JPH03210621A - ディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法 - Google Patents
ディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法Info
- Publication number
- JPH03210621A JPH03210621A JP2295578A JP29557890A JPH03210621A JP H03210621 A JPH03210621 A JP H03210621A JP 2295578 A JP2295578 A JP 2295578A JP 29557890 A JP29557890 A JP 29557890A JP H03210621 A JPH03210621 A JP H03210621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- pointing device
- wire
- digital
- array
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08C—TRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILAR SIGNALS
- G08C21/00—Systems for transmitting the position of an object with respect to a predetermined reference system, e.g. tele-autographic system
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/046—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- User Interface Of Digital Computer (AREA)
- Position Input By Displaying (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、ワイヤ電極上のポインティング装置の位置を
求めるディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法
に関する。
求めるディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法
に関する。
〈発明の背景〉
ディジタイザ用タブレット装置は従来から良く知られて
いる。多く用いられているタブレット装置の一つにおい
ては、ポインティング装置はカーソル又はスタイラス内
にコイルを有し、使用者が二つの座標軸方向に延びる格
子状に配置したワイヤ電極を埋め込んだタブレットの表
面上にこのコイルを位置させる。
いる。多く用いられているタブレット装置の一つにおい
ては、ポインティング装置はカーソル又はスタイラス内
にコイルを有し、使用者が二つの座標軸方向に延びる格
子状に配置したワイヤ電極を埋め込んだタブレットの表
面上にこのコイルを位置させる。
一つのモードでは、ポインティング装置のコイルを附勢
して格子状に配置したワイヤ電極に電磁的に信号を誘起
させる。他方のモードにおいては、格子状に配置したワ
イヤ電極を附勢してポインティング装置のコイルに電磁
的に信号を誘起させる。両方のモードとも、格子状に配
置したワイヤ電極を1度に1つ又はグループ毎に順次ア
ドレスし、このアドレス操作に合せたタイミングでアナ
ログ出力電圧を発生させている。時間とともに、この出
力電圧はポインティング装置の近辺で最大値に達し、つ
いでゼロ点を通過して最小値になる。アドレス操作の開
始とともに、高周波カウンタが始動し、アドレスされて
いるワイヤg4極間を補間する。ゼロ点でのクロスオー
バが確認されると、カウンタに対する停止信号を発生さ
せる。この時のカウンタの計数値によって2個の近接し
たワイヤ電極に対するポインティング装置の位置が求ま
る。この形式のディジタイザを詳細に記載した特許の例
としてカム(Kamm)等の米国特許第 3、904.822号、アイオアナラ(Ioanau)
の米国特許第3.873.770号およびチムマー(Z
im+1er)の米国特許第4,368,351号をこ
こに参照する。
して格子状に配置したワイヤ電極に電磁的に信号を誘起
させる。他方のモードにおいては、格子状に配置したワ
イヤ電極を附勢してポインティング装置のコイルに電磁
的に信号を誘起させる。両方のモードとも、格子状に配
置したワイヤ電極を1度に1つ又はグループ毎に順次ア
ドレスし、このアドレス操作に合せたタイミングでアナ
ログ出力電圧を発生させている。時間とともに、この出
力電圧はポインティング装置の近辺で最大値に達し、つ
いでゼロ点を通過して最小値になる。アドレス操作の開
始とともに、高周波カウンタが始動し、アドレスされて
いるワイヤg4極間を補間する。ゼロ点でのクロスオー
バが確認されると、カウンタに対する停止信号を発生さ
せる。この時のカウンタの計数値によって2個の近接し
たワイヤ電極に対するポインティング装置の位置が求ま
る。この形式のディジタイザを詳細に記載した特許の例
としてカム(Kamm)等の米国特許第 3、904.822号、アイオアナラ(Ioanau)
の米国特許第3.873.770号およびチムマー(Z
im+1er)の米国特許第4,368,351号をこ
こに参照する。
良く知られたシステムの多くでは、出力信号のアナログ
処理が実行される。代表的なものは、出力信号が格子又
はコイルを附勢する基準信号に対して変位した位相であ
り、その位相変位が検出されて、ゼロ近接点の位置を更
に正確に求めろために被走査ワイヤ電極がポインティン
グ装置のコイルを通過する時に橿性リバーサルに変換さ
れる。このシステムによる解決方法は、カウンターの速
度と格子空間によって制限される。
処理が実行される。代表的なものは、出力信号が格子又
はコイルを附勢する基準信号に対して変位した位相であ
り、その位相変位が検出されて、ゼロ近接点の位置を更
に正確に求めろために被走査ワイヤ電極がポインティン
グ装置のコイルを通過する時に橿性リバーサルに変換さ
れる。このシステムによる解決方法は、カウンターの速
度と格子空間によって制限される。
従来技術の目的は、同程度の精度と解決手段をそなえな
がらディジタイザ用タブレット装置のコストと複雑性を
低下させるか、又はコストを増加させずに、精度と解決
手段を加えることであった。これにより、ディジタル信
号処理回路の使用頻度を高めることになった。更に、デ
ィジタル信号処理では利用者側の処理能力を改良するか
タブレット応用装置を拡張するため新特性を付は加える
ことが更に容易となった。
がらディジタイザ用タブレット装置のコストと複雑性を
低下させるか、又はコストを増加させずに、精度と解決
