盛）におい
て一致するため、誤差量をΔxoとすれば、Δxo＝
Ｐ（ピツチ差）×ｍとなる。また、測定すべき描画
ペンMXの原点座標ORGXoとすれば、ORGXo＝
ORGX0＋Δxoの関係となる。
基準線R0からｍ番目（この場合４目盛）におい
て一致するため、誤差量をΔxoとすれば、Δxo＝
Ｐ（ピツチ差）×ｍとなる。また、測定すべき描画
ペンMXの原点座標ORGXoとすれば、ORGXo＝
ORGX0＋Δxoの関係となる。
例えば、Ｌ＝11mm ｎ＝10とし、ｐ＝0.1mm、
ｍ＝４とすれば誤差量Δxo＝0.1×４＝0.4mmとな
り、基準の描画ペンと、他の描画ペンとの相対誤
差を求めることができる。
ｍ＝４とすれば誤差量Δxo＝0.1×４＝0.4mmとな
り、基準の描画ペンと、他の描画ペンとの相対誤
差を求めることができる。
なお、上記実施例においては、主尺の目盛を
ｎ、副尺をｎ＋１としたが、副尺の目盛をｎ−１
としてもよい。
ｎ、副尺をｎ＋１としたが、副尺の目盛をｎ−１
としてもよい。
第４図X1〜X6は、描画ペンM1〜M6の６本を
使用した自動製図機において、本発明を適用し、
各描画ペンのＸ軸における相対誤差、オフセツト
量Δdを測定した場合のパターンを図示したもの
である。
使用した自動製図機において、本発明を適用し、
各描画ペンのＸ軸における相対誤差、オフセツト
量Δdを測定した場合のパターンを図示したもの
である。
この実施例においては、基準となる描画ペン
M4の主尺線Ｒを実線で示し、各描画ペンM1，
M2，M3，M5，M6の副尺線Ｑを破線で示してあ
る。
M4の主尺線Ｒを実線で示し、各描画ペンM1，
M2，M3，M5，M6の副尺線Ｑを破線で示してあ
る。
従つて、前述したように、各主尺線Ｒと副尺線
Ｑの重なる位置、（▼）で示す位置を、基準とな
る原点（ORGX0＝ORGX4）から（ｍ）本と数え
ることによつて、主尺線Ｒと副尺線Ｑのピツチ差
をｐとすれば、各描画ペンM1〜M6の原点
ORGX1〜ORGX6の各オフセツト量Δd＝ｍ×ｐ
で求めることができる。
Ｑの重なる位置、（▼）で示す位置を、基準とな
る原点（ORGX0＝ORGX4）から（ｍ）本と数え
ることによつて、主尺線Ｒと副尺線Ｑのピツチ差
をｐとすれば、各描画ペンM1〜M6の原点
ORGX1〜ORGX6の各オフセツト量Δd＝ｍ×ｐ
で求めることができる。
第５図Y1〜Y6は、第４図における各描画ペン
のＹ軸における相対誤差、オフセツト量Δdを測
定した場合のパターンを図示したものである。
のＹ軸における相対誤差、オフセツト量Δdを測
定した場合のパターンを図示したものである。
第４図と同様に、基準となる描画ペンM4の原
点（ORGY0＝ORGY4）とする主尺線Ｒを実線で
示し、各描画ペンM1，M2，M3，M5，M6の副尺
線Ｑを破線で示している。
点（ORGY0＝ORGY4）とする主尺線Ｒを実線で
示し、各描画ペンM1，M2，M3，M5，M6の副尺
線Ｑを破線で示している。
Ｙ軸における各原点ORGY1〜ORGY6の各オフ
セツト量Δdは、Δd＝ｍ×ｐで求めることができ
る。
セツト量Δdは、Δd＝ｍ×ｐで求めることができ
る。
以上のようにして、基準となる描画ペンM4に
対する各描画ペンM1，M2，M3，M5，M6のＸ軸
及びＹ軸におけるオフセツト量Δdを求めたら、
これらを、ヘツド１の制御プログラムに、補正値
として入力する。
対する各描画ペンM1，M2，M3，M5，M6のＸ軸
及びＹ軸におけるオフセツト量Δdを求めたら、
これらを、ヘツド１の制御プログラムに、補正値
として入力する。
補正後においては、製図作業の開始とともに、
アーム４がどの描画ペンM1〜M6を選択しても、
基準となる原点ORGX0，ORGY0と各描画ペンの
原点ORGX1〜ORGX6，ORGY1〜ORGY6を合わ
せてあるため、描画の線は、ズレることなく一致
する。
アーム４がどの描画ペンM1〜M6を選択しても、
基準となる原点ORGX0，ORGY0と各描画ペンの
原点ORGX1〜ORGX6，ORGY1〜ORGY6を合わ
せてあるため、描画の線は、ズレることなく一致
する。
（発明の効果）
本発明によれば、バーニヤ目盛の原理を応用
し、基準として選んだ描画ペンと、その他の描画
ペンによる線引きを、主尺線と副尺線の関係とな
るように重ねて描くことにより、ヘツドに対する
各描画ペンの相対的な誤差量を簡単に測定できる
利点がある。
し、基準として選んだ描画ペンと、その他の描画
ペンによる線引きを、主尺線と副尺線の関係とな
るように重ねて描くことにより、ヘツドに対する
各描画ペンの相対的な誤差量を簡単に測定できる
利点がある。
従つて、この測定量を基に、各描画ペンの原点
座標を基準原点座標に合わせることができ、自動
製図機において、簡単かつ正確に、描画ペンのオ
フセツト量を調整でき、描画ペンを自動的に交換
しても、線ズレ、色ズレ等を生じることはない。
座標を基準原点座標に合わせることができ、自動
製図機において、簡単かつ正確に、描画ペンのオ
フセツト量を調整でき、描画ペンを自動的に交換
しても、線ズレ、色ズレ等を生じることはない。
第１図は、本発明の実施に際して使用される描
画ペン用ヘツドの概略正面図、第２図及び第３図
は、本発明の測定原理を説明するための線図、第
４図及び第５図は、本発明の一実施例を説明する
ための各種パターンを示す線図、第６図は、従来
の自動製図機を示す概略正面図、第７図は、従来
の誤差量測定方法を示す概略平面図である。 １……ヘツド、２，３……軸、４……アーム、
