JPH03212889A - semiconductor storage device - Google Patents
semiconductor storage deviceInfo
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- JPH03212889A JPH03212889A JP2007441A JP744190A JPH03212889A JP H03212889 A JPH03212889 A JP H03212889A JP 2007441 A JP2007441 A JP 2007441A JP 744190 A JP744190 A JP 744190A JP H03212889 A JPH03212889 A JP H03212889A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、先入れ先出しく以下FIFOと略す)型の半
導体記憶装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a first-in, first-out (hereinafter abbreviated as FIFO) type semiconductor memory device.
従来の技術
近年、半導体記憶装置は、半導体プロセス技術の進歩に
ともない、その利用度にはめざましいものがある。特に
、FIFO型の半導体記憶装置は映像の分野で注目を浴
び、ディジタル信号処理のY/Cefi回路等ではな(
てならないものとなっている。2. Description of the Related Art In recent years, with the advancement of semiconductor process technology, semiconductor memory devices have been used to a remarkable degree. In particular, FIFO type semiconductor memory devices have attracted attention in the field of video, and Y/Cefi circuits for digital signal processing have attracted attention (
It has become a must-have.
以下従来の半導体記憶装置について説明する。A conventional semiconductor memory device will be explained below.
第3図に従来の半導体記憶装置の例を示す。FIG. 3 shows an example of a conventional semiconductor memory device.
映像分野で使用するFIFO型の半導体記憶装置は、I
H遅延線等で用いる事が多(、本従来例は1画面の縦方
向の演算処理をするための2Hの記憶容量をもつ場合の
例であり、1ビット分のみの回路である。第3図の31
.32は、FIFO型の半導体記憶装置で構成されたI
H遅延回路、33は3トランジスタで構成されたダイナ
ミ・ンク型の単位記憶回路、34は書き込みアドレス信
号線、35は読みだしアドレス信号線、36はアドレス
制御回路、37は書き込みデータ信号線、38は読みだ
しデータ信号線、3つは演算回路である。FIFO type semiconductor memory devices used in the video field are I
It is often used in H delay lines, etc. (This conventional example is an example of a case with a storage capacity of 2H for performing arithmetic processing in the vertical direction of one screen, and is a circuit for only 1 bit. Figure 31
.. 32 is an I configured with a FIFO type semiconductor memory device.
H delay circuit, 33 is a dynamic link type unit storage circuit composed of three transistors, 34 is a write address signal line, 35 is a read address signal line, 36 is an address control circuit, 37 is a write data signal line, 38 are read data signal lines, and three are arithmetic circuits.
以上のように構成された半導体記憶装置について以下そ
の動作を説明する。The operation of the semiconductor memory device configured as described above will be described below.
入力データは、書き込みアドレス信号線34により指定
された単位記憶回路にデータが書き込まれる。また、読
みだしアドレス信号線35により指定された列の単位記
憶回路からデータが選択され出力される。3トランジス
タで構成された単位記憶回路33は、N−chのトラン
ジスタで構成され、書き込みアドレス信号線34または
読みだしアドレス信号線35が、それぞれハイ(“H”
)レベルの時に、それぞれ、書き込みデータ信号線37
からのデータの書き込み、または、読みだしデータ信号
線8へのデータの転送が行なわれる。The input data is written into the unit storage circuit specified by the write address signal line 34. Further, data is selected and output from the unit storage circuit of the column specified by the read address signal line 35. The unit memory circuit 33 composed of three transistors is composed of N-ch transistors, and the write address signal line 34 or the read address signal line 35 is high (“H”).
) level, respectively, the write data signal line 37
Data is written from or transferred to the read data signal line 8.
遅延回路31.32はIHライン分の単位記憶回路33
の数を有し、さらに各遅延回路31.32で遅延したデ
ータを演算する演算回路39を持ち、画面3ライン分の
データを演算することにより、画面縦方向の信号処理を
行なおうとするものである。Delay circuits 31 and 32 are unit storage circuits 33 for IH lines.
It further has an arithmetic circuit 39 for calculating data delayed by each delay circuit 31 and 32, and performs signal processing in the vertical direction of the screen by calculating data for three lines of the screen. It is.