手段を加えることであった。これにより、ディジタル信
号処理回路の使用頻度を高めることになった。更に、デ
ィジタル信号処理では利用者側の処理能力を改良するか
タブレット応用装置を拡張するため新特性を付は加える
ことが更に容易となった。
〈発明の概要〉
本発明の目的は、ディジタル信号処理能力を高めた改良
型ディジタイザ用タブレット装置を提供することである
。
型ディジタイザ用タブレット装置を提供することである
。
本発明の他の目的は、ポインティング装置の位置を決め
るためにアナログ/ディジタル(A/D)変換とディジ
タル信号処理を使用するディジタイザ用タブレット装置
を提供することである。
るためにアナログ/ディジタル(A/D)変換とディジ
タル信号処理を使用するディジタイザ用タブレット装置
を提供することである。
本発明の更に他の目的は、出力アナログ信号をディジタ
ル信号に変換してポインティング装置の位置を正確に求
めるためのディジタル信号の補間法を使用するディジタ
イザ用タブレット装置を提供することである。
ル信号に変換してポインティング装置の位置を正確に求
めるためのディジタル信号の補間法を使用するディジタ
イザ用タブレット装置を提供することである。
以下に述べられる本発明の上記及びそれ以外の目的と効
果は、まず現存しない信号の誘起電圧基準値を決定して
、その基準値をディジタル計数に変換することによって
達成される。次に、連続する電圧測定はワイヤ電極を走
査することによって実施され、その誘起電圧が決定され
、同様にディジタル計数に変換されろ。次に、このディ
ジタル計数値の一部が同定されて、所定ゼロ近接点計数
を計算するために使用されろ。その結果、ゼロ近接点計
数は容易に希望するX座標又はY座標に変換される。
果は、まず現存しない信号の誘起電圧基準値を決定して
、その基準値をディジタル計数に変換することによって
達成される。次に、連続する電圧測定はワイヤ電極を走
査することによって実施され、その誘起電圧が決定され
、同様にディジタル計数に変換されろ。次に、このディ
ジタル計数値の一部が同定されて、所定ゼロ近接点計数
を計算するために使用されろ。その結果、ゼロ近接点計
数は容易に希望するX座標又はY座標に変換される。
く実 施 例〉
タブレット装置とその作動の詳細な説明のため、上記特
許に図面が参照される。本発明を理解するためには、詳
細図はほとんど不要である。ワイヤ電極のレイアウト若
しくは走査方法について個別とするか、グループとする
かは本発明には重要ではないし、又アナログ電圧の増幅
若しくは従来良く知られているワイヤ電極との関連方法
も重要ではない。更に、その電極が附勢されてポインテ
ィング装置のコイルから出力されるか、又は入力される
かは問題ではない。この説明は、アナログ出力電圧がポ
インティング装置の位置決めのために処理されるディジ
タル計数値に変換される方法に焦点が与えられる。この
目的のために、特定のタブレット装置構造が代表的量産
品として想定されており、本発明はその想定されたタブ
レット装置の関係で説明される。
許に図面が参照される。本発明を理解するためには、詳
細図はほとんど不要である。ワイヤ電極のレイアウト若
しくは走査方法について個別とするか、グループとする
かは本発明には重要ではないし、又アナログ電圧の増幅
若しくは従来良く知られているワイヤ電極との関連方法
も重要ではない。更に、その電極が附勢されてポインテ
ィング装置のコイルから出力されるか、又は入力される
かは問題ではない。この説明は、アナログ出力電圧がポ
インティング装置の位置決めのために処理されるディジ
タル計数値に変換される方法に焦点が与えられる。この
目的のために、特定のタブレット装置構造が代表的量産
品として想定されており、本発明はその想定されたタブ
レット装置の関係で説明される。
しかし、本発明はその想定された構造への応用に限定さ
れるものではなく、一般的にどのタイプのディジタイザ
用タブレット装置にも適用されるものであり、一連の時
間相関誘起電圧が所定ワイヤ電極の影響するポインティ
ング装置の位置を求める処理では該ワイヤ電極の位置と
相互関係があることが理解される。
れるものではなく、一般的にどのタイプのディジタイザ
用タブレット装置にも適用されるものであり、一連の時
間相関誘起電圧が所定ワイヤ電極の影響するポインティ
ング装置の位置を求める処理では該ワイヤ電極の位置と
相互関係があることが理解される。
更に、想定されたタブレット装置の実施例において、典
型的X−Y座標系の一つの座標でポインティング装置の
位置決定に適用される発明が説明される。しかし、同様
な電極アレイが2つの座標軸系の他方の座標のために存
在し、第2の電極の連続走査により、良く知られたディ
ジタイザ用タブレット装置としても代表的な第2の座標
軸用座標の位置を生成するということが理解される。
型的X−Y座標系の一つの座標でポインティング装置の
位置決定に適用される発明が説明される。しかし、同様
な電極アレイが2つの座標軸系の他方の座標のために存
在し、第2の電極の連続走査により、良く知られたディ
ジタイザ用タブレット装置としても代表的な第2の座標
軸用座標の位置を生成するということが理解される。
第1図は、タブレット装置の一部の電極レイプラト9の
概略的説明図である。ワイヤ電極10−32はY方向に
延びており、X座標の位置を決めるために使用される。
概略的説明図である。ワイヤ電極10−32はY方向に
延びており、X座標の位置を決めるために使用される。
ワイヤ電極の起点に対する位置は第1図の上段の一連の
数字によって示される。こうして、ワイヤ10は起点か
ら5.0インチに位置し、ワイヤ11は5.25インチ
に位置し、ワイヤ12は5.5インチに位置する、等々
。この例ではワイヤ間に0.25インチの間隔がおかれ
ていることに注意。ポインティング装置コイル35は円
によって示され、その電気的中心点は番号38により示
される。その目的は電極アレイ9に関する中心点38の
位置を求めることである。この好適の実施例においては
、タブレットはコイル35をスイッチ37を介して発振
器36に接続することによって駆動するポインティング
装置である。ワイヤ電極の連続走査は従来のスキャナ4
0によって実行され、ワイヤ電極で誘起した電圧は従来
の増幅器41で増幅され、同期位相検出$42で検出さ
れ、四−パスフィルタ39で濾波され、従来のA/D変
換M43で処理される。ディジタル出力は記憶装置44
に記憶される。これは全てマイクロコントローラ45に
より制御される。
数字によって示される。こうして、ワイヤ10は起点か
ら5.0インチに位置し、ワイヤ11は5.25インチ
に位置し、ワイヤ12は5.5インチに位置する、等々
。この例ではワイヤ間に0.25インチの間隔がおかれ
ていることに注意。ポインティング装置コイル35は円
によって示され、その電気的中心点は番号38により示
される。その目的は電極アレイ9に関する中心点38の
位置を求めることである。この好適の実施例においては
