JPH03209180A - 絶縁システムの状態の検査方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の主題は、絶縁システムの状態の試験方法であり
、その試験において、絶縁システムは相互に絶縁された
導通部品を介して直流で帯電され、次に放電され、その
後に帰線電圧（復帰電圧）のパラメータから絶縁システ
ムの状態が判定される．本発明の他の主題は、高電圧源
と電圧測定装置とスイソチｒｇｉ路とからなる試験装夏
である．絶縁状態の判定から得られる情報が最も重要で
ある。

絶縁状態に関連する信頼性が、電気装置の全体的な信頼
性を決定する．電気的絶縁状態は、異なる物理的、電気
的、化学的特性を測定することによって判定される。こ
れらの特性は、絶縁の運用ストレスの威り行きで変化し
、この変化の測定から、電気的絶縁の程度を判定する主
要な結果が導かれる． 絶縁状ａ（特にいくつかの絶縁材料からなる電気装置の
絶縁は絶縁システムと呼ばれる）の劣化には２つの種類
が有る。

１，　局部的劣化、破壊 Ｚ　絶縁システムの大部分に広がる一般的な劣化 特に非破壊的試験を用いることによる、絶縁システムの
一般的な劣化の検出の可能性が扱われる．電気的絶縁の
観点からは、２種類の変化を検出することが重要である
。

ａ．絶縁の湿気 ｂ．高温における劣化により生ずる副産物の蓄積 上述のａ．及びｂ．においては、ａ．の現象が特に顕著
である。Ｓｈｒｏｆｆ＋Ｄ．Ｈ．−Ｓｔａｎｎｅｔｔ，
Ａ．！１，によりＩＥＥ　Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ．Ｖ
ｏ１．１３２，Ｐｔ．６．Ｎｌ１６／１９８６／ｐ３１
２−３１９に発表された「電力トランスにおける紙の経
年変化の観察Ｊの研究の結果によれば、水分含有量が２
％増加すると、油紙絶縁システムの寿命は乾燥絶縁の１
／２ｏに減少する。

絶縁システムの予防試験の公知のプロセスは、絶縁抵抗
、吸収率及び損失正接（ｌｏｓｓ　ｔａｎｇｅｎｔ）を
決定することである．理論的基礎及び最初の試験装置は
、７０年以上も前に開発された。一方、第一に電子回路
を使用するため、試験装置の設計は、今日非常に新しく
されたにも拘わらず、とにかくこの種の試験方法から得
られる情報は、用途が限？れるものである。

絶縁抵抗の測定は、最も古い絶縁試験方法の一つである
。この方法の利点は、該試験を実施するのに手順が単純
であるが、その欠点は、情報の内容がかなり低いことで
ある。絶縁抵抗値は、絶縁における上記の重要な２種類
の変化により影響されないばかりか、外の多くのパラメ
ータ、とりわけ試験対象物の幾何学的寸法に影響されな
いことである。上記の２！ｌｌｆｆの変化ａ．及びｂ，
と絶縁抵抗との関係は、明瞭であり、重大な変質は、般
に強い劣化によってのみ生しる。■試験結果は、また試
験の単純さを疑問にする外部絶縁の状態に著しく影響を
受ける。

吸収係数ＫＡ＝Ｒ．。／Ｒ，。（ここで、サフィノクス
は、絶縁抵抗を測定するために直流電圧が印加された後
の経過時間を表す）は、次の２つの要因により促進され
る。即ち、１，幾何学的寸法に依存しない特性に対する
要求、及び２．絶縁抵抗が電圧を印加する時刻に依存す
ることに応した経験、即ち、測定された絶縁抵抗値が、
絶縁システムにおいて発生する分極現象により影響され
ることとである。吸収係数の評価は、サム（ｔｈｕｍｂ
）規則に従う。即ち、Ｋ，の値が２・・・２．５の間で
ある場合は、絶縁システムの状態は良とみなし、それが
約１である場合は、不良とみなす．本発明者の調査によ
ると、吸収係数と絶縁システムの状態との関係は、この
ような単純な方法では評価できないものである。このこ
とは、ＫＡ＝Ｒ，。／　Ｒ　ｌ。が、種々の温度におい
て、油紙絶縁システムの湿気含有量に対してブロソトさ
れている第１＠により知ることができる。上述の評価の
有効性を強く議論できるが、吸収係数は、湿気含有量の
間数として単調に変化しない。この方法の欠点は、伝導
と分極との重畳が測定され、かつその感度がかなり制限
される点にある。