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記の従来の技術では、入力データ及び、
各IH遅延回路の出力をそれぞれ演算回路に入力するた
めに、モノリシックな半導体集積回路をデザインする場
合、各IH遅延線がデザイン上大きな面積を占めるため
、演算回路に入力データ及び各遅延線の出力データを入
力するための配線を行なうと、その配線面積が大きくな
り、半導体集積回路の設計効率を落とすという問題点を
有していた。Problems to be Solved by the Invention However, in the above-mentioned conventional techniques, input data and
When designing a monolithic semiconductor integrated circuit in order to input the output of each IH delay circuit to an arithmetic circuit, each IH delay line occupies a large area in the design, so the input data to the arithmetic circuit and the output of each delay line are When wiring for inputting data is provided, the area of the wiring becomes large, which poses a problem in that the design efficiency of the semiconductor integrated circuit is reduced.
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、2行分
のデータの記憶容量を持つFIFO型の記憶回路を使っ
た遅延回路を1ビツトあたり上下2段で構成し、書き込
みデータ信号線及び読みだしデータ信号線のデータを出
力できる読みだしデータ選択回路を設けることにより、
演算回路に入力するための信号線の配線面積をほとんど
なくすことができる半導体記憶回路を提供することを目
的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and consists of a delay circuit using a FIFO type storage circuit with a storage capacity of two rows of data in two stages per bit, upper and lower stages, and a write data signal line. And by providing a read data selection circuit that can output the data of the read data signal line,
It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory circuit in which the wiring area of signal lines for inputting to an arithmetic circuit can be almost eliminated.
課題を解決するための手段
この目的を達成するために本発明の半導体記憶回路は1
つのアドレス信号線に複数個の単位記憶回路を配置し、
さらに1ビツトに対し2行の単位記憶回路を用意し、前
記単位記憶回路行ごとに、書き込みデータ信号線および
読みだしデータ信号線のデータを取り出すことが出来る
よう出力データ選択回路を有している。Means for Solving the Problems In order to achieve this object, the semiconductor memory circuit of the present invention has the following features:
A plurality of unit memory circuits are arranged on one address signal line,
Further, two rows of unit memory circuits are prepared for one bit, and each row of the unit memory circuits has an output data selection circuit so that data on the write data signal line and the read data signal line can be taken out. .
作用
この構成により、1つの遅延回路から複数の遅延量を持
ったデータを取り出すことができ、かつ演算回路のデザ
インも容易であり、モノリシックな半導体集積回路の2
行遅延線回路のデザイン面積を小さ(することが出来る
。Function: With this configuration, it is possible to extract data with multiple delay amounts from one delay circuit, and the design of the arithmetic circuit is easy.
The design area of the row delay line circuit can be reduced.
実施例
以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。EXAMPLE An example of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は1本発明の1実施例における半導体記憶装置を
示すものである。第1図において、1は単位記憶回路、
2はアドレス制御回路、3は入力データ選択回路、4は
出力データ選択回路、5は書き込みアドレス信号線、6
は読みだしアドレス信号線、7は書き込みデータ選択回
路、8は演算回路である。FIG. 1 shows a semiconductor memory device in one embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1 is a unit storage circuit;
2 is an address control circuit, 3 is an input data selection circuit, 4 is an output data selection circuit, 5 is a write address signal line, 6
7 is a read address signal line, 7 is a write data selection circuit, and 8 is an arithmetic circuit.
以上のような構成の本実施例において、以下動作説明す
る。本実施例の信号処理回路は映像分野でよ(使用され
るFIFO動作をする遅延回路を用いた画面の縦方向の
信号処理回路の1ビツト分のみを記載した例である。The operation of this embodiment having the above configuration will be explained below. The signal processing circuit of this embodiment is an example in which only one bit of a signal processing circuit in the vertical direction of the screen using a delay circuit that performs FIFO operation is used in the video field.
書き込みアドレス信号線5及び読みだしアドレス信号線
6は、一定周期で交互に“H”となり、入力データに対
し1行当り18分、全体として単位記憶回路数分(28
分)の遅延された出力データを得るための回路となる。The write address signal line 5 and the read address signal line 6 are alternately set to "H" at a constant cycle, and the input data is input for 18 minutes per row, and the total number of unit storage circuits (28
This circuit is used to obtain delayed output data (minutes).