、タブレットはコイル35をスイッチ37を介して発振
器36に接続することによって駆動するポインティング
装置である。ワイヤ電極の連続走査は従来のスキャナ4
0によって実行され、ワイヤ電極で誘起した電圧は従来
の増幅器41で増幅され、同期位相検出$42で検出さ
れ、四−パスフィルタ39で濾波され、従来のA/D変
換M43で処理される。ディジタル出力は記憶装置44
に記憶される。これは全てマイクロコントローラ45に
より制御される。
典型的な作動は次のようになる。スキャナ40により、
各ワイヤ電極は順番に100μs毎に増幅@41に入力
される。そのワイヤ電極に誘起された電圧は、印加され
、増幅され、濾波され、ディジタル数に変換されて、記
憶装置44内の連続したメモリ位置に記憶される。マイ
クロコントローラ45はライン47を介してスイッチ3
7に接続されて、初期設定の位相の間スイッチ37を切
断し、その結果基準ディジタル数が決定されるが、コイ
ル35が附勢されないので信号はワイヤ内で誘起されな
い。その後処理中に、スイッチは再び入いる。
各ワイヤ電極は順番に100μs毎に増幅@41に入力
される。そのワイヤ電極に誘起された電圧は、印加され
、増幅され、濾波され、ディジタル数に変換されて、記
憶装置44内の連続したメモリ位置に記憶される。マイ
クロコントローラ45はライン47を介してスイッチ3
7に接続されて、初期設定の位相の間スイッチ37を切
断し、その結果基準ディジタル数が決定されるが、コイ
ル35が附勢されないので信号はワイヤ内で誘起されな
い。その後処理中に、スイッチは再び入いる。
良く知られているように、アナログ信号をディジタル化
できるレベル数は、ディジタル処理に割り当てられた2
進ピツト数によって決定される。8ピツトA/D変換蕃
はアナログ信号を256の可能数値の1つに変換し、他
方10ビツトA/D変換器は1024の可能数値の1つ
に変換できる。本発明はこれに限定されないけれども、
解決方法を増やすためには10ピツトA/D変換器43
を使用した方が良いし、下記に提示される数値は当該変
換晋の使用に基づく。
できるレベル数は、ディジタル処理に割り当てられた2
進ピツト数によって決定される。8ピツトA/D変換蕃
はアナログ信号を256の可能数値の1つに変換し、他
方10ビツトA/D変換器は1024の可能数値の1つ
に変換できる。本発明はこれに限定されないけれども、
解決方法を増やすためには10ピツトA/D変換器43
を使用した方が良いし、下記に提示される数値は当該変
換晋の使用に基づく。
第2図は、ワイヤ電極及びA/D変換@43に入力され
る位相検出器42から出力される電圧をμSの時間関数
で表わしたグラフである。コイルの中心点36はワイヤ
21と22の間のどこかにあるものとして、第1図に示
された情況が仮定されている。点線曲′a51は、処理
中に適宜各ポイントにおけるA/D変換器43に入力さ
れる位相検出器42からの信号電圧出力を示している。
る位相検出器42から出力される電圧をμSの時間関数
で表わしたグラフである。コイルの中心点36はワイヤ
21と22の間のどこかにあるものとして、第1図に示
された情況が仮定されている。点線曲′a51は、処理
中に適宜各ポイントにおけるA/D変換器43に入力さ
れる位相検出器42からの信号電圧出力を示している。
水平ダッシュライン52は下記のように取り決めた基準
数値を示している。
数値を示している。
想定されたタブレット装置用典型的スキャンルーチンか
ら取得したデータは下記表Itこ示されている。5欄か
ら成ってbする。第1欄は、ワイヤ10用の0からワイ
ヤ32用2200までを範囲とするワイヤ連続スキャン
時間(μS)である。第2欄は、0.25インチ間隔で
ワイヤ10用5.0インチからワイヤ32用10.5イ
ンチまでを範囲とする連続したワイヤの起点からの対応
する位置をインチで示している。A/D入力と明示され
た第3INは、第2図の曲$51によって示されたA/
D変換器への入力点における信号電圧をボルトで示して
いる。計数と明示された第4欄は、想定された10ビツ
トA/D変換器用の0−1024の範囲のディジタル化
電圧であり、変換器の計数値は記憶装置44に記憶され
ろ。第5欄は、下記説明文の参照のための備考欄である
。
ら取得したデータは下記表Itこ示されている。5欄か
ら成ってbする。第1欄は、ワイヤ10用の0からワイ
ヤ32用2200までを範囲とするワイヤ連続スキャン
時間(μS)である。第2欄は、0.25インチ間隔で
ワイヤ10用5.0インチからワイヤ32用10.5イ
ンチまでを範囲とする連続したワイヤの起点からの対応
する位置をインチで示している。A/D入力と明示され
た第3INは、第2図の曲$51によって示されたA/
D変換器への入力点における信号電圧をボルトで示して
いる。計数と明示された第4欄は、想定された10ビツ
トA/D変換器用の0−1024の範囲のディジタル化
電圧であり、変換器の計数値は記憶装置44に記憶され
ろ。第5欄は、下記説明文の参照のための備考欄である
。
表
■
00
00
00
00
00
00
00
00
00
000
100
200
300
400
500
600
700
800
900
000
100
200
L 000
&250
!1L500
&?50
6、 Go。
6、250
e、 so。
6、750
7、000
7、250
7、500
?、 750
8、000
&250
&500
&750
9、000
9、250
9.500
9、750
10、000
10、250
10、500
2、.50
λ51
48
55
λ63
λ00
λ40
00
45
55
4.25
λ50
λ00
O,aO
O145
0,55
1,05
1,75
λ25
λω
2に48
λ50
50
REF
REF
REF
PROX
MAX
Pl>REF
P2<REF
EN
第3図は、800−1500μsの範囲の第2図の曲線
の拡張図でありワイヤ18−25に対応している。
の拡張図でありワイヤ18−25に対応している。
こうして得られた情報が、表示電極アレイに対するコイ
ルの中心点36の位置を正確に決定できるように処理す
る方決は次の通りである。本質的には、一連のステップ
が適切なプログラミングによってマイクロコントローラ
45の制御のもとで実行される。使用される基本的アル
ゴリズムは次の通りである。
ルの中心点36の位置を正確に決定できるように処理す
る方決は次の通りである。本質的には、一連のステップ
が適切なプログラミングによってマイクロコントローラ
45の制御のもとで実行される。使用される基本的アル
ゴリズムは次の通りである。
■ 附勢する信号が存在しない基準レベル計数REF5
2 (第2図)を決定する。いくつかのサンプルが雑音
の影響を逓減させるために取得され、平均化される。
2 (第2図)を決定する。いくつかのサンプルが雑音
の影響を逓減させるために取得され、平均化される。
■ タブレット装置を附勢して、しきい値PROXを超