４ａ……描画ペン受け、M0〜M6……描画ペン、
Ｕ……用紙、Ｒ，R0〜R10……主尺線、Ｑ，Q0〜
Q10……副尺線、ORGX0……Ｘ座標原点、
ORGY0……Ｙ座標原点、ORGX1〜ORGX6……
描画ペンＸ座標、ORGY1〜ORGY6……描画ペン
Ｙ座標、Δd……誤差量（オフセツト量）、ｐ……
ピツチ差。
画ペン用ヘツドの概略正面図、第２図及び第３図
は、本発明の測定原理を説明するための線図、第
４図及び第５図は、本発明の一実施例を説明する
ための各種パターンを示す線図、第６図は、従来
の自動製図機を示す概略正面図、第７図は、従来
の誤差量測定方法を示す概略平面図である。 １……ヘツド、２，３……軸、４……アーム、
４ａ……描画ペン受け、M0〜M6……描画ペン、
Ｕ……用紙、Ｒ，R0〜R10……主尺線、Ｑ，Q0〜
Q10……副尺線、ORGX0……Ｘ座標原点、
ORGY0……Ｙ座標原点、ORGX1〜ORGX6……
描画ペンＸ座標、ORGY1〜ORGY6……描画ペン
Ｙ座標、Δd……誤差量（オフセツト量）、ｐ……
ピツチ差。
Claims (1)
- １ 用紙に対して相対移動しうるヘツドに、複数
の描画ペンを交換自在に取付ける自動製図機にお
いて、基準として選んだ描画ペンで基準線から所
定の間隔をｎ目盛で等分した主尺線を引き、次い
で、その他の描画ペンで、上記基準線の位置から
上記主尺線に部分的に重ねて前記所定の間隔をｎ
±１目盛で等分した副尺線を引き、前記主尺線と
副尺線の一致する位置を、前記基準線からの主尺
線あるいは副尺線の目盛で数えることによつて基
準として選んだ描画ペンと、その他の描画ペンと
の相対誤差を検出することを特徴とする自動製図
機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8033084A JPS60224597A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 自動製図機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法 |
| GB08509294A GB2158256B (en) | 1984-04-23 | 1985-04-11 | Coordinate plotter |
| DE19853514537 DE3514537A1 (de) | 1984-04-23 | 1985-04-22 | Verfahren zur messung des versatzes der anbringungsposition einer zeichenfeder eines koordinaten-plotters |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8033084A JPS60224597A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 自動製図機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60224597A JPS60224597A (ja) | 1985-11-08 |
| JPH032077B2 true JPH032077B2 (ja) | 1991-01-14 |
Family
ID=13715239
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8033084A Granted JPS60224597A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 自動製図機における描画ペンの取付位置誤差量測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60224597A (ja) |
| DE (1) | DE3514537A1 (ja) |
| GB (1) | GB2158256B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2570066B2 (ja) * | 1992-08-06 | 1997-01-08 | 岩崎通信機株式会社 | 多ペン式ｘｙプロッタ装置 |
-
1984
- 1984-04-23 JP JP8033084A patent/JPS60224597A/ja active Granted
-
1985
- 1985-04-11 GB GB08509294A patent/GB2158256B/en not_active Expired
- 1985-04-22 DE DE19853514537 patent/DE3514537A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3514537C2 (ja) | 1988-09-22 |
| GB2158256B (en) | 1987-01-07 |
| GB8509294D0 (en) | 1985-05-15 |
| DE3514537A1 (de) | 1985-10-24 |
| GB2158256A (en) | 1985-11-06 |
| JPS60224597A (ja) | 1985-11-08 |
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