損失ファクタｔａｎδが、電気的絶縁の状態を評価する
ために有効であるので６０年以上前から用いられている
。損失正接値は、絶縁における伝導と分極特性の両方の
損失Ｃこより影響される。損失正接のある種の分極現象
への反作用の感度は、試験電圧の周波数により主に影響
される。絶縁ソステムのエージングで生しるプロセスは
、長い時定数の分極現象に強い影響を有し、このことか
ら、低周波ＶＬＦの電圧で実施される試験は最も感度が
敏感となろう。いずれにしても、この種のＶＬＦ損失フ
ァクタ試験の実際的でかつ現場での方法及び装置は、未
だ開発されていない。工業的な周波数でのｔａｎδの試
験では、著しい変化は、非常に強く劣化した絶縁システ
ムの場合にのみ検出できる。高電圧変電所における強い
電界が試験に攪乱作用を及ぼすので、ｔａｎδの現場で
の試験は、かなり複雑な試験プロセスであるといわざる
を得ない。

絶縁試験の上記の伝統的方法は、有効性が極めて限られ
たものであり、その理由は、これら方法が、非常に複雑
な絶縁システムの状態をたった１つの数字で特定しよう
としているからであり、これはもち論不十分であって諸
々の矛盾がある。

これらの事実に拘わらず、現行レヘルの最新の試験技術
においてさえ、上述の方法を、英国における１３２ＫＶ
の変圧器に関する試験結果から理解できるように、使用
中の電気機器の試験に使用しているだけである。（参照
：　Ｄｏｍｕｎ−ＣｏｒｎｆｅｌｄＨａｄｆｉｅｌｄ：
Ｐｒｅｄｉｃｔｉｏｎ　ｏｆ　ｒｅｍａｉｎｉｎｇ　ｌ
ｉｖｅｓ　ｏｆ　１３２ＫＶ　　ｇｒｉｄ　　ｔｒａｎ
ｓｆｏｒｍｅｒｓ，ＣＴＧＲＥ　　Ｓｙｍｐｏｓｉｕｇ
ｓ＋Ｓｅｃｔｉｏｎ１ｏ．２，Ｎｏ　］ｏ２ｏ−ｏ８，
Ｍａｙ　１９８７　Ｖｉｅｎｎａ）放電ではなく直流電
圧（ＤＣ電圧）による充電後の現象（これの後には、復
帰電圧が出現する）は、長い間、電気的後効果として知
られている．ハンガリー大学の電気絶縁に関する本（「
高圧エンジニアリング（Ａｎｄｒａｓ　ＣＳｅｒｎａｔ
ｏｎｙ−ＨｏｆｆｅｒＴｉｂｏｒ　Ｈｏｒｖａｔｈ：Ｈ
ｉｇｈ　Ｖｏｌｔａｇｅ　Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ．Ｔ
ｈａｎｋｏｎｙｖｋｉａｄｏ，１９８６　ｐ．２６０−
６５）　Ｊにもその実際の重要性が記録されているよう
に、ＤＣで充電しそして次にスイッチ・オフした高いキ
ャバシタンスの装置及び機器は、実際には、長期間また
は常時、短絡させなければならないことである。その電
気的後効果で、その復帰電圧が絶縁状態に関する情報を
明らかに含んでおり、それは、上記の文献ではよく言及
されており、またその理論的説明もそれに見い出すこと
ができる。その復帰電圧、そのパラメータは、長い時定
数をもつ分極現象の広いスペクトルを判定できる場合に
のみ、絶縁状態に関し信頼性がありかつ十分な情報を与
えることができるものである。