える計数が得られるまで走査する。これは、ポインティ
ング装置がいわゆる近似しきい値である全タブレット装
置の所定特性より電極に近いことを確保するためである
。多くのタブレット装置においては・ポインティング装
置が近似値(PROX)にあり、非近似値(OUT−O
F−PROX)でないという場合でないならば、座標は
生成されない。これは、任意増分Nを基準計数値に加え
ることによ抄取得される。想定されたタブレット装置で
は、Nは100となる。即ち、PROX=REF+10
0である。
える計数が得られるまで走査する。これは、ポインティ
ング装置がいわゆる近似しきい値である全タブレット装
置の所定特性より電極に近いことを確保するためである
。多くのタブレット装置においては・ポインティング装
置が近似値(PROX)にあり、非近似値(OUT−O
F−PROX)でないという場合でないならば、座標は
生成されない。これは、任意増分Nを基準計数値に加え
ることによ抄取得される。想定されたタブレット装置で
は、Nは100となる。即ち、PROX=REF+10
0である。
■ PROXを超えなければならない最大記録計数を決
定する。
定する。
■ 最大計数を下まわる中間計数値を決定する。第2図
かられかるように、最大値に対応して信号電圧がピーク
となり、曲$I51はゼロ点に向けて下降する。それに
対応する中間計数値は、最大値以降の曲線51のマイナ
スの傾きの部分にそっている。その後、連続計数が取得
されるまで走査が続けられるが、MAXを示す第1の計
数に続く第2の計数は第1の計数より小さく、第2の計
数に続く次の第3の計数は第2の計数より小さい。第2
.第3の計数が各々REFの上下にあるならば、それら
は補間法に使用される中間値となる。これに代わる方法
としては、曲線51に対応する計数値の傾きを計算して
、傾きがマイナスとなった場合にピークを過ぎることを
決定する方法がある。
かられかるように、最大値に対応して信号電圧がピーク
となり、曲$I51はゼロ点に向けて下降する。それに
対応する中間計数値は、最大値以降の曲線51のマイナ
スの傾きの部分にそっている。その後、連続計数が取得
されるまで走査が続けられるが、MAXを示す第1の計
数に続く第2の計数は第1の計数より小さく、第2の計
数に続く次の第3の計数は第2の計数より小さい。第2
.第3の計数が各々REFの上下にあるならば、それら
は補間法に使用される中間値となる。これに代わる方法
としては、曲線51に対応する計数値の傾きを計算して
、傾きがマイナスとなった場合にピークを過ぎることを
決定する方法がある。
■ ステップ■で決定した中間値を使用して、中間計数
値により形成された実線曲線のX切片(REFレベル交
差)を計算することにより中間値の間で補間する。その
切片又は交差は、電極アレイ上のコイルの中心点36の
正確な位置を示している。
値により形成された実線曲線のX切片(REFレベル交
差)を計算することにより中間値の間で補間する。その
切片又は交差は、電極アレイ上のコイルの中心点36の
正確な位置を示している。
表1と第4図のフローチャートを参照することにより、
詳細な説明がなされる。電極スタートとストップのアド
レスはマイクロコントローラ45により第4図の番号6
0で示されるスキャナ回路40にロードされる。このプ
ログラムにより各走査量に、この場合は100μs毎に
A/D変換割込み61が作動する。このことは高精度を
達成するための必要性から重要である。説明対象システ
ムにおいて、ワイヤ及び空間の物理レイアウトは一定で
ある。正確な補間法を得るためには、電子工学も一定で
なければならない。この意味は、電極ドライブとデータ
収集は個別のタイミングでなければならず、それは実時
間システムの必要物に類似しており、ポートから入力さ
れろと、すばやく割込みなしに分析される。
詳細な説明がなされる。電極スタートとストップのアド
レスはマイクロコントローラ45により第4図の番号6
0で示されるスキャナ回路40にロードされる。このプ
ログラムにより各走査量に、この場合は100μs毎に
A/D変換割込み61が作動する。このことは高精度を
達成するための必要性から重要である。説明対象システ
ムにおいて、ワイヤ及び空間の物理レイアウトは一定で
ある。正確な補間法を得るためには、電子工学も一定で
なければならない。この意味は、電極ドライブとデータ
収集は個別のタイミングでなければならず、それは実時
間システムの必要物に類似しており、ポートから入力さ
れろと、すばやく割込みなしに分析される。
タブレット装置に従来使用されたタイプの代表的マイク
ロプロセッサ−又はマイクロコントローラは割込を受け
ている。この意味は、プロセッサーは割込みを受けた時
はいつでも実行中のものをやめ、その割込みを処理した
後それまでの処理を継続する。当該マイクロプロセッサ
−又はマイクロコントローラが本発明で使用されるなら
ば、アナログ電圧波形は同一の正確な間隔でサンプルを
抽出してディジタル化することはないので正確性に欠け
ることとなる。該不正確性は処理能力の低いタブレット
装置には適するけれども、本発明のシステムにおいては
マイクロプロセッサ−又はマイクロコントローラを使用
するのが好いが、その割込みは収集データのサンプリン
グの優先処理とディジタル数への変換を確保するため制
御することができる。その制御を作動させることにより
、出力されたディジタル数は個別のタイミングとなる。
ロプロセッサ−又はマイクロコントローラは割込を受け
ている。この意味は、プロセッサーは割込みを受けた時
はいつでも実行中のものをやめ、その割込みを処理した
後それまでの処理を継続する。当該マイクロプロセッサ
−又はマイクロコントローラが本発明で使用されるなら
ば、アナログ電圧波形は同一の正確な間隔でサンプルを
抽出してディジタル化することはないので正確性に欠け
ることとなる。該不正確性は処理能力の低いタブレット
装置には適するけれども、本発明のシステムにおいては
マイクロプロセッサ−又はマイクロコントローラを使用
するのが好いが、その割込みは収集データのサンプリン
グの優先処理とディジタル数への変換を確保するため制
御することができる。その制御を作動させることにより
、出力されたディジタル数は個別のタイミングとなる。
プログラマブル事象フーディネータとして知られるこの
特性を提供する多くのマイクロプロセッサ−とマイクロ
コントローラがある。マイクロコントローラは、高速I
10モジュールを含み、マイクロコントローラと独立し
た八−ドウエアである。IN置8096フアミリのいず
れかである。ブロック61により示されたプログラムス
テップは、その他のタスクの割込みなしに100μs毎
に入力アナログ波形のA/D変換をマイクロコントロー
ラが実行するように設定する。第1図において、A/D
変換器43と記憶装置44が8097パーツのためにマ
イクロコントローラ45とは別に示されているが、A/
D変換器と記憶装置の両方共に単一8097チツプに実