データ書き込み時には、入力データ選択回路3内のどち
らか一方のスイッチがオンし、かつ書き込みデータ選択
回路のスイッチがオフし、書き込みデータ信号線(10
aまたは10b)に入力データが転送され、書き込みア
ドレス信号線5により、どれか1つの単位記憶回路にデ
ータが書き込まれる。その時、入力データが接続されて
いない方(入力データ選択回路3のスイッチがオフして
いる方)の書き込みデータ選択回路7のスイッチはオン
となり、その行の単位記憶装置は読みだされたデータが
再び自分に書き込まれることとなり、リフレッシュ動作
がなされる。When writing data, one of the switches in the input data selection circuit 3 is turned on, the write data selection circuit is turned off, and the write data signal line (10
Input data is transferred to the unit memory circuit a or 10b), and the data is written into one of the unit memory circuits by the write address signal line 5. At that time, the switch of the write data selection circuit 7 to which input data is not connected (the switch of the input data selection circuit 3 is turned off) is turned on, and the unit storage device of that row is connected to the read data. It will be written to itself again, and a refresh operation will be performed.
データの読みだし時には、読みだしアドレス信号線6に
より指定された単位記憶装置1より読みだしデータ信号
、I(9aまたは9b)にデータを転送する。When reading data, data is transferred from the unit storage device 1 designated by the read address signal line 6 to the read data signal I (9a or 9b).
以上のように、出力データ選択回路には、単位記憶回路
の各行の書き込みデータ及び読みだしデータが入力され
、出力として、現在書き込んでいるデータ及び2H遅延
されたデータ(2H前のデータ)、かつIH遅延された
データ(IH前のデータ)を得ることが出来る。As described above, the write data and read data of each row of the unit storage circuit are input to the output data selection circuit, and as outputs, the currently written data, the data delayed by 2H (data 2H ago), and IH delayed data (data before IH) can be obtained.
第1表に、入力データ選択回路3の二つのスイッチ3a
及び3bのオン、オフと各書き込みデータ信号線および
読みだしデータ信号線(9a。Table 1 shows the two switches 3a of the input data selection circuit 3.
and 3b on/off and each write data signal line and read data signal line (9a).
9b、10a、10b)のデータの値を示す。9b, 10a, 10b) are shown.
OH:現在の入力データ
IH:IH遅延されたデータ
2H: 2H遅延されたデータ
第1表
以上の様に本実施例によれば、2Hの単位記憶回路をも
つ遅延回路より3つの出力を同時に得ることができその
後の演算回路に配線面積をほとんど考慮することなく接
続することが出来る。OH: Current input data IH: IH delayed data 2H: 2H delayed data Table 1 As described above, according to this embodiment, three outputs are simultaneously obtained from the delay circuit having a 2H unit memory circuit. Therefore, it can be connected to subsequent arithmetic circuits without considering the wiring area.
さらに第2図では、出力データ選択回路14の出力が1
つである例を示す。出力データ選択回路14の出力数と
演算回路18の入力数以外は第1図に示した実施例の構
成と同じである。当然、現在の入力データ、及び、tH
,2H遅延の信号はシリアルなデータとして得ることが
出来る。Furthermore, in FIG. 2, the output of the output data selection circuit 14 is 1.
Here is an example. The configuration is the same as that of the embodiment shown in FIG. 1 except for the number of outputs of the output data selection circuit 14 and the number of inputs of the arithmetic circuit 18. Naturally, the current input data and tH
, 2H delayed signals can be obtained as serial data.
また、本実施例では、1ビツトのデータを二行の単位記
憶回路で構成した例を示したが、必要な遅延量に応じて
、3以上の行で構成しても、発明の効果は同じである。In addition, although this embodiment shows an example in which 1-bit data is configured with two rows of unit memory circuits, the effect of the invention is the same even if the unit storage circuit is configured with three or more rows depending on the amount of delay required. It is.