ある値の充電及び放電時間の途中で、あるグループの基
本的な分極プロセス（これは、それらの時定数のバンド
により特徴付けられている）を、活性化させることがで
きる、ということが知られている。

以前には、広い実施分野において適用可能な試験方法並
びにそれを実施する試験装置は、この理由で、全く知ら
れなかった。本発明を実施する前に置いていた目標は、
空間電荷分極現象（長い時定数をもつ）のドメインにお
いて、分極スペクトル（これは、絶縁システムの状態及
び状態変化にあいまいさなく関係したもの）を、その絶
縁システムをＤＣ電圧で充電しそしてある一定の時間放
電させた後に現れる復帰電圧パラメータの評価を用いる
ことにより、判定する試験法を見い出すことであった。

また、本発明の更に別のタスクは、上記の試験方法を実
施する試験装置を開発することであった。

この定めた目的は、以下の本発明による方法で実現した
．即ち、ＤＣでの充電を、１０−”　　ＩＯ’ｓの時間
インタハルの間行い、そして充電時間と放電時間との比
を、０，１，・・・１００のレンジに選択し、そしてこ
の後、復帰電圧のピーク値と充ｔ１ｔ圧の商を測定し、
これに続いて、上記の試験プロセスを数回、他の充電／
放電時間値であるが同し比の充電／放電時間を用いて、
繰り返し、この途中、充電時間に対しプロットした上記
の電圧の商のスペクトルを判定することができ、絶縁シ
ステムの状態に、その得たスペクトルを基準のものと比
較することによりアクセスすることができる。この方法
の利点は、長い時定数をもちかつ絶縁システムの劣化の
検出に関係した全分極ドメイン内の広い時間インタバル
を使用できるという可能性を、生せしめることができる
ことであり、また充電／故電時間の比の適切な選択によ
り、所要の分解能に達することができることである．言
い換えれば、復帰電圧のピーク値により決定される分極
スペクトルの形状と、その絶縁システムの湿気含有量と
の間に、あるあいまいでない関係がある、ということを
認識した。

更に、前述の方法で決定された新たな状態における絶縁
システムのスペクトルは基準として考えることができ、
このスペクトルは絶縁の劣化から生しる変化によって変
更されるということが認識された。

本発明の方法の有利な遂行によれば、帰還電圧（復帰電
圧）の初期のスロープは充電時間の関数で決定でき、従
ってスペクトルは引き上げられ、絶縁システムの状態は
、このスペクトルを基準スペクトルと比較することによ
って評価できる。初期スロープのスペクトルは絶縁シス
テムの状態を特徴づけることができ、更に、長い時定数
の分極現象に影響を与える変化に敏感に反応する。

主周波数の乱れを抑止することによって低いエラーの初
期スロープを測定するために、本発明に関する方法の更
に有利な遂行によれば、初期スロープは、サンプリング
のサイクル時間が交流電流ＡＣのサイクル時間又はその
整数倍に等しい電圧をサンプリングすることによって決
定される。

本発明による方法のいずれかの遂行は、ＤＣ充１ｉ１圧
の印加後に、時間の関数で充電電流を測定することで完
了できる。この方法で、絶縁抵抗の時間関数が決定でき
る。この遂行可能性の利点は、同し試験プロセス内で他
の絶縁特性を与えることであり、吸収係数Ｋ．が計算で
き、その決定は幾つかの標準で規定される。

本発明による方法の遂行に関して、以下の原理で作動す
る別の装置が示されている。高電圧源の一方の極は、同
時に測定コネクタは、試験される絶縁システムの一方の
電極に直接接続され、他方の極は、少なくとも２つの直
列のブランチ・スイソチを横切って、絶縁システムの他
方の電極に接続され、直列ブランチ内の第１のスイッチ
の後で、クロス・ブランチ・スイソチが、測定コネクタ
と直列ブランチのスイソチの共通点との間心こ挿入され
、測定コ不クタの一方は帰還電圧の測定ユニ，トの一方
の極に接続され、この測定ユニットの他方の極は、直列
ブランチ内の少なくとも１つのスイソチを介して、他方
の測定極に接続され、更に、クロス・ブランチ・スイソ
チは、電圧測定ユニットと並列に接続される．この装Ｘ
の利点は、コンパクトな設計で且つ取扱いが容易なこと
である。