際組み込まれている。
特性を提供する多くのマイクロプロセッサ−とマイクロ
コントローラがある。マイクロコントローラは、高速I
10モジュールを含み、マイクロコントローラと独立し
た八−ドウエアである。IN置8096フアミリのいず
れかである。ブロック61により示されたプログラムス
テップは、その他のタスクの割込みなしに100μs毎
に入力アナログ波形のA/D変換をマイクロコントロー
ラが実行するように設定する。第1図において、A/D
変換器43と記憶装置44が8097パーツのためにマ
イクロコントローラ45とは別に示されているが、A/
D変換器と記憶装置の両方共に単一8097チツプに実
際組み込まれている。
次のステップ、ブロック62はREF数値を決定する。
これは信号が現存しなくとも実行される。良好なREF
数値を得る一方法は、駆動されない電極を有する3つの
サンプルを取得して3つの数値を平均化することである
。
数値を得る一方法は、駆動されない電極を有する3つの
サンプルを取得して3つの数値を平均化することである
。
これは、表Iの最初の3行に示されている。
この3つの表示REF計数は一時記憶されて、マイクロ
プロセッサ−は平均値を見い出すルーチンを実行してこ
の平均的REF数値を記憶する。説明図では、平均的R
EF=511である。
プロセッサ−は平均値を見い出すルーチンを実行してこ
の平均的REF数値を記憶する。説明図では、平均的R
EF=511である。
次に、計数が想定されたPROX数値、この場合REF
+Nに等しく、その任意数は100に等しくなるように
選択されるが、それを超えるまで、電極はブロック63
で駆動され、走査され、サンプル抽出される。即ちPR
OX=511 +100=611 トナリソfi カ記
憶される。ブロック64では、走査サンプル抽出計数が
PROXに比較される。もしPROXにより低いならば
、電極アドレスが増加して、新サンプルが得られる。表
Iかられかるように、500 Ats走査時間で、記録
計数614はPROXを超えて制御不能となり第4図の
フローチャートの次ブロック65に行く。もしサンプル
がPROXレベルを超えないならば、ボインティング装
置はタブレット装置の近辺にはないと思われる。
+Nに等しく、その任意数は100に等しくなるように
選択されるが、それを超えるまで、電極はブロック63
で駆動され、走査され、サンプル抽出される。即ちPR
OX=511 +100=611 トナリソfi カ記
憶される。ブロック64では、走査サンプル抽出計数が
PROXに比較される。もしPROXにより低いならば
、電極アドレスが増加して、新サンプルが得られる。表
Iかられかるように、500 Ats走査時間で、記録
計数614はPROXを超えて制御不能となり第4図の
フローチャートの次ブロック65に行く。もしサンプル
がPROXレベルを超えないならば、ボインティング装
置はタブレット装置の近辺にはないと思われる。
ワイヤ10−32の走査中、ディジタル化された計数値
は記憶装置に記憶される。次ステツプは、最大計数が同
定されるまで各記録計数をテストするルーチンにより最
大計数を決定する。表■のデータからして、このことは
位置?、25、ワイヤ電極19で生じる。最大値が同定
された場合、計数値は減少し始めなければならない。フ
ローチャートのブロック66によって示されたように、
減少が位置7.5(ワイヤ20)で始った後、もし次の
計数値がREFより大きいならば、それはPlとして保
全されてそのワイヤ電極の位置はG1として保全される
。こうして、表■からPlは717に等しくなり、G1
は7.75に等しくなる。ブロック67ではREFは位
置8.0の次のサンプルと比較される。もしこの次のサ
ンプルがREFより低くないならば、ブロック68に示
されるようにP2として保全され、位置はG2として保
全される。もし次のサンプルがREFより低くないなら
ば、ブロック69では、2つの計数値P1とP2が、R
EF52の範囲を確定する曲$51のマイナスの傾きの
時に決定されるまでサンプリングが続けられる。この手
続きの目的は、REF軸52を横切る第3図に示された
出力面s51の部分を定義することである。ピークに続
く急勾配の下り傾斜をもつ曲線の部分はほとんど直線に
近くなることを経験は示している。
は記憶装置に記憶される。次ステツプは、最大計数が同
定されるまで各記録計数をテストするルーチンにより最
大計数を決定する。表■のデータからして、このことは
位置?、25、ワイヤ電極19で生じる。最大値が同定
された場合、計数値は減少し始めなければならない。フ
ローチャートのブロック66によって示されたように、
減少が位置7.5(ワイヤ20)で始った後、もし次の
計数値がREFより大きいならば、それはPlとして保
全されてそのワイヤ電極の位置はG1として保全される
。こうして、表■からPlは717に等しくなり、G1
は7.75に等しくなる。ブロック67ではREFは位
置8.0の次のサンプルと比較される。もしこの次のサ
ンプルがREFより低くないならば、ブロック68に示
されるようにP2として保全され、位置はG2として保
全される。もし次のサンプルがREFより低くないなら
ば、ブロック69では、2つの計数値P1とP2が、R
EF52の範囲を確定する曲$51のマイナスの傾きの
時に決定されるまでサンプリングが続けられる。この手
続きの目的は、REF軸52を横切る第3図に示された
出力面s51の部分を定義することである。ピークに続
く急勾配の下り傾斜をもつ曲線の部分はほとんど直線に
近くなることを経験は示している。
これは、ゼロ点交差の計算を比較的容易にする。
ブロック71に示された次のステップは、Pi、Glと
P2.G2間を補間することにより、ゼロ点交差を計算
することである。ゼロ点交差を電極空間の割合として計
算するために(例示では0.25インチ) 、G1=O
。
P2.G2間を補間することにより、ゼロ点交差を計算
することである。ゼロ点交差を電極空間の割合として計
算するために(例示では0.25インチ) 、G1=O
。
G2−G1=1と仮定すると、P2と21の間の直線の
計算は次のようになる。
計算は次のようになる。
y = m X 十b 、ここでXはゼロ点交差である
。
。
P、=mG +b (ここでサブスクリプトnは任意ワ
イヤに対するPとGを示す。) 簡易化のために01=0なのでb=P1−REFとなる
。G2−G1=1なのでm = P 2− P 1とな
る。REFに等しいY割込みを有する電極空間の割合と
してのXの値は GO=−b/m= (Pi−REF)/(P2−PI)
に低下し、ブロック72においてこれを座標に変換する
と、コイルの中心点36のX座標11X=(G1+GO
)*0.250となる。例えば、G1=7.75. G
O= (717−511)/(411−717)となる
。この数値に対しては、m=−306゜b=206.割
合=0.6732%としての補間は 0.1683イン
チとなる。こうしてXは7.75+0.1683=7.