発明の効果
本発明は、1つのアドレス信号線に複数個の単位記憶回
路を配置し、さらに1ビツトに対し2行の単位記憶回路
行を用意し、前記単位記憶回路行ごとに、書き込みデー
タ信号線および読みだしデータ信号線のデータを取り出
すことが出来るよう出力データ選択回路を設けることに
より、1つの遅延回路から、複数の遅延量を持ったデー
タを取り出すことができ、演算回路への配線のデザイン
面積もほとんど考慮しな(でよいという効果を得ること
が出来るものである。Effects of the Invention The present invention arranges a plurality of unit memory circuits on one address signal line, further prepares two unit memory circuit rows for one bit, and writes write data signals for each unit memory circuit row. By providing an output data selection circuit that can take out data from the line and read data signal line, it is possible to take out data with multiple delay amounts from one delay circuit, and the wiring to the arithmetic circuit can be saved. The effect can be obtained with little consideration of design area.
第1図は、本発明の一実施例における半導体記憶装置の
構成図、第2図は、他の実施例の構成図、第3図は従来
の半導体記憶装置の構成図である。
1・・・・・・単位記憶回路、2・・・・・・アドレス
制御回路、3・・・・・・入力データ選択回路、4・・
・・・・出力データ選択回路、5・・・・・・書き込み
アドレス信号線、6・・・・・・読みだしアドレス信号
線、7・・・・・・書き込みデータ選択回路、8・・・
・・・演算回路、9a、9b・・・・・・読みだしデー
タ信号線、10a、10b・・・・・・書き込みデータ
信号線。FIG. 1 is a block diagram of a semiconductor memory device in one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of another embodiment, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional semiconductor memory device. 1...Unit storage circuit, 2...Address control circuit, 3...Input data selection circuit, 4...
...Output data selection circuit, 5...Write address signal line, 6...Read address signal line, 7...Write data selection circuit, 8...
...Arithmetic circuit, 9a, 9b...Read data signal line, 10a, 10b...Write data signal line.
Claims (1)
トリックス状に配置した記憶回路群と、前記記憶回路群
へのデータの書き込み及び読みだしを各列ごとに制御す
る複数のアドレス信号線と、前記複数のアドレス信号線
を出力とするアドレス制御回路を有し、前記記憶回路群
へ各行ごとにデータの書き込みを行なう書き込みデータ
信号線及び読みだしを行なう読みだしデータ信号線と、
さらに、入力データの、前記記憶回路群の各行への振り
分けを選択する入力データ選択回路と、前記入力データ
選択回路の出力信号線と前記各行の読み出しデータ信号
線を入力とし、どちらか一方の入力を書き込みデータ信
号線に出力する書き込みデータ選択回路を有し、各行の
書き込みデータ信号線のデータおよび読みだしデータ信
号線のデータを任意に選択できる出力データ選択回路を
具備したことを特徴とした半導体記憶装置。a memory circuit group in which unit memory circuits capable of writing and reading data are arranged in a matrix; a plurality of address signal lines that control writing and reading of data to and from the memory circuit group for each column; an address control circuit that outputs a plurality of address signal lines, a write data signal line for writing data to the memory circuit group for each row, and a read data signal line for reading data;
Furthermore, an input data selection circuit that selects distribution of input data to each row of the memory circuit group, and an output signal line of the input data selection circuit and a read data signal line of each row are input, A semiconductor characterized in that it has a write data selection circuit that outputs the data to a write data signal line, and an output data selection circuit that can arbitrarily select data on the write data signal line and data on the read data signal line of each row. Storage device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007441A JP2595736B2 (en) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | Semiconductor storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007441A JP2595736B2 (en) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | Semiconductor storage device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03212889A true JPH03212889A (en) | 1991-09-18 |
| JP2595736B2 JP2595736B2 (en) | 1997-04-02 |
Family
ID=11665947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007441A Expired - Fee Related JP2595736B2 (en) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | Semiconductor storage device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2595736B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5446688A (en) * | 1992-12-24 | 1995-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Non-volatile semiconductor memory device |
-
1990
- 1990-01-17 JP JP2007441A patent/JP2595736B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5446688A (en) * | 1992-12-24 | 1995-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Non-volatile semiconductor memory device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2595736B2 (en) | 1997-04-02 |
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