最初の直列ブランチ・スイソチの後に挿入されたクロス
・ブランチ・スイッチは、直列ブランチ内の双方のスイ
ソチの時折生しる漏れ現象を除去することを可能にして
いる。

本発明による装置の更に別の有利な実現において、他方
の測定端子と試験されるべき絶縁ソステムの他方の電極
との間の接続が、２重シールド・ケーブルの内側のリー
ドで行われ、帰還電圧測定ユニ，トは電気メータ回路で
あり、その一方の出力は、直列スイッチを介して２重シ
ールド・ケーブルの内側シールドに接続され、前述のケ
ーブルの外側シールドは接地される。この有利な配列に
よって、測定セ，トと試験体との間の接続の容量及び漏
れによって生しるエラーが除去できる．本願発明にかか
る装置の効果は、スイソチが内部リード線と内部シール
ド間に接続され、さらにリターン電圧メータ装置の抵抗
が少なくとも２．ＩＱＩ　ｆｆオームであることである
．この測定の結果として、接続リード線の補償が測定時
間のみに実行され、高入力抵抗がテストの精度を増加す
る．本願発明にかかる装置の他の効果は、電流測定装買
が高電圧源と測定ターミナルの間で増加されることであ
る。これにより、可能性が測定、更にリターン電圧パラ
メータの測定、時間関数の如き絶縁抵抗に対して与えら
れ、これにより吸収係数が決定され得る． 本願発明にかかる装置の他の効果は、スイッチがソリン
ドステートデザインであることである．これを使用する
ことにより、機械的なスイッチの欠点、不感時間、接点
のスプリングバンク等が削除されることである． 本願発明にかかるテスト方法は以下に実施例、図面およ
びグラフを用いて詳しく説明される。

異なる湿気及び温度に対する絶縁紙の場合の吸収係数Ｋ
Ａの検討、即ち第１図は、高い頻度で使用１るＫＡの測
定は絶縁システムの状１ｌに関する不確かでない情報を
与えないことを示している。

湿度及び温度の関数におけるＫＡの変化は、単調な特性
ではない。

第２図、第３図及び第４図は、リターン電圧を測定する
試験の基本的原理を示している。第２図は主に基本的ア
イデアを示している。

第３図の曲線「ａ」は、時定数Ｔによって特徴付られ、
充電時間間隔ｔｃにおいて行われる基本的分極のプロセ
スのデベロップメント比Ｄ，を示ず。Ｔ＜ｔ．の場合、
分極プロセスは実際的にはＤ，＝］のデヘロップとなる
ことがわかる。より具体的には、Ｔ＝０．４５ｔの場合
Ｄ，＝０．９で、Ｔ〉ｔｃの場合デヘロップメントは小
さくなる。より具体的にはＴ＝１０ｔｃの場合Ｄ，＝０
．１である．第３ＵｊＪの曲線「ｂ」は短絡回路期間ｔ
，中の復帰を示している。そして、第３図の曲線「ｃ」
は、合成の、即ちどの程度のＤ１が作動状態における基
本的分極であるかを示す。

第４図は、Ｌｃ／ｔａの選択の依存状態と充電即ちリタ
ーン電圧が現れたときのデベロップの後の基本的分極プ
ロセスの作動を示している。第４図からわかるように、
ｔ　ｃ／　ｔ　４の選択はリターン電圧の測定の感度と
個々の分極範囲の決定の選択度要件との間の妥協点によ
って決定される，ｔ　ｃ／　ｔ　ｉ＝０．１・・・１０
０は実用的場合を含んでいる。ｔｃ／ｔ，−２に選択す
ることによって、中心時定数Ｔ，はｔｃに等しくなるで
あろう、即ち中心時定数は充電時間と等しくなるであろ
う．ｔｃ一ｔ４の別のイ『では、Ｔ．はＴＩＩ＝Ｋｔｃ
になるであろう（ここで、ｋの値は第３図の曲線「Ｃ」
より下の領域の重心によって決定される。