9183に等しくなる。
イヤに対するPとGを示す。) 簡易化のために01=0なのでb=P1−REFとなる
。G2−G1=1なのでm = P 2− P 1とな
る。REFに等しいY割込みを有する電極空間の割合と
してのXの値は GO=−b/m= (Pi−REF)/(P2−PI)
に低下し、ブロック72においてこれを座標に変換する
と、コイルの中心点36のX座標11X=(G1+GO
)*0.250となる。例えば、G1=7.75. G
O= (717−511)/(411−717)となる
。この数値に対しては、m=−306゜b=206.割
合=0.6732%としての補間は 0.1683イン
チとなる。こうしてXは7.75+0.1683=7.
9183に等しくなる。
第3図を検討すると補間法の精度が説明される。垂直ラ
イン75は位置7.75インチ(G1)でワイヤ21を
示す。垂直ライン76は位置8.0インチ(G2)でワ
イヤ22を示す。水平ライン52は基準軸を示す。ポイ
ント78は所望ゼロ点交差であり、ライン75からライ
ン76への空間の約67%であり、7、9183の座標
位置となる。期待される精度は少なくとも現行のタブレ
ット装置と同程度であるが、僅少の回路とパーツと低コ
ストとなる。この精度は、ゼロ点交差の直近のアナ四グ
曲線の部分が直線に近(なり、直線はその交差を確定す
るサンプル値を使用することにより計算されると言う前
提の有効性次第ということになる。
イン75は位置7.75インチ(G1)でワイヤ21を
示す。垂直ライン76は位置8.0インチ(G2)でワ
イヤ22を示す。水平ライン52は基準軸を示す。ポイ
ント78は所望ゼロ点交差であり、ライン75からライ
ン76への空間の約67%であり、7、9183の座標
位置となる。期待される精度は少なくとも現行のタブレ
ット装置と同程度であるが、僅少の回路とパーツと低コ
ストとなる。この精度は、ゼロ点交差の直近のアナ四グ
曲線の部分が直線に近(なり、直線はその交差を確定す
るサンプル値を使用することにより計算されると言う前
提の有効性次第ということになる。
本発明は、直線式y = m x + bを使用してゼ
四点交差を計算できろことに限るものではない。従来の
技術では直線又は曲線のX切片を計算する方法が知られ
ており、もし所望ならば代用できる。上記のように、精
度は、個別のタイミングを有する回路を使用するアナロ
グ電圧の固定間隔の正確なサンプリングにも左右される
。データ収集における一様でない遅延は記憶されたディ
ジタル化計数値と結果の精度に影響を与える。このこと
はサンプル間の空間が等しいという前提(G2−G1=
1)を無効とする。個別タイミング、例えば8097の
マイクロコントローラを使用するとこの問題は避けられ
る。原則として、タイミング問題を取り除くためにデー
タ収集回路に配線するか、又は不当に変化させることな
く最適な収集とデータ処理を確保するため実時間システ
ムの開発に良く知られたこれ以外の概念を使用すること
も可能である。
四点交差を計算できろことに限るものではない。従来の
技術では直線又は曲線のX切片を計算する方法が知られ
ており、もし所望ならば代用できる。上記のように、精
度は、個別のタイミングを有する回路を使用するアナロ
グ電圧の固定間隔の正確なサンプリングにも左右される
。データ収集における一様でない遅延は記憶されたディ
ジタル化計数値と結果の精度に影響を与える。このこと
はサンプル間の空間が等しいという前提(G2−G1=
1)を無効とする。個別タイミング、例えば8097の
マイクロコントローラを使用するとこの問題は避けられ
る。原則として、タイミング問題を取り除くためにデー
タ収集回路に配線するか、又は不当に変化させることな
く最適な収集とデータ処理を確保するため実時間システ
ムの開発に良く知られたこれ以外の概念を使用すること
も可能である。
上記のように、本発明は一例として示したタブレット装
置に関して述べたように、ポインティング装置のコイル
中心点のX座標の位置を決定する。非常に実際的な実施
例においては、ワイヤ電極の類似したアレイをY座標の
位置を決めるために提供することができるし、上記アル
ゴリズムを繰り返すことによりY座標決定アレイが附勢
された場合に数値が得られる。
置に関して述べたように、ポインティング装置のコイル
中心点のX座標の位置を決定する。非常に実際的な実施
例においては、ワイヤ電極の類似したアレイをY座標の
位置を決めるために提供することができるし、上記アル
ゴリズムを繰り返すことによりY座標決定アレイが附勢
された場合に数値が得られる。
本発明について実施例に関して説明してきたが、当業者
に自明な多くの変更及び修正が本発明の精神から逸脱す
ることなく行うことができ、添付請求項に記述された本
発明は、該変更及び修正は添付請求項の範囲内に含む意
図であるので上記構造の詳細に限定されない。
に自明な多くの変更及び修正が本発明の精神から逸脱す
ることなく行うことができ、添付請求項に記述された本
発明は、該変更及び修正は添付請求項の範囲内に含む意
図であるので上記構造の詳細に限定されない。
〈発明の効果〉
本発明によれば簡単な回路構成でありながら精度よくポ
インティング装置の位置検出をすることができる。
インティング装置の位置検出をすることができる。
第1図は、本発明によるディジタイザ用タブレット装置
の一座標軸用電極プレイの概略的レイアウト及び信号処
理回路を示すブロック図、第2図は、第1図の電極アレ
イから導出した信号電圧の時間関数としての変化を示す
特性図、第3図は、第2図の短時間の変化量を拡大して
示す特性図、 第4図は、タブレット装置に関するポインティング装置
の座標位置を決めるための信号情報処理手順を示すフロ
ーチャートである。 図面中、 10〜32はワイヤ電極、 35はポインティング装置、 36は発振器、 37はスイッチ、 39はローパスフィルタ) 40はスキャナ、 41は増幅器、 42は位相検出器、 43はA/D変換器、 44は記憶装置、 45はマイクロコントローラ、 47はラインである。 特 許 出 願 人 サマグラフィックスコーポレーシ、ン 代 理 人
の一座標軸用電極プレイの概略的レイアウト及び信号処
理回路を示すブロック図、第2図は、第1図の電極アレ
イから導出した信号電圧の時間関数としての変化を示す
特性図、第3図は、第2図の短時間の変化量を拡大して
示す特性図、 第4図は、タブレット装置に関するポインティング装置
の座標位置を決めるための信号情報処理手順を示すフロ
ーチャートである。 図面中、 10〜32はワイヤ電極、 35はポインティング装置、 36は発振器、 37はスイッチ、 39はローパスフィルタ) 40はスキャナ、 41は増幅器、 42は位相検出器、 43はA/D変換器、 44は記憶装置、 45はマイクロコントローラ、 47はラインである。 特 許 出 願 人 サマグラフィックスコーポレーシ、ン 代 理 人
Claims (9)
- (1)ワイヤ電極のアレイ、そのアレイに対して位置付
けられるポインティング装置、ワイヤ電極又はポインテ
ィング装置を附勢する手段、及びワイヤ電極の位置に相
関した誘起アナログ電圧に時間的に関連したワイヤ及び
ポインティング装置から得られる順番にワイヤをアドレ
スする手段から構成されたディジタイザ用タブレット装
置において、改良型は次のものから構成される。 (a)アナログ電圧をサンプル抽出する手段。 (b)ポインティング装置の反対側に位置するワイヤか
ら得られた一対のサンプル数値を 決定する手段。 (c)アレイに関するポインティング装置の正確な位置
を実質的に決定するため(b)項で決定した一対のサン
プル数値間を補間するた めの手段。 - (2)ワイヤ電極のアレイ、そのアレイに対して位置付
けられるポインティング装置、ワイヤ電極又はポインテ
ィング装置を附勢する手段、及びワイヤ電極の位置に相
関した誘起アナログ電圧に時間的に関連したワイヤ及び
ポインティング装置から得られる順番にワイヤをアドレ
スする手段から構成されたディジタイザ用タブレット装
置において、改良型は次のものから構成される。 (a)アナログ電圧を対応するディジタル数値に変換す
る手段。 (b)附勢されない基準ディジタルレベルを決定する手
段。 (c)基準レベルを超える最大値と基準レベル以下の最
小値間の一対の中間ディジタル数 値を決定する手段。 (d)基準レベルに対応する正確なディジタル数値を実
質的に決定するために上記中間数 値の間で補間する手段。 (e)(d)項で決定されたディジタル数値をポインテ
ィング装置のアレイ上の座標位置に変 換する手段。 - (3)請求項(2)のディジタイザ用タブレット装置に
おいて、補間手段は、上記2つの中間ディジタル数値に
より定義された直線のX切片が計算されるディジタイザ
用タブレット装置。 - (4)ディジタイザ用タブレット装置におけるワイヤ電
極のアレイ上のポインティング装置の1つの座標軸にそ
って位置を決定する位置補間方法は、次のステップから
構成される。 (a)各走査ワイヤとサンプリングに時間的に相互に関
係しているアナログ電圧を発生す るワイヤをアドレスの順番に走査し、サン プル電圧をディジタル化する。 (b)サンプル電圧の少なくとも一部のディジタル数値
を記憶する。 (c)電極アレイ又はポインティング装置を附勢する前
に、記憶数値から信号フリー基準 レベルを決定する。 (d)電極アレイ又はポインティング装置を附勢する。 (e)基準レベルを超える第一の数値が得られるまで、
サンプルを抽出し、数値を変換、 記憶し続ける。 (f)ステップ(e)に記憶された数値から、第一の数
値より低く、一方が基準値より大で他 方が小であり、第1の数値より後である第 2及び第3の数値を決定する。 (g)第2と第3の数値間にひいた線が基準レベルに実
質的に等しい位置を計算する。 - (5)請求項(4)の方法において、ステップ(e)は
、基準レベルプラス固定増分に等しい第4の数値を設定
して、ディジタル化したサンプルが第4の数値を超える
場合に第1の数値を決定することにより実行される位置
補間方法。 - (6)請求項(4)の方法において、ステップ(e)に
おける第1の数値を決定した後、ステップ(f)におい
て後のディジタル数値をテストして、もし第1の数値よ
り小ならば、第2の数値及び得られたワイヤ電極の位置
として記憶し、基準レベルより小さい数値に対して後の
ディジタル数値をテストして第3の数値として記憶し、
そして直線を決定するための第2と第3の数値を使用し
てステップ(g)を実行する位置補間方法。 - (7)請求項(6)の方法において、X切片を計算する
ため式Y=mX+bを使用する位置補間方法。 - (8)請求項(7)の方法において、ステップ(g)で
決定された位置は、ポインティング装置の正確な位置を
決定するために第2の数値が得られたワイヤ電極の位置
に加えられる位置補間方法。 - (9)請求項(4)の方法において、個別タイミングを
有する処理装置が使用される位置補間方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US432.798 | 1989-11-07 | ||
| US07/432,798 US4990726A (en) | 1989-11-07 | 1989-11-07 | Digitized controller for position locator |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03210621A true JPH03210621A (ja) | 1991-09-13 |
Family
ID=23717631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2295578A Pending JPH03210621A (ja) | 1989-11-07 | 1990-11-02 | ディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4990726A (ja) |
| EP (1) | EP0427198A1 (ja) |
| JP (1) | JPH03210621A (ja) |
| KR (1) | KR910010371A (ja) |
| CN (1) | CN1051805A (ja) |
| BR (1) | BR9005611A (ja) |
| CA (1) | CA2028381A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8810543B1 (en) | 2010-05-14 | 2014-08-19 | Cypress Semiconductor Corporation | All points addressable touch sensing surface |
| US9772722B2 (en) | 2012-10-22 | 2017-09-26 | Parade Technologies, Ltd. | Position sensing methods and devices with dynamic gain for edge positioning |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5107079A (en) * | 1991-03-18 | 1992-04-21 | Calcomp Inc. | Position digitizer circuit for a moveable instrument |
| US5239489A (en) * | 1991-05-06 | 1993-08-24 | International Business Machines Corporation | Pen position and tilt estimators for a digitizer tablet |
| US5218174A (en) * | 1991-10-01 | 1993-06-08 | Kurta Corporation | Low power cordless magnetic field digitizer with differential grid sensing and synchronous position demodulation |
| US5550330A (en) * | 1991-10-16 | 1996-08-27 | Fanuc Limited | Digitizing control apparatus |
| US6396005B2 (en) | 1998-06-15 | 2002-05-28 | Rodgers Technology Center, Inc. | Method and apparatus for diminishing grid complexity in a tablet |
| DE10162735A1 (de) * | 2001-12-20 | 2003-07-03 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Signallaufzeit zwischen einer Positionsmesseinrichtung und einer Verarbeitungseinheit |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3873770A (en) * | 1974-03-21 | 1975-03-25 | Bendix Corp | Digital position measurement system with stylus tilt error compensation |