第５図は、オイル・ペーパー絶縁システムの分極スペク
トルが、絶縁システムのエージングの場合、ＤＣ及び低
周波電圧で試験できる領域に向かってシフトされること
を示している，　５０｝１ｚに近い間隔だけが、非常に
良くないエージングをされた絶縁システムによって作動
されるということができる。これは、５０Ｈｚでｔ，δ
の診断感度が低いという理由による。

？５図は、また、１０′■ｆｆ〜ＩＯ’ｓの時定数が、
安全をみＣ、エージングによっ゜ζ生しるずべての変化
を含んでいるごとを示している。

第６図は、本発明による試験方法によって決定される試
験結果を要約している。第６図からわかるように、湿度
が０．５％から４％に変化すると、スペクトルの不明瞭
でない変化となる。最も大きい時定数は、個々の湿度Ｍ
ｃこ対してマグニチュードが３より大きい、０．５％か
ら４％の範囲の湿気におけるＵ，／Ｕｃ変化のピーク値
と関連する。

この試験あ法は、従って、絶縁システムの工一ジングに
非常に敏感で、それに依存ずる．０．５％の湿度及び約
５００の夫々最高中心時定数は、良好な絶縁システムを
特徴づける。夫々１，以下の最高中心時定故で、そして
３％以上の湿度で絶縁システムを作動させると、問題が
多く、ブレークダウンの危険性がある。１〜１．５％以
下の湿度では、００１〜１００ｓの時間領域において湿
度による顕著な分極はない。この場合、エージング・プ
ロダクトの蓄積が中心時定数の変化から得ることができ
る。

第７図は、本発明Ｃこ係る手１頼の優れた有用性を更に
示しているウ第７図で「１」で支持されたスペクトルは
新規な７６５／４２０　Ｋ　Ｖ変威器で測定された。曲
線「２」は１５年使田の１２０／２０Ｋ　Ｖ変戊器のス
ペクトルであり、中央の時定数は（第６図に与えられる
情報に関しては）３％の湿度含有量を示す。この変威器
は湿度含有量を減らずためにオイル・トリートメントが
必要である。曲線「３コは古い変成器を示し、０，１よ
りも小さい主要な中央の時定数は４％よりも大きい湿度
含有量を示唆している。変威器の公称電圧は３５／２０
ＫＶごあり、動作温度は大体４０゛Ｃよりも低く、こう
した低い電気的・熱的パラメータのみがこのユニントが
動作されることを可能にする。

第８図は、第７図の変成Ｂ！二対する、帰還電圧（復帰
電圧）ＣＭ，＝ｔｇｄ，（第２図参照）〕の初期傾斜に
対１るスペクトルを示１ｅ第７図からの結論は第８図Ｃ
こも有効である。

第９図は、温度６０’Ｃζの動作期間に破壊したように
１２０／２０ＫＶ変成器の測定結果を与える。測定は２
０゜Ｃの温度で実行された。６０゜Ｃで測定される主要
な中央の時定数は、２０’Ｃでのそれよりも小さい約１
マグニチュードごあろう。したがって、この時定数は、
５Ｈｚでの誘電体損を決定する時間間隔に近付く。以下
、本発明に係る方法を実行する試験装置を、添付の図面
に示された例の補助番こより詳細に紹介する。

第１０図は帰還電圧測定回路の概略を示す。

第１１図は、試験回路と被試験体（試験されるべき絶縁
システム）との間の有利な接続方法を示す。

第１０図に示す回路図では、試験装置は、高電圧＃１、
電圧計２、１３、１ｔｌｔ計２６、スイッチ＠（素子３
，　４，　５．　１１．　１２を有プる）を傭え、コン
デンサ６で代用される被試験システムが接続される。