| US3904822A (en) * | 1974-03-21 | 1975-09-09 | Bendix Corp | Absolute position determining system using free stylus |
| JPS5920156B2 (ja) * | 1980-07-10 | 1984-05-11 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 座標読取装置 |
| US4368351A (en) * | 1981-02-12 | 1983-01-11 | Summagraphics Corporation | Amplitude modulated digitizer |
| US4455451A (en) * | 1982-07-12 | 1984-06-19 | Perq Systems Corporation | Digitizer tablet |
| JPS5979384A (ja) * | 1982-10-28 | 1984-05-08 | Osukon Denshi Kk | 座標読取方法 |
| JPS6375918A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Alps Electric Co Ltd | 座標入力装置 |
| US4820886A (en) * | 1987-03-16 | 1989-04-11 | Sanders Associates, Inc. | Low-cost, high-accuracy digitizer signal acquisition apparatus and method |
| US4734546A (en) * | 1987-03-16 | 1988-03-29 | Calcomp, Inc. | Digitizer system with loopback conductor grid |
-
1989
- 1989-11-07 US US07/432,798 patent/US4990726A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-10-24 CA CA002028381A patent/CA2028381A1/en not_active Abandoned
- 1990-10-30 KR KR1019900017483A patent/KR910010371A/ko not_active Withdrawn
- 1990-11-02 JP JP2295578A patent/JPH03210621A/ja active Pending
- 1990-11-06 BR BR909005611A patent/BR9005611A/pt unknown
- 1990-11-06 EP EP90121209A patent/EP0427198A1/en not_active Withdrawn
- 1990-11-07 CN CN90109063A patent/CN1051805A/zh active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8810543B1 (en) | 2010-05-14 | 2014-08-19 | Cypress Semiconductor Corporation | All points addressable touch sensing surface |
| US9454274B1 (en) | 2010-05-14 | 2016-09-27 | Parade Technologies, Ltd. | All points addressable touch sensing surface |
| US9772722B2 (en) | 2012-10-22 | 2017-09-26 | Parade Technologies, Ltd. | Position sensing methods and devices with dynamic gain for edge positioning |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0427198A1 (en) | 1991-05-15 |
| CN1051805A (zh) | 1991-05-29 |
| KR910010371A (ko) | 1991-06-29 |
| BR9005611A (pt) | 1991-09-17 |
| US4990726A (en) | 1991-02-05 |
| CA2028381A1 (en) | 1991-05-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3436637B2 (ja) | 座標入力装置 | |
| US9689906B2 (en) | Method and device for position detection | |
| JP3220405B2 (ja) | 座標入力装置 | |
| US6242900B1 (en) | System for measuring partial discharge using digital peak detection | |
| JPH03210621A (ja) | ディジタイザ用タブレット装置及び位置補間方法 | |
| JP2009264753A (ja) | 高調波成分測定装置 | |
| US5051545A (en) | Digitizer with serpentine conductor grid having non-uniform repeat increment | |
| JPS5944668B2 (ja) | コイルの位置のディジタル化方法 | |
| CN114327040A (zh) | 振动信号生成方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| CN1309773A (zh) | 用于高压试样击穿电压的数字测量的系统 | |
| US4729108A (en) | Apparatus for determining a coordinate of a given point on a tablet | |
| US4996393A (en) | Digitizer tablet with split-current conductor array | |
| JP4140020B2 (ja) | 高速デジタイザ | |
| JPH06187088A (ja) | タブレット | |
| JPH1164399A (ja) | 電圧低下検出方法および装置 | |
| JPH05281203A (ja) | アコースティックエミッション計測処理装置 | |
| JP2513760B2 (ja) | 座標検出装置 | |
| JP2902163B2 (ja) | 表面性状測定機 | |
| JPH0712852A (ja) | 波形生成機能付き波形測定装置 | |
| JPH0319967B2 (ja) | ||
| JPH0131207B2 (ja) | ||
| JPH07280853A (ja) | 物理量の計測方法および計測装置 | |
| JPH01228060A (ja) | Fft演算装置 | |
| JP2004150914A (ja) | 交流信号測定器 | |
| JP2010085163A (ja) | 電流及び電力測定装置 |