高電圧源１の１つの極７は試験装置の測定端子の極９ご
あり、被測定絶縁システム６の電極の１つ２４と直結さ
れる。他力の極８は少なくとも２個のシリアル・スイッ
チ３．５を通って他方の測定端子２５に達する。被測定
絶縁ソステム６の他方の電極］０は測定端子２５に接続
される。直列分岐のスイッチ３の後に、スイッチ４が測
定端子８と直列分岐のスイソチ３、５の共通点２９との
間に交差型のシャフト分岐におい”ζ挿入される。帰還
電圧測定ユニノト１３はその極１４を測定端子９に接続
し、他力の極１５は少なくとも１個のスイッチｌ１を介
して他方の測定端子２５と接続される。更に、交差分岐
スイッチ１２電圧測定ユニット１３に並列に挿入される
。１つの可能な設計では、スイッチは！磁石ご作動され
、例えば、スイッチは高電圧リードリレーであるう他の
設計では、スイッチはソリノドステート・スイソチであ
り得る。

第１１図に示された設計は、他方の測定端子２５と被測
定絶縁システム６の他力の電極１０との間を２重遮蔽ケ
ーブル】７の山部導線１８ご接続するものである。電圧
測定ユニノト】３は電位計回路で構成される。その端子
２１はシリアル・スイッチ２２を介しご２重遮蔽ケーブ
ル１７の内部遮蔽１９ヘ接続され、他の遮蔽２９は接地
電位にある。

この遮蔽接続は外部の妨害を除大−３るらえで好まＬ，
＜、同時に、，′２の設計における山部遮蔽は、絶縁シ
ステムのケーブル容量からの電流を保証し、測定精度を
向上させる。電流計（第１０図）により、充電期間乙こ
電漬を測定１ることが可能でちり、充電電圧（電匡計２
により測定される）とヒ記霧流との比として、絶縁抵抗
をその時間函数ご評価することが可能ごあるウ充電時間
が１分よりも長いならば、同一の試験装置ご、Ｋ　Ａ　
＝　Ｒ　ｈ。／′Ｒ１。を決定１る可能性が存在１る。

試験装置（電位計入力）の電圧計１３の設計は２１　ｏ
１　３よりも大きいｋカインピーダンスイ．与える，こ
の設ε１は、良好な絶縁の場合にも測定精度を保証ｊる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は、油紙絶縁ソステムにおレ」る温度および紙の
湿度の関数のｊｎ＋き　吸収係数Ｋ　Ａ　＝　Ｒ　６。 ／Ｒ，。の変化を示１グラフ。 第２図は、ｔ，時間の間の直流電圧ＬＪｃこの充電、ｔ
，時間の放電、示される如きのりターン電圧に伴う時間
関数を示１グシフ。 第３図は、充電時間ｔ，と放電時間ｔ，による時定数Ｔ
を特徴と−３る基本的な分極のデヘロノブメント率Ｄ，
の依存性の説明図。 第４図は、充電時間と放電時間の比１ｃ／＋ν１′よる
時定数Ｔを特徴と１る基本的な分極のデヘＩ！ンブメン
ト率Ｄ，の依存性の説明図。 第５図は、油紙絶縁システムの分極スベクトＪ・ムを示
ｔＣａはニューステート、ｂは工・，・ジトステート）
． 第６図は、油紙絶縁システム乙こおける種々σノ絶縁紙
の湿度含有量の時定数Ｔの関数の如き、リターンビーク
電圧（ＩＪ−　と充電ｔ圧（　１＋　，　）との比率の
説明図。 第７図は、異なるエージド油紙絶縁ソステＪ−．　ｉ，
、よる　種々のアイジの高電圧変圧器ご測定きれフ、一
測定されたリターン電圧（Ｕ，）と充電電圧（　｛’　
，　１の比率スベクトラムを示１ｅ 第８図は、第７図と同一の変圧器ｒ測定さ才ＩテコＪ夕
一ン電圧（Ｍｒ−Ｌｖ　αハの初期ス１，ゴー−・゜の
スベクトラムを示す。 第９図は、破壊後の、高電圧変圧器油紙絶縁システム用
のリターンピーク電圧値（Ｕ，）と充電電圧（Ｕ，）　
との比率スペクトラムを示１。 第１０図および第１１図は本願発明の一実施例の要部同
路図である。 町　　喝　　１寺　　Ｎ 吃　　（５　　　ｃ５　　　ｃ５ ０

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、絶縁システムの状態を検査し、これにより前記絶縁
   システムを絶縁されたまたは電気的に接続された部分を
   介してダイレクト電圧（ｄｉｒｅｃｔｖｏｌｔａｇｅ）
   まで充電し、前記絶縁システムの放電後その復帰電圧か
   ら前記絶縁システムを評価する絶縁システムの状態の検
   査方法において、 充電時間を１０＾−＾３から１０＾−＾４ｓの時間範囲
   で選択し、充電時間と放電時間との比率を０．１から１
   ００の範囲で選択し、充電電圧に対する復帰電圧のピー
   ク値の比率を測定し、これに続いて異なる充電−放電時
   間毎にこの測定を繰り返し、しかし、前記時間−放電時
   間の比率は常に一定に保ち、このようにしてスペクトラ
   ムを求める充電時間の関数として前記電圧比率を測定し
   、この測定されたスペクトラムを参照スペクトラムと比
   較することにより前記絶縁システムの状態の評価を行う
   ことを特徴とする方法。 ２、請求項１記載の方法において、復帰電圧の初期スロ
   ープ（勾配）の時間関数を測定し、絶縁システムの状態
   は前記測定されたスペクトラムを適当に測定された参照
   スペクトラムと比較することにより評価されることを特
   徴とする方法。 ３、請求項２記載の方法において、電圧のサンプリング
   により、その整数倍の主要交流電圧期間に対応するサン
   プリング周波数と供に、復帰電圧の初期スロープを評価
   することを特徴とする方法。 ４、請求項１，２または３記載の方法において、前記充
   電期間の電流と、測定された前記絶縁システムの絶縁抵
   抗と、その時間依存性とを測定することを特徴とする方
   法。 ５、高電流源と電圧測定回路を含み、請求項１，２また
   は３記載の方法を実施する装置において、高電圧源１の
   １つのポール７が装置測定端子９に接続され、次にこの
   端子は検査される絶縁システム６の電極２４の１つに直
   接接続され、他のポール８は、他の測定端子２５を介し
   て少くとも２つのシリアルブランチスイッチ３，５から
   前記検査される絶縁システムの他の電極１０に接続され
   、第１のシリアルブランチスイッチ３がクロスブランチ
   スイッチ４に挿入された後、前記測定端子９とシリアル
   スイッチ３および５の共通点２９の間で、復帰電圧の測
   定装置１３はその１つのポール１４と前記測定端子９に
   接続されており、この電圧測定装置９の他のポール１５
   は少くとも１つのシリアルブランチスイッチ１１と他の
   測定端子２５に接続されており、さらに、クロスブラン
   チスイッチ１２は前記電圧測定装置１３と並列に接続さ
   れていることを特徴とする装置。 ６、請求項５記載の検査装置において、他の測定端子２
   ５は検査される絶縁システム１６の他の電極１０に２重
   にシールドされた内部リード１８によって接続され、電
   圧測定装置１３は電子計測回路を含み、この回路の出力
   端子２１はシリアルスイッチ２２と前記２重にシールド
   されたケーブル１７の内部シールド１９に接続され、こ
   のケーブル１７の外部シールド２０はアース電位に接続
   されていることを特徴とする装置。 ７、請求項６記載の検査装置において、スイッチ２３は
   前記内部シールド１９と前記内部リード１８の間に接続
   されていることを特徴とする装置。 ８、請求項５，６または７記載の検査装置において、電
   圧計の入力インピーダンスはｍｉｎ．（少くとも）２．
   １０＾１＾３オームであることを特徴とする装置。 ９、請求項４記載の方法を実施するための請求項５，６
   ，７または８記載の検査装置において、電流計測装置２
   ６は高電圧源１と第１の測定端子９の間に接続されてい
   ることを特徴とする装置。 １０、請求項５，６，７，８または９記載の検査装置に
   おいて、スイッチ（３，４，５，１１，１２，２２，２
   ３）はソリッドステートスイッチであることを特徴とす
   る